CN111367710B - 一种eMMC问题还原方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供了一种eMMC问题还原方法和装置,所述eMMC包括第一块区和第二块区;所述第一块区存储有运行固件;所述第二块区存储有***数据;所述方法包括:擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件;接收操作指令,并根据所述操作指令,运行所述测试固件;将运行所述测试固件产生的测试数据发送给显示平台进行显示。在本发明实施例中,并不需要擦除eMMC中所有数据,即可复原eMMC在运行过程中出现的问题,能够快速定位eMMC中的问题,缩短解决eMMC问题的时间。
Description
技术领域
本发明涉及存储器处理技术领域,特别是涉及一种eMMC问题还原方法和装置。
背景技术
嵌入式多媒体卡(eMMC)是MMC协会订立的,主要针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格,其包括至少一个NAND和控制器,控制器中配置有软件,能够对eMMC的运行过程进行控制,eMMC可安装在各种电子设备中作为存储器使用。
目前,eMMC芯片作为存储介质的应用较为广泛,在生活生产中的各种应用场合都随处可见。但由于其物理特性的限制,eMMC芯片的使用不可能做到百分百不出问题,特别是近些年eMMC芯片销量一直很高,同时客户问题也一直是困扰着每一家eMMC厂商的大问题,能否准确、快速的解决客户问题,也是衡量eMMC厂商综合能力的重要指标。
eMMC出现的问题大都不可能显而易见的解决,往往需要返回eMMC厂商进行处理,eMMC厂商在芯片处理过程中如何快速的复现问题,对于解决问题起到关键作用。现有技术中,当eMMC出现问题时,将eMMC全部擦除,重新进行烧录,但是这种方法并不能发现eMMC在用户使用时出现的问题。
发明内容
鉴于上述问题,提出了本发明实施例的一种eMMC问题还原方法,能够快速定位eMMC在使用过程中出现的问题。
根据本发明的第一方面,提供了一种eMMC问题还原方法,所述eMMC包括第一块区和第二块区;所述第一块区存储有运行固件;所述第二块区存储有***数据;所述方法包括:
擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件;
接收操作指令,并根据所述操作指令,运行所述测试固件;
将运行所述测试固件产生的测试数据发送给显示平台进行显示。
根据本发明的第二方面,提供了一种eMMC问题还原装置,应用于上述任一项所述的eMMC问题还原方法,所述eMMC包括第一块区和第二块区;所述第一块区存储有运行固件;所述第二块区存储有***数据;所述装置包括:
擦除烧录模块,用于擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件;
运行模块,用于接收操作指令,并根据所述操作指令,运行所述测试固件;
发送模块,用于将运行所述测试固件产生的测试数据发送给显示平台进行显示。
本发明实施例中,提供了一种eMMC问题还原方法,所述eMMC包括第一块区和第二块区;所述第一块区存储有运行固件;所述第二块区存储有***数据;所述方法包括:擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件;接收操作指令,并根据所述操作指令,运行所述测试固件;将运行所述测试固件产生的测试数据发送给显示平台进行显示。在本发明实施例中,并不需要擦除eMMC中所有数据,即可复原eMMC在运行过程中出现的问题,能够快速定位eMMC中的问题,缩短解决eMMC问题的时间。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举本发明的具体实施方式。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中,用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中:
图1是本发明实施例提供的一种eMMC问题还原方法的步骤流程图;
图2是本发明实施例提供的一种eMMC问题还原装置的结构框图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例,并不用于限定本发明。
实施例一
参照图1,示出了一种eMMC题还原方法的步骤流程图,所述eMMC包括第一块区和第二块区;所述第一块区存储有运行固件;所述第二块区存储有***数据;该方法具体包括以下步骤:
步骤101,擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件。
在本发明实施例中,eMMC中具有NAND闪存,NAND被分为多个块区,每个块区存储固定的数据。其中在第一块区中存储运行数据,在第二块区中存储有***数据。其中,***数据包括数据表格、存储器地址映射表等。
在本发明实施例中,所述***数据包括运行固件在运行过程中所需要的运行参数。
在本发明实施例中,在eMMC第一块区的运行数据或测试数据在运行时,需要在第二块区中调用运行参数进行运行。
在本发明实施例中,当eMMC安装在设备内时,在用户使用设备时,eMMC可能会出现问题,无法运行。其中,eMMC出现问题的原因包括,用户输入的命令不正确或***数据出错。
在本发明实施例中,所述eMMC设有外设串口;则在步骤101之前,还包括:接收来自所述串口的调试命令;根据所述调试命令,运行所述运行固件,将所述运行结果通过所述串口输出;接收还原命令,根据所述还原命令,执行步骤擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件的步骤。
在本发明实施例中,eMMC通过串口和外设设备连接,eMMC接收外设设备发送的调试命令,其中调试命令中包括有调试参数,eMMC根据调试命令运行原有的运行固件,当固件可以运行时,说明***数据无错误,是用户输入的命令不正确,导致运行固件无法运行。如果运行固件无法运行时说明***数据出现错误。则外设设备向eMMC发送还原命令,eMMC接收到还原命令后执行步骤101。
在本发明实施例中,调试命令为测试人员用于调试eMMC的正确的命令。还原命令,是测试人员用于指示eMMC执行还原***数据错误的命令。
在本发明实施例中,当用户输入的命令不正确时,测试人员可以获取用户提供的输入的命令,通过测试人员的检测确定输入的命令的问题反馈给用户。
在本发明实施例中,当***数据出现错误时,测试人员将第一块区的原有的运行固件进行擦除,然后在第一块区中烧录测试固件,其中测试固件是可以调用***参数进行运行的固件。
在本发明实施例中,测试固件是测试人员制定的,可以用来读取***数据的代码。
在本发明实施例中,不需要将eMMC中所有的数据进行擦除,重新烧录固件和***数据。只需要擦除运行固件,保留***数据,即可确定***数据出现的问题。
步骤102,接收操作指令,并根据所述操作指令,运行所述测试固件;
在本发明实施例中,步骤102包括:接收操作指令,并根据所述操作指令,调用对应的所述第二块区中的所述运行参数,运行所述测试固件。
在本发明实施例中,操作指令是指用户在使用eMMC中输入的指令,测试人员可以和用户获取eMMC在出现问题时,用户输入的操作指令。然后测试人员可以写入该操作指令给eMMC,eMMC可根据该操作指令运行测试固件,测试固件在运行时会调用第二块区的运行参数。
步骤103,将运行所述测试固件产生的测试数据发送给显示平台进行显示。
在本发明实施例中,所述测试数据包括:测试固件运行状态、命令序列和***数据。
在本发明实施例中,在测试固件在运行时,会将测试固件运行状态、命令序列和***数据通过串口传出给外设设备的显示平台进行显示,则测试人员可以通过观察测试数据,确定eMMC在用户侧运行出现的问题,即还原eMMC的问题,及时解决用户遇到的问题。
本发明实施例中,提供了一种eMMC问题还原方法,所述eMMC包括第一块区和第二块区;所述第一块区存储有运行固件;所述第二块区存储有***数据;所述方法包括:擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件;接收操作指令,并根据所述操作指令,运行所述测试固件;将运行所述测试固件产生的测试数据发送给显示平台进行显示。在本发明实施例中,并不需要擦除eMMC中所有数据,即可复原eMMC在运行过程中出现的问题,能够快速定位eMMC中的问题,缩短解决eMMC问题的时间。
实施例二
参照图2,示出了一种eMMC问题还原装置的结构框图,
所述eMMC包括第一块区和第二块区;所述第一块区存储有运行固件;所述第二块区存储有***数据;该装置200具体可以包括:
擦除烧录模块201,用于擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件;
运行模块202,用于接收操作指令,并根据所述操作指令,运行所述测试固件;
发送模块203,用于将运行所述测试固件产生的测试数据发送给显示平台进行显示。
所述***数据包括运行固件在运行过程中所需要的运行参数。
所述运行模块202,包括:
运行单元,用于接收操作指令,并根据所述操作指令,调用对应的所述第二块区中的所述运行参数,运行所述测试固件。
所述eMMC设有外设串口,还包括:
接收模块,用于接收来自所述串口的调试命令;
输出模块,根据所述调试命令,运行所述运行固件,将所述运行结果通过所述串口输出;
接收还原命令,根据所述还原命令,执行步骤擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件的步骤。
所述测试数据包括:测试固件运行状态、命令序列和***数据。
本发明实施例中,提供了一种eMMC问题还原方法,所述eMMC包括第一块区和第二块区;所述第一块区存储有运行固件;所述第二块区存储有***数据;所述方法包括:擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件;接收操作指令,并根据所述操作指令,运行所述测试固件;将运行所述测试固件产生的测试数据发送给显示平台进行显示。在本发明实施例中,并不需要擦除eMMC中所有数据,即可复原eMMC在运行过程中出现的问题,能够快速定位eMMC中的问题,缩短解决eMMC问题的时间。
需要说明的是,对于前述的方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本发明并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本发明,某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所涉及的动作并不一定是本发明所必需的。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
本领域内的技术人员应明白,本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此,本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
在一个典型的配置中,所述计算机设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。内存可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器,随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式,如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。内存是计算机可读介质的示例。计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括,但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带,磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质,可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定,计算机可读介质不包括非持续性的电脑可读媒体(transitory media),如调制的数据信号和载波。
本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(***)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程非易失存储器擦除终端设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程非易失存储器擦除终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程非易失存储器擦除终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程非易失存储器擦除终端设备上,使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明实施例的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。
最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种eMMC问题还原方法和装置,进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (6)
1.一种eMMC问题还原方法,其特征在于,所述eMMC包括第一块区和第二块区;所述第一块区存储有运行固件;所述第二块区存储有***数据;所述方法包括:
擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件;
接收操作指令,并根据所述操作指令,运行所述测试固件;
将运行所述测试固件产生的测试数据发送给显示平台进行显示,
其中,所述***数据包括运行固件在运行过程中所需要的运行参数,
其中,所述接收操作指令,并根据所述操作指令,运行所述测试固件,包括:
接收操作指令,并根据所述操作指令,调用对应的所述第二块区中的所述运行参数,运行所述测试固件。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述eMMC设有外设串口;则在擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件之前,还包括:
接收来自所述串口的调试命令;
根据所述调试命令,运行所述运行固件,将所述运行结果通过所述串口输出;
接收还原命令,根据所述还原命令,执行步骤擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件的步骤。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试数据包括:测试固件运行状态、命令序列和***数据。
4.一种eMMC问题还原装置,其特征在于,所述eMMC包括第一块区和第二块区;所述第一块区存储有运行固件;所述第二块区存储有***数据;所述装置包括:
擦除烧录模块,用于擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件;
运行模块,用于接收操作指令,并根据所述操作指令,运行所述测试固件;
发送模块,用于将运行所述测试固件产生的测试数据发送给显示平台进行显示,
其中,所述***数据包括运行固件在运行过程中所需要的运行参数,
其中,所述运行模块,包括:
运行单元,用于接收操作指令,并根据所述操作指令,调用对应的所述第二块区中的所述运行参数,运行所述测试固件。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述eMMC设有外设串口,还包括:
接收模块,用于接收来自所述串口的调试命令;
输出模块,根据所述调试命令,运行所述运行固件,将所述运行结果通过所述串口输出;
接收还原命令,根据所述还原命令,执行步骤擦除所述第一块区的所述运行固件,并在所述第一块区中烧录测试固件的步骤。
6.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述测试数据包括:测试固件运行状态、命令序列和***数据。
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CN116880782B (zh) * | 2023-09-08 | 2023-12-05 | 合肥康芯威存储技术有限公司 | 一种内嵌式存储器及其测试方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108037938A (zh) * | 2017-12-21 | 2018-05-15 | 北京京存技术有限公司 | 一种eMMC的开卡方法 |
CN108335718A (zh) * | 2017-12-15 | 2018-07-27 | 北京京存技术有限公司 | 一种测试方法及装置 |
Family Cites Families (2)
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---|---|---|---|---|
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108335718A (zh) * | 2017-12-15 | 2018-07-27 | 北京京存技术有限公司 | 一种测试方法及装置 |
CN108037938A (zh) * | 2017-12-21 | 2018-05-15 | 北京京存技术有限公司 | 一种eMMC的开卡方法 |
Non-Patent Citations (1)
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---|
麻伟建 ; 胡建萍 ; 付建云 ; .基于SD控制器的闪存测试***设计与研究.计算机测量与控制.2009,(09),全文. * |
Also Published As
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CB02 | Change of applicant information | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: Room 101, Floor 1-5, Building 8, Yard 9, Fenghao East Road, Haidian District, Beijing 100094 Applicant after: Zhaoyi Innovation Technology Group Co.,Ltd. Applicant after: HEFEI GEYI INTEGRATED CIRCUIT Co.,Ltd. Address before: 100083 12 Floors, Block A, Tiangong Building, Science and Technology University, 30 College Road, Haidian District, Beijing Applicant before: GIGADEVICE SEMICONDUCTOR(BEIJING) Inc. Applicant before: HEFEI GEYI INTEGRATED CIRCUIT Co.,Ltd. |
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GR01 | Patent grant | ||
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