CN111508432B - 一种外部电学补偿侦测方法及amoled显示器 - Google Patents

一种外部电学补偿侦测方法及amoled显示器 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种外部电学补偿侦测方法及AMOLED显示器,用以解决现有的侦测方法存在的侦测时间太长,导致用户的使用体验较差的技术问题。所述方法包括:在所述AMOLED显示器进入侦测模式时,依次以所述显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描所述显示面板的像素行;在扫描所述显示面板的N行像素行时,侦测所述N行像素行中的第J行像素行的数据,其中,所述J为不大于N的正整数。

Description

一种外部电学补偿侦测方法及AMOLED显示器
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别是涉及一种外部电学补偿侦测方法及 AMOLED显示器。
背景技术
有机发光二极管(Organic Light Emitting Display,OLED)显示器具有自发光、驱动电压低、发光效率高、响应时间短、清晰度与对比度高、近180°视角、使用温度范围宽,可实现柔性显示与大面积全彩显示等诸多优点,被业界公认为是最有发展潜力的显示器。OLED显示器按照驱动方式可以分为无源矩阵型OLED(Passive Matrix OLED,PMOLED)和有源矩阵型OLED(Active Matrix OLED,AMOLED)两大类,即直接寻址和薄膜晶体管(ThinFilm Transistor,TFT)矩阵寻址两类。其中,AMOLED显示器具有呈阵列式排布的像素,属于主动显示类型,发光效能高,通常用于高清晰度的大尺寸显示装置。由于AMOLED显示器为电流驱动型显示装置,驱动TFT的均匀性和稳定性会影响显示效果,具体表现在AMOLED各个像素间的显示亮度不均匀,需要采取补偿措施。对AMOLED的补偿技术包括像素内的内部补偿与像素外的外部补偿,其中,外部补偿又分为外部光学补偿与外部电学补偿。
在大尺寸AMOLED显示领域,外部电学补偿技术尤为重要,其原理是将 AMOLED像素内TFT的不均匀特性通过电学侦测方法获得,再将偏差值补偿在像素驱动电压上,因此电学侦测的准确性会直接影响外部电学补偿的效果。目前,外部电学补偿侦测方法可在行与行之间的空白时间进行侦测,但是由于行与行之间的空白时间太短,故普遍使用帧与帧之间的空白时间进行侦测,该侦测方法的主要问题是侦测整个面板显示区域的每个子像素所花费的时间较长,尤其在中尺寸存储电容较小时,每行的侦测时间本来就偏长,在每个空白时间能侦测到的子像素数目有限的情况下,总侦测时间就会更长,导致 AMOLED显示器在正常情况下会出现12s~36s左右的全白画面,特殊设计及情况下全白画面时间会更长,用户的使用体验较差。
可见,现有的侦测方法存在侦测时间太长,导致用户的使用体验较差的问题。
发明内容
本发明提供一种外部电学补偿侦测方法及AMOLED显示器,用以解决现有的侦测方法存在的侦测时间太长,导致用户的使用体验较差的技术问题。
第一方面,为解决上述技术问题,本申请实施例提供一种AMOLED显示器,包括显示面板、时序控制集成电路TCON-IC、第一阵列基板行驱动GOA 电路、第二GOA电路;
其中,所述TCON-IC用于输出控制信号控制所述AMOLED显示器进行显示模式和侦测模式的切换;
所述第一阵列基板行驱动 GOA电路用于在所述AMOLED显示器进入显示模式时,输出扫描信号G1(n)扫描所述显示面板的各像素行;
所述第二GOA电路用于在所述AMOLED显示器进入侦测模式时,输出扫描信号G2(n)依次以所述显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描所述显示面板的像素行,其中,N为不大于M的正整数,M为所述显示面板的像素的行数。
在本申请实施例中,通过TCON-IC输出控制信号控制AMOLED显示器进行显示模式和侦测模式的切换,在AMOLED显示器进入显示模式时,第一阵列基板行驱动 GOA电路输出扫描信号G1(n)扫描显示面板的各像素行,在AMOLED显示器进入侦测模式时,第二GOA电路输出扫描信号G2(n)依次以显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描显示面板的像素行,其中,N为不大于M的正整数,M为显示面板的像素的行数,使得在扫描显示面板的N 行像素行后,可选择N行像素行中的任一像素行进行侦测,避免现有侦测方法需在扫描显示面板的各像素行后,才对各像素行进行侦测,即需在帧与帧之间的空白时间才能侦测各像素行,每个空白时间能侦测到的子像素数目有限,导致总侦测时间较长的问题,从而缩短侦测时间,提升用户的使用体验。
第二方面,本申请实施例一种外部电学补偿侦测方法,应用于上述第一方面所述的AMOLED显示器,包括:
在所述AMOLED显示器进入侦测模式时,依次以所述显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描所述显示面板的像素行;
在扫描所述显示面板的N行像素行时,侦测所述N行像素行中的第J行像素行的数据,其中,所述J为不大于N的正整数。
在本申请实施例中,可以在AMOLED显示器进入侦测模式时,依次以显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描显示面板的像素行,在扫描显示面板的N行像素行时,侦测N行像素行中的第J行像素行的数据,其中,J为不大于N的正整数,通过在依次以显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描显示面板的像素行后,选择N行像素行中的第J行像素行进行侦测,避免现有侦测方法需在扫描显示面板的各像素行后,才对各像素行进行侦测,即需在帧与帧之间的空白时间才能侦测各像素行,每个空白时间能侦测到的子像素数目有限,导致总侦测时间较长的问题,从而缩短侦测时间,提升用户的使用体验。
可选的,依次以所述显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描所述显示面板的像素行之前,还包括:
根据所述AMOLED显示器的分辨率、显示尺寸以及存储电容,确定所述 N与所述J的值。
可选的,依次以所述显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描所述显示面板的像素行之前,还包括:
在所述显示面板的第一行像素行之前和第M行像素行之后,分别设置K 行虚拟像素行,以使所述第一行像素行或所述第M行像素行与对应的K行虚拟像素行组合形成所述一个扫描单位,所述K为所述N与所述J之间的差值。
可选的,还包括:
判断所述显示面板是否有未被侦测到的像素行;
若否,则根据侦测到的所述显示面板的各像素行的数据,获取对应的补偿数据,其中,所述补偿数据用于表示所述AMOLED显示器的薄膜晶体管TFT 的阈值电压偏差值;
将所述补偿数据发送至所述AMOLED显示器的驱动集成电路 SOURCE-IC,以使所述SOURCE-IC根据所述补偿数据完成对所述AMOLED 显示器的显示面板的补偿处理。
第三方面,本申请实施例提供一种外部电学补偿侦测装置,包括:
扫描模块,用于在所述AMOLED显示器进入侦测模式时,依次以所述显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描所述显示面板的像素行;
侦测模块,用于在扫描所述显示面板的N行像素行时,侦测所述N行像素行中的第J行像素行的数据,其中,所述J为不大于N的正整数。
可选的,还包括确定模块,用于:
根据所述AMOLED显示器的分辨率、显示尺寸以及存储电容,确定所述 N与所述J的值。
可选的,还包括第一处理模块,用于:
在所述显示面板的第一行像素行之前和第M行像素行之后,分别设置K 行虚拟像素行,以使所述第一行像素行或所述第M行像素行与对应的K行虚拟像素行组合形成所述一个扫描单位,所述K为所述N与所述J之间的差值。
可选的,还包括第二处理模块,用于:
判断所述显示面板是否有未被侦测到的像素行;
若否,则根据侦测到的所述显示面板的各像素行的数据,获取对应的补偿数据,其中,所述补偿数据用于表示所述AMOLED显示器的薄膜晶体管TFT 的阈值电压偏差值;
将所述补偿数据发送至所述AMOLED显示器的驱动集成电路 SOURCE-IC,以使所述SOURCE-IC根据所述补偿数据完成对所述AMOLED 显示器的显示面板的补偿处理。
第四方面,本申请实施例提供一种计算机存储介质,包括:
所述计算机可读存储介质包括计算机程序,当计算机程序在计算机上运行时,使得所述计算机执行上述第二方面所述的方法。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例。
图1为本申请实施例中的一种AMOLED显示器的结构示意图;
图2为本申请实施例中的一种外部电学补偿侦测方法的流程示意图;
图3为本申请实施例中的一种外部电学补偿侦测装置的结构示意图;
图4为本申请实施例中的一种外部电学补偿侦测***的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。并且,虽然在流程图中示出了逻辑顺序,但是在某些情况下,能够以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”和“第二”是用于区别不同对象,而非用于描述特定顺序。此外,术语“包括”以及它们任何变形,意图在于覆盖不排他的保护。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、***、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元,而是可选地还包括没有列出的步骤或单元,或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
本申请实施例中,“至少一个”可以表示至少两个,例如可以是两个、三个或者更多个,本申请实施例不做限制。
另外,本文中术语“和/或”,仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A 和B,单独存在B这三种情况。另外,本文中字符“/”,在不做特别说明的情况下,一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
目前,外部电学补偿侦测方法可在行与行之间的空白时间进行侦测,但是由于行与行之间的空白时间太短,故普遍使用帧与帧之间的空白时间进行侦测,该侦测方法的主要问题是侦测整个面板显示区域的每个子像素所花费的时间较长,尤其在中尺寸存储电容较小时,每行的侦测时间本来就偏长,在每个空白时间能侦测到的子像素数目有限的情况下,总侦测时间就会更长,导致 AMOLED显示器在正常情况下会出现12s~36s左右的全白画面,特殊设计及情况下全白画面时间会更长,用户的使用体验较差。可见,现有的侦测方法存在侦测时间太长,导致用户的使用体验较差的问题。
鉴于此,本申请实施例提供一种外部电学补偿侦测方法,该方法可以在 AMOLED显示器进入侦测模式时,依次以显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描显示面板的像素行,在扫描显示面板的N行像素行时,侦测N行像素行中的第J行像素行的数据,其中,J为不大于N的正整数,通过在依次以显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描显示面板的像素行后,选择N行像素行中的第J行像素行进行侦测,避免现有侦测方法需在扫描显示面板的各像素行后,才对各像素行进行侦测,即需在帧与帧之间的空白时间才能侦测各像素行,每个空白时间能侦测到的子像素数目有限,导致总侦测时间较长的问题,从而缩短侦测时间,提升用户的使用体验。
为了更好的理解上述技术方案,下面通过说明书附图以及具体实施例对本申请技术方案做详细的说明,应当理解本申请实施例以及实施例中的具体特征是对本申请技术方案的简单的说明,而不是对本申请技术方案的限定,在不冲突的情况下,本申请实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。
图1为本申请实施例所提供方法可适用的一种AMOLED显示器的结构,当然本申请实施例所提供的方法可以适用到多种AMOLED显示器上,应当理解图1所示的AMOLED显示器是对可适用本申请实施例所提供方法的 AMOLED显示器的简单说明,而不是对可适用本申请实施例所提供方法的 AMOLED显示器的限定。
图1所示的AMOLED显示器包括显示面板101、时序控制集成电路 (TCON-IC)102、驱动集成电路(SOURCE-IC)103、第一阵列基板行驱动 (Gate Driver On Array,GOA)电路104、第二GOA电路105。TCON-IC102 用于输出控制信号控制AMOLED显示器进行显示模式和侦测模式的切换。 SOURCE-IC103用于获取补偿数据,并根据补偿数据完成对显示面板101的补偿处理,其中,补偿数据用于表示AMOLED显示器的薄膜晶体管(Thin FilmTransistor,TFT)的阈值电压偏差值。第一阵列基板行驱动 GOA电路104用于在AMOLED显示器进入显示模式时,输出扫描信号G1(n)扫描显示面板101的各像素行。第二GOA电路105用于在AMOLED显示器进入侦测模式时,输出扫描信号G2(n) 依次以显示面板101的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描显示面板101的像素行,其中,N为不大于M的正整数,M为显示面板101的像素的行数。
请参见图2,本申请实施例提供一种外部电学补偿侦测方法,该方法可以由前述图1所示的AMOLED显示器执行。该方法的具体流程描述如下。
步骤201:在所述AMOLED显示器进入侦测模式时,依次以所述显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描所述显示面板的像素行。
在本申请实施例中,在TCON-IC102输出控制信号控制AMOLED显示器进入侦测模式时,第二GOA电路105输出扫描信号G2(n)依次以显示面板101 的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描显示面板的像素行,其中,N为不大于M的正整数,M为显示面板101的像素的行数。
在具体的实施过程中,在依次以显示面板101的各像素行作为初始像素行, N行为一个扫描单位扫描显示面板的像素行时,可根据AMOLED显示器的分辨率、显示尺寸以及存储电容来确定N的值,使得每次扫描的扫描时间不会过短,避免出现由于扫描时间过短,导致像素行的数据稳定性较差,容易产生数据波动,从而影响像素行的侦测结果的问题,即能够从N行像素行中选择出数据稳定性较好的像素行进行侦测,可选择N行像素行中的第J行像素行进行侦测,一般情况下N为3~5,J为不大于N的正整数可满足需求。
为了便于理解,下面以举例的形式进行说明:
例如,若N为3,则第二GOA电路105输出扫描信号G2(n)依次以显示面板101的各行像素行作为初始像素行,3行为一个扫描单位扫描显示面板的像素行,即当以显示面板101的第1行像素行作为初始像素行时,可扫描显示面板101的第1行、第2行、第3行像素行,当以显示面板101的第2行像素行作为初始像素行时,可扫描显示面板101的第2行、第3行、第4行像素行。
步骤202:在扫描所述显示面板的N行像素行时,侦测所述N行像素行中的第J行像素行的数据,其中,所述J为不大于N的正整数。
在本申请实施例中,第二GOA电路105输出扫描信号G2(n)依次以显示面板101的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描显示面板的像素行时,在扫描显示面板101的N行像素行时,可侦测N行像素行中的第J行像素行的数据,其中,J为不大于N的正整数。
为了便于理解,下面以举例的形式进行说明:
例如,若N为3,J为2,M为720,则第二GOA电路105输出扫描信号 G2(n)依次以显示面板101的各行像素行作为初始像素行,3行为一个扫描单位扫描显示面板的像素行,在扫描显示面板101的3行像素行时,可侦测3行像素行中的第2行像素行的数据,即当以显示面板101的第1行像素行作为初始像素行,扫描显示面板101的第1行、第2行、第3行像素行时,可侦测显示面板101的第2行像素行,当以显示面板101的第2行像素行作为初始像素行,扫描显示面板101的第2行、第3行、第4行像素行时,可侦测显示面板101 的第3行像素行,依次类推,在第二GOA电路105输出扫描信号G2(n)依次以显示面板101的各行像素行作为初始像素行,3行为一个扫描单位扫描显示面板的像素行时,可侦测到显示面板101的第2~719行像素行,但未能侦测到第 1行像素行和第720行像素行。
在具体的实施过程中,为了在第二GOA电路105输出扫描信号G2(n)依次以显示面板101的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描显示面板的像素行时,能够侦测到第一行像素行和第M行像素行,可在显示面板101 的第一行像素行之前和第M行像素行之后,分别设置K行虚拟像素行,以使第一行像素行或第M行像素行与对应的K行虚拟像素行组合形成一个扫描单位,其中,K为N与J之间的差值。
为了便于理解,下面以举例的形式进行说明:
例如,若N为3,J为2,M为720,则K为1,在显示面板101的第一行像素行之前和第M行像素行之后,分别设置一行虚拟像素行,当以显示面板 101的第1行像素行之前的虚拟像素行作为初始像素行,扫描显示面板101的第1行像素行之前的虚拟像素行、第1行像素行、第2行像素行时,可侦测到显示面板101的第1行像素行,当以显示面板101的第719行像素行作为初始像素行,扫描显示面板101的第719行、第720行像素行以及第720行像素行之后的虚拟像素行时,可侦测到显示面板101的第720行像素行。
在第二GOA电路105输出扫描信号G2(n)依次以显示面板101的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描显示面板的像素行,侦测N行像素行中的第J行像素行的数据之后,可判断显示面板101是否有未被侦测到的像素行,若否,则根据侦测到的显示面板101的各像素行的数据,获取对应的补偿数据,其中,补偿数据用于表示AMOLED显示器的TFT的阈值电压偏差值,将补偿数据发送至SOURCE-IC102,以使SOURCE-IC102根据补偿数据完成对显示面板101的补偿处理。
如上述方法,通过依次以显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描显示面板的像素行后,选择N行像素行中的第J行像素行进行侦测,避免现有侦测方法需在扫描显示面板的各像素行后,才对各像素行进行侦测,即需在帧与帧之间的空白时间才能侦测各像素行,每个空白时间能侦测到的子像素数目有限,导致总侦测时间较长的问题,从而缩短侦测时间,提升用户的使用体验,为了便于理解,下面以举例的形式对上述方法的侦测时间计算进行说明:
例如,若AMOLED显示器的显示频率为60Hz,分辨率为1920*RGB*720,假设每行最短扫描时间为22us,则每帧最短扫描时间为22us*720行=15.84ms,其中,扫描时间与每行子像素最短扫描时间有关。由于实际每帧扫描时间为 1/60Hz=16.7ms,则存在剩余时间16.7-15.84=0.86ms。由于空白帧等效行数取值范围为<=39,则空白帧等效行数为860/22=39.1取整,当空白帧等效行数取 X时(X<=39),则对应的每行扫描时间为t=16.7ms/(720+X),如:X=13,则 t=16.7*1000/(720+13)≈22.8us;X=10,则t=16.7*1000/(720+10)≈22.9us; X=30,则t=16.7*1000/(720+30)≈22.3us。
假设空白帧等效行数为13,则对应的每行扫描时间为t=16.7ms/(720+X) 16.7*1000/(720+13)≈22.8us,取N=3,每次侦测可获取1920*RGB个子像素,侦测时间约500us,其中,侦测时间与子像素有机发光二级管(Organic Light Emitting Display,OLED)电容及模拟数字转换器(Analog-to-digital converter, ADC)侦测芯片的参数有关,则每次侦测及扫描时间总计为500us+22.8us*3 ≈0.56ms,总侦测时间为0.56ms*720≈0.4s,若R/G/B分开取值,总侦测时间为1.2s左右,则相较于现有侦测方法需在帧与帧之间的空白时间才能侦测各像素行,每个空白时间能侦测到的子像素数目有限,导致总侦测时间较长,上述方法将总侦测时间缩短到0.5s~2s以内,提升了用户的使用体验。
基于同一发明构思,本申请实施例提供一种外部电学补偿侦测装置,该外部电学补偿侦测装置能够实现前述的外部电学补偿侦测方法对应的功能。该外部电学补偿侦测装置可以是硬件结构、软件模块、或硬件结构加软件模块。该外部电学补偿侦测装置可以由芯片***实现,芯片***可以由芯片构成,也可以包含芯片和其他分立器件。请参见图3所示,该外部电学补偿侦测装置可以应用于前述图1所示的AMOLED显示器,包括扫描模块301、侦测模块302,其中:
扫描模块301、,用于在所述AMOLED显示器进入侦测模式时,依次以所述显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描所述显示面板的像素行;
侦测模块302,用于在扫描所述显示面板的N行像素行时,侦测所述N行像素行中的第J行像素行的数据,其中,所述J为不大于N的正整数。
可选的,还包括确定模块,用于:
根据所述AMOLED显示器的分辨率、显示尺寸以及存储电容,确定所述 N与所述J的值。
可选的,还包括第一处理模块,用于:
在所述显示面板的第一行像素行之前和第M行像素行之后,分别设置K 行虚拟像素行,以使所述第一行像素行或所述第M行像素行与对应的K行虚拟像素行组合形成所述一个扫描单位,所述K为所述N与所述J之间的差值。
可选的,还包括第二处理模块,用于:
判断所述显示面板是否有未被侦测到的像素行;
若否,则根据侦测到的所述显示面板的各像素行的数据,获取对应的补偿数据,其中,所述补偿数据用于表示所述AMOLED显示器的薄膜晶体管TFT 的阈值电压偏差值;
将所述补偿数据发送至所述AMOLED显示器的驱动集成电路 SOURCE-IC,以使所述SOURCE-IC根据所述补偿数据完成对所述AMOLED 显示器的显示面板的补偿处理。
基于同一发明构思,本申请实施例提供一种外部电学补偿侦测***,请参见图4所述,该外部电学补偿侦测***包括至少一个处理器402,以及与至少一个处理器连接的存储器401,本申请实施例中不限定处理器402与存储器401 之间的具体连接介质,图4是以处理器402和存储器401之间通过总线400连接为例,总线400在图4中以粗线表示,其它部件之间的连接方式,仅是进行示意性说明,并不以此为限。总线400可以分为地址总线、数据总线、控制总线等,为便于表示,图4中仅用一条粗线表示,但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
在本申请实施例中,存储器401存储有可被至少一个处理器402执行的指令,至少一个处理器402通过调用存储器401存储的指令,可以执行前述的外部电学补偿侦测方法中所包括的步骤。
其中,处理器402是外部电学补偿侦测***的控制中心,可以利用各种接口和线路连接整个外部电学补偿侦测***的各个部分,通过执行存储在存储器 401内的指令,从而实现外部电学补偿侦测***的各种功能。可选的,处理器 402可包括一个或多个处理单元,处理器402可集成应用处理器和调制解调处理器,其中,应用处理器主要处理操作***、用户界面和应用程序等,调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是,上述调制解调处理器也可以不集成到处理器402中。在一些实施例中,处理器402和存储器401可以在同一芯片上实现,在一些实施例中,它们也可以在独立的芯片上分别实现。
存储器401作为一种非易失性计算机可读存储介质,可用于存储非易失性软件程序、非易失性计算机可执行程序以及模块。存储器401可以包括至少一种类型的存储介质,例如可以包括闪存、硬盘、多媒体卡、卡型存储器、随机访问存储器(Random AccessMemory,RAM)、静态随机访问存储器(Static Random Access Memory,SRAM)、可编程只读存储器(Programmable Read Only Memory,PROM)、只读存储器(Read Only Memory,ROM)、带电可擦除可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory,EEPROM)、磁性存储器、磁盘、光盘等等。存储器401是能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质,但不限于此。本申请实施例中的存储器401还可以是电路或者其它任意能够实现存储功能的装置,用于存储程序指令和/或数据。
处理器402可以是通用处理器,例如中央处理器(CPU)、数字信号处理器、专用集成电路、现场可编程门阵列或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件,可以实现或者执行本申请实施例中公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者任何常规的处理器等。结合本申请实施例所公开的外部电学补偿侦测方法的步骤可以直接体现为硬件处理器执行完成,或者用处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。
通过对处理器402进行设计编程,可以将前述实施例中介绍的外部电学补偿侦测方法所对应的代码固化到芯片内,从而使芯片在运行时能够执行前述的外部电学补偿侦测方法的步骤,如何对处理器402进行设计编程为本领域技术人员所公知的技术,这里不再赘述。
基于同一发明构思,本申请实施例还提供一种存储介质,该存储介质存储有计算机指令,当该计算机指令在计算机上运行时,使得计算机执行如前述的外部电学补偿侦测方法的步骤。
在一些可能的实施方式中,本申请提供的外部电学补偿侦测方法的各个方面还可以实现为一种程序产品的形式,其包括程序代码,当程序产品在外部电学补偿侦测***上运行时,程序代码用于使该外部电学补偿侦测***执行本说明书上述描述的根据本申请各种示例性实施方式的外部电学补偿侦测方法中的步骤。
本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、***、或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、 CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请的方法、设备(***)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
显然,本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样,倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内,则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (8)

1.一种AMOLED显示器,其特征在于,包括:显示面板、时序控制集成电路TCON-IC、第一阵列基板行驱动GOA电路、第二GOA电路;
其中,所述TCON-IC用于输出控制信号控制所述AMOLED显示器进行显示模式和侦测模式的切换;
所述第一阵列基板行驱动 GOA电路用于在所述AMOLED显示器进入显示模式时,输出扫描信号G1(n)扫描所述显示面板的各像素行;
所述第二GOA电路用于在所述AMOLED显示器进入侦测模式时,输出扫描信号G2(n)依次以所述显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描所述显示面板的像素行,并在扫描所述显示面板的N行像素行时,侦测所述N行像素行中的第J行像素行的数据,其中,所述N为根据所述AMOLED显示器的分辨率、显示尺寸以及存储电容确定的不大于M的正整数,所述M为所述显示面板的像素的行数,所述J为根据所述AMOLED显示器的分辨率、显示尺寸以及存储电容确定的不大于N的正整数。
2.一种外部电学补偿侦测方法,其特征在于,应用于如权利要求1所述的AMOLED显示器,包括:
在所述AMOLED显示器进入侦测模式时,依次以所述显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描所述显示面板的像素行;
在扫描所述显示面板的N行像素行时,侦测所述N行像素行中的第J行像素行的数据。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,依次以所述显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描所述显示面板的像素行之前,还包括:
在所述显示面板的第一行像素行之前和第M行像素行之后,分别设置K行虚拟像素行,以使所述第一行像素行或所述第M行像素行与对应的K行虚拟像素行组合形成所述一个扫描单位,所述K为所述N与所述J之间的差值。
4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,还包括:
判断所述显示面板是否有未被侦测到的像素行;
若否,则根据侦测到的所述显示面板的各像素行的数据,获取对应的补偿数据,其中,所述补偿数据用于表示所述AMOLED显示器的薄膜晶体管TFT的阈值电压偏差值;
将所述补偿数据发送至所述AMOLED显示器的驱动集成电路SOURCE-IC,以使所述SOURCE-IC根据所述补偿数据完成对所述AMOLED显示器的显示面板的补偿处理。
5.一种外部电学补偿侦测装置,其特征在于,应用于如权利要求1所述的AMOLED显示器,包括:
扫描模块,用于在所述AMOLED显示器进入侦测模式时,依次以所述显示面板的各像素行作为初始像素行,N行为一个扫描单位扫描所述显示面板的像素行;
侦测模块,用于在扫描所述显示面板的N行像素行时,侦测所述N行像素行中的第J行像素行的数据。
6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,还包括第一处理模块,用于:
在所述显示面板的第一行像素行之前和第M行像素行之后,分别设置K行虚拟像素行,以使所述第一行像素行或所述第M行像素行与对应的K行虚拟像素行组合形成所述一个扫描单位,所述K为所述N与所述J之间的差值。
7.如权利要求5所述的装置,其特征在于,还包括第二处理模块,用于:
判断所述显示面板是否有未被侦测到的像素行;
若否,则根据侦测到的所述显示面板的各像素行的数据,获取对应的补偿数据,其中,所述补偿数据用于表示所述AMOLED显示器的薄膜晶体管TFT的阈值电压偏差值;
将所述补偿数据发送至所述AMOLED显示器的驱动集成电路SOURCE-IC,以使所述SOURCE-IC根据所述补偿数据完成对所述AMOLED 显示器的显示面板的补偿处理。
8.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令用于使计算机执行权利要求2-4任一项所述的方法包括的步骤。
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