CN110956659A - 一种基于工业ct的环状截面壁厚快速测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,属于无损检测技术领域,解决现有回转腔体构件壁厚测量过程中无法获得回转腔体构件壁厚的最大、最小值问题。本发明的测量方法步骤包括:步骤1:获取回转腔体构件的圆环截面,对图像区域划分;步骤2:确定圆环截面的圆心坐标;步骤3:计算圆环截面的最大半径Rmax,绘制虚拟圆;步骤4:计算虚拟圆中任一点的像素距离,求取任一点的实际壁厚。本发明通过工业CT成像设备获取待测位置圆形截面,利用两条弦线获取圆环截面的圆心坐标,在保证不损伤被测构件的前提下,求取回转腔体构件壁厚的最大值和最小值,原理简单、计算量小、运行算速度快。
Description
技术领域
本发明涉及无损检测技术领域,尤其涉及一种基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法。
背景技术
对于部分具有回转腔体结构(通孔或者密闭)的产品,采用卡尺、激光扫描或者接触式三坐标等常规的尺寸测量方法无法有效测量其壁厚,需要采用无损检测的方法进行壁厚测量。常见的壁厚无损测量方法有超声波法、X射线法、红外热像法及工业CT方法。对于密度不均或者衰减较大的腔体构件来说,由于其内部存在较多的孔隙,超声波穿透壁厚时其衰减较大,无法有效采集其反射回波信号而无法实现壁厚测量;X射线法只适合对平板类构件的壁厚进行测量,无法对回转腔体构件的壁厚进行有效测量;红外热波法由于容易受到外界环境的影响,其对腔体构件壁厚的测量精度较低;而工业CT能够无损获取回转腔体构件的截面图像,通过工业CT图像可以实现对其壁厚进行测量。
一般在构件设计中均对复核材料的壁厚提出了强度要求,为了满足强度的要求,回转腔体构件的壁厚需要处于一定的范围中,或者最小壁厚大于一定值。但是,工业CT仅能获取回转腔体构件的截面图像,得到回转腔体构件的平均壁厚,无法获得回转腔体构件壁厚的最大、最小值,不能准确对回转腔体构件进行强度评估。
发明内容
鉴于上述的分析,本发明实施例旨在提供一种基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,用以解决现有回转腔体构件壁厚测量过程中无法获得回转腔体构件壁厚的最大、最小值问题。
本发明实施例提供了一种基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,步骤包括:
步骤1:获取回转腔体构件的圆环截面,对图像区域进行划分;
步骤2:确定圆环截面的圆心坐标;
步骤3:计算圆环截面的最大半径Rmax,绘制虚拟圆;
步骤4:计算虚拟圆中任一点的像素距离,求取任一点的实际壁厚。
进一步,所述步骤2中,所述确定圆环截面的圆心坐标,步骤包括:
步骤2.1:设置图像坐标系,提取像素值为1的像素点的坐标;
步骤2.2:确定圆心OC在x轴方向上的坐标;
步骤2.3:确定圆心OC在y轴方向上的坐标。
进一步,所述步骤3中,所述虚拟圆以R0=Rmax×k为半径,以OC为圆心,k为大于1的系数;所述虚拟圆能够包含整个圆环截面。
进一步,所述步骤4中,所述像素距离为直线OCN与圆环截面的内环交点PN、外环交点QN之间的距离L-PQ。
进一步,所述步骤4中,所述求取任一点的实际壁厚为T=f×L-PQ;f指工业CT图像上单个像素的实际尺寸。
进一步,所述步骤1中,所述对图像区域划分是指对圆环截面图像二值化,定义图像中的背景区域像素值为0,定义回转腔体构件材料区域像素值为1。
进一步,所述步骤3中,所述最大半径Rmax是指圆环截面上所有像素值为1的点到圆心OC的距离中的最大值。
进一步,所述步骤2.1中,所述设置图像坐标系是指在工业CT截面图像中设置坐标原点O,水平方向为x轴,竖直方向为y轴。
进一步,所述步骤1中,所述获取回转腔体构件的圆环截面是指利用工业CT成像设备获取回转腔体构件待测量位置的工业CT截面图像。
与现有技术相比,本发明至少可实现如下有益效果之一:
(1)通过工业CT成像设备获取回转腔体构件待测量位置的工业CT截面图像,根据工业CT截面图像求取环形构件壁厚的最大值和最小值,在保证不损伤被测构件的前提下,可以实现对被测构件截面的最大值和最小值测量;
(2)通过设置坐标系,利用两条弦线来获取圆环截面的圆心坐标,现有技术中利用基于Hough变换原理获得圆心坐标,而采用Hough变换计算量较大、需要的内存大、计算速度慢,相对于利用基于Hough变换原理获得圆心坐标的方法,本发明的方法原理简单、计算量小、运行算速度快。
本发明中,上述各技术方案之间还可以相互组合,以实现更多的优选组合方案。本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分优点可从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过说明书以及附图中所特别指出的内容中来实现和获得。
附图说明
附图仅用于示出具体实施例的目的,而并不认为是对本发明的限制,在整个附图中,相同的参考符号表示相同的部件。
图1为实施例一的回转腔体构件CT截面图像;
图2为实施例一的回转腔体构件CT截面图像坐标系示意图;
图3为实施例一的圆环截面圆心x坐标计算弦线示意图;
图4为实施例一的圆环截面圆心y坐标计算弦线示意图;
图5为实施例一的圆环截面圆心位置及壁厚示意图;
图6为实施例二的喷管工业CT图像;
图7为实施例二的喷管工业CT图像二值化后的示意图;
图8为实施例二的喷管虚拟圆示意图;
图9为实施例二的喷管壁厚最大值、最小值位置示意图。
具体实施方式
下面结合附图来具体描述本发明的优选实施例,其中,附图构成本申请一部分,并与本发明的实施例一起用于阐释本发明的原理,并非用于限定本发明的范围。
实施例一
本发明的一个具体实施例,如图1-图5所示,公开了一种基于工业CT的环状截面厚度快速测量方法,步骤包括:步骤1:获取回转腔体构件的圆环截面,并对图像区域进行划分;步骤2:确定圆环截面的圆心坐标;步骤3:计算圆环截面的最大半径Rmax,绘制虚拟圆;步骤4:计算虚拟圆中任一点的像素距离,求取任一点的实际壁厚。
与现有技术相比,本实施例中,通过工业CT成像设备获取回转腔体构件待测量位置的工业CT截面图像,根据工业CT截面图像求取环形构件壁厚的最大值和最小值,在保证不损伤被测回转腔体构件的前提下,可以实现对被测构件截面的最大值和最小值测量;通过设置坐标系,利用两条弦线来获取圆环截面的圆心坐标,相对于现有技术中利用基于Hough变换原理获得圆心坐标的方法,利用两条弦线来获取圆环截面的圆心坐标,原理简单、计算量小、运行算速度快。
本实施例中,步骤1中,获取回转腔体构件的圆环截面,并对图像区域划分。利用工业CT成像设备获取回转腔体构件待测量位置的工业CT截面图像,工业CT截面图像即为回转腔体构件的圆环截面,并采用大津阈值算法对工业CT截面图像进行二值化,图像二值化是指将图像上的像素点的灰度值设置为0或255,也就是将整个图像呈现出明显的黑白效果的过程。工业CT截面图像中空气区域对应的像素值为0,定义为背景区域,材料基体区域对应的像素值为1,定义为回转腔体构件材料区域。
对于密度不均或者衰减较大的腔体构件,由于其内部存在较多的孔隙,超声波穿透壁厚时其衰减较大,无法有效采集其反射回波信号而无法实现壁厚的测量;X射线只适合对平板类构件的壁厚进行测量,无法对回转腔体构件的壁厚进行有效测量;红外热波由于容易受到外界环境的影响,对回转腔体构件壁厚的测量精度较低;而工业CT对外界环境要求较少,对待测构件形状无特定要求,进而本实施例的测量方法具有广泛的适用性。
进一步地,步骤2中,确定圆环截面的圆心坐标,步骤包括:
步骤2.1:设置图像坐标系,提取像素值为1的像素点的坐标;将图像左上角设置为坐标原点O,水平方向设置为x轴,垂直于x轴的方向设置为y轴。采用MATLAB或者其他编程语言编制程序,实现对工业CT图像上的像素值进行逐行读取,提取每个像素点的坐标值及对应的像素值。
需要说明的是,对工业CT图像的像素值读取从坐标原定O开始,采用编制的程序逐行进行读取,遍历完整幅工业CT图像后,记录图像上像素值为1的像素点的坐标值。
步骤2.2:确定圆心OC在x轴方向上的坐标;利用编制的程序寻找工业CT图像中像素值为1且在y方向上坐标值的最小值点、最大值点,标记最小值点对应的像素点为A,最大值点对应的像素点为C,其中,A点y方向的坐标为yA,C点y方向的坐标为yC。
根据A、C点的y方向坐标值,计算A、C两点在y方向上的中点坐标值y0/2=(yA+yC)/2,过点(0,y0/2)作一条平行于x轴的直线,直线与圆环截面外圆边界的交点分别为A0、C0,A0的坐标为(x1,y0/2),C0的坐标为(x2,y0/2),则A0C0的中点在x方向的坐标为x-center=(x1+x2)/2,x-center即为圆心在x轴方向上的坐标。
步骤2.3:确定圆心OC在y轴方向上的坐标。利用编制的程序寻找工业CT图像中像素值为1且在x方向上坐标值的最小值点、最大值点,标记最小值点对应的像素点为B,最大值点对应的像素点为D,其中,B点x方向的坐标为xB,D点x方向的坐标为xD。
根据B、D点的x方向坐标值,计算B、D两点在x方向上的中点坐标值x0/2=(xB+xD)/2,过点(0,x0/2)作一条平行于x轴的直线,直线与圆环截面外圆边界的交点分别为B0、D0,B0的坐标为(x0/2,y1),D0的坐标为(x0/2,y2),则B0D0的中点在y方向的坐标为y-center=(y1+y2)/2,y-center即为圆心在y轴方向上的坐标。
本实施例中,使用弦线A0C0和弦线B0D0可以快速计算出回转腔体构件截面的圆心,现有技术中,计算圆心常用的方法均基于Hough变换原理,采用Hough变换计算量较大,需要的内存较大,计算速度慢;而本实施例利用两条弦线计算回转腔体构件截面的圆形的方法,具有原理简单、计算量小、运算速度快的优点。需要说明的是,若工业CT图像尺寸大小为N(像素)×N(像素),常用的基于Hough变换计算圆心的算法时间复杂度为O(n3),而本实施例的算法计算圆心的时间复杂度为O(n2),可见本实施例中的方法计算量小、运算速度快。
进一步地,本实施例中,步骤3中,计算圆环截面的最大半径Rmax,根据步骤2可得圆环截面的圆心OC的坐标为(x-center,y-center),利用编写的程序计算圆环截面上所有像素值为1的点到圆心OC的距离,其中最大距离记为圆环截面的最大半径Rmax,以R0=Rmax×k为半径,k为大于1的系数,以OC为圆心,作一虚拟圆,虚拟圆需要包含整个圆环截面。
本实施例中,步骤4,取虚拟圆上的任意一点为N,过圆心OC及点N作一条直线OCN,OCN与x方向的夹角为以圆心OC为起点,N为终点作一条直线OCN,OCN与圆环存在多个交点,该直线上第一交点PN即为内环的边界点,最后一个交点QN即为外环的边界点,得到PN、QN两点在xoy坐标系中的坐标分别为PN(x-PN,y-PN)、QN(x-QN,y-QN),根据PN、QN两点的坐标值,计算出PN、QN两点的像素距离:L-PQ=((x-PN,x-QN)2+(y-PN,y-QN)2)1/2。L-PQ即为工业CT图像中点N处的按照像素距离来表征的壁厚。当夹角以一定步长从0°变化到360°时,计算出该工业CT图像上圆环截面所有位置的壁厚。根据像素距离L-PQ计算点N处的实际壁厚TN,TN=f×L-PQ,f为工业CT图像上单个像素的实际尺寸。
需要说明的是,夹角从0°到360°,步长设置根据测量要求来定,步长越小越好,回转腔体构件外圆半径越大,需要设置的步长需要小一些。当夹角按照一定步长从0°到360°,计算出回转腔体构件整个圆周上所有位置的壁厚,得出最大壁厚和最小壁厚;当夹角按照需要测量的位置直接设置成0°到360°中的某一个值或者某几个值,计算出回转腔体构件在某个角度或者某几个角度下的壁厚值。
进一步地,本实施例的基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法还包括步骤5:进行回转腔体构件强度分析,对壁厚尺寸进行调整。根据步骤4求得的回转腔体构件的最大壁厚和最小壁厚,进行回转腔体构件强度分析,对壁厚尺寸进行调整。若最大壁厚大于设计要求最大值,则减小壁厚尺寸,若最小壁厚小于设计要求最小值,则增大壁厚尺寸。
本实施例,通过工业CT成像设备获取回转腔体构件待测量位置的工业CT截面图像,根据工业CT截面图像利用两条弦线求取环形构件壁厚的最大值和最小值,在保证不损伤被测构件的前提下,实现了对被测构件截面的最大值和最小值测量;通过设置坐标系,利用两条弦线来获取圆环截面的圆心坐标,相对于现有技术中利用基于Hough变换原理获得圆心坐标的方法,原理简单、计算量小、运行算速度快。
实施例二
在实施例一的基础上,本实施例的基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,用于复合材料喷管典型截面的壁厚测量。
喷管工业CT图像如图6所示,图像大小为800像素×800像素,根据实施例一中步骤2.1将喷管工业CT图像左上角设置为坐标原点O,经过大津阈值算法进行计算,该图像的分割阈值为77,经过二值化处理后,将图像中灰度值小于77的像素点的灰度值设置为0,其余的像素点的灰度值设置为1,二值化后的喷管工业CT图像如图7所示。二值化后的图像白色区域,对应像素值为1,为复合材料区域,黑色区域,对应像素值为0,为空气区域。
进一步地,对二值化后的图像进行遍历,寻找所有像素值为1的像素点。像素值为1的像素点在y方向的最小值和最大值分别为57、729,对应点分别记为点A、点C;像素值为1的像素点在x方向的最小值和最大值分别为59、731,对应点分别记为点B、点D。
进一步地,A、C两点在y方向的中点坐标值为393,过AC中点做一条平行于x轴的直线,该直线与喷管圆环截面相交,与环状截面外圆边界交点A0、C0在x方向的坐标分别为57、731,则A0C0中点的x坐标为x-center=(x1+x2)/2,即可以得到圆心OC在x轴方向上的坐标为394。B、D两点在x方向上的中点坐标值为395,过BD中点作一条平行于y轴的直线,该直线与喷管圆环截面相交,与环状截面外圆边界的交点B0、D0在y方向的坐标分别为57、729,则B0D0中点的y坐标为y-center=(y1+y2)/2,即可以得到圆心OC在y轴方向上的坐标为393。
进一步地,喷管工业CT图像的圆心OC坐标为(394,393)。逐一计算圆心OC到圆环截面上像素值为1的点的距离,将圆心OC到圆环截面上像素值为1的点的最大距离记为圆环截面的最大半径Rmax,喷管环状截面工业CT图像圆心OC到圆环截面外圆边界最大半径Rmax为337。
进一步地,当Rmax=337时,根据实施例一中步骤4,R0=Rmax×k=337×1.05=353,以半径R0=353、OC(394,393)为圆心作虚拟圆,如图8所示。需要说明的是,因为虚拟圆需要包含回转腔体构件工业CT图像外轮廓,k一般取略大于1即可,为了减少计算量,k取1.05。
根据实施例一中步骤5的计算方法,夹角的步长取0.1°、按顺时针方向从0°增加到360°,计算喷管在不同位置的壁厚。经计算,当时,壁厚最小,最小值为107.3;当时,壁厚最大,最大值为110.8,最大壁厚、最小壁厚的位置见图9所示。喷管工业CT图像上单个像素的实际尺寸为0.2mm,故喷管的最小壁厚为107.3×0.2=21.46mm,最大壁厚为110.8×0.2=22.16mm。
为了满足强度要求,喷管设计要求壁厚范围为21.70~22.20mm,由于喷管最小壁厚小于设计要求,导致喷管强度不足,因而需要增大最小壁厚尺寸。
本发明的基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,通过工业CT成像设备获取回转腔体构件待测量位置的工业CT截面图像,根据工业CT截面图像求取环形构件壁厚的最大值和最小值,在保证不损伤被测构件的前提下,可以实现对被测构件截面的最大值和最小值测量;通过设置坐标系,利用两条弦线来获取圆环截面的圆心坐标,现有技术中利用基于Hough变换原理获得圆心坐标,而采用Hough变换计算量较大、需要的内存大、计算速度慢,相对于利用基于Hough变换原理获得圆心坐标的方法,本发明的方法原理简单、计算量小、运行算速度快。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,其特征在于,步骤包括:
步骤1:获取回转腔体构件的圆环截面,对图像区域进行划分;
步骤2:确定圆环截面的圆心坐标;
步骤3:计算圆环截面的最大半径Rmax,绘制虚拟圆;
步骤4:计算虚拟圆中任一点的像素距离,求取任一点的实际壁厚。
2.根据权利要求1所述的基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,其特征在于,所述步骤2中,所述确定圆环截面的圆心坐标,步骤包括:
步骤2.1:设置图像坐标系,提取像素值为1的像素点的坐标;
步骤2.2:确定圆心OC在x轴方向上的坐标;
步骤2.3:确定圆心OC在y轴方向上的坐标。
3.根据权利要求2所述的基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,其特征在于,所述步骤3中,所述虚拟圆以R0=Rmax×k为半径,以OC为圆心,k为大于1的系数;所述虚拟圆能够包含整个圆环截面。
4.根据权利要求3所述的基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,其特征在于,所述步骤4中,所述像素距离为直线OCN与圆环截面的内环交点PN、外环交点QN之间的距离L-PQ。
5.根据权利要求4所述的基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,其特征在于,所述步骤4中,所述求取任一点的实际壁厚为T=f×L-PQ;f指工业CT图像上单个像素的实际尺寸。
6.根据权利要求5所述的基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,其特征在于,所述步骤1中,所述对图像区域划分是指对圆环截面图像二值化,定义图像中的背景区域像素值为0,定义回转腔体构件材料区域像素值为1。
7.根据权利要求6所述的基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,其特征在于,所述步骤3中,所述最大半径Rmax是指圆环截面上所有像素值为1的点到圆心OC的距离中的最大值。
9.根据权利要求2所述的基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,其特征在于,所述步骤2.1中,所述设置图像坐标系是指在工业CT截面图像中设置坐标原点O,水平方向为x轴,竖直方向为y轴。
10.根据权利要求1-9所述的基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,其特征在于,所述步骤1中,所述获取回转腔体构件的圆环截面是指利用工业CT成像设备获取回转腔体构件待测量位置的工业CT截面图像。
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