CN111505387A - 一种辐照条件下介质材料微波介电性能测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种辐照条件下介质材料微波介电性能测试方法，本发明采用固定腔长法测量辐照条件下的微波介质材料的微波介电性能，不需要调节腔体的长度，使***结构更加简单。通过半开放结构采用电子枪或伽马射线源设备，把辐射源固定在一定的角度位置，使辐射粒子方便准确的打到被测样品上，利用谐振法的基本测试原理实时测试辐照强度、剂量等参数对介质材料介电性能的影响，满足了模拟空间环境实时测试要求。由于准光腔属于开放腔，辐射源设备比较容易安装，本发明具有结构简单、操作方便、价格低廉、效率高、精确度高等优点，可以很好的在辐射条件下，进行微波介质材料的微波介电性能的测试，从而有利于研究航天器微波器件受辐照条件的影响。

Description

一种辐照条件下介质材料微波介电性能测试方法
技术领域
本发明涉及微波测试技术领域,包括但不限于微波介质材料及其在辐照条件下微波介电性能的实时测试。
背景技术
随着我国航天事业的发展，采用高性能的微波介质材料的新型微波器件可有效降低器件的尺寸和重量，有利于卫星高性能化和小型化，在航天器中得到越来越多的应用。航天器在轨故障分析表明，尽管航天器故障表现形式多种多样，但除设计缺陷外，大多是由于所使用的材料、元器件在以辐照、温度等为代表的空间环境作用下发生性能退化而诱发的。因此，微波介质材料的介电性能在空间环境中性能退化问题成为航天器通讯组件研究中的重点问题。
太空中无所不在的辐照(伽马射线、电子、粒子)对介质材料微波介电性能的退化有着重要的影响，这也是当前介质材料在空间中应用的必须考虑的影响因素。介质材料根据材料分类可分为陶瓷介质材料和聚合物基介质材料。辐射作用于陶瓷材料，激发出的一部分弗伦克尔缺陷会停留在介质层内部，引起电离辐射总剂量效应，导致材料介电损耗增大、电阻率下降。辐射作用于聚合物，会引起老化失效、交联，降解，氧化以及脱去基团等多种反应，严重影响材料的电学性能和力学性能。这些性能上的变化都可以通过精确测试微波介质材料介电性能与辐照剂量之间的关系进行标定，这也是评估介质材料介电性能退化的主要手段。
传统的可以精确测试微波介电性能的方法主要为谐振法，代表性的方法有介质谐振器法、同轴表面波谐振器法、分离谐振器法等。采用这些方法测试时，介质材料放置于金属腔体内部，通过放入样品前后谐振腔体谐振性能的变化计算出材料的微波介电性能。测试过程中金属腔体屏蔽(阻碍)了外场(电场、辐照等)对介质材料的影响，这也就意味这采用以上介电性能测试方法时，不能实时测试辐照对材料介电性能的影响。因此，受制于现有的测试方法，如研究辐照对介质材料介电性能的影响，通常是将辐照处理后的样品取出，采用上述的测试方法进行测试，属于静态测试方法，不符合介质材料的空间应用场景。而辐照过程中，材料的介电性能与辐照强度、剂量有着实时的变化关系，呈现出动态的变化。如何模拟空间辐照环境，在辐照条件下动态实时测试介质材料微波介电性能成为行业的难点。
为了解决介电性能实时测试的问题，有研究者将介质材料作为介质基板，采用天线结构现实进行测试，将天线置于辐照环境中，通过分析天线性能与辐照之间的变化关系推算介质材料的性能变化，但天线表面必然存在的金属导电层会对测试结果有影响，测试精度较低。同时，网络分析仪仅耐受40V的直流电压，不采用特殊的防护措施时，如施加高能电子束时，有可能造成介质放电击穿，导致价格昂贵的网络分析仪击穿损坏，进一步限制了该方法的实用性。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种可实现对被测样品进行实时辐射不会造成损伤或损失，而且操作方便、结构简单、价格低廉、测试准确度较高、测试速度快的适用于辐照条件下的微波介质材料微波介电性能实时测试方法。
为了解决上述技术问题，本发明提供技术方案如下：
一种辐照条件下介质材料微波介电性能测试方法，包括网络分析仪、准光腔、笔记本、辐射源、测试***控制软件。采用的是准光腔测试***，在准光腔测试***的基础上增加了辐射源设备，通过控控制辐射源对被测样品发射辐射粒子模拟太空辐射环境，利用准光腔实时测试样品在不同辐射剂量或强度条件下的微波介电性能。
一种辐照条件下介质材料微波介电性能测试方法包括以下步骤：
步骤1：研发准光腔结构尺寸，实现腔体结构尺寸更适合用于辐照条件下的实时测试。凹面镜曲率半径为300～320，凹面镜半径为155mm～175mm，平面镜半径为120mm～140mm,腔体高160mm～190mm.
步骤2：采用辐照源自动化发射装置，通过控制不同电子枪加速电压(30kv～150kv)的大小，来实现对样品不同剂量及强度的辐照。
步骤3：利用labview编写测试***控制软件,实现对辐射源辐射量的控制以及对整个***进行实时测试的控制，通过***操作界面输入扫描参数和电子枪控制电压大小，即可进行介质材料的微波介电性能测试。
步骤4：实现软件和硬件的结合，并利用标准样品聚四氟乙烯和蓝宝石对***进行校准，搭建完整可用的微波介电性能测试***。
步骤5：启动真空装置，保持辐射源处于关闭状态，利用研发的测试***控制软件进行空腔测试，记录S参数、谐振频率f、和品质因数Q.
步骤6：保持辐射源处于关闭状态，把样品放入准光腔的平面镜上，启动真空装置，利用研发的测试***控制软件进行样品的微波介电性能测试，根据品质因数Q和S参数的变化，计算样品的介电常数ε1和记录谐振频率f1、品质因数Q1；
步骤7：保持样品处于原来的位置，开启辐射源设备，利用研发的测试***控制软件进行样品的微波介电性能测试，根据品质因数Q和S参数的变化，计算样品的介电常数ε2和记录谐振频率f2、品质因数Q2。
步骤8：重复步骤6，7，利用测试***控制软件控制辐射源的辐射强度及辐照剂量，根据微波介电性能测试***得出的结果分析样品在辐射粒子不同强度或剂量作用下的微波介电性能。
本发明具有以下有益效果：
与现有技术相比，本发明的一种适用于辐照条件下介质材料微波介电性能测试的方法采用的是准光腔法，准光腔是一种开放腔，具有测试操作方便、对样品要求不高、测试精度高、适用于高频多物理场等优点，比传统的测试方法具有更多的的测试应用领域和更高的测试精度。本发明的测试***都是采用固定腔长法测量辐照条件下的微波介质材料的微波介电性能，不需要调节腔体的长度，使***结构更加简单。利用准光腔法物理结构为半开放性腔体这一特点，通过半开放结构采用电子枪或伽马射线源设备，把辐射源固定在一定的角度位置，使辐射粒子方便准确的打到被测样品上，利用谐振法的基本测试原理实时测试辐照强度、剂量等参数对介质材料介电性能的影响，满足了模拟空间环境实时测试的要求。由于准光腔属于开放腔，辐射源设备比较容易安装，该测试方法具有结构简单、操作方便、价格低廉、效率高、精确度高等优点，可以很好的在辐射条件下，进行微波介质材料的微波介电性能的测试，从而有利于研究航天器微波器件受辐照条件的影响。
附图说明
图1为本发明的一种适用于辐照条件下介质材料微波介电性能测试的方法***结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图进行详细描述。
本发明提供了一种适用于辐照条件下介质材料微波介电性能测试的方法***结构示意图如图1所示，1为真空罩，2为准光腔凹面镜，3为样品，4为准光腔平面镜，5为笔记本，6为网络分析仪，7为辐射源电子枪，8为电子束，网络分析仪和准光腔之间通过同轴线相连接，网络分析仪和笔记本之间通过GPIB相连接。该测试***由网络分析仪发射信号到准光腔中，然后收集处理从准光腔中反射回来的信号，再把处理后的信号传给自研的***软件进行处理，从而达到控制整个测试过程，最终结果由显示屏显示；电子枪的发射受到***软件的控制，由编写的***控制软件完成辐照条件。
准光腔是一种开放腔，是把光学的法布里-珀罗干涉仪外推到毫米波段的一种准光器件，又称为准光学谐振腔，准光腔分为平凹型谐振腔和双凹型谐振腔，本发明采用的是平凹型谐振腔，由一个球面镜和一个平面镜构成。在开放式谐振腔中，衍射损耗大小与模式有关，而且不同模式差别很大。电磁场在准光腔中的行为是高斯波束，由于衍射损耗，准光腔中的高次模品质因数太低，可以直接被忽略，因此，采用的是品质因数较高的基模TE011谐振模式，该工作模式在腔内的分布比较稀疏，有利于进行模式的识别，可以准确无误的进行样品测试。本发明的准光腔测试***采用的是固定腔长法，进行微波介电性能的测试，保持腔长不变，根据谐振频率f、品质因数Q和S参数的变化，计算介电常数
本发明的一种适用于辐照条件下介质材料微波介电性能测试的方法采用的是准光腔测试***，该测试***具有测试精度高、效率高等优点。在硬件方面，在前人的基础上，做了很大的修改，重新设计了一款适合本测试***的准光腔，更加有利于在辐照条件下，进行微波介质材料的微波介电性能的研究。在软件方面，本测试***的控制软件，能够对整个***操作过程进行实时控制，综合考虑各项影响因素，利用软件计算微波介质材料的介电性能时，加入影响因子，减小测试误差来源，使***测试结果更加准确。本发明的一种适用于辐照条件下介质材料微波介电性能测试的方法采用的是自动化辐射源，能够通过控制发射不同强度或剂量的辐射粒子到被测样品中，模拟太空环境中微波器件受到的辐照影响，该测试方法能够满足在辐射条件下，进行实时测试的要求
由于准光腔法测试***已在相关文献中记载，属于现有技术，本发明的创新点在于改进准光腔测试***并在此基础上增加了辐照条件，以便于研究太空中航天器微波器件受辐照条件的影响。
实施例1：
一种适用于辐照条件下介质材料微波介电性能测试的方法操作步骤如下：
步骤1：研发准光腔结构尺寸，实现腔体结构尺寸更适合用于辐照条件下的实时测试。凹面镜曲率半径为300～320，凹面镜半径为155mm～175mm，平面镜半径为120mm～140mm,腔体高160mm～190mm.
步骤2：采用辐照源自动化发射装置，通过控制不同电子枪加速电压(30kv～150kv)的大小，来实现对样品不同剂量及强度的辐照。
步骤3：利用labview编写测试***控制软件,实现对辐射源辐射量的控制以及对整个***进行实时测试的控制，通过***操作界面输入扫描参数和电子枪控制电压大小，即可进行介质材料的微波介电性能测试。
步骤4：实现软件和硬件的结合，并利用标准样品聚四氟乙烯和蓝宝石对***进行校准，搭建完整可用的微波介电性能测试***。
步骤5：启动真空装置，保持辐射源处于关闭状态，利用研发的测试***控制软件进行空腔测试，记录S参数、谐振频率f、和品质因数Q.
步骤6：保持辐射源处于关闭状态，把样品放入准光腔的平面镜上，启动真空装置，利用研发的测试***控制软件进行样品的微波介电性能测试，根据品质因数Q和S参数的变化，计算样品的介电常数ε1和记录谐振频率f1、品质因数Q1；
步骤7：保持样品处于原来的位置，开启辐射源设备，利用研发的测试***控制软件进行样品的微波介电性能测试，根据品质因数Q和S参数的变化，计算样品的介电常数ε2和记录谐振频率f2、品质因数Q2。
步骤8：重复步骤6，7，利用测试***控制软件控制辐射源的辐射强度及辐照剂量，根据微波介电性能测试***得出的结果分析样品在辐射粒子不同强度或剂量作用下的微波介电性能。
常温下，对三氧化二铝、环氧树脂进行辐照前后的微波介电性能测试，结果如下表所示：
表1：辐照前测试结果
样品 谐振频率(GHz) ε
Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub> 9.72 8.87
环氧树脂 10.18 3.56
表2：辐照后测试结果
样品 谐振频率(GHz) ε
Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub> 9.59 8.98
环氧树脂 10.04 3.76
由以上两表可知，对样品进行辐照后，三氧化二铝和环氧树脂的谐振频率和介电常数都发生了变化。辐照后，两种样品的谐振频率都减小了，介电常数都增加了，与相关文献资料对比，该测试发生的变化在正常范围内，测试结果较准。因此，本发明可用于研究辐照条件下，微波介质材料的微波介电性能的研究。

Claims (1)

1.一种辐照条件下介质材料微波介电性能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1：研发准光腔结构尺寸，实现腔体结构尺寸更适合用于辐照条件下的实时测试，凹面镜曲率半径为300，凹面镜半径为165mm，平面镜半径为130mm，腔体高150mm；
步骤2：采用辐照源自动化发射装置，通过控制不同电子枪加速电压(30kv～150kv)的大小，来实现对样品不同剂量及强度的辐照；
步骤3：利用labview编写测试***控制软件，实现对辐射源辐射量的控制以及对整个***进行实时测试的控制，通过***操作界面输入扫描参数和电子枪控制电压大小，即可进行介质材料的微波介电性能测试；
步骤4：实现软件和硬件的结合，并利用标准样品聚四氟乙烯和蓝宝石对***进行校准，搭建完整可用的微波介电性能测试***；
步骤5：启动真空装置，保持辐射源处于关闭状态，利用研发的测试***控制软件进行空腔测试，记录S参数、谐振频率f、和品质因数Q；
步骤6：保持辐射源处于关闭状态，把样品放入准光腔的平面镜上，启动真空装置，利用研发的测试***控制软件进行样品的微波介电性能测试，根据品质因数Q和S参数的变化，计算样品的介电常数ε1和记录谐振频率f1、品质因数Q1；
步骤7：保持样品处于原来的位置，开启辐射源设备，利用研发的测试***控制软件进行样品的微波介电性能测试，根据品质因数Q和S参数的变化，计算样品的介电常数ε2和记录谐振频率f2、品质因数Q2；
步骤8：重复步骤6，7，利用测试***控制软件控制辐射源的辐射强度及辐照剂量，根据微波介电性能测试***得出的结果分析样品在辐射粒子不同强度或剂量作用下的微波介电性能。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112051453A (zh) * 2020-08-31 2020-12-08 电子科技大学 一种高温流体材料介电性能远距离测试装置及其测试方法
CN112180174A (zh) * 2020-09-11 2021-01-05 西安交通大学 一种基于频域介电响应的压敏陶瓷界面态响应测量方法
CN112305315A (zh) * 2020-09-30 2021-02-02 山东国瓷功能材料股份有限公司 用于介质材料的介电性能变温自动测试***及方法
CN112782489A (zh) * 2021-01-09 2021-05-11 西安交通大学 一种真空环境电子辐照下的天线性能测量装置及方法
CN115932445A (zh) * 2022-12-14 2023-04-07 北京卫星环境工程研究所 一种模拟空间辐射的器件试验方法

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3535630A (en) * 1967-03-08 1970-10-20 Industrial Nucleonics Corp Infrared radiation temperature sensing using reflector technique for measuring thin sheet materials
US5744971A (en) * 1994-09-09 1998-04-28 Chan; Tsing Yee Amy Device and apparatus for measuring dielectric properties of materials
CN101126778A (zh) * 2007-08-03 2008-02-20 西北工业大学 复介电常数测量装置
CN102128985A (zh) * 2010-12-30 2011-07-20 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 一种介质材料电导率的测试方法
CN102135573A (zh) * 2010-11-23 2011-07-27 吉林大学 低损耗介质介电常数测量装置及测量方法
CN103454315A (zh) * 2013-09-16 2013-12-18 中国科学院空间科学与应用研究中心 一种测量航天器介质材料深层充电特征参数的装置及方法
CN104360176A (zh) * 2014-11-19 2015-02-18 中国人民解放军军械工程学院 一种电子束辐照聚四氟乙烯内带电测试***
CN107290595A (zh) * 2017-06-26 2017-10-24 电子科技大学 基于椭球面反射镜的材料复介电常数高温测试装置及方法
CN107918066A (zh) * 2017-09-27 2018-04-17 华北电力大学 真空环境测试仪器
CN108535550A (zh) * 2018-03-12 2018-09-14 上海理工大学 基于布鲁斯特角测量的太赫兹物质介电常数测量***
CN110161317A (zh) * 2018-02-11 2019-08-23 中国科学院电工研究所 一种固体绝缘材料表面介电特性综合测量装置
CN111070354A (zh) * 2020-01-20 2020-04-28 浙江广鑫竹基材料有限公司 用于柔性竹篾编织的自动喂料机构

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3535630A (en) * 1967-03-08 1970-10-20 Industrial Nucleonics Corp Infrared radiation temperature sensing using reflector technique for measuring thin sheet materials
US5744971A (en) * 1994-09-09 1998-04-28 Chan; Tsing Yee Amy Device and apparatus for measuring dielectric properties of materials
CN101126778A (zh) * 2007-08-03 2008-02-20 西北工业大学 复介电常数测量装置
CN102135573A (zh) * 2010-11-23 2011-07-27 吉林大学 低损耗介质介电常数测量装置及测量方法
CN102128985A (zh) * 2010-12-30 2011-07-20 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 一种介质材料电导率的测试方法
CN103454315A (zh) * 2013-09-16 2013-12-18 中国科学院空间科学与应用研究中心 一种测量航天器介质材料深层充电特征参数的装置及方法
CN104360176A (zh) * 2014-11-19 2015-02-18 中国人民解放军军械工程学院 一种电子束辐照聚四氟乙烯内带电测试***
CN107290595A (zh) * 2017-06-26 2017-10-24 电子科技大学 基于椭球面反射镜的材料复介电常数高温测试装置及方法
CN107918066A (zh) * 2017-09-27 2018-04-17 华北电力大学 真空环境测试仪器
CN110161317A (zh) * 2018-02-11 2019-08-23 中国科学院电工研究所 一种固体绝缘材料表面介电特性综合测量装置
CN108535550A (zh) * 2018-03-12 2018-09-14 上海理工大学 基于布鲁斯特角测量的太赫兹物质介电常数测量***
CN111070354A (zh) * 2020-01-20 2020-04-28 浙江广鑫竹基材料有限公司 用于柔性竹篾编织的自动喂料机构

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
RYBALKO, OLEKSANDR ET AL.: "Modeling of diffraction radiation processes on periodic metal-dielectric structures in millimeter wavelength range", 《OPTICA APPLICATA》 *
熊刚: "基于Fabry-Perot谐振腔的微波介电性能测试***研究", 《第二十届中国覆铜板技术研讨会论文集》 *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112051453A (zh) * 2020-08-31 2020-12-08 电子科技大学 一种高温流体材料介电性能远距离测试装置及其测试方法
CN112051453B (zh) * 2020-08-31 2021-11-02 电子科技大学 一种高温流体材料介电性能远距离测试装置及其测试方法
CN112180174A (zh) * 2020-09-11 2021-01-05 西安交通大学 一种基于频域介电响应的压敏陶瓷界面态响应测量方法
CN112305315A (zh) * 2020-09-30 2021-02-02 山东国瓷功能材料股份有限公司 用于介质材料的介电性能变温自动测试***及方法
CN112782489A (zh) * 2021-01-09 2021-05-11 西安交通大学 一种真空环境电子辐照下的天线性能测量装置及方法
CN115932445A (zh) * 2022-12-14 2023-04-07 北京卫星环境工程研究所 一种模拟空间辐射的器件试验方法
CN115932445B (zh) * 2022-12-14 2024-02-13 北京卫星环境工程研究所 一种模拟空间辐射的器件试验方法

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