CN111308603A - 一种斜向光轴相位差膜 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种斜向光轴相位差膜，属于液晶显示用光学薄膜领域技术领域。该斜向光轴相位差膜包括由上到下依次叠合设置的偏光片层、第一位相差层和第二位相差层，第一位相差层的位相差值R0(550)为180nm～300nm，第二位相差层的位相差值R0(550)为80nm‑175nm。本发明的斜向光轴的第一位相差层和第二位相差层均具有斜向光轴，可直接与偏光片层进行卷对卷贴合，不需要进行裁切和旋转角度，能够大幅提高材料利用率和生产效率。本发明制作而成的减反射膜可将可见光波段(400nm‑780nm)的反射率从80％减小至10％以下。

Description

一种斜向光轴相位差膜
技术领域
本发明涉及液晶显示用光学薄膜领域技术领域，更具体的说是涉及一种斜向光轴相位差膜。
背景技术
OLED柔性显示用减反射膜，由几层不同光轴角度的位相差层贴合而成，通过阻止OLED内部金属电极反射光进入人眼来提高对比度，降低环境光对显示的干扰，从而达到提升显示效果的目的。
现有的位相差层的光轴是沿薄膜横向或纵向的，需要裁切后转动一个角度与偏光片层贴合，裁切会降低材料利用率，同时增加裁切工序，使制程复杂，不利于提高生产效率。
发明内容
本发明的目的在于提出一种斜向光轴相位差膜，用于解决现有技术中在生产过程中要保证斜向光轴角度和位相差的均匀性比较难控制的问题。本发明的斜向光轴的第一位相差层和第二位相差层均具有斜向光轴，可直接与偏光片层进行卷对卷贴合，不需要进行裁切和旋转角度，能够大幅提高材料利用率和生产效率。
为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案：
一种斜向光轴相位差膜，包括由上到下依次叠合设置的偏光片层、第一位相差层和第二位相差层，第一位相差层的位相差值R0(550)为180nm～300nm，此处R0(550)表示在550nm波长的光下测得的第一位相差层的面内相位差值，第二位相差层的位相差值R0(550)为80nm-175nm。此处R0(550)表示在550nm波长的光下测得的第二位相差层的面内相位差值。
更为优选的技术方案是，第一位相差层的慢轴角度与偏光片层的吸收轴的夹角为θ1，第二位相差层的慢轴角度与偏光片层的吸收轴的夹角为θ2。
更为优选的技术方案是，所述θ2＝2θ1+45°，θ1>0°；或θ2＝2θ1-45°，θ1<0°。
更为优选的技术方案是，第一位相差层的位相差值R0(550)为240nm～265nm。
更为优选的技术方案是，第一位相差层的位相差值R0(550)为245nm。
更为优选的技术方案是，第二位相差层的位相差值R0(550)为120nm～145nm。
更为优选的技术方案是，第二位相差层的位相差值R0(550)为125nm。
更为优选的技术方案是，所述θ1＝10°～20°(或70°～90°)，相应的θ2＝70°～90°(或10°～20°)，进一步优选θ1＝±15°(或±75°)，对应的θ2＝±75°(或±15°)时为最佳。
该发明的工作原理：通过这样的组合，可使进入该结构减反射膜的自然光，在通过表层偏光片层后转变为线偏振光，该线偏振光偏振方向与偏光片层的吸收轴垂直。该线偏振光在经过第一位相差层后其电矢量和磁矢量会产生一个π的位相差，但仍是线偏振光，偏振方向旋转180°。该线偏振光经过第二层位相差层后其电矢量和磁矢量产生一个π/2的位相差,线偏振光转变为右旋(或左旋)的圆偏振光，该右旋(或左旋)的圆偏振光在经过OLED金属电极的镜面反射后，转变为左旋旋(或右旋)的圆偏振光，该左旋旋(或右旋)的圆偏振光，再次经过第二层位相差层后，其电矢量和磁矢量又会产生一个π/2的位相差，转变为线偏振光，该线偏振光的偏振方向正好与偏光片层的吸收轴方向平行，被偏光片层的吸收轴吸收，从而避免了反射光进入人眼，减少了OLED金属电极的反射作用，起到了提高OLED显示器对比度的作用。
本发明与现有技术相比具有的有益效果是：
1.本发明的斜向光轴的第一位相差层和第二位相差层均具有斜向光轴，可直接与偏光片层进行卷对卷贴合，不需要进行裁切和旋转角度，能够大幅提高材料利用率和生产效率。
2.本发明制作而成的减反射膜可将可见光波段(400nm-780nm)的反射率从80％减小至10％以下。
附图说明
图1是本发明的一种斜向光轴相位差膜的截面图；
图2是本发明的一种斜向光轴相位差膜的俯视图；图2中长边方向为偏光片层的吸收轴方向，其中：
θ1为第一位相差层光轴(慢轴)方向与偏光片吸收轴方向的夹角；
θ2为第二位相差层光轴(慢轴)方向与偏光片吸收轴方向的夹角；
图中标记：100-偏光片层，110-第一位相差层，120-第二位相差层。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明作进一步的描述，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，并不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域的普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的其他所用实施例，都属于本发明的保护范围。
实施例一：
表层偏光片层可采用任意偏光片。
如图1和2所示，第一位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为245nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，其光轴角度(慢轴)与聚碳酸酯薄膜纵向(MD方向)成15°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值，波动范围在±5nm范围内。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的光轴角度(慢轴)与第一位相差层纵向(MD方向)的夹角。
第二位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第二位相差层的位相差R0(550)为125nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，其光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成75°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角。该实施例中，制成的减反射膜即斜向光轴相位差膜反射率的测定结果示于表1。
实施例二：
表层偏光片层可采用任意偏光片。
如图1和2所示，第一位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为245nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，其光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成20°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值，波动范围在±5nm范围内。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角。
第二位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为125nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成85°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角。该实施例中，制成的减反射膜即斜向光轴相位差膜反射率的测定结果示于表1。
实施例三：
表层偏光片层可采用任意偏光片。
如图1和2所示，第一位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为245nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成25°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值，波动范围在±5nm范围内。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角。
第二位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为125nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成95°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角，该实施例中，制成的减反射膜即斜向光轴相位差膜反射率的测定结果示于表1。
实施例四：
表层偏光片层可采用任意偏光片。
如图1和2所示，第一位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为245nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成30°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值，波动范围在±5nm范围内。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角，该实施例中，制成的减反射膜反射率的测定结果示于表1。
第二位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为125nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成105°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角，该实施例中，制成的减反射膜即斜向光轴相位差膜反射率的测定结果示于表1。
实施例五：
表层偏光片层可采用任意偏光片。
如图1和2所示，第一位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为245nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成-15°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值，波动范围在±5nm范围内。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角。
第二位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为125nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成-75°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角，该实施例中，制成的减反射膜即斜向光轴相位差膜反射率的测定结果示于表1。
实施例六：
表层偏光片层可采用任意偏光片。
如图1和2所示，第一位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为245nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成-20°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值，波动范围在±5nm范围内。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角。
第二位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为125nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成-85°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角，该实施例中，制成的减反射膜即斜向光轴相位差膜反射率的测定结果示于表1。
实施例七：
表层偏光片层可采用任意偏光片。
如图1和2所示，第一位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为245nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成-25°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值，波动范围在±5nm范围内。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角。
第二位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为125nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成-95°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角，该实施例中，制成的减反射膜即斜向光轴相位差膜反射率的测定结果示于表1。
实施例八：
表层偏光片层可采用任意偏光片。
如图1和2所示，第一位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为245nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成-30°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值，波动范围在±5nm范围内。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角。
第二位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为125nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成-105°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角，该实施例中，制成的减反射膜即斜向光轴相位差膜反射率的测定结果示于表1。
比较例一：
表层偏光片层可采用任意偏光片。
如图1和2所示，第一位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为260nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成15°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值，波动范围在±5nm范围内。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角。
第二位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为140nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成75°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角，该实施例中，制成的减反射膜即斜向光轴相位差膜反射率的测定结果示于表1。
比较例二：
表层偏光片层可采用任意偏光片。
如图1和2所示，第一位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为215nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成25°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值，波动范围在±5nm范围内。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角。
第二位相差层使用聚碳酸酯薄膜(PC)，使用拉伸设备进行斜向拉伸，调整拉伸温度及倍率，使第一位相差层的位相差R0(550)为110nm，显示出nx>ny＝nz的折射率特性，光轴角度(慢轴)与薄膜纵向(MD方向)成75°。R0(550)为使用Axoscan位相差测量仪在550nm的波长下测量，得到的面内位相差值。光轴角度(慢轴)为使用Axoscan位相差测量仪，测量得到的慢轴与第一位相差膜纵向(MD方向)的夹角，该实施例中，制成的减反射膜即斜向光轴相位差膜反射率的测定结果示于表1。
表1.
Figure BDA0002444835470000091
通过上表可知，本发明制作而成的减反射膜可将可见光波段(400nm-780nm)的反射率从80％减小至10％以下。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种斜向光轴相位差膜，其特征在于，包括由上到下依次叠合设置的偏光片层、第一位相差层和第二位相差层，第一位相差层的位相差值R0(550)为180nm～300nm，第二位相差层的位相差值R0(550)为80nm-175nm。
2.根据权利要求1所述的一种斜向光轴相位差膜，其特征在于，第一位相差层的慢轴角度与偏光片层的吸收轴的夹角为θ1，第二位相差层的慢轴角度与偏光片层的吸收轴的夹角为θ2。
3.根据权利要求2所述的一种斜向光轴相位差膜，其特征在于，所述θ2＝2θ1+45°，其中，θ1>0°；或θ2＝2θ1-45°，其中，θ1<0°。
4.根据权利要求1所述的一种斜向光轴相位差膜，其特征在于，第一位相差层的位相差值R0(550)为240nm～265nm。
5.根据权利要求1所述的一种斜向光轴相位差膜，其特征在于，第一位相差层的位相差值R0(550)为245nm。
6.根据权利要求1所述的一种斜向光轴相位差膜，其特征在于，第二位相差层的位相差值R0(550)为120nm～145nm。
7.根据权利要求1所述的一种斜向光轴相位差膜，其特征在于，第二位相差层的位相差值R0(550)为125nm。
8.根据权利要求2所述的一种斜向光轴相位差膜，其特征在于，所述θ1＝10°～20°或θ1＝70°～90°，相应的θ2＝70°～90°或θ2＝10°～20°。
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