CN111426655B - 测量辅助平台以及透过率测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供的一种测量辅助平台以及透过率测试方法，涉及光学设备技术领域，包括：旋转台，所述旋转台包括基体和转动体，所述转动体转动装配在所述基体上；所述转动体的顶部还开设有样品槽；遮光板，所述遮光板安装在所述转动体上，所述遮光板上开设有光路孔。在上述技术方案中，该测量辅助平台能够通过转动体相对于基体的旋转，快速的完成所需大角度透过率的测试工作，大大提高测量效率。

Description

测量辅助平台以及透过率测试方法

技术领域

本发明涉及光学设备技术领域，尤其是涉及一种测量辅助平台以及透过率测试方法。

背景技术

在光学领域当中，随着红外光学的不断发展，观察窗口除了对正入射透过率具备要求外，还需要对某些特定大角度入射下的透过率具备相关要求。但是，现有技术中的测量仪器一般都只有零度角垂直入射的支架，无法直接对样品在某个特定入射角的透过率进行测量，因此无法满足愈加发展的使用需求。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测量辅助平台以及透过率测试方法，以解决现有技术中的测量仪器无法对样品在特定入射角的透过率进行测量的技术问题。

本发明提供的一种测量辅助平台，包括：

旋转台，所述旋转台包括基体和转动体，所述转动体转动装配在所述基体上；所述转动体的顶部还开设有样品槽；

遮光板，所述遮光板安装在所述转动体上，所述遮光板上开设有光路孔。

进一步的，所述基体的顶部设置有轴承，所述转动体的底部设置有与所述轴承配合的转轴；

所述转轴与所述轴承转动装配。

进一步的，所述转动体的侧壁开设有与所述样品槽的槽内壁连通的贯通孔，所述贯通孔内活动插接装配有调节杆；

所述调节杆的一端伸入所述样品槽内。

进一步的，所述转动体的顶部开设有安装槽，所述遮光板的底部插接装配在所述安装槽内。

进一步的，所述转动体为圆柱体结构；

所述样品槽包括沿着所述转动体径向贯通的第一通槽以及开设在所述第一通槽的槽内壁的调节槽，所述调节槽内活动装配有调节活块，所述贯通孔与所述调节槽连通且所述调节杆与所述调节活块连接；

和/或，所述安装槽为沿着所述转动体径向贯通的第二通槽。

进一步的，所述测量辅助平台还包括：

底座，所述旋转台的基体装配在所述底座上。

进一步的，所述底座上开设有定位槽，所述基体的底部与所述定位槽相对插接装配。

进一步的，所述定位槽和所述基体的底部之间设置有限位结构，所述基体与所述定位槽之间通过所述限位结构限制二者相对转动。

进一步的，所述基体为圆柱体结构，所述定位槽为圆柱形槽；

所述基体的外侧壁设置有至少一个限位槽，所述定位槽的槽内壁设置有至少一个与所述限位槽配合的限位凸起，所述限位凸起与所述限位槽相对插接装配；

所述限位凸起和所述限位槽构成所述限位结构。

本发明还提供了一种透过率测试方法，基于所述测量辅助平台，包括如下步骤：

将待测试片放在所述样品槽内并随同所述测量辅助平台放入测量仪器的腔室中；将所述转动体相对于所述基体转动至所需角度，使所述测量仪器的测试光线落在待测试片上。

在上述技术方案中，该测量辅助平台能够通过转动体相对于基体的旋转，快速的完成所需大角度透过率的测试工作，大大提高测量效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一个实施例提供的测量辅助平台的***图；

图2为本发明一个实施例提供的测量辅助平台的装配图；

图3为本发明另一个实施例提供的测量辅助平台的***图；

图4为本发明另一个实施例提供的测量辅助平台的装配图；

图5为本发明另一个实施例提供的测量辅助平台的局部放大图；

图6为本发明又一个实施例提供的测量辅助平台的***图；

图7为本发明又一个实施例提供的测量辅助平台的装配图；

图8为本发明再一个实施例提供的测量辅助平台的***图；

图9为本发明再一个实施例提供的测量辅助平台的装配图；

图10为本发明再一个实施例提供的底座的平面图；

图11为现有技术中同一待测试片多次测试的特定大角度透过率部分曲线图；

图12为本发明中同一待测试片多次测试的特定大角度透过率部分曲线图。

附图标记：

1、旋转台；2、遮光板；3、底座；

11、基体；12、转动体；13、样品槽；14、安装槽；15、第一通槽；16、调节槽；17、调节杆；18、调节活块；19、贯通孔；110、第一标刻线槽；

21、光路孔；

31、定位槽；32、限位凸起；33、第二标刻线槽。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

如图1和图2所示所示，本实施例提供的一种测量辅助平台，包括：

旋转台1，所述旋转台1包括基体11和转动体12，所述转动体12转动装配在所述基体11上；所述转动体12的顶部还开设有样品槽13；

遮光板2，所述遮光板2安装在所述转动体12上，所述遮光板2上开设有光路孔21。

参考图1所示，该测量辅助平台具有能够转动的旋转台1，该旋转台1通过相对转动装配的基体11和位于该基体11上的转动体12构成，该转动体12可以在该基体11上定轴转动。

在进行测试时，可以将该测量辅助平台放入测量仪器的腔室中，将待测试片放在样品槽13内，对光路孔21的光路进行调试对位。例如，可以将旋转台1调试到需要的大角度，利用遮光板2对多余的光线进行遮挡，通过调节遮光板2使光线落在待测试片所处位置的正中心处，对位及光路调试到位后便可以进行测试工作。其中，当测量仪器无自带激光对位光路时，可以激光笔置于光路孔21正中心位置，通过激发激光笔进行光路对位。

当光路调试完毕后，在不设置待测试片的情况下，可以先进行背景扫描，扫描完毕后可以将待测试片放在遮光板2上的光路孔21处，并将待测试片对应固定。接着进行样品扫描，进而可以完成大角度测试工作。需要说明的是，转动体12的外侧壁可以设置有第一标刻线槽110，第一标刻线槽110可以包括基体11或转动体12上单独设置或共同的四条标刻线，可以分别标识为0度、90度、180度和270度。其中，在转动体12上的四条标刻线之间还可以设置有均匀的刻度标线，该刻度标线最小刻度为1度，每30度标注为一个度数，可以分别为0、30、60、90、120、150、180、210、240、270、300、330。

所以，该测量辅助平台能够通过转动体12相对于基体11的旋转，快速的完成所需大角度透过率的测试工作，大大提高测量效率。参考图11和图12所示，经过利用该测量辅助平台进行测试工作后，与现有技术中的测量结果相比，通过该测量辅助平台辅助测量后，同一待测试片经过多次测量后的某一大角度透过率的曲线图中测试曲线可以达到基本重合，因此证明通过该测量辅助平台进行测试工作的一致性也大大提高。

进一步的，所述基体11的顶部设置有轴承，所述转动体12的底部设置有与所述轴承配合的转轴；所述转轴与所述轴承转动装配。因此，通过轴承和转轴的配合，转动体12能够灵活、稳定的相对于基体11定轴转动。当然，除此之外转动体12与基体11的转动配合还可以通过其他结构实现，例如步进电机、转轴套筒等转动结构。

如图3至图5所示，所述转动体12的侧壁开设有与所述样品槽13的槽内壁连通的贯通孔19，所述贯通孔19内活动插接装配有调节杆17；所述调节杆17的一端伸入所述样品槽13内。因此，当样品放置在样品槽13内以后，可以控制调节杆17在贯通孔19内移动，使调节杆17的端部与样品抵接，从而使样品固定在样品槽13内。

其中，所述调节杆17在贯通孔19内移动的方式可以采用螺纹旋合方式，即调节杆17采用螺纹杆，贯通孔19采用螺纹孔，螺纹杆在螺纹孔内转动便可以实现调节杆17在贯通孔19内的移动，这种方式还可以精确调整。当然，除此之外调节杆17在贯通孔19内移动的方式还可以通过其他结构实现，例如电动伸缩杆等，在此便不再赘述。

进一步的，所述转动体12的顶部开设有安装槽14，所述遮光板2的底部插接装配在所述安装槽14内。因此，遮光板2与转动体12可以通过插接的方式装配在一起，这种装配方式既方便安装也方便拆卸，可以根据需求配置遮光板2。除此之外遮光板2与转动体12之间还可以通过其他结构实现相对装配，例如磁力连接等，在此便不再赘述。

如图6和图7所示，所述转动体12为圆柱体结构；所述样品槽13包括沿着所述转动体12径向贯通的第一通槽15以及开设在所述第一通槽15的槽内壁的调节槽16，所述调节槽16内活动装配有调节活块18，所述贯通孔19与所述调节槽16连通且所述调节杆17与所述调节活块18连接。

因此，当调节杆17在贯通孔19内移动时，可以同步控制调节活块18在调节槽16内移动，使调节活块18抵接或远离放置在样品槽13内的样品。此时，通过调节活块18与样品之间的紧密抵接便可以实现对样品的固定。当所述安装槽14为沿着所述转动体12径向贯通的第二通槽。因此，遮光板2插接在第二通槽上以后，可以在第二通槽的长度方向调整位置，满足测量的更多需求。其中，第一通槽15的宽度可以为10mm，深度可以为1mm；第二通槽的宽度可以为1mm，深度可以为2mm。

如图8和图9所示，所述测量辅助平台还包括：底座3，所述旋转台1的基体11装配在所述底座3上。因此，通过底座3对整个旋转台1形成支撑，可以通过底座3更大的面积提高整体测量辅助平台的平稳性。该底座3可以为方形也可以为圆形，在此不做赘述。该底座3上也可以设置第二标刻线槽33，该第二标刻线槽33可以与第一标刻线槽110相对齐，第二标刻线槽33可以与第一标刻线槽110配合起到上下对位及零点对位的作用，能够方便测试前的调整工作。

进一步的，所述底座3上开设有定位槽31，所述基体11的底部与所述定位槽31相对插接装配。因此，底座3与基体11之间可以通过插接的方式装配在一起，这种装配方式既方便安装也方便拆卸，可以根据需求配置基体11。除此之外底座3与基体11之间之间还可以通过其他结构实现相对装配，例如磁力连接等，在此便不再赘述。

参考图10所示，所述定位槽31和所述基体11的底部之间设置有限位结构，所述基体11与所述定位槽31之间通过所述限位结构限制二者相对转动。因此，通过限位结构的限制，当基体11安装在底座3上以后，转动体12相对于基体11转动时，就不会出现基体11随之转动的问题，从而使基体11的安装更为稳定，保证转动体12角度调节的准确性。

进一步的，所述基体11为圆柱体结构，所述定位槽31为圆柱形槽；所述基体11的外侧壁设置有至少一个限位槽，所述定位槽31的槽内壁设置有至少一个与所述限位槽配合的限位凸起32，所述限位凸起32与所述限位槽相对插接装配；所述限位凸起32和所述限位槽构成所述限位结构。

因此，限位凸起32和限位槽相对插接装配以后，可以稳定的限制基体11在定位槽31内转动。除此之外，所述限位结构还可以通过定位槽31和基体11的底部结构实现，例如所述基体11为棱柱体结构，所述定位槽31为棱柱形槽，所以通过棱柱结构的配合也可以实现对基体11和定位槽31之间的转动限制。

本发明还提供了一种透过率测试方法，基于所述测量辅助平台，包括如下步骤：

将待测试片放在所述样品槽内并随同所述测量辅助平台放入测量仪器的腔室中；将所述转动体相对于所述基体转动至所需角度，使测量仪器的测试光线落在待测试片上。

由于所述测量辅助平台的具体结构、功能原理和技术效果在前文中详述，在此便不再赘述。该透过率测试方法通过所述测量辅助平台的配合，可以在大角度(特定角度)透过率的测量工作中，通过可相互转动的转动体12和基体11灵活的调节角度，快速有效的完成对位及光路的调试工作，进而能够实现大角度透过率的测试工作。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (7)

1.一种测量辅助平台，其特征在于，包括：

旋转台，所述旋转台包括基体和转动体，所述转动体转动装配在所述基体上；所述转动体的顶部还开设有样品槽；

遮光板，所述遮光板安装在所述转动体上，所述遮光板上开设有光路孔；

所述转动体的侧壁开设有与所述样品槽的槽内壁连通的贯通孔，所述贯通孔内活动插接装配有调节杆；

所述调节杆的一端伸入所述样品槽内；

所述转动体的顶部开设有安装槽，所述遮光板的底部插接装配在所述安装槽内；

所述样品槽包括沿着所述转动体径向贯通的第一通槽以及开设在所述第一通槽的槽内壁的调节槽，所述调节槽内活动装配有调节活块，所述贯通孔与所述调节槽连通且所述调节杆与所述调节活块连接；

所述安装槽为沿着所述转动体径向贯通的第二通槽。

2.根据权利要求1所述的测量辅助平台，其特征在于，所述基体的顶部设置有轴承，所述转动体的底部设置有与所述轴承配合的转轴；

所述转轴与所述轴承转动装配。

3.根据权利要求1-2中任一项所述的测量辅助平台，其特征在于，还包括：

底座，所述旋转台的基体装配在所述底座上。

4.根据权利要求3所述的测量辅助平台，其特征在于，所述底座上开设有定位槽，所述基体的底部与所述定位槽相对插接装配。

5.根据权利要求4所述的测量辅助平台，其特征在于，所述定位槽和所述基体的底部之间设置有限位结构，所述基体与所述定位槽之间通过所述限位结构限制二者相对转动。

6.根据权利要求5所述的测量辅助平台，其特征在于，所述基体为圆柱体结构，所述定位槽为圆柱形槽；

所述基体的外侧壁设置有至少一个限位槽，所述定位槽的槽内壁设置有至少一个与所述限位槽配合的限位凸起，所述限位凸起与所述限位槽相对插接装配；

所述限位凸起和所述限位槽构成所述限位结构。

7.一种透过率测试方法，其特征在于，基于如权利要求1-6中任一项所述的测量辅助平台，包括如下步骤：

将待测试片放在所述样品槽内并随同所述测量辅助平台放入测量仪器的腔室中；将所述转动体相对于所述基体转动至所需角度，使所述测量仪器的测试光线落在待测试片上。