CN111508401A - 裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法 - Google Patents

裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法 Download PDF

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张德华
殷敏
陈刚
王彬
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Abstract

本申请公开了一种裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法，裂纹检测电路，包括设置在显示面板上的第一电阻线和第二电阻线，所述第二电阻线沿所述显示面板周向设置，所述第一电阻线与所述第二电阻线串联，并连接至显示面板驱动芯片，所述第一电阻线与所述第二电阻线之间的连接点为裂纹检测点。根据本申请实施例提供的技术方案，通过将第一电阻线和第二电阻线均设置在显示面板上，使得第一电阻线和第二电阻线均在面板制备工艺过程中进行制备，两个电阻线采用相同的工艺进行制备，产生的差异相当，在显示面板裂纹检测过程中避免因为电阻制备工艺不同造成的误判现象。

Description

裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法
技术领域
本发明一般涉及显示领域，尤其涉及裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法。
背景技术
在AMOLED领域，PCD(Panel Crack Detection，面板裂纹检测)作为一种检测屏幕破损的功能是必不可少的。然而现阶段还存在一些产线生产工艺差异的问题：在生产过程中，由于驱动芯片和面板生产工艺的差异导致PCD功能误判，由于驱动芯片生产过程中的电阻阻值和面板生产过程中的电阻阻值有偏差，降低产线生产良率。
发明内容
鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种裂纹检测电路、显示面板及裂纹检测方法。
第一方面，提供一种裂纹检测电路，包括设置在显示面板上的第一电阻线和第二电阻线，所述第二电阻线沿所述显示面板周向设置，
所述第一电阻线与所述第二电阻线串联，并连接至显示面板驱动芯片，所述第一电阻线与所述第二电阻线之间的连接点为裂纹检测点。
第二方面，提供一种显示面板，包括上述裂纹检测电路。
第三方面，提供一种显示面板裂纹检测方法，采用上述裂纹检测电路进行检测。
根据本申请实施例提供的技术方案，通过将第一电阻线和第二电阻线均设置在显示面板上，使得第一电阻线和第二电阻线均在面板制备工艺过程中进行制备，两个电阻线采用相同的工艺进行制备，产生的阻值差异相同或相近，在显示面板裂纹检测过程中避免因为电阻制备工艺不同造成的误判现象。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为本实施例中包括裂纹检测电路的显示面板示意图。
图2为本实施例中裂纹检测电路示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与发明相关的部分。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
请参考图1，本实施例提供一种裂纹检测电路，其特征在于，包括设置在显示面板4上的第一电阻线1和第二电阻线2，所述第二电阻线2沿所述显示面板4周向设置，
所述第一电阻线1与所述第二电阻线2串联，并连接至显示面板驱动芯片3，所述第一电阻线1与所述第二电阻线2之间的连接点为裂纹检测点5。
本申请中将用于检测的第一电阻线和第二电阻线均设置在显示面板上，第一电阻线和第二电阻线均采用相同的工艺进行制备，若工艺对电阻线的阻值产生影响，本实施例中两电阻线的阻值差异相同或相近，很好的避免了因为生产工艺的差异导致阻值差异不同，进一步导致的裂纹检测功能误判的现象，能够极大的提高裂纹检测的准确率。
进一步的，所述显示面板4包括显示区和非显示区，所述第一电阻线1、所述第二电阻线2和驱动芯片3设置在所述显示面板的非显示区域。
如图1所示，显示面板包括显示区和非显示区，非显示区一般围绕显示区设置，其中图1中虚线以内的区域为显示区域，虚线以外的区域为非显示区，将第一电阻线和第二电阻线设置在非显示区域，不影响显示面板的显示，第二电阻线沿显示面板周向设置，围绕显示区域设置，同时如果在面板制备过程中显示基板出现裂纹，该第二电阻线也会由于裂纹的产生发生断裂等现象，使得该第二电阻线的电学参数发生变化，通过检测第一电阻线和第二电阻线之间的裂纹检测的电压值，判断该显示面板是否出现裂纹等情况。
进一步的，所述显示面板驱动芯片设置在所述显示面板的一端，所述驱动芯片一端口连接至第一电阻线，另一端口连接至第二电阻线。
本实施例中将第一电阻线和第二电阻线连接至驱动芯片，通过驱动芯片向第一电阻线和第二电阻线提供电压。
进一步的，所述第一电阻线设置在所述显示面板靠近驱动芯片的一侧。本实施例中需要将第二电阻线围绕显示面板的显示区域进行设置，因此，设置在显示面板上的第一电阻线不能影响该第二电阻线的走线，将该第一电阻线设置在靠近驱动芯片的一侧，尽可能小范围的完成第一电阻线的走线。
进一步的，所述第二电阻线至少设置在所述显示面板未设所述驱动芯片的三条边上。
本实施例中将第一电阻线设置在显示面板周向上，尽量围绕显示区域设置，至少设置在三条边上，如图1所示，由于显示面板在制备的时候，靠近驱动芯片的一侧不容易损坏，因此本实施例中将第二电阻线设置在图1中所示显示面板的左右两边和下边，靠近驱动芯片的一边未设置第二电阻线，能够实现对显示面板是否有裂纹的检测；进一步的还可以将第二电阻线围绕整个显示区域设置，使得显示面板的裂纹检测更加精准。
进一步的，裂纹检测点连接至显示面板驱动芯片。
本实施例中通过检测第一电阻线与第二电阻线之间的V1点电压进行显示面板的裂纹检测，将该裂纹检测点连接至驱动电路进行电压值的检测。
本实施例还提供一种显示面板，包括上述裂纹检测电路。
本实施例还提供一种显示面板裂纹检测方法，采用上述的裂纹检测电路进行检测。
本实施例中的检测方法采用上述的检测电路，其中将第一电阻线和第二电阻线均设置在显示面板上，具体设置在显示面板的非显示区域，不影响显示面板显示效果的同时将两个电阻均设置在同一面板上，使得第一电阻线和第二电阻线在面板制备工艺过程中被制备出来，两个电阻线的制备采用相同的工艺，两个电阻线产生的差异较小，在PCD检测过程中避免因为工艺不同造成的误判现象。
进一步的，检测方法包括：检测第一电阻线和第二电阻线之间裂纹检测点的电压值，判断裂纹监测点的电压值是否为设定范围值。
通过检测裂纹检测点的电压值进行显示面板是否有裂纹的判断，该电压检测方法简单，能够准确有效的判断出显示面板的情况。
进一步的，检测方法具体为：向所述第一电阻线R1和所述第二电阻线R 2提供电压V0，检测所述裂纹检测点的电压值V1是否满足以下条件：
Figure BDA0002537111420000041
如图2所示，为本实施例中的PCD检测电路图，其中第一电阻和第二电阻均设置在显示面板上，其阻值差异相当，其中通过电阻分压的方式，对第一电阻和第二电阻之间的V1点进行电压监控，该V1点的电压为
Figure BDA0002537111420000042
为了使得判断更加简单，将第一电阻和第二电阻的阻值设置的相同，则需要检测
Figure BDA0002537111420000043
判断V1值是否满足上述条件，由于现有工艺等其他条件的限制，V1值可能有所变化，但仍在
Figure BDA0002537111420000044
左右变化，因此V1满足设定范围即可判断显示面板无破损。
上述方法排除了第一电阻和第二电阻由于生产工艺不同，造成的阻值偏差不相同的情况，很好的避免了PCD的误判现象，极大地提高了产线的生产良率。
以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (10)

1.一种裂纹检测电路，其特征在于，包括设置在显示面板上的第一电阻线和第二电阻线，所述第二电阻线沿所述显示面板周向设置，
所述第一电阻线与所述第二电阻线串联，并连接至显示面板驱动芯片，所述第一电阻线与所述第二电阻线之间的连接点为裂纹检测点。
2.根据权利要求1所述的裂纹检测电路，其特征在于，所述显示面板包括显示区和非显示区，所述第一电阻线、所述第二电阻线和所述驱动芯片设置在所述显示面板的非显示区域。
3.根据权利要求2所述的裂纹检测电路，其特征在于，所述驱动芯片设置在所述显示面板的一端，所述驱动芯片的一端口连接至第一电阻线，另一端口连接至第二电阻线。
4.根据权利要求2所述的裂纹检测电路，其特征在于，所述第一电阻线设置在所述显示面板靠近所述驱动芯片的一侧。
5.根据权利要求4所述的裂纹检测电路，其特征在于，所述第二电阻线至少设置在所述显示面板未设所述驱动芯片的三条边上。
6.根据权利要求2所述的裂纹检测电路，其特征在于，所述裂纹检测点连接至所述显示面板驱动芯片。
7.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1-6任一所述的裂纹检测电路。
8.一种显示面板裂纹检测方法，其特征在于，采用如权利要求1-6任一所述的裂纹检测电路进行检测。
9.根据权利要求8所述的显示面板裂纹检测方法，其特征在于，检测所述第一电阻线和第二电阻线之间裂纹检测点的电压值，判断所述裂纹检测点的电压值是否为设定范围值。
10.根据权利要求8所述的显示面板裂纹检测方法，其特征在于，具体为：向所述第一电阻线R1和所述第二电阻线R2提供电压V0，检测所述裂纹检测点的电压值V1是否满足以下条件：
Figure FDA0002537111410000021
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