CN111190093A - 芯片测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了芯片测试方法及芯片测试装置，方法包括：根据芯片的测试序列生成数据表格；所述数据表格中包括：至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值；设置功能程序；所述功能程序，包括：执行测试项目的功能代码及读取所述数据表格的功能代码；还包括：由所述功能程序利用读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值；根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目。本发明能提高芯片测试的效率。

Description

芯片测试方法及装置

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别涉及芯片测试方法及装置。

背景技术

随着科技的发展，手机成了我们生活中必不可少的工具。各种芯片是手机必不可少的组成部分。由于芯片制造的工艺复杂程度在不断增加，且不同厂家不同设备的生产都存在差异，很可能导致生产出的芯片不合格。因此芯片从制造到出货前需要对其进行测试，保证出货质量。

如今，通过使用测试软件来对芯片进行测试。在测试前通过在软件中编程设置需要测试的指标和参数范围及各项指标测试的顺序。

然而，每次芯片相关指标测试的要求并不是固定的，需要经常进行更改，然而调整测试指标或者参数范围需要重新在原有的测试软件中进行编程，非常不方便。因此，需要一种更便捷的方式来进行芯片测试。

发明内容

本发明实施例提供了芯片测试方法及芯片测试装置，能够更便捷地进行芯片测试。

第一方面，本发明实施例中提供了芯片测试方法，包括：

根据芯片的测试序列生成数据表格；所述数据表格中包括：至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值；

设置功能程序；所述功能程序，包括：执行测试项目的功能代码及读取所述数据表格的功能代码；

还包括：

由所述功能程序利用读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值；

根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目。

优选地，

所述生成数据表格包括：

生成EXCEL表格；

所述EXCEL表格中的每一行均对应所述至少一个测试项目中的一个测试项目；且同一行中在不同列的位置对应同一测试项目的不同测试参数及其取值；

根据所述芯片的测试全流程的步骤的顺序，确定不同测试项目在所述EXCEL表格中所处的行的顺序。

优选地，

所述测试参数中包括：启用标志位；用于表示该测试项目是否需要被所述功能程序执行；

则所述由所述功能程序的功能代码执行测试项目之前，进一步包括：所述功能程序判断当前读取的启用标志位的标识是否为确定标识，如果是，则继续执行所述由所述功能程序的功能代码执行测试项目，否则，所述功能程序不执行该启用标志位对应的测试项目，结束当前流程；

优选地，

所述测试参数包括：数据名称，用于表述所述测试项目的名称；

优选地，

所述测试参数包括：最大值，用于表示所述测试项目测试结果的最大允许值；

优选地，

所述测试参数包括：最小值，用于表示所述测试项目测试结果的最小允许值；

优选地，

所述测试参数包括：环境参数值，用于表示所述测试项目的测试环境参数值。

优选地，

所述测试参数中还包括：至少一个筛分标志，用于表示该测试项目的测试结果合格时芯片的目标落入位置；

所述根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目，包括：

所述功能程序根据当前已读取的测试项目对应的至少一个测试参数及其取值，判断测试结果是否合格，如果是，则控制所述目标芯片落入所述目标落入位置。

优选地，

所述由所述功能程序利用读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，包括：

当所述功能程序读取到所述数据表格中的任一个测试参数的字符串对应嵌套表格的标识时，则以读取表格文件的方式读取所述嵌套表格，并在从所述嵌套表格中嵌套读取完数据后，继续回到所述数据表格，继续读下一列的测试参数。

优选地，

还包括：在所述数据表格中搜索目标测试参数，并对搜索到的目标测试参数的取值进行修改。

第二方面，本发明实施例提供了芯片测试装置，数据表格获取单元、功能程序获取单元、读取单元和执行单元；

所述数据表格获取单元，用于获取数据表格，所述数据表格是根据芯片的测试序列生成的；所述数据表格中包括：至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值；

所述功能程序获取单元，用于获取功能程序；所述功能程序包括：执行测试项目的功能代码及读取所述数据表格的功能代码；

所述读取单元，用于加载所述功能程序获取单元所获取的功能程序，由所述功能程序的读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格获取单元所获取的所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值；

所述执行单元，用于加载所述功能程序获取单元所获取的功能程序，根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目。

优选地，

所述数据表格获取单元获取的根据芯片测试序列生成的数据表格，为EXCEL表格；

所述EXCEL表格中的每一行均对应所述至少一个测试项目中的一个测试项目；且同一行中在不同列的位置对应同一测试项目的不同测试参数及其取值；

根据所述芯片的测试全流程的步骤的顺序，确定不同测试项目在所述EXCEL表格中所处的行的顺序。

优选地，

所述测试参数中包括：启用标志位；用于表示该测试项目是否需要被所述功能程序执行；

所述执行单元从所述功能程序获取单元获取的功能程序在执行所述根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目前，还执行：判断当前读取的启用标志位的标识是否为确定标识，如果是，则继续执行所述由所述功能程序的功能代码执行测试项目，否则，所述功能程序不执行该启用标志位对应的测试项目，结束当前流程；

优选地，

所述测试参数包括：数据名称，用于表述所述测试项目的名称；

优选地，

所述测试参数包括：最小值，用于表示所述测试项目测试结果的最小允许值；

优选地，

所述测试参数包括：环境参数值，用于表示所述测试项目的测试环境参数值；

优选地，

所述测试参数中还包括：至少一个筛分标志，用于表示该测试项目的测试结果合格时芯片的目标落入位置；

所述执行单元加载的从所述功能程序获取单元所获取的功能程序读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目时，具体执行：根据当前已读取的测试项目对应的至少一个测试参数及其取值，判断测试结果是否合格，如果是，则控制所述目标芯片落入所述目标落入位置；

优选地，

所述读取单元在执行加载所述功能程序获取单元所获取的功能程序，由所述功能程序的读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格获取单元所获取的所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值时，具体执行：当读取到所述数据表格中的任一个测试参数的字符串对应嵌套表格的标识时，则以读取表格文件的方式读取所述嵌套表格，并在从所述嵌套表格中嵌套读取完数据后，继续回到所述数据表格，继续读下一列的测试参数；

优选地，

还包括：修改单元；

所述修改单元，用于在外部操作下从所述数据表格中搜索目标测试参数及搜索到的目标测试参数的取值进行修改。

本发明实施例提供了芯片测试方法及装置，测试方法包括：根据芯片的测试序列生成数据表格，表格中包括芯片测试的至少一个项目及对应的至少一个测试参数及其取值，之后设置包括执行测试项目的功能代码及读取数据表格的功能代码的功能程序；功能程序利用功能代码读取书记表格中至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，根据读取的至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由功能代码执行测试项目。与现有的测试方法将测试参数直接写入测试程序不同，本发明实现了数据和测试程序的分离，在测试时，只需要让测试程序读取数据表格，即可进行测试，无需将数据写入测试程序中，提高了芯片测试的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明一实施例提供的一种芯片测试方法的流程图；

图2是本发明一实施例提供的一种数据表格的示意图；

图3是本发明一实施例提供的一种嵌套表格的示意图；

图4是本发明一实施例提供的一种芯片测试装置的示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1所示，本发明实施例提供了芯片测试方法，该方法可以包括以下步骤：

步骤101：根据芯片的测试序列生成数据表格；数据表格中包括：至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值；

步骤102：设置功能程序；功能程序包括：执行测试项目的功能代码及读取数据表格的功能代码；

步骤103：由功能程序利用读取数据表格的功能代码从数据表格中读取至少一个测试项目对应的测试参数及其取值；

步骤104：根据读取的至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由功能程序的功能代码执行测试项目。

本发明实施例提供了芯片测试方法，与现有的测试方法将测试参数直接写入测试程序不同，本发明实现了数据和测试程序的分离，在测试时，只需要让测试程序读取数据表格，即可进行测试，无需将数据代码写入测试程序中，提高了芯片测试的效率。

具体来说，在现有技术中，在对一批芯片进行测试前，需要相关技术人员按照测试步骤进行编程，在编程时需要严格按照测试序列将测试参数要求对应的数据代码写入测试程序中。需要测试其他批次的芯片或参数要求有更改时，如果需要修改相关的测试参数，就需要相关技术人员在测试程序中修改每一个涉及到改动的步骤里的相关参数，不仅需要大量时间，降低测试效率，而且很容易出现修改上的遗漏。本发明实现了数据和程序的分离，无需专业人员来进行测试，打开测试程序使其读取包含至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值的数据表格即可进行测试，也无需将测试相关参数写入测试程序中，初设简单，且使用起来也简单。

在本发明一实施例中，步骤101中生成数据表格包括：生成EXCEL表格；

EXCEL表格中的每一行均对应至少一个测试项目中的一个测试项目；且同一行中在不同列的位置对应同一测试项目的不同测试参数及其取值；

根据芯片的测试全流程的步骤的顺序，确定不同测试项目在EXCEL表格中所处的行的顺序。

本发明一个实施例中，测试程序是基于NI平台开发的软件，拥有能够读取EXCEL表格的特性，因此可以选用EXCEL表格作为数据表格的载体，根据设置好的读取规则，将测试序列编辑到规范的EXCEL表格里面，该表格记录了所有芯片测试步骤的全流程，及每一步相关的参数设置。EXCEL表格的每一行在不同列的位置分别对应该行对应的测试项目的各个测试参数及其取值，每一行都对应不同的测试项目及其相关册数参数及取值，按照测试的步骤先后顺序从上至下排列。

在本发明一实施例中，测试参数中包括：启用标志位；用于表示该测试项目是否需要被所述功能程序执行；

在步骤104中由功能程序的功能代码执行测试项目之前，还包括：功能程序判断当前读取的启用标志位的标识是否为确定标识，如果是，则继续执行由功能程序的功能代码执行测试项目，否则，所述功能程序不执行该启用标志位对应的测试项目，结束当前流程；

具体来说，确定标识可以为1，否定标识可以为0，当一批芯片开始测试之前，首先确认该批芯片需要的测试项目，然后，在EXCEL表格中，将需要测试的测试项目的启用标志位标注为1，不需要测试的测试项目的启用标志位标注为0。测试开始后，当功能程序依序即一行一行开始读取EXCEL表格中每一行的测试项目时，如果读取到当前测试项目的启用标志位为1，则执行该测试项目，若读取到当前测试项目的启用标志位为0，则不执行该测试项目，开始读取EXCEL表格中的下一行，即下一个测试项目。

在本发明一实施例中，测试参数包括：数据名称，用于表述测试项目的名称。

在本发明一实施例中，测试参数包括：最大值，用于表示测试项目测试结果的最大允许值。

在本发明一实施例中，测试参数包括：最小值，用于表示测试项目测试结果的最小允许值。

在本发明一实施例中，测试参数中还包括：至少一个筛分标志，用于表示该测试项目的测试结果合格时芯片的目标落入位置；则在步骤104中，根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目，包括：功能程序根据当前已读取的测试项目对应的至少一个测试参数及其取值，判断测试结果是否合格，如果是，则控制所述目标芯片落入所述目标落入位置。

具体来说，通常用HardBin和SoftBin来作为筛分标志，HardBin用于标识其对应的测试项目合格时芯片的落入位置，由上述实施例所述的最大值和最小值来确定，在最大值和最小值之间时，即表示该芯片合格。比如HardBin为1时，将测试合格的芯片落入预设的1号篮子，若不合格，可以通过设置使其落入其他篮子。HardBin是直接传送信号给芯片测试用的分选机来进行芯片的筛选。SoftBin也是表示对芯片的筛选，是对HardBin分类之后的再细分。SoftBin不会发送信号给分选机进行实时的筛选，而只作为一个结果存储在表格里供客户查看，结果包括对该测试项目的相关表述。

为了更好地描述数据表格的内容，数据表格的一种可能的形式如图2所示，表格中包含了测试序号、测试项目名称、启用标志位(1表示执行该项目，0表示不执行该项目)、数据名称、最大值、最小值、环境参数值等。第一列的序号表示了芯片测试项目的先后顺序，第二列可以为测试项目的名称，如开关(常用DC Switch表示)、延时(常用Delay表示)等；后续的列可以包括表示该测试项目的环境参数值(常用Parameter表示)；表示该项测试项目的测试项目的最大标准值和最小标准值(常用Max和Min表示)；筛分标志(通常用HardBin和SoftBin表示)。图2中的测试项目和及测试参数仅为可能使用的参数，具体的取值此处不再一一列出，用于可以根据实际测试需求填写表格。此外，用户可以在表格中添加或删除其他测试项目及测试参数。

在本发明一实施例中，步骤103中由功能程序利用读取数据表格的功能代码从数据表格中读取至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，包括：

功能程序读取到数据表格中的任一个测试参数的字符串对应嵌套表格的标识时，则以读取表格文件的方式读取嵌套表格，并在从嵌套表格中嵌套读取完数据后，继续回到数据表格，继续读下一列的测试参数。

具体来说，当测试程序读取到数据表格中的一个参数为另一表格的链接时，则从该链接读取该表格，进行嵌套读取，当读取完后，返回数据表格继续读取下一数据。由于数据表格中的某些参数是固定值，某些是保存在链接的表格中的，该表格记录了一些经常需要使用的数据或经常需要更改的数据，该嵌套表格的一种可能的形式如图3所示，其中包含了一些经常需要使用的数据或经常需要更改的数据，包括电压测试、电流测试等。该嵌套表格的链接可以放在数据表格里，即可在测试时读取该嵌套表格。

在本发明一实施例中，还包括：在所述数据表格中搜索目标测试参数，并对搜索到的目标测试参数的取值进行修改。

具体来说，在至少一项测试参数及其取值需要修改时，在EXCEL数据表格中直接搜索参数名称，搜出不同位置的该参数，直接再表格中修改数值就可以，不需要专业人员对测试程序进行更改，甚至重新编程。只需要一个会操作EXCEL表格的人员就可以修改，无需专业人员进行软件层面的操作，简单且方便快捷。

如图4所示，本发明提供了一种芯片测试装置，包括：数据表格获取单元401、功能程序获取单元402、读取单元403和执行单元404。

数据表格获取单元401，用于获取数据表格，数据表格是根据芯片的测试序列生成的；数据表格中包括：至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值。

功能程序获取单元402，用于获取功能程序；功能程序包括：执行测试项目的功能代码及读取数据表格的功能代码；

读取单元403，用于加载功能程序获取单元所获取的功能程序，由功能程序的读取数据表格的功能代码从数据表格获取单元所获取的数据表格中读取至少一个测试项目对应的测试参数及其取值。

执行单元404，用于加载功能程序获取单元所获取的功能程序，根据读取的至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由功能程序的功能代码执行测试项目。

在本发明一实施例中，数据表格获取单元401获取的根据芯片测试序列生成的数据表格，为EXCEL表格；

EXCEL表格中的每一行均对应至少一个测试项目中的一个测试项目；且同一行中在不同列的位置对应同一测试项目的不同测试参数及其取值；

根据芯片的测试全流程的步骤的顺序，确定不同测试项目在EXCEL表格中所处的行的顺序。

在本发明一实施例中，测试参数中包括：启用标志位；用于表示该测试项目是否需要被功能程序执行。

执行单元404从功能程序获取单元获取的功能程序在执行根据读取的至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由功能程序的功能代码执行测试项目前，还执行：判断当前读取的启用标志位的标识是否为确定标识，如果是，则继续执行由功能程序的功能代码执行测试项目，否则，功能程序不执行该启用标志位对应的测试项目，结束当前流程。

在本发明一实施例中，测试参数包括：数据名称，用于表述测试项目的名称；

在本发明一实施例中，测试参数包括：最小值，用于表示测试项目测试结果的最小允许值；

在本发明一实施例中，测试参数包括：环境参数值，用于表示测试项目的测试环境参数值。

在本发明一实施例中，测试参数中还包括：至少一个筛分标志，用于表示该测试项目的测试结果合格时芯片的目标落入位置；

执行单元404加载的从功能程序获取单元所获取的功能程序读取的至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由功能程序的功能代码执行测试项目时，具体执行：根据当前已读取的测试项目对应的至少一个测试参数及其取值，判断测试结果是否合格，如果是，则控制目标芯片落入目标落入位置。

在本发明一实施例中，读取单元403在执行加载功能程序获取单元所获取的功能程序，由功能程序的读取数据表格的功能代码从数据表格获取单元所获取的数据表格中读取至少一个测试项目对应的测试参数及其取值时，具体执行：当读取到数据表格中的任一个测试参数的字符串对应嵌套表格的标识时，则以读取表格文件的方式读取嵌套表格，并在从嵌套表格中嵌套读取完数据后，继续回到数据表格，继续读下一列的测试参数。

在本发明一实施例中，还包括：修改单元；

修改单元，用于在外部操作下从数据表格中搜索目标测试参数及搜索到的目标测试参数的取值进行修改。

上述装置内的各单元之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本发明方法实施例基于同一构思，具体内容可参见本发明方法实施例中的叙述，此处不再赘述。

本发明各个实施例至少具有如下有益效果：

1、在本发明实施例中，根据芯片的测试序列生成数据表格，表格中包括芯片测试的至少一个项目及对应的至少一个测试参数及其取值，之后设置包括执行测试项目的功能代码及读取数据表格的功能代码的功能程序；功能程序利用功能代码读取书记表格中至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，根据读取的至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由功能代码执行测试项目。与现有的测试方法将测试参数直接写入测试程序不同，本发明实现了数据和测试程序的分离，在测试时，只需要让测试程序读取数据表格，即可进行测试，提高了芯片测试的效率。

2、在本发明实施例中，由于数据和测试程序是分离的，因此无需将测试项目对应的数据写入测试程序中，初始设置简单，不耽误专业人员其他工作的进行，节省专业人员的时间。

3、在本发明实施例中，如果需要修改测试项目或参数，只需要在EXCEL表格中进行查找并修改，无需专业技术人员对测试程序进行修改或重新编程，只要掌握基本EXCEL表格操作就可以进行修改，操作简单且快捷。

本发明还提供了一种计算机可读介质，存储用于使一计算机执行如本文所述的芯片测试方法的指令。具体地，可以提供配有存储介质的***或者装置，在该存储介质上存储着实现上述实施例中任一实施例的功能的软件程序代码，且使该***或者装置的计算机(或CPU或MPU)读出并执行存储在存储介质中的程序代码。

在这种情况下，从存储介质读取的程序代码本身可实现上述实施例中任何一项实施例的功能，因此程序代码和存储程序代码的存储介质构成了本发明的一部分。

用于提供程序代码的存储介质实施例包括软盘、硬盘、磁光盘、光盘(如CD-ROM、CD-R、CD-RW、DVD-ROM、DVD-RAM、DVD-RW、DVD+RW)、磁带、非易失性存储卡和ROM。可选择地，可以由通信网络从服务器计算机上下载程序代码。

此外，应该清楚的是，不仅可以通过执行计算机所读出的程序代码，而且可以通过基于程序代码的指令使计算机上操作的操作***等来完成部分或者全部的实际操作，从而实现上述实施例中任意一项实施例的功能。

此外，可以理解的是，将由存储介质读出的程序代码写到***计算机内的扩展板中所设置的存储器中或者写到与计算机相连接的扩展单元中设置的存储器中，随后基于程序代码的指令使安装在扩展板或者扩展单元上的CPU等来执行部分和全部实际操作，从而实现上述实施例中任一实施例的功能。

需要说明的是，上述各流程和各***结构图中不是所有的步骤和模块都是必须的，可以根据实际的需要忽略某些步骤或模块。各步骤的执行顺序不是固定的，可以根据需要进行调整。上述各实施例中描述的***结构可以是物理结构，也可以是逻辑结构，即，有些模块可能由同一物理实体实现，或者，有些模块可能分由多个物理实体实现，或者，可以由多个独立设备中的某些部件共同实现。

以上各实施例中，硬件单元可以通过机械方式或电气方式实现。例如，一个硬件单元可以包括永久性专用的电路或逻辑(如专门的处理器，FPGA或ASIC)来完成相应操作。硬件单元还可以包括可编程逻辑或电路(如通用处理器或其它可编程处理器)，可以由软件进行临时的设置以完成相应操作。具体的实现方式(机械方式、或专用的永久性电路、或者临时设置的电路)可以基于成本和时间上的考虑来确定。

上文通过附图和优选实施例对本发明进行了详细展示和说明，然而本发明不限于这些已揭示的实施例，基与上述多个实施例本领域技术人员可以知晓，可以组合上述不同实施例中的代码审核手段得到本发明更多的实施例，这些实施例也在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.芯片测试方法，其特征在于，包括：

根据芯片的测试序列生成数据表格；所述数据表格中包括：至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值；

设置功能程序；所述功能程序，包括：执行测试项目的功能代码及读取所述数据表格的功能代码；

还包括：

由所述功能程序利用读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值；

根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述生成数据表格包括：

生成EXCEL表格；

所述EXCEL表格中的每一行均对应所述至少一个测试项目中的一个测试项目；且同一行中在不同列的位置对应同一测试项目的不同测试参数及其取值；

根据所述芯片的测试全流程的步骤的顺序，确定不同测试项目在所述EXCEL表格中所处的行的顺序。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述测试参数中包括：启用标志位；用于表示该测试项目是否需要被所述功能程序执行；

则所述由所述功能程序的功能代码执行测试项目之前，进一步包括：所述功能程序判断当前读取的启用标志位的标识是否为确定标识，如果是，则继续执行所述由所述功能程序的功能代码执行测试项目，否则，所述功能程序不执行该启用标志位对应的测试项目，结束当前流程；

和/或，

所述测试参数包括：数据名称，用于表述所述测试项目的名称；

和/或，

所述测试参数包括：最大值，用于表示所述测试项目测试结果的最大允许值；

和/或，

所述测试参数包括：最小值，用于表示所述测试项目测试结果的最小允许值；

和/或，

所述测试参数包括：环境参数值，用于表示所述测试项目的测试环境参数值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

所述测试参数中还包括：至少一个筛分标志，用于表示该测试项目的测试结果合格时芯片的目标落入位置；

所述根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目，包括：

所述功能程序根据当前已读取的测试项目对应的至少一个测试参数及其取值，判断测试结果是否合格，如果是，则控制所述目标芯片落入所述目标落入位置。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述由所述功能程序利用读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，包括：

当所述功能程序读取到所述数据表格中的任一个测试参数的字符串对应嵌套表格的标识时，则以读取表格文件的方式读取所述嵌套表格，并在从所述嵌套表格中嵌套读取完数据后，继续回到所述数据表格，继续读下一列的测试参数。

6.根据权利要求1-5中任一所述的方法，其特征在于，

进一步包括：在所述数据表格中搜索目标测试参数，并对搜索到的目标测试参数的取值进行修改。

7.芯片测试装置，其特征在于，包括：数据表格获取单元、功能程序获取单元、读取单元和执行单元；

所述数据表格获取单元，用于获取数据表格，所述数据表格是根据芯片的测试序列生成的；所述数据表格中包括：至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值；

所述功能程序获取单元，用于获取功能程序；所述功能程序包括：执行测试项目的功能代码及读取所述数据表格的功能代码；

所述读取单元，用于加载所述功能程序获取单元所获取的功能程序，由所述功能程序的读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格获取单元所获取的所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值；

所述执行单元，用于加载所述功能程序获取单元所获取的功能程序，根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于：

所述数据表格获取单元获取的根据芯片测试序列生成的数据表格，为EXCEL表格；

所述EXCEL表格中的每一行均对应所述至少一个测试项目中的一个测试项目；且同一行中在不同列的位置对应同一测试项目的不同测试参数及其取值；

根据所述芯片的测试全流程的步骤的顺序，确定不同测试项目在所述EXCEL表格中所处的行的顺序。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，

所述测试参数中包括：启用标志位；用于表示该测试项目是否需要被所述功能程序执行；

所述执行单元从所述功能程序获取单元获取的功能程序在执行所述根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目前，还执行：判断当前读取的启用标志位的标识是否为确定标识，如果是，则继续执行所述由所述功能程序的功能代码执行测试项目，否则，所述功能程序不执行该启用标志位对应的测试项目，结束当前流程；

和/或，

所述测试参数包括：数据名称，用于表述所述测试项目的名称；

和/或，

所述测试参数包括：最小值，用于表示所述测试项目测试结果的最小允许值；

和/或，

所述测试参数包括：环境参数值，用于表示所述测试项目的测试环境参数值。

10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，

所述测试参数中还包括：至少一个筛分标志，用于表示该测试项目的测试结果合格时芯片的目标落入位置；

所述执行单元加载的从所述功能程序获取单元所获取的功能程序读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目时，具体执行：根据当前已读取的测试项目对应的至少一个测试参数及其取值，判断测试结果是否合格，如果是，则控制所述目标芯片落入所述目标落入位置；

和/或，

所述读取单元在执行加载所述功能程序获取单元所获取的功能程序，由所述功能程序的读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格获取单元所获取的所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值时，具体执行：当读取到所述数据表格中的任一个测试参数的字符串对应嵌套表格的标识时，则以读取表格文件的方式读取所述嵌套表格，并在从所述嵌套表格中嵌套读取完数据后，继续回到所述数据表格，继续读下一列的测试参数；

和/或，

还包括：修改单元；

所述修改单元，用于在外部操作下从所述数据表格中搜索目标测试参数及搜索到的目标测试参数的取值进行修改。

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