CN111413657A - 一种ct本体二次回路校验方法 - Google Patents

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周亚群
张钢
都劲松
曹浩军
吕尚霖
周昭亮
李静
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Xian Thermal Power Research Institute Co Ltd
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Thermal Power Research Institute
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Abstract

本发明公开了一种CT本体二次回路校验方法,包括以下步骤:通过CT回路校验工具进行CT本体二次回路的正向加压校验工作;判断CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向是否一致,当一致时,则CT回路校验工具进行CT本体二次回路的反向加压校验工作,当不一致时,则查找并消除CT本体二次回路缺陷;判断CT本体二次回路反向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向是否一致,当一致时,说明CT本体二次回路接线正确可靠,否则,则查找并消除CT本体二次回路缺陷,该方法能够准确校验CT本体二次回路接线是否正确可靠,且,工作强度较低,校验时间较短。

Description

一种CT本体二次回路校验方法
技术领域
本发明属于电气安装和电气调试技术领域,涉及一种CT本体二次回路校验方法。
背景技术
随着社会经济的不断发展,人民生活水平的日益提高,电力需求与日俱增,各类新建机组不断增加,电网规模不断扩大。
在新建机组和变电站的电气安装和调试过程中,需保证CT(电流互感器)回路正确可靠,无接线错误,无开路现象。新建机组和变电站电压等级高,CT配置多,设备可靠性要求高,因此在CT本体二次回路电缆敷设及安装接线结束后,需进行CT本体二次回路校验工作,确保CT本体二次回路接线正确。传统CT本体二次回路校验时,由于CT副边绕组阻值小,每组CT副边绕组本体二次回路均为导通状态,因此在CT本体二次回路进行校验工作开始前,至少需拆除CT本体端子盒内CT本体二次回路两个副边绕组抽头接线端子上的一芯二次电缆,才能对各CT本体二次回路进行单独校验,校验工作合格后,恢复CT本体二次回路接线。传统CT本体二次回路校验存在校验时间长,校验便利性差,CT副边绕组端子拆卸困难,工作强度大等问题。
发明内容
本发明的目的在于克服上述现有技术的缺点,提供了一种CT本体二次回路校验方法,该方法能够准确校验CT本体二次回路接线是否正确可靠,且校验时无需拆除CT本体端子盒内CT本体二次回路中两个副边绕组抽头接线端子上的电缆,工作强度较低,校验时间较短。
为达到上述目的,本发明所述的CT本体二次回路校验方法包括以下步骤:
1)进行CT本体二次回路校验准备工作;
2)通过CT回路校验工具进行CT本体二次回路的正向加压校验工作;
3)测量并记录CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向;
4)判断CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向是否一致,当CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向一致时,则转至步骤6),否则,则转至步骤5);
5)查找并消除CT本体二次回路缺陷,然后转至步骤2);
6)通过CT回路校验工具进行CT本体二次回路的反向加压校验工作;
7)测量并记录CT本体二次回路反向电压的实际幅值和方向;
8)判断CT本体二次回路反向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向是否一致,当CT本体二次回路反向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向一致,说明CT本体二次回路接线正确可靠,则转至步骤10),否则,则转至步骤9);
9)查找并消除CT本体二次回路缺陷,然后转至步骤6);
10)CT本体二次回路校验完成。
步骤1)的具体操作为:
101)将所需校验CT本体处于不带电状态;
102)将所需校验CT本体端子盒至CT本体端子箱二次回路电缆敷设完毕并开列,将CT本体端子盒至CT本体端子箱二次回路电缆按照设计图纸接线完毕;
103)打开CT本体端子盒端盖,确认各组CT铭牌参数与设计参数一致;
104)划开CT本体端子箱中的各电流端子连片,在CT本体端子箱中将CT本体二次回路与CT本体端子箱外部回路彻底隔离;
105)制作CT回路校验工具。
CT回路校验工具由干电池组串联组成。
步骤2)的具体操作为:
201)将CT回路校验工具的正向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S1;
202)将CT回路校验工具的负向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S2。
按照设计图纸,在CT本体端子箱内,通过万用表直流电压档测量并记录CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向和CT本体二次回路反向电压的实际幅值及方向。
步骤6)的具体操作为:
601)将CT回路校验工具的正向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S2;
602)将CT回路校验工具的负向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S1。
本发明具有以下有益效果:
本发明所述的CT本体二次回路校验方法在具体操作时,利用CT回路校验工具进行CT本体二次回路的正向加压校验工作及CT本体二次回路的反向加压校验工作,CT本体二次回路电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值和方向是否一致,当不一致时,则说明存在CT本体二次回路缺陷,当两次校验时均一致时,则说明CT本体二次回路接线正确可靠,从而准确校验CT本体二次回路接线是否正确可靠,同时在CT本体二次回路校验时,无需拆除CT本体端子盒内CT副边绕组抽头接线端子上的电缆,工作强度较低,校验时间较短,可适用于所有CT本体二次回路校验工作,便于在电气安装、电气调试现场推广使用,为后续CT回路带电运行提供有效保障。
附图说明
图1为本发明的流程图;
图2为CT本体与CT回路校验工具的连接图;
图3为CT本体端子箱的原理图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做进一步详细描述:
参考图1、图2及图3,本发明所述的CT本体二次回路校验方法包括以下步骤:
1)进行CT本体二次回路校验准备工作;
2)通过CT回路校验工具进行CT本体二次回路的正向加压校验工作;
3)测量并记录CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向;
4)判断CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向是否一致,当CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向一致时,则转至步骤6),否则,则转至步骤5);
5)查找并消除CT本体二次回路缺陷,然后转至步骤2);
6)通过CT回路校验工具进行CT本体二次回路的反向加压校验工作;
7)测量并记录CT本体二次回路反向电压的实际幅值和方向;
8)判断CT本体二次回路反向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向是否一致,当CT本体二次回路反向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向一致,说明CT本体二次回路接线正确可靠,则转至步骤10),否则,则转至步骤9);
9)查找并消除CT本体二次回路缺陷,然后转至步骤6);
10)CT本体二次回路校验完成。
步骤1)的具体操作为:
101)将所需校验CT本体处于不带电状态;
102)将所需校验CT本体端子盒至CT本体端子箱二次回路电缆敷设完毕并开列,将CT本体端子盒至CT本体端子箱二次回路电缆按照设计图纸接线完毕;
103)打开CT本体端子盒端盖,确认各组CT铭牌参数与设计参数一致;
104)划开CT本体端子箱中的各电流端子连片,在CT本体端子箱中将CT本体二次回路与CT本体端子箱外部回路彻底隔离;
105)制作CT回路校验工具,其中,CT回路校验工具由干电池组串联组成。
步骤2)的具体操作为:
201)将CT回路校验工具的正向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S1;
202)将CT回路校验工具的负向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S2。
按照设计图纸,在CT本体端子箱内,通过万用表直流电压档测量并记录CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向和CT本体二次回路反向电压的实际幅值及方向。
步骤6)的具体操作为:
601)将CT回路校验工具的正向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S2;
602)将CT回路校验工具的负向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S1。
判断CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值和方向是否一致,当不一致时,则查找并消除1LH C相本体二次回路缺陷,继续进行1LHC相本体二次回路正向加压校验工作,正向加压校验合格后,进行1LH C相本体二次回路反向加压校验工作,将在发电机CT本体端子箱内测量得到的CT回路电压幅值和方向与通过CT回路校验工具在1LH C相本体端子盒内输出的电压幅值和方向对比,若不一致,则该1LH C相本体二次回路仍然存在缺陷,待缺陷消除后,再次进行1LH C相本体二次回路反向加压校验工作,检查合格后,即可完成CT本体二次回路的校验。
本发明能够节省CT本体二次回路校验时间,工作效率高,实用性强,使用方便,能够快速、有效识别出CT本体二次回路存在的缺陷,适用于各类CT本体二次回路校验领域。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例,并非对本发明作任何限制,凡是根据本发明技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变化,均仍属于本发明技术方案的保护范围内。

Claims (6)

1.一种CT本体二次回路校验方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)进行CT本体二次回路校验准备工作;
2)通过CT回路校验工具进行CT本体二次回路的正向加压校验工作;
3)测量并记录CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向;
4)判断CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向是否一致,当CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向一致时,则转至步骤6),否则,则转至步骤5);
5)查找并消除CT本体二次回路缺陷,然后转至步骤2);
6)通过CT回路校验工具进行CT本体二次回路的反向加压校验工作;
7)测量并记录CT本体二次回路反向电压的实际幅值和方向;
8)判断CT本体二次回路反向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向是否一致,当CT本体二次回路反向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向一致,说明CT本体二次回路接线正确可靠,则转至步骤10),否则,则转至步骤9);
9)查找并消除CT本体二次回路缺陷,然后转至步骤6);
10)CT本体二次回路校验完成。
2.根据权利要求书1所述的CT本体二次回路校验方法,其特征在于,步骤1)的具体操作为:
101)将所需校验CT本体处于不带电状态;
102)将所需校验CT本体端子盒至CT本体端子箱二次回路电缆敷设完毕并开列,将CT本体端子盒至CT本体端子箱二次回路电缆按照设计图纸接线完毕;
103)打开CT本体端子盒端盖,确认各组CT铭牌参数与设计参数一致;
104)划开CT本体端子箱中的各电流端子连片,在CT本体端子箱中将CT本体二次回路与CT本体端子箱外部回路彻底隔离;
105)制作CT回路校验工具。
3.根据权利要求书1所述的CT本体二次回路校验方法,其特征在于,CT回路校验工具由干电池组串联组成。
4.根据权利要求书1所述的CT本体二次回路校验方法,其特征在于,步骤2)的具体操作为:
201)将CT回路校验工具的正向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S1;
202)将CT回路校验工具的负向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S2。
5.根据权利要求书1所述的CT本体二次回路校验方法,其特征在于,按照设计图纸,在CT本体端子箱内,通过万用表直流电压档测量并记录CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向和CT本体二次回路反向电压的实际幅值及方向。
6.根据权利要求书1所述的CT本体二次回路校验方法,其特征在于,步骤6)的具体操作为:
601)将CT回路校验工具的正向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S2;
602)将CT回路校验工具的负向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S1。
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