CN111272769A - 一种电子产品的底壳检测装置 - Google Patents

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Abstract

本申请提供一种电子产品的底壳检测装置，该底壳检测装置设置在流水线的指定位置，用于对电子产品的底壳进行检测；底壳检测装置包括第一检测台、第一图像采集单元和第一光源，第一图像采集单元和第一光源设置在第一检测台的下方；第一检测台用于承载被测电子产品；第一光源用于发出光线，以照射被测电子产品的底壳，第一图像采集单元用于采集被测电子产品的底壳图像，以检测被测电子产品的底壳的外观情况。在本申请中，通过光源和图像采集单元之间的相互配合，对被测电子产品的底壳进行光学判断，对易混淆缺陷可进行区分；采用智能化的方式进行外观检测，可以提高准确性，而且可以有效避免人工检测所带来的漏检和错检。

Description

一种电子产品的底壳检测装置
技术领域
本申请涉及电子产品检测技术领域，具体为一种电子产品的底壳检测装置。
背景技术
目前，采用流水线的方式对电子产品底壳缺陷进行检测，通常是通过人工观察进行，但是在长时间的人工检测的过程中，会出现疲劳，产生漏检或错检的情况。
鉴于此，克服该现有技术所存在的不足是本技术领域亟待解决的问题。
发明内容
本申请主要解决的技术问题是提供一种电子产品的底壳检测装置，通过光源和图像采集单元之间的相互配合，对被测电子产品的底壳进行光学判断，对易混淆缺陷可进行区分；采用智能化的方式进行外观检测，可以提高准确性，而且可以有效避免人工检测所带来的漏检和错检。
为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种电子产品的底壳检测装置，所述底壳检测装置设置在流水线的指定位置，用于对电子产品的底壳进行检测；
所述底壳检测装置包括第一检测台、第一图像采集单元和第一光源，所述第一图像采集单元和所述第一光源设置在所述第一检测台的下方；
所述第一检测台用于承载被测电子产品；
所述第一光源用于发出光线，以照射所述被测电子产品的底壳，所述第一图像采集单元用于采集所述被测电子产品的底壳图像，以检测所述被测电子产品的底壳的外观情况。
优选地，所述底壳检测装置还包括处理终端，所述处理终端与所述第一图像采集单元连接；
所述处理终端用于接收所述第一图像采集单元所采集到的底壳图像，以分析确定所述被测电子产品的底壳的缺陷等级和缺陷部位。
优选地，所述第一检测台的下方设置有光线集中单元，所述光线集中单元的表面呈球面状；
所述光线集中单元用于将照射在所述光线集中单元表面的光线集中反射至所述被测电子产品处。
优选地，所述第一光源包括第一子光源和第二子光源，所述第一子光源和所述第二子光源对应分布在所述光线集中单元的两侧。
优选地，所述被测电子产品设置在所述第一子光源和所述第二子光源之间，所述被测电子产品与所述光线集中单元的中心位置对应。
优选地，所述光线集中单元为积分球。
优选地，所述第一检测台、所述第一图像采集单元和所述第一光源相互配合，用于检测所述被测电子产品的底壳的综合缺陷；
所述底壳检测装置还包括第二检测台、第二图像采集单元和第二光源，所述第二图像采集单元和所述第二光源设置在所述第二检测台的下方，所述第二检测台、所述第二图像采集单元和所述第二光源相互配合，用于检测所述被测电子产品的底壳的划痕缺陷。
优选地，所述底壳检测装置还包括平面反光板，所述平面反光板设置在所述第二检测台的下方；
所述平面反光板用于将所述第二光源的光线转换为平面光，以便于所述第二图像采集单元采集底壳的划痕。
优选地，所述第一图像采集单元和所述第二图像采集单元均为相机；
所述第一光源和所述第二光源均为无影灯。
优选地，所述第一检测台和所述第二检测台均由透明材料制作而成，其中，所述透明材料包括透明亚克力。
本申请的有益效果是：区别于现有技术，本申请提供一种电子产品的底壳检测装置，底壳检测装置设置在流水线的指定位置，用于对电子产品的底壳进行检测；底壳检测装置包括第一检测台、第一图像采集单元和第一光源，第一图像采集单元和第一光源设置在第一检测台的下方；第一检测台用于承载被测电子产品；第一光源用于发出光线，以照射被测电子产品的底壳，第一图像采集单元用于采集被测电子产品的底壳图像，以检测被测电子产品的底壳的外观情况。
在本申请中，通过光源和图像采集单元之间的相互配合，对被测电子产品的底壳进行光学判断，对易混淆缺陷可进行区分；采用智能化的方式进行外观检测，可以提高准确性，而且可以有效避免人工检测所带来的漏检和错检。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供第一种电子产品的底壳检测装置的结构示意图；
图2是本申请实施例提供的第二种电子产品的底壳检测装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，均属于本申请保护的范围。
在本实施例中，提供一种电子产品的底壳检测装置，如图1所示，所述底壳检测装置设置在流水线的指定位置，用于对电子产品的底壳进行检测。
其中，所述底壳检测装置包括第一检测台20、第一图像采集单元21和第一光源22，所述第一图像采集单元21和所述第一光源22设置在所述第一检测台20的下方。
在实际应用场景下，所述第一检测台20用于承载被测电子产品，其中，所述被测电子产品为手机或平板；所述第一光源22用于发出光线，以照射所述被测电子产品的底壳，所述第一图像采集单元21用于采集所述被测电子产品的底壳图像，以检测所述被测电子产品的底壳的外观情况。
在本实施例中，通过光源和图像采集单元之间的相互配合，对被测电子产品的底壳进行光学判断，对易混淆缺陷可进行区分；采用智能化的方式进行外观检测，可以提高准确性，而且可以有效避免人工检测所带来的漏检和错检。
在优选的实施例中，所述底壳检测装置还包括处理终端3，所述处理终端3具体可以为电脑，所述处理终端3与所述第一图像采集单元21连接，其中，第一图像采集单元21可以与处理终端3通过线缆连接或者通过无线网络连接，以传输数据。
具体地，处理终端3根据接收到的图片亮暗的均一性以及渐变性，确定所述被测电子产品的底壳是否存在缺陷，例如，电子产品的底壳被磨损；处理终端3还根据接收到的图片是否存在划痕，确定所述被测电子产品的底壳是否存在缺陷，例如，电子产品的底壳被划伤。
为了根据损伤程度对电子产品分类，所述处理终端3还用于根据所述第一图像采集单元21所采集到的底壳图像，以分析确定所述被测电子产品的底壳的缺陷等级和缺陷部位。具体地，所述处理终端3内存储有预先设置的算法以及预先收集的各类缺陷的参照图像，通过将图像采集单元所采集到的图像与所述参照图像进行对比，确定所述被测电子产品的底壳缺陷等级。例如，缺陷等级可以分为：低等级(例如，轻微色差)、中等级(例如，轻微划伤)以及高等级(例如，严重划伤)，在确认了等级后，处理终端3根据所述被测电子产品的划伤程度进行产品分流，具体地，流水线分为第一子流水线(未示出)、第二子流水线(未示出)和第三子流水线(未示出)，流水线上设置有分流装置(未示出)，所述分流装置设置在底壳检测装置之后，各个子流水线之前，所述分流装置与处理终端3连接，所述处理终端3用于依据缺陷等级触发所述分流装置对所述被测电子产品进行分流，例如，当所述被测电子产品为低缺陷等级时，则所述分流装置将所述被测电子产品输送至第一子流水线，当所述被测电子产品为中缺陷等级时，则所述分流装置将所述被测电子产品输送至第二子流水线，当所述被测电子产品为高缺陷等级时，则所述分流装置将所述被测电子产品输送至第三子流水线。
在优选的实施方式中，为了保证能够采集到清晰的图像，需要保证照射在底壳上的光线强度适中且均匀，所述第一检测台20的下方设置有光线集中单元4，所述光线集中单元4的表面呈球面状；所述光线集中单元4用于将照射在所述光线集中单元4表面的光线集中反射至所述被测电子产品处。在可选的实施例中，所述光线集中单元4为积分球。
具体地，所述第一光源22包括第一子光源221和第二子光源222，所述第一子光源221和所述第二子光源222对应分布在所述光线集中单元4的两侧。所述被测电子产品设置在所述第一子光源221和所述第二子光源222之间，所述被测电子产品与所述光线集中单元4的中心位置对应。第一子光源221和第二子光源222发出光线通过光线集中单元4将散射的光线进行集中，这样在被测电子背侧的光线强而且均匀，这样底壳上的缺陷可以反映的更加明显。
在具体应用场景下，所述第一检测台20、所述第一图像采集单元21和所述第一光源22相互配合，用于检测所述被测电子产品的底壳的除划痕以外的综合缺陷。
为了便于检测划痕缺陷，如图2所示，所述底壳检测装置还包括第二检测台50、第二图像采集单元51和第二光源52，所述第二图像采集单元51和所述第二光源52设置在所述第二检测台50的下方，所述第二检测台50、所述第二图像采集单元51和所述第二光源52相互配合，用于检测所述被测电子产品的底壳的划痕缺陷，所述第二图像采集单元51与处理终端3连接，以将采集到的图像发送至处理终端3。
具体地，所述底壳检测装置还包括平面反光板6，所述平面反光板6设置在所述第二检测台50的下方；所述平面反光板6用于将所述第二光源52的光线转换为大尺寸平面光，以便于所述第二图像采集单元51采集底壳的划痕。
在一具体应用场景下，所述第一图像采集单元21和所述第二图像采集单元51均为相机；所述第一光源22和所述第二光源52均为无影灯。
所述第一检测台20和所述第二检测台50均由透明材料制作而成，便于透光，以便于图像采集单元进行图像采集。其中，所述透明材料包括透明亚克力。
在本申请中，通过光源和图像采集单元之间的相互配合，对被测电子产品的底壳进行光学判断，对易混淆缺陷可进行区分；采用智能化的方式进行外观检测，可以提高准确性，而且可以有效避免人工检测所带来的漏检和错检。
以上仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种电子产品的底壳检测装置，其特征在于，所述底壳检测装置设置在流水线的指定位置，用于对电子产品的底壳进行检测；
所述底壳检测装置包括第一检测台、第一图像采集单元和第一光源，所述第一图像采集单元和所述第一光源设置在所述第一检测台的下方；
所述第一检测台用于承载被测电子产品；
所述第一光源用于发出光线，以照射所述被测电子产品的底壳，所述第一图像采集单元用于采集所述被测电子产品的底壳图像，以检测所述被测电子产品的底壳的外观情况。
2.根据权利要求1所述的底壳检测装置，其特征在于，所述底壳检测装置还包括处理终端，所述处理终端与所述第一图像采集单元连接；
所述处理终端用于接收所述第一图像采集单元所采集到的底壳图像，以分析确定所述被测电子产品的底壳的缺陷等级和缺陷部位。
3.根据权利要求1所述的底壳检测装置，其特征在于，所述第一检测台的下方设置有光线集中单元，所述光线集中单元的表面呈球面状；
所述光线集中单元用于将照射在所述光线集中单元表面的光线集中反射至所述被测电子产品处。
4.根据权利要求3所述的底壳检测装置，其特征在于，所述第一光源包括第一子光源和第二子光源，所述第一子光源和所述第二子光源对应分布在所述光线集中单元的两侧。
5.根据权利要求4所述的底壳检测装置，其特征在于，所述被测电子产品设置在所述第一子光源和所述第二子光源之间，所述被测电子产品与所述光线集中单元的中心位置对应。
6.根据权利要求3所述的底壳检测装置，其特征在于，所述光线集中单元为积分球。
7.根据权利要求1所述的底壳检测装置，其特征在于，所述第一检测台、所述第一图像采集单元和所述第一光源相互配合，用于检测所述被测电子产品的底壳的综合缺陷；
所述底壳检测装置还包括第二检测台、第二图像采集单元和第二光源，所述第二图像采集单元和所述第二光源设置在所述第二检测台的下方，所述第二检测台、所述第二图像采集单元和所述第二光源相互配合，用于检测所述被测电子产品的底壳的划痕缺陷。
8.根据权利要求7所述的底壳检测装置，其特征在于，所述底壳检测装置还包括平面反光板，所述平面反光板设置在所述第二检测台的下方；
所述平面反光板用于将所述第二光源的光线转换为平面光，以便于所述第二图像采集单元采集底壳的划痕。
9.根据权利要求7所述的底壳检测装置，其特征在于，所述第一图像采集单元和所述第二图像采集单元均为相机；
所述第一光源和所述第二光源均为无影灯。
10.根据权利要求7所述的底壳检测装置，其特征在于，所述第一检测台和所述第二检测台均由透明材料制作而成，其中，所述透明材料包括透明亚克力。
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