CN111386150A - 用于生产印刷出的微阵列的方法和装置 - Google Patents

Abstract

用于制造微阵列和验证所述微阵列的品质的方法，其中，所述方法包括：a)提供至少一种试剂，b)将所述至少一种试剂以预先确定的布置装载在分配印刷头中，c)在第一印刷行程中，生成用于印刷头的指令，并使所述印刷头相对于基材运动，以将所述至少一种试剂印刷在所述基材上以获得微阵列，d)借助于摄像头获得印刷出的微阵列的图像，e)处理印刷出的微阵列的图像，以计算指示印刷出的微阵列的品质的参数，f)在第一印刷行程结束时，将印刷出的微阵列的计算出的参数与用于微阵列的预先确定的标准进行比较，以确认可能的印刷缺陷，g)对于印刷出的微阵列，比较步骤f)中确认出的印刷缺陷，h)在印刷后续的印刷行程之前，使用步骤g)的比较的结果来选择更正措施以改进微阵列的品质。

Description

用于生产印刷出的微阵列的方法和装置

技术领域

本发明总体上涉及用于制造微阵列的方法和装置。微阵列包括多个斑点(spot)，每个斑点包括包含生物分子的材料。通过使用分配印刷头在基材上印刷包含所述生物分子的适应性试剂来生产出微阵列。具体地，描述了印刷微阵列的方法和装置，其通过复查印刷在基材上的单个斑点的存在、位置和尺寸来检查印刷出的微阵列的品质以确定是否正确印刷所述微阵列，并且用于提供采取更正措施以改进印刷出的微阵列的品质的构件。

背景技术

微阵列(也称为生物芯片)在生物分子(诸如基因组DNA、cDNA、寡核苷酸序列、蛋白质、抗体等)的研究中很重要。适当地，将生物分子以有序阵列提供到基材，然后可以将分析物提供到基材以确定与基材的生物分子的结合。这可以用于分析生物分子的相互作用或反应，例如描绘基因表达、发现治疗性分子或测量蛋白质结合。将生物分子印刷到基材上允许对大量样品进行这种分析。

微阵列借助于包括分配印刷头的阵列印刷机或微阵列器(诸如喷墨阵列印刷机)来印刷。分配印刷头用于将装载在印刷头中的试剂(包括生物分子)印刷在固体基材(如载玻片)上。通常，印刷头将会装载有多种试剂，每种试剂都包括特定的生物分子。将要印刷出的载玻片装载到托盘上，并且在后续印刷行程中，印刷头相对于托盘运动，以在完整的印刷作业中印刷所有载玻片。一旦所有载玻片都已印刷完毕，就从阵列印刷机中移除托盘和载玻片。

生物分子印刷中的重要问题是含有生物分子的斑点到基材上的印刷变化。例如，可能将斑点的尺寸、形状或位置不正确地提供在阵列上，或者实际上可能根本未印刷斑点。

印刷微阵列的任务需要将极少量的多种不同试剂从印刷头中的单独孔转移到基材上的紧密间隔位置。可以例如通过使用带有喷嘴的印刷头(诸如喷墨印刷头)使印刷液穿过空气喷射到基材上而不接触来完成微阵列的印刷。应当注意，也可以使用其他印刷头，诸如气泡喷射器。通常，这种喷墨技术的主要困难是喷嘴中的空气可以导致其印刷错位或畸形的斑点或无法印刷斑点。几个因素可以导致印刷错误。这些因素包括喷嘴的堵塞或故障、样品沉淀、不合适的样品粘度或空的试剂孔。

US6558623公开了一种一旦完成载玻片就对微阵列进行品质检查或检视的装置和方法。根据US6558623的装置和方法特别适于在印刷作业期间在载玻片上印刷多个微阵列，并且在印刷作业结束时复查载玻片的整体品质以鉴定载玻片合格或不合格。

尽管已知的检查和分析技术已经讨论了控制***，该控制***通过手动干预或自动检查已经完成斑点的印刷出的基材上的斑点品质，但是这通常需要在已完成的印刷作业结束时进行交互。这意味着在已印刷出多个载玻片的印刷运行之后，可以分析载玻片的品质，并且可以采取更正措施以更正印刷出的载玻片。这样的效果可以是需要向印刷头提供额外的试剂以更正印刷出的载玻片。这可以是昂贵的和/或耗时的。

本发明的目的是提供方法和装置，该方法和装置允许在印刷作业期间在其每一个独立印刷行程之后分析印刷的品质。这样可以在印刷作业期间而不是在结束时采取更正措施。

发明内容

根据本发明的第一方面，提供了用于制造微阵列并验证所述微阵列的品质的方法，其中，该方法包括：

a)提供至少一种试剂，

b)将所述至少一种试剂以预先确定的布置装载在分配印刷头中，

c)在第一印刷行程中，生成用于印刷头的指令，并使所述印刷头相对于基材运动，以在所述基材上印刷所述至少一种试剂以获得微阵列，

d)借助于摄像头获得印刷出的微阵列的图像，

e)处理获得的印刷出的微阵列图像，以计算指示印刷出的微阵列的品质的参数，

f)在第一印刷行程结束时，将印刷出的微阵列的计算出的参数与用于微阵列的预先确定的标准进行比较，以确认可能的印刷缺陷，

g)如果确认出印刷缺陷，则对于印刷出的微阵列，比较步骤f)中确认出的印刷缺陷，

h)使用步骤g)的比较结果以将确认出的印刷缺陷分类为随机或非随机印刷缺陷，以及

i)使用步骤h)的分类以在印刷后续印刷行程之前选择更正措施以改进微阵列的品质。

适当地，该方法包括：

j)在将步骤h)中的印刷缺陷分类为非随机印刷缺陷的情况下：

k)选择用于非随机印刷缺陷的可能原因，

l)在印刷后续的印刷行程之前，修改用于印刷头的指令的生成和/或修改印刷头的布置。

适当地，选择用于非随机印刷缺陷的可能原因的步骤包括：

-选择印刷缺陷的与试剂问题有关的原因。

适当地，选择用于非随机印刷缺陷的可能原因的步骤包括：

-选择印刷缺陷的与喷嘴无法正常工作有关的原因。

适当地，在印刷后续印刷行程之前，修改用于印刷头的指令的生成和/或修改印刷头的布置的步骤包括：

-装载新试剂。

适当地，在印刷后续印刷行程之前，修改用于印刷头的指令的生成和/或修改印刷头的布置的步骤包括：

-指示使用与无法正常工作的喷嘴不同的喷嘴。

适当地，该方法包括：

m)在将步骤h)中的印刷缺陷分类为随机印刷缺陷的情况下：

n)复查非随机印刷缺陷，以及

o)使用步骤o)的复查的结果以决定在继续印刷或重新印刷微阵列或其各个斑点元素之间进行选择。

适当地，借助于摄像头获得印刷出的微阵列的图像的步骤包括：

p)在印刷微阵列之前、对于每个微阵列利用定位在印刷头前方的第二摄像头获得基材的第一图像，并且在将微阵列印刷在基材上之后获得基材的第二图像。

适当地，处理获得的印刷出的微阵列的图像的步骤包括：

q)对于每个微阵列处理借助于第一摄像头获得的基材的图像和借助于第二摄像头获得的基材的图像，以计算指示印刷出的微阵列的品质的参数。

根据本发明的第二方面，提供了用于制造微阵列并验证所述微阵列的品质的装置，该装置包括：

-分配印刷头，其适于容纳至少一种试剂，

-用于在第一印刷行程期间生成对所述印刷头的指令并使所述印刷头相对于基材运动以将所述至少一种试剂印刷在基材上以获得微阵列的构件，

-至少第一摄像头，其能够获得其上印刷有微阵列的基材的图像，

-连接至所述至少第一摄像头的处理构件，该处理构件适于从所述至少第一摄像头接收图像，并且适于计算指示印刷出的微阵列的品质的参数，其中，处理构件还适于在第一印刷行程结束时将印刷出的微阵列的计算出的参数与用于微阵列的预先确定的标准进行比较，确认可能的印刷缺陷，对于印刷出的微阵列，在确认出印刷缺陷的情况下比较用于印刷出的微阵列的确认出的印刷缺陷，并使用该比较的结果将确认出的印刷错误分类为随机或非随机印刷缺陷，并在印刷后续印刷行程之前，使用所述分类以选择更正措施以改进微阵列的品质。

适当地，该装置还包括：

-至少第二摄像头，其能够获得要在其上印刷微阵列的基材的图像，其中在印刷头的运动方向上观察，该至少第一摄像头定位在印刷头后方，并且该至少第二摄像头定位在印刷头前方。

附图说明

现在将仅通过示例的方式参考附图来描述本发明的实施方式，其中：

图1展示本发明的设备的剖视图。

图2展示本发明的方法的流程图。

具体实施方式

在下面的描述中，阐述了许多具体细节以便提供对本发明的各种说明性实施方式的透彻理解。然而，对于本领域技术人员将理解的是，可以在没有一些或所有这些具体细节的情况下实践本发明的实施方式。在其他情况下，未详细描述众所周知的过程操作，以免不必要地使所描述的实施方式的相关方面模糊。在附图中，贯穿若干视图，相似的参考标号指代相同或相似的功能或特征。

在本说明书中，参考了试剂。试剂一词旨在针对适于借助于印刷获得微阵列的任何生物材料。

在本说明书中，微阵列一词用于针对配置有分配在基材的顶部上的多个斑点的基材的组合，其中斑点以有序的方式分配在基材上，每个斑点包含确定数量的生物材料。在本说明书中，参考了印刷头。印刷头旨在针对适于例如通过使用多个喷嘴在基材上分配生物材料的设备。

参照图1，示出微阵列仪10的剖视图。微阵列仪10包括适于在基材上分配试剂的印刷头3。印刷头3通常适于装载多种试剂，其中用于容纳所述试剂的每个接收器都连接至用于将试剂分配在基材上的多个喷嘴。

将印刷头3安装在微阵列仪中以允许印刷头相对于基材的相对运动，根据图1，该基材具有托盘5的形式，多个载玻片4定位在该托盘上。如图1所示，印刷头通常适于在第一印刷行程中在托盘5上方从右向左运动，然后在后续的印刷行程中从左向右运动，其中第一和每个后续的印刷行程必须基本平行。

微阵列仪10具有定位在印刷头3的相反两侧的第一摄像头1和第二摄像头2。当印刷头3如图1所示在印刷行程中从左向右运动时，摄像头1适于在印刷头3后方运动。这意味着摄像头1可以在印刷头3和摄像头1的组合件如图1所示从左向右运动的过程中获得基材(微载玻片)4的图像。一旦完成印刷行程，则印刷头3和第一摄像头1和第二摄像头2的组合件的运动将会反转。在后续的印刷行程中，摄像头2将会定位在印刷头3后方，因此，在后续的印刷行程中，在借助于印刷头3将试剂印刷在基材上之后，摄像头2可以用于获取基材(微载玻片)4的图像。

为了使根据图1的微阵列10正常运行，摄像头1和2与印刷头3直列地安装，其中摄像头1和摄像头2各自具有相对于印刷头3的确定的距离。此外，摄像头1和2将会相对于基材垂直，以便允许借助于摄像头1和2对基材进行适当的成像。

在本发明的特定实施方式中，可以在单一印刷行程期间使用第一摄像头1和第二摄像头2两者来获取基材4的图像。例如，当印刷头如图1所示从右向左运动时，在借助于印刷头3将试剂分配到基材4上之前，第一摄像头1可以用于获得基材4的图像。随后，在借助于印刷头3将试剂分配在基材上之后，摄像头2可以用于获得基材的图像。这意味着在借助于印刷头3分配试剂之后，摄像头1和摄像头2两者的图像都可以用于分析获得的微阵列。例如，如果在印刷之前，摄像头1已经获得基材的图像，则其中可以观察到载玻片的缺陷未对准或污染。一旦已生产出微阵列，该信息就可以用于改进对同一基材的图像的分析。

在根据图1的微阵列10中，第一和第二摄像头1，2将会连接至处理构件(图1中未示出)。这些处理构件特别适于执行图像处理以从通过使用摄像头1和2获得的图像中检索关于在基材上生产出的微阵列的品质的信息。处理构件将会配置有已知算法以允许图像处理。处理构件将会连接至控制构件(图1中未示出)，该控制构件特别适于生成操作印刷头3的指令。这意味着一旦处理构件已经处理通过摄像头1和2获得的图像，就可以将数据转发至控制构件以生成用于印刷头的指令，例如，以在后续的印刷行程中改变印刷头的操作，以改进要获得的微阵列的品质。

根据本发明的实施方式，控制构件将会能够识别在印刷行程期间获得的微阵列中观察到的可能的缺陷是随机错误还是非随机错误。在微阵列中观察到的错误是非随机错误的情况下，可以对印刷头进行特定修改，以改进要获得的微阵列的品质。在下面的实施例中描述了用于印刷头的生产指令的功能。在处理构件在分析一系列图像之后已经确定通过使用印刷头中的特定喷嘴获得的斑点包含印刷错误的情况下，控制构件可以向印刷头生成指令以不再使用相应的喷嘴。在后续的印刷行程中，代替使用有故障的喷嘴，可以使用备用喷嘴以避免重复印刷错误。

根据本发明，在印刷作业期间、在所述印刷作业的每个印刷行程结束时，可以进行微阵列品质的复查。在印刷行程结束时，对于印刷出的每个微阵列，在第一步骤中，确认可能的印刷缺陷。这些印刷缺陷与在将试剂印刷在基材上期间发生的印刷错误有关。

为了允许确认印刷缺陷，在印刷行程期间获得的印刷出的微阵列的图像用于计算指示微阵列的品质的参数。这些参数可以指示例如：微阵列的各个斑点的存在或不存在；微阵列中的各个斑点的尺寸；微阵列的斑点的圆度；斑点在微阵列中的实际位置；可能的卫星斑点的存在，该卫星斑点意味着存在于斑点等附近的少量试剂。

一旦已经计算出用于印刷出的微阵列的参数，就可以将参数与用于微阵列的预先确定的标准进行比较。这些标准包括为了通过品质检查而例如对于微阵列的斑点的尺寸、位置和圆度的最低要求。例如，对于斑点的尺寸、位置和圆度，可以确定间隔，印刷出的微阵列的实际值应当落入该间隔之间以将印刷出的微阵列分类为合格。

一旦可用，就可以将计算出的参数与确定出的标准进行比较，以对于每个微阵列确认确定出的标准与实际参数之间的特定印刷缺陷。一旦完成比较，就可以对于印刷行程分析确定出的标准与计算出的参数之间是否存在印刷缺陷，如果存在，这些印刷缺陷与什么有关。

这意味着对于每个印刷行程，可以建立不同微阵列的品质，并将其与同一印刷行程中的其他微阵列的品质进行比较。这意味着在印刷过程结束时，可以复查印刷缺陷仅出现一次还是多次出现。如果印刷缺陷仅出现一次，则印刷缺陷可能是随机印刷缺陷，该随机印刷缺陷在印刷行程中对于其中一个微阵列发生，而在任何其他微阵列中都不重复。

如果印刷缺陷多次发生或在所有微阵列中发生，则印刷缺陷可能与印刷头的功能有关，也可能与装载在印刷头中并用于印刷微阵列的试剂的特性有关。

例如，如果在所有微阵列中都缺失某个斑点，则显然印刷该特定斑点的喷嘴存在问题。根据另一实施例，如果用于印刷特定试剂的所有喷嘴都存在印刷问题，则该问题可能与所使用的试剂有关。这意味着，例如，试剂的粘度存在问题。

根据本发明，确认印刷缺陷并将其分类为随机或非随机是自动的。

根据一实施例，该分类如下进行：

在第一步骤中，获得印刷出的微阵列的图像，其中图像允许分析基材上的印刷出的微阵列的各个斑点。

在第二步骤中，分析图像以针对印刷出的微阵列及其各个斑点确认可能的印刷错误。

以下印刷缺陷可能会出现：

1)斑点缺失。这意味着分配印刷头本来应当印刷斑点，但是尚未印刷该斑点或该斑点错位，从而使得尚未将斑点捕获在获得的微阵列的图像中。

2)斑点错位。这意味着斑点存在于基材上，但是斑点与预期斑点位置错位的程度超过预先确定的位移阈值。该位置精度以微米表示。将实际印刷出的斑点的中心与斑点本来应该位于的区域的中心进行比较。如果斑点的实际中心与斑点的预期中心之间的距离大于用户定义的阈值，则将斑点分类为错位。

例如，默认值为44μm(范围为33->111μm)。

3)斑点具有不良形态。每个斑点旨在具有圆形形状。斑点形态将会具有用于圆度的预先确定的阈值。根据一实施例，如果斑点圆度小于80％，则将斑点分类为具有不良形态。

斑点的圆度通过将半径均方误差(Rad_mse，其将形成斑点的每个半径与平均半径进行比较)与半径平均值进行比较来计算。半径均方误差用以下公式表示：

4)斑点是大斑点还是小斑点。如果斑点尺寸比平均尺寸高出预先确定的百分比以上，则将斑点分类为大斑点。如果斑点小于预先确定的斑点尺寸，则认为斑点是小的。

对于斑点尺寸，使用斑点尺寸一致性参数。斑点尺寸一致性表示预期的斑点尺寸，即70％斑点尺寸一致性允许在斑点尺寸方面变化30％。这意味着，例如，如果平均斑点尺寸(半径)为10个像素，则具有大于13个像素的每个斑点将会分类为大的；具有少于7个像素的斑点将会分类为小的。

5)卫星斑点的存在。卫星斑点是在较大的斑点更靠近用于斑点的预期区域中心存在的区域中检测到的小错位斑点。根据一实施例，当对于一组斑点存在3个或更多小的错位斑点时，会报告存在卫星斑点。将会忽略每组斑点中存在的1个或2个卫星斑点。

6)斑点已经合并。如果斑点存在，但是具有不良形态，并且它们的尺寸大于平均值，则可能在相邻区域中至少缺失一个斑点。

7)带有伪影的斑点。这意味着斑点具有不良形态，在尺寸方面大于平均尺寸，但是在相邻区域没有缺失的斑点。额外的尺寸来自伪影。

8)伪影。忽略没有碰到任何斑点的伪影。

9)额外斑点。这意味着在应当只有一个斑点的地方检测到多个良好斑点。额外的斑点例如可能是严重错位的斑点。例如，额外的斑点可以是来自已经印刷不良的先前印刷出的行中的斑点。

一旦已经确认出印刷缺陷，则根据第一替代方案，当生成关于载玻片的品质的报告时，印刷缺陷可以通过载玻片来分组。用户通过设置斑点缺失的最大数量(％)和其他缺陷的最大数量(％)来定义将会分类为合格或不合格的阈值。

将会把缺陷低于阈值的每个载玻片分类为“合格”。如果载玻片中包括最多超出该阈值5％的缺陷，则将会把载玻片定义为“注意”(用户仍然可以忽略这些载玻片，或查看图像并确定它们是否可用)。把带有更多缺陷的任何载玻片都分类为“不合格”。

根据第二替代方案，一旦已经针对在同一印刷行程、所述印刷行程的一部分或多个印刷行程中印刷出的微阵列的图像确认印刷缺陷，则可以在印刷后续印刷行程之前复查印刷缺陷。如果已经将印刷缺陷确认并分类为非随机印刷缺陷，则在接下来的步骤中可以选择针对印刷缺陷的可能原因。

为了允许这点，可以在数据库中提供可能原因的列表。可以使用专家***以将特定类型的印刷缺陷与针对印刷缺陷的可能原因相关联。一旦已经选择针对印刷缺陷的可能原因，针对印刷缺陷的可能原因的列表就可以利用针对要采取的更正措施的可能解决方案的列表来完成。

根据一实施例，数据库可以包括印刷缺陷、可能原因和可能解决方案的以下组合：

实例I：

a)印刷缺陷：对于全部印刷相同试剂的一组喷嘴中的仅一个，斑点缺失；

b)可能原因：未印刷斑点的喷嘴无法正常工作；

c)可能解决方案：继续印刷，但不再使用有缺陷的喷嘴。

实例II：

a)印刷缺陷：对于印刷相同试剂的所有喷嘴，斑点缺失；

b)可能原因：试剂有问题或试剂缺失；

c)可能解决方案：停止印刷，并在继续印刷之前装载新试剂。

根据第二替代方案，如果在同一印刷行程、所述印刷行程的一部分或多个印刷行程中已经确认印刷缺陷，并且将其分类为随机印刷缺陷，则在接下来的步骤中可以选择针对印刷缺陷的可能更正措施。

为了允许这点，可以在数据库中提供可能原因的列表。可以使用专家***以将特定类型的印刷缺陷与针对印刷缺陷的可能原因相关联。一旦已经选择针对印刷缺陷的可能原因，针对印刷缺陷的可能原因的列表就可以利用针对要采取的更正措施的可能解决方案的列表来完成。

根据一实施例，数据库可以包含印刷缺陷、可能原因和可能解决方案的以下组合：

实施例I：

a)印刷缺陷：对于印刷出的微阵列中的仅一个，斑点缺失；相同斑点在其他微阵列中存在；

b)可能原因：未印刷该一个斑点的喷嘴工作正常，但是出现了一个随机印刷缺陷；

c)可能解决方案：继续印刷，但是在印刷后续印刷行程之前，返回缺失斑点的微阵列，以更正所述斑点。

实施例II：

a)印刷缺陷：对于印刷出的微阵列中的仅一个，斑点缺失；相同斑点在其他微阵列中存在；

b)可能原因：未印刷该一个斑点的喷嘴工作正常，但是出现了一个随机印刷缺陷；

c)可能解决方案：继续印刷，并返回缺失斑点的微阵列，以在印刷作业结束时更正所述斑点。

斑点和微阵列的上述分析和分类通过使用明确定义的功能来分析斑点图像以确认缺陷类型来执行。用于分析斑点的品质和对斑点进行分类的处理构件可以包括使用人工智能的形式(例如，神经网络，模糊逻辑等)以通过学习实施例来实现更准确的缺陷确认和分类的特征。

印刷头3和摄像头1和2的组合件将会配置有照明构件，以允许在借助于摄像头1和2获得图像之前或期间对基材进行照明。通常，照明构件将会适于消除光入射在基材上的方向垂直于基材的表面的基材。取决于印刷在基材上的试剂和基材所用的材料，试剂和基材反射入射在基材上的光的能力将会有所不同。这种反射差异允许获得代表在基材上生产出的微阵列的图像。

如图1所示，在根据本发明的装置中，成像***包括两个摄像头。在印刷头3后方运动的摄像头用于在已印刷斑点之后捕获它们；在印刷斑点之前，可以使用在运动方向上处于印刷头3前方的摄像头来对表面成像。

该布置提供可用于确认伪影或污垢的附加信息。然后，可以使用该信息以生产印刷缺陷的更准确的分析和报告(例如，事先知道会出现伪影)，确认和报告脏的载玻片，以及允许使用专家***以考虑到在脏的载玻片上进行印刷出的事实向印刷头3提供指示。

图2展示本发明的方法的流程图。

根据图2，在第一步骤100中，提供至少一种试剂，

在另一步骤110中，将至少一种试剂以预先确定的布置装载在分配印刷头中。

在另一步骤120中，在第一印刷行程中，生成用于印刷头的指令，并且使所述印刷头相对于基材运动，以将所述至少一种试剂印刷在基材上以获得微阵列。

在另一步骤130中，借助于摄像头获得印刷出的微阵列的图像。

在另一步骤140中，处理获得的印刷出的微阵列的图像，以计算指示印刷出的微阵列的品质的参数。

在另一步骤150中，在第一印刷行程结束时，将针对印刷出的微阵列的计算出的参数与用于微阵列的预先确定的标准进行比较，以确认可能的印刷缺陷。

在另一步骤160中，对于印刷出的微阵列，比较步骤150中确认出的印刷缺陷。

在另一步骤170中，在印刷后续的印刷行程之前，使用步骤160的比较的结果来选择更正措施以改进微阵列的品质。

参考以上观察，注意到根据本发明的方法和装置允许在印刷过程期间分析印刷出的微阵列。此外，该方法和装置允许在印刷作业期间采取更正措施，以在其生产过程期间改进印刷出的微阵列的品质，而无需在分析已完成的印刷作业的品质之前完成印刷作业。

根据本发明的方法和装置允许进一步改进微阵列的生产过程，并且由于可能的瞬时更正措施而节省成本。

在印刷期间，可以采取更正措施以改进要印刷出的微阵列的品质，更正已经印刷出的微阵列或停止印刷以防止试剂的进一步浪费。

Claims (11)

1.用于制造微阵列和验证所述微阵列的品质的方法，其中所述方法包括：

a)提供至少一种试剂，

b)将所述至少一种试剂以预先确定的布置装载在分配印刷头中，

c)在第一印刷行程中，生成用于印刷头的指令，并使所述印刷头相对于基材运动，以将所述至少一种试剂印刷在所述基材上以获得微阵列，

d)借助于摄像头获得印刷出的微阵列的图像，

e)处理获得的印刷出的微阵列的图像，以计算指示印刷出的微阵列的品质的参数，

f)在第一印刷行程结束时，将用于印刷出的微阵列的计算出的参数与用于微阵列的预先确定的标准进行比较，以确认可能的印刷缺陷，

g)如果确认出印刷缺陷，则对于印刷出的微阵列，比较步骤f)中确认出的印刷缺陷，

h)使用步骤g)的比较的结果以将确认出的印刷缺陷分类为随机或非随机印刷缺陷，以及

i)在印刷后续的印刷行程之前，使用步骤h)的分类来选择更正措施以改进微阵列的品质。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述方法包括：

j)在将步骤h)中的印刷缺陷分类为非随机印刷缺陷的情况下：

k)选择针对非随机印刷缺陷的可能原因，

l)在印刷后续的印刷行程之前，修改用于印刷头的指令的生成和/或修改印刷头的布置。

3.根据权利要求2所述的方法，其中选择针对非随机印刷缺陷的可能原因的步骤包括：

-选择印刷缺陷的与试剂问题有关的原因。

4.根据权利要求2所述的方法，其中选择针对非随机印刷缺陷的可能原因的步骤包括：

-选择印刷缺陷的与喷嘴无法正常工作有关的原因。

5.根据权利要求3所述的方法，其中在印刷后续的印刷行程之前修改用于印刷头的指令的生成和/或修改印刷头的布置的步骤包括：

-装载新试剂。

6.根据权利要求4所述的方法，其中在印刷后续印刷行程之前修改用于印刷头的指令的生成和/或修改印刷头的布置的步骤包括：

-指示使用与无法正常工作的喷嘴不同的喷嘴。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述方法包括：

m)在将步骤h)中的印刷缺陷分类为随机印刷缺陷的情况下：

n)复查非随机印刷缺陷，以及

o)使用步骤o)的复查的结果以决定在继续印刷或重新印刷微阵列或其各个斑点元素之间进行选择。

8.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中借助于摄像头获得印刷出的微阵列的图像的步骤包括：

p)在印刷微阵列之前、对于每个微阵列利用定位在印刷头前方的第一摄像头获得基材的第一图像，并且在将微阵列印刷在基材上之后获得基材的第二图像。

9.根据权利要求8所述的方法，其中处理获得的印刷出的微阵列的图像的步骤包括：

q)对于每个微阵列处理借助于第一摄像头获得的基材的图像和借助于第二摄像头获得的基材的图像，以计算指示印刷出的微阵列的品质的参数。

10.用于制造微阵列并验证所述微阵列的品质的装置，所述装置包括：

-分配印刷头，其适于容纳至少一种试剂，

-用于在第一印刷行程期间生成对所述印刷头的指令并使所述印刷头相对于基材运动以将所述至少一种试剂印刷在基材上以获得微阵列的装置，

-至少第一摄像头，其能够获得其上印刷有微阵列的基材的图像，

-连接至所述至少第一摄像头的处理构件，所述处理构件适于从所述至少第一摄像头接收图像，并且适于计算指示印刷出的微阵列的品质的参数，其中处理构件还适于在第一印刷行程结束时将印刷出的微阵列的计算出的参数与用于微阵列的预先确定的标准进行比较，确认可能的印刷缺陷，对于印刷出的微阵列，在确认出印刷缺陷的情况下比较用于印刷出的微阵列的确认出的印刷缺陷并且使用所述比较的结果以将确认出的印刷错误分类为随机或非随机印刷缺陷，并在印刷后续的印刷行程之前，使用所述分类以选择更正措施以提高微阵列的品质。

11.根据权利要求10所述的装置，其中，所述装置还包括：

-至少第二摄像头，其能够获得要在其上印刷微阵列的基材的图像，其中在印刷头的运动方向上观察，所述至少第一摄像头定位在印刷头后方，并且所述至少第二摄像头定位在印刷头前方。

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