CN111487034A - 光时域反射仪及光脉冲试验方法 - Google Patents

光时域反射仪及光脉冲试验方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111487034A
CN111487034A CN202010065935.3A CN202010065935A CN111487034A CN 111487034 A CN111487034 A CN 111487034A CN 202010065935 A CN202010065935 A CN 202010065935A CN 111487034 A CN111487034 A CN 111487034A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pulse width
backscattered light
measured
light level
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202010065935.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111487034B (zh
Inventor
村上太一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Publication of CN111487034A publication Critical patent/CN111487034A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111487034B publication Critical patent/CN111487034B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
    • G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)

Abstract

一种光时域反射仪，具备：存储部(20)，将对使用第1脉冲宽度W1测量到的与需连接的被测量光纤的连接点(DD)中的背向散射光等级(PZ(W1))加预先设定的参考距离DR下的使用大于第1脉冲宽度的第2脉冲宽度W2测量到的第2背向散射光等级(PR(W2))与预先设定的参考距离DR下的使用第1脉冲宽度测量到的第1背向散射光等级(PR(W1))的差分(ΔPR)而得的第3背向散射光等级(PZ(W2))，在进行试验之前与第2脉冲宽度建立对应关联而存储；及运算处理部(18)，为了进行试验而从存储部读出与从光源输出至被测量光纤的光脉冲的脉冲宽度对应的第2脉冲宽度下的第3背向散射光等级(PZ(W2))，并使用所读出的第3背向散射光等级(PZ(W2))求出被测量光纤中的传输损失LT。

Description

光时域反射仪及光脉冲试验方法
技术领域
本发明涉及一种OTDR(Optical Time Domain Reflectometer/光时域反射仪)及使用了OTDR的光脉冲试验方法。
背景技术
为了测量光传输通道的损失等而进行OTDR测量。在OTDR测量中，将来自光源的光脉冲输出至被测量光纤，并测量被测量光纤中的背向散射光的功率。来自光源的光脉冲经由与装置内的虚拟光纤连接的连接接头输出至被测量光纤。通常，与OTDR连接的被测量光纤的总损失使用OTDR近端(与装置外部的连接点)中的背向散射光功率的等级与被测量光纤的末端中的背向散射光功率的等级之差和连接接头中的损失之和进行计算。基于OTDR的好坏判定根据该总损失的计算结果进行，因此准确地测量这些值非常重要。
但是，若要测量连接接头中的损失，则必须测量虚拟光纤的背向散射光功率及OTDR近端的背向散射光功率，需要能够区别虚拟光纤与被测量光纤的空间分辨率，且OTDR所使用的脉冲宽度PW必然需要满足以下等式。
[数式1]
Figure BDA0002375970950000011
在此，L为光纤长度，ng为光纤的组折射率，C为光速。例如，当虚拟光纤的L＝10m且组折射率为1.5时，脉冲宽度为100ns以下成为用于测量连接接头中的损失的必要条件。
当被测量光纤为长距离或包括分束器时，或到被测量光纤末端为止的损失较大时，若要测量总损失，则必须加宽脉冲宽度，若进行加宽，则无法测量包括连接接头中的损失在内的总损失。
作为该解决方法，使用长虚拟光纤的方法比较简单，但例如，当使用10μs的脉冲宽度时，需要1km的虚拟光纤，因此成为设备大型化或成本增加的主要原因。
并且，还提出有在一测量中对虚拟光纤使用短脉冲宽度而测量虚拟光纤的背向散射光的光功率的等级，接着使用能够测量至被测量光纤末端为止的长脉冲宽度而测量连接接头中的损失的方法(例如，参考专利文献1。)。但是，专利文献1的方法在一次测量中使用两个以上的脉冲宽度，因此存在测量时间变长这一课题。
专利文献1：日本特开2012-8076号公报
发明内容
本发明的目的在于，在光时域反射仪中，即使在虚拟光纤长度相对于输出至被测量光纤的脉冲宽度短到在空间分辨率方面无法区别的程度的情况下，也无需进行基于多个脉冲宽度的测量，而能够测量包括被测量光纤的连接接头中的损失在内的总损失。
本发明所涉及的第1方式的光时域反射仪具备：
脉冲宽度设定部(12)，设定光脉冲的脉冲宽度；
光源(11)，生成所述脉冲宽度设定部所设定的脉冲宽度的光脉冲；及
光接收器(16)，检测从所述光源输出的光脉冲在被测量光纤中散射的背向散射光等级，所述光时域反射仪还具备：
存储部(20)，将对使用规定的第1脉冲宽度(W1)测量到的与需连接的所述被测量光纤的连接点(DD)中的连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))加预先设定的参考距离(DR)下的使用大于所述第1脉冲宽度的第2脉冲宽度(W2)测量到的第2背向散射光等级(PR(W2))与预先设定的参考距离(DR)下的使用所述第1脉冲宽度测量到的第1背向散射光等级(PR(W1))的差分(ΔPR)而得的第3背向散射光等级(PZ(W2))，在进行试验之前与所述第2脉冲宽度建立对应关联而存储；及
运算处理部(18)，为了进行试验而从所述存储部读出与从所述光源输出至所述被测量光纤的光脉冲的脉冲宽度对应的所述第2脉冲宽度下的所述第3背向散射光等级(PZ(W2))，并使用该第3背向散射光等级(PZ(W2))求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)。
本发明所涉及的第2方式的光时域反射仪在第1方式的光时域反射仪中，
所述存储部在进行试验之前代替所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而将所述差分(ΔPR)及所述连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))预先与所述第2脉冲宽度建立对应关联而存储，
所述运算处理部代替从所述存储部读出所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)，使用从所述存储部读出所述差分(ΔPR)及所述连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))并进行加法运算而计算出的所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)。
本发明所涉及的第3方式的光时域反射仪在第1或第2方式的光时域反射仪中，
所述存储部还保持所述参考距离下的背向散射光等级的预测范围，
所述运算处理部通过判定由所述光接收器检测到的所述参考距离下的背向散射光等级是否脱离了所述预测范围，进一步检测与所述被测量光纤的连接点中的连接异常。
本发明所涉及的第4方式的光脉冲试验方法执行如下步骤：
存储步骤，将对使用规定的第1脉冲宽度(W1)测量到的与需连接的所述被测量光纤的连接点(DD)中的连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))加预先设定的参考距离(DR)下的使用大于所述第1脉冲宽度的第2脉冲宽度(W2)测量到的第2背向散射光等级(PR(W2))与预先设定的参考距离(DR)下的使用所述第1脉冲宽度测量到的第1背向散射光等级(PR(W1))的差分(ΔPR)而得的第3背向散射光等级(PZ(W2))，在进行试验之前与所述第2脉冲宽度建立对应关联而存储；
光脉冲检测步骤，为了进行试验生成规定的脉冲宽度的光脉冲而向被测量光纤进行输出，并检测在所述被测量光纤中散射的所述光脉冲的背向散射光等级；及
传输损失导出步骤，读出与所述规定的脉冲宽度对应的所述第2脉冲宽度下的所述第3背向散射光等级(PZ(W2))，并使用该第3背向散射光等级(PZ(W2))求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)。
本发明所涉及的第5方式的光脉冲试验方法在第4方式的光脉冲试验方法中，
所述存储步骤在进行试验之前代替所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而将所述差分(ΔPR)及所述连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))预先与所述第2脉冲宽度建立对应关联而存储，
所述传输损失导出步骤代替读出所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)，使用读出所述差分(ΔPR)及所述连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))并进行加法运算而计算出的所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)。
发明效果
根据本发明，在光时域反射仪中，即使在虚拟光纤长度相对于向被测量光纤输出的脉冲宽度短到在空间分辨率方面无法区别的程度的情况下，也无需进行基于多个脉冲宽度的测量，而能够测量包括被测量光纤的连接接头中的损失在内的总损失。
附图说明
图1表示本发明所涉及的光时域反射仪的结构例。
图2表示OTDR波形的第1例。
图3表示OTDR波形的第2例。
图4是实施方式所涉及的总损失的测量方法的说明图。
附图标记列表
11-LD，12-LD控制部
13-耦合器
14-虚拟光纤
15-连接接头
16-APD
17-接收电路
18-CPU
19-显示部
20-存储部
21-被测量光纤
22-连接器
101-光时域反射仪。
具体实施方式
以下，参考附图对本发明的实施方式进行详细说明。另外，本发明并不限定于以下所示的实施方式。这些实施例只不过是例示，本发明根据本领域的技术人员的知识能够以施加了各种变更、改良的方式来实施。另外，在本说明书及附图中，符号相同的构成要件表示彼此相同的构成要件。
在图1中示出本发明所涉及的光时域反射仪的结构例。本发明所涉及的光时域反射仪101具备作为光源而发挥功能的LD(Laser Diode/激光二极管)11、作为脉冲宽度设定部而发挥功能的LD控制部12、作为光接收器而发挥功能的APD(Avalanche PhotoDiode/雪崩光电二极管)16、接收电路17、作为运算处理部而发挥功能的CPU(Central ProcessingUnit/中央处理器)18、显示部19及存储部20。
LD11与耦合器13、耦合器13与连接接头15及耦合器13与APD16分别通过光纤连接。在耦合器13与连接接头15之间连接有虚拟光纤14。连接接头15经由连接器22能够与被测量光纤21连接。
LD11生成用于测量被测量光纤21中的损失的光脉冲。LD控制部12按照来自CPU18的命令控制LD11。控制内容为任意，例如，能够例示光脉冲的开/关及光脉冲的脉冲宽度。
由LD11送出的光脉冲通过虚拟光纤14，并通过连接接头15与连接器22之间的连接而向被测量光纤21射出。在被测量光纤21中产生的背向散射光被耦合器13分支并且由APD16接收。
APD16将背向散射光转换为与光功率相应的电信号。接收电路17对从APD16输出的模拟信号进行放大并转换为数字信号。CPU18使用来自接收电路17的数字信号生成表示相对于距光时域反射仪101的距离的背向散射光等级的OTDR波形。显示部19显示OTDR波形。
在图2中示出OTDR波形的第1例。OTDR波形的第1例示出了光脉冲的脉冲宽度W1相对于虚拟光纤14短到在空间分辨率方面没有问题的情况。在OTDR波形的第1例中，能够检测配置有连接接头15及连接器22的距离DD下的接头15的射出端中的背向散射光等级PZ(W1)及连接器22的入射端中的背向散射光等级PC(W1)以及配置于被测量光纤21远端的距离DF下的背向散射光等级PF(W1)。在本实施方式中，将配置有连接接头15及连接器22的距离DD表示为“0”。
背向散射光等级PZ(W1)与PC(W1)之差表示连接接头15及连接器22中的连接损失LC，背向散射光等级PC(W1)与PF(W1)之差表示被测量光纤21中的传输损失LF。因此，在OTDR波形的第1例中，能够检测还包括连接器22中的损失在内的总损失LT。
在图3中示出OTDR波形的第2例。OTDR波形的第2例表示光脉冲的脉冲宽度W2相对于虚拟光纤14长到在空间分辨率方面产生问题的情况。在OTDR波形的第2例中，能够检测背向散射光等级PF(W2)，但无法检测距离DD下的背向散射光等级。因此，无法检测连接损失LC及传输损失LF，其结果无法检测总损失LT。
即便光脉冲的脉冲宽度发生变化，只要连接接头15与连接器22的连接状态不变，则连接接头15及连接器22中的连接损失LC发生变化的可能性小。
因此，在本发明中，在装载本发明所涉及的装置之前，在连接有相当于被测量光纤21的假光纤的状态下，预先测量对光时域反射仪预设的k种各脉冲宽度Wi(i＝1、2、……、k)下的OTDR波形，并将由测量到的各OTDR波形导出的规定的测量值作为参考值保持于存储部20。另外，假光纤的纤维长度设为具有成为距离DR(后述)以上的长度。
此时，从各脉冲宽度Wi中，将如图2所示那样的光脉冲的脉冲宽度相对于虚拟光纤14短到在空间分辨率方面没有问题的宽度(死区成为相当于虚拟光纤14长度的时间以下的宽度)用作第1脉冲宽度W1。而且，将各脉冲宽度Wi中的如图3所示那样的相对于虚拟光纤14光脉冲的脉冲宽度长的宽度用作第2脉冲宽度W2。
本发明参考该保持的测量值求出总损失LT，由此能够省略基于以往的多个脉冲宽度的测量。另外，所存储的定时例如可以是工厂出厂时，也可以是最初对连接接头15连接连接器22时。
在本实施方式中，作为保持于存储部20的参考值，使用如图4所示那样的参考距离DR下的背向散射光等级PR(W2)与PR(W1)之差分ΔPR及距离DD中的背向散射光等级PZ(W1)。
在图4中示出本实施方式中所参考的值的一例。在本实施方式中，关于对光时域反射仪预设的各脉冲宽度Wi，测量预先设定的参考距离DR下的背向散射光等级PR(Wi)。而且，由各背向散射光等级PR(Wi)中的规定的等级求出相当于脉冲宽度W1的背向散射光等级PR(W1)及相当于脉冲宽度W2的背向散射光等级PR(W2)的各差分ΔPR，将差分ΔPR与脉冲宽度Wi建立关联而保持于存储部20。同时，将距离DD下的脉冲宽度W1中的背向散射光等级PZ(W1)也保持于存储部20。在此，也将背向散射光等级PR(W1)称为第1后方散射光等级PR(W1)，也将背向散射光等级PR(W2)称为第2背向散射光等级PR(W2)。而且，也将背向散射光等级PZ(W1)称为连接损失前背向散射光等级PZ(W1)。
在此，参考距离DR为长于距离DP且短于出现反射等故障的距离的距离。距离DP为脉冲宽度W2的光脉冲在连接器22的入射端中所产生的反射消失的距离。参考距离DR为比将光脉冲的脉冲宽度的最大值适用于前述式(1)而获得的纤维长度更长的距离，优选为该脉冲宽度的数倍。并且，差分ΔPR优选为根据参考距离DR预先设定的范围内的平均值。
参考图4对出厂产品之后的光时域反射仪101的总损失LT的测量方法进行说明。在本实施方式的光时域反射仪101测量总损失LT时，CPU18执行以下步骤。
步骤S101：CPU18对LD控制部12命令从LD11输出的光脉冲的脉冲宽度。由此，LD控制部12设定从LD11输出的光脉冲的脉冲宽度，该脉冲宽度的光脉冲从LD11射出，由APD16接收该光脉冲的背向散射光。此时的脉冲宽度Wi为与被测量光纤21的长度或损失相应的脉冲宽度，相当于相对于虚拟光纤14光脉冲的脉冲宽度长的第2脉冲宽度W2。
步骤S102：CPU18从APD16的输出信号检测距离DF下的背向散射光等级PF(W2)。
步骤S103：CPU18从存储部20读出与在步骤S101中设定的脉冲宽度W2对应的差分(相同的脉冲宽度Wi下的差分)ΔPR及背向散射光等级PZ(W1)，对背向散射光等级PZ(W1)加差分ΔPR，求出背向散射光等级PZ(W2)。
步骤S104：CPU18求出背向散射光等级PZ(W2)与背向散射光等级PF(W2)的差分。由此，求出总损失LT。
另外，步骤S103能够在步骤S101之后且步骤S104之前的任意的定时进行。
在此，步骤S101中的脉冲宽度的设定方法为任意的方法。例如，CPU18也可以获取被测量光纤21的长度并确定与被测量光纤21的长度相应的脉冲宽度。脉冲宽度也可以使用未图示的输入部由光时域反射仪101的用户进行输入，并且由CPU18将其设定于LD控制部12。
只要连接接头15及连接器22的连接状态没有变化，则即便脉冲宽度发生变化，距离DD下的连接接头15及连接器22中的连接损失LC不变。因此，距离DD下的连接接头15及连接器22中的连接损失LC前背向散射光等级PZ(W2)与对背向散射光等级PZ(W1)加差分ΔPR而得的等级相等。因此，通过对背向散射光等级PZ(W1)加差分ΔPR，能够求出距离DD下的连接接头15及连接器22中的连接损失LC前背向散射光等级PZ(W2)。在此，也将背向散射光等级PZ(W2)称为第3背向散射光等级PZ(W2)。
在测量被测量光纤21的OTDR时，例如，当相对于脉冲宽度W1＝10ns的脉冲宽度W2＝200ns下的差分ΔPR为6.5dB且背向散射光等级PZ(W1)为25dB时，在步骤S103中求出的背向散射光等级PZ(W2)成为PZ(W2)＝PZ(W1)+ΔPR＝25+6.5＝31.5(dB)。
如以上进行的说明，本实施方式所涉及的光时域反射仪101使用保持于存储部20的差分ΔPR及背向散射光等级PZ(W1)求出包括连接接头15及连接器22中的连接损失LC在内的总损失LT。因此，本实施方式即使在虚拟光纤长度相对于输出至被测量光纤21的脉冲宽度短到在空间分辨率方面无法区别的程度的情况下，也无需进行基于多个脉冲宽度的测量，而能够测量包括被测量光纤的连接接头中的损失在内的总损失。
与脉冲宽度Wi建立关联而保持的值代替差分ΔPR，也可以是背向散射光等级PZ(W2)。如此，本实施方式能够保持能够导出背向散射光等级PR(W2)的任意的值。
在此，如连接接头15与连接器22的连接松弛时，或连接器22附近的被测量光纤21弯曲时等，有时连接接头15及连接器22中的连接损失LC较大。另一方面，参考距离DR下的背向散射光等级PR(W2)根据光脉冲的功率能够进行预测。因此，在本实施方式中，以检测该连接异常为目的，优选将对参考距离DR下的背向散射光等级的预测范围与光脉冲的脉冲宽度建立关联的表格保持于存储部20。在该情况下，CPU18在步骤S102中判定背向散射光等级PR(W2)是否脱离了预测范围(连接异常检测步骤)，由此检测连接接头15及连接器22中的连接异常。
如此，本实施方式能够开始与被测量光纤21的长度相应的脉冲宽度时的OTDR测量，并且检测连接接头15及连接器22中的连接异常。在步骤S102中，当检测到连接接头15及连接器22中的连接异常时，CPU18优选将检测到异常的情况的通知显示于显示部19。
此时，CPU18也可以中止步骤S103以后的步骤。
产业上的可利用性
本发明能够适用于信息通信产业。

Claims (5)

1.一种光时域反射仪，其具备：
脉冲宽度设定部(12)，设定光脉冲的脉冲宽度；
光源(11)，生成所述脉冲宽度设定部所设定的脉冲宽度的光脉冲；及
光接收器(16)，检测从所述光源输出的光脉冲在被测量光纤中散射的背向散射光等级，所述光时域反射仪还具备：
存储部(20)，将对使用规定的第1脉冲宽度(W1)测量到的与需连接的所述被测量光纤的连接点(DD)中的连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))加预先设定的参考距离(DR)下的使用大于所述第1脉冲宽度的第2脉冲宽度(W2)测量到的第2背向散射光等级(PR(W2))与预先设定的参考距离(DR)下的使用所述第1脉冲宽度测量到的第1背向散射光等级(PR(W1))的差分(ΔPR)而得的第3背向散射光等级(PZ(W2))，在进行试验之前与所述第2脉冲宽度建立对应关联而存储；及
运算处理部(18)，为了进行试验而从所述存储部读出与从所述光源输出至所述被测量光纤的光脉冲的脉冲宽度对应的所述第2脉冲宽度下的所述第3背向散射光等级(PZ(W2))，并使用该第3背向散射光等级(PZ(W2))求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)。
2.根据权利要求1所述的光时域反射仪，其中，
所述存储部在进行试验之前代替所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而将所述差分(ΔPR)及所述连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))预先与所述第2脉冲宽度建立对应关联而存储，
所述运算处理部代替从所述存储部读出所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)，使用从所述存储部读出所述差分(ΔPR)及所述连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))并进行加法运算而计算出的所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)。
3.根据权利要求1或2所述的光时域反射仪，其中，
所述存储部还保持所述参考距离(DR)下的背向散射光等级的预测范围，
所述运算处理部通过判定由所述光接收器检测到的所述参考距离(DR)下的背向散射光等级是否脱离了所述预测范围，进一步检测与所述被测量光纤的连接点中的连接异常。
4.一种光脉冲试验方法，其使用光时域反射仪，所述光脉冲试验方法执行如下步骤：
存储步骤，将对使用规定的第1脉冲宽度(W1)测量到的与需连接的所述被测量光纤的连接点(DD)中的连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))加预先设定的参考距离(DR)下的使用大于所述第1脉冲宽度的第2脉冲宽度(W2)测量到的第2背向散射光等级(PR(W2))与预先设定的参考距离(DR)下的使用所述第1脉冲宽度测量到的第1背向散射光等级(PR(W1))的差分(ΔPR)而得的第3背向散射光等级(PZ(W2))，在进行试验之前与所述第2脉冲宽度建立对应关联而存储；
光脉冲检测步骤，为了进行试验生成规定的脉冲宽度的光脉冲而向被测量光纤输出，并检测在所述被测量光纤中散射的所述光脉冲的背向散射光等级；及
传输损失导出步骤，读出与所述规定的脉冲宽度对应的所述第2脉冲宽度下的所述第3背向散射光等级(PZ(W2))，并使用该第3背向散射光等级(PZ(W2))求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)。
5.根据权利要求4所述的光脉冲试验方法，其中，
所述存储步骤在进行试验之前代替所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而将所述差分(ΔPR)及所述连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))预先与所述第2脉冲宽度建立对应关联而存储，
所述传输损失导出步骤代替读出所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)，使用读出所述差分(ΔPR)及所述连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))并进行加法运算而计算出的所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)。
CN202010065935.3A 2019-01-25 2020-01-20 光时域反射仪及光脉冲试验方法 Active CN111487034B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019-010799 2019-01-25
JP2019010799A JP6896354B2 (ja) 2019-01-25 2019-01-25 光パルス試験装置及び光パルス試験方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111487034A true CN111487034A (zh) 2020-08-04
CN111487034B CN111487034B (zh) 2022-04-05

Family

ID=71732379

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010065935.3A Active CN111487034B (zh) 2019-01-25 2020-01-20 光时域反射仪及光脉冲试验方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11029232B2 (zh)
JP (1) JP6896354B2 (zh)
CN (1) CN111487034B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3995803A1 (en) * 2020-11-05 2022-05-11 Viavi Solutions Inc. Automatic optical time-domain reflectometer (otdr)-based testing of device under test
US11515938B2 (en) * 2020-11-05 2022-11-29 Viavi Solutions Inc. Automatic Optical Time-Domain Reflectometer (OTDR)-based testing of device under test

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04230825A (ja) * 1990-04-25 1992-08-19 Sony Tektronix Corp オプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータ
CA2043946A1 (en) * 1991-06-05 1992-12-06 Vincent Choong So Optical time domain reflectometer
US5754284A (en) * 1996-10-09 1998-05-19 Exfo Electro-Optical Engineering Inc. Optical time domain reflectometer with internal reference reflector
CN1190191A (zh) * 1996-12-09 1998-08-12 安立股份有限公司 能够检测转换操作的光学开关
JP2008286578A (ja) * 2007-05-16 2008-11-27 Yokogawa Electric Corp 光パルス試験装置及びその調整方法
CN101764646A (zh) * 2008-12-24 2010-06-30 中国科学院半导体研究所 波长编码的光时域反射测试装置及其测量方法
CN101793600A (zh) * 2010-04-15 2010-08-04 上海交通大学 光纤传输损耗系数测量装置及测量方法
CN102393182A (zh) * 2011-10-31 2012-03-28 南京大学 基于三层结构传感光纤的窄带宽布里渊光时域反射仪
US20130114954A1 (en) * 2010-06-30 2013-05-09 Huawei Technologies Co., Ltd. Method for Generating a Probe Pulse and Coherent Optical Time Domain Reflectometer
CN104677398A (zh) * 2015-03-13 2015-06-03 南京大学 一种基于频漂动态补偿的φ-otdr增敏方法及装置
CN107483106A (zh) * 2017-09-25 2017-12-15 武汉光迅科技股份有限公司 一种在线的光时域反射仪结构、检测***和检测方法
CN108124096A (zh) * 2016-11-28 2018-06-05 安立股份有限公司 端面检查装置及其聚焦图像数据获取方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6519026B1 (en) * 1999-08-06 2003-02-11 Lucent Technologies Inc. Optical time-domain reflectometer (OTDR)
JP5562141B2 (ja) 2010-06-28 2014-07-30 アンリツ株式会社 光パルス試験方法及び光パルス試験装置

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04230825A (ja) * 1990-04-25 1992-08-19 Sony Tektronix Corp オプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータ
CA2043946A1 (en) * 1991-06-05 1992-12-06 Vincent Choong So Optical time domain reflectometer
US5754284A (en) * 1996-10-09 1998-05-19 Exfo Electro-Optical Engineering Inc. Optical time domain reflectometer with internal reference reflector
CN1190191A (zh) * 1996-12-09 1998-08-12 安立股份有限公司 能够检测转换操作的光学开关
JP2008286578A (ja) * 2007-05-16 2008-11-27 Yokogawa Electric Corp 光パルス試験装置及びその調整方法
CN101764646A (zh) * 2008-12-24 2010-06-30 中国科学院半导体研究所 波长编码的光时域反射测试装置及其测量方法
CN101793600A (zh) * 2010-04-15 2010-08-04 上海交通大学 光纤传输损耗系数测量装置及测量方法
US20130114954A1 (en) * 2010-06-30 2013-05-09 Huawei Technologies Co., Ltd. Method for Generating a Probe Pulse and Coherent Optical Time Domain Reflectometer
CN102393182A (zh) * 2011-10-31 2012-03-28 南京大学 基于三层结构传感光纤的窄带宽布里渊光时域反射仪
CN104677398A (zh) * 2015-03-13 2015-06-03 南京大学 一种基于频漂动态补偿的φ-otdr增敏方法及装置
CN108124096A (zh) * 2016-11-28 2018-06-05 安立股份有限公司 端面检查装置及其聚焦图像数据获取方法
CN107483106A (zh) * 2017-09-25 2017-12-15 武汉光迅科技股份有限公司 一种在线的光时域反射仪结构、检测***和检测方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
K SUZUKI, T HORIGUCHI, S SEIKAI: ""Optical time-domain reflectometer with a semiconductor laser amplifier"", 《ELECTRONICS LETTERS》 *
周琪: ""超高动态范围OTDR关键技术研究"", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库 信息科技辑》 *

Also Published As

Publication number Publication date
JP6896354B2 (ja) 2021-06-30
US11029232B2 (en) 2021-06-08
CN111487034B (zh) 2022-04-05
US20200240872A1 (en) 2020-07-30
JP2020118574A (ja) 2020-08-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10014935B2 (en) Multiple-acquisition OTDR method and device
US9709460B2 (en) Method and system for measuring an optical loss value of an optical fiber link
US5754284A (en) Optical time domain reflectometer with internal reference reflector
US8213002B2 (en) PON tester
US7411666B2 (en) Optical time domain reflectometry system at different wavelengths
CN111487034B (zh) 光时域反射仪及光脉冲试验方法
US11483067B2 (en) Optical time domain reflectometer, test method of optical transmission line, and test system of optical transmission line
KR20050084946A (ko) 광시영역 반사율 측정기를 이용한 광섬유 편광분산모드의평가 방법
JP5000443B2 (ja) 光ファイバの後方ブリルアン散乱光測定方法及び装置
US20240022323A1 (en) Optical time-domain reflectometer (otdr) event detection and light power level measurement-based fiber optic link certification
US11215528B2 (en) Multiple front-end device based high speed optical time domain reflectometer acquisition
US7317518B2 (en) Determination of an optical property of a DUT by OTDR measurement
JP2008020229A (ja) 光パルス試験器
US7016023B2 (en) Chromatic dispersion measurement
US7110098B2 (en) Bidirectional optical loss measurement
JP3599693B2 (ja) 光パルス試験装置
US11808660B2 (en) Multiple front-end device based high speed optical time domain reflectometer acquisition
KR20160150457A (ko) 주파수 가변 기반 분포형 광섬유 센서 시스템
CN116707628A (zh) 一种传输信号的方法和装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant