CN110954248B - 具有自动校准功能的温度传感器及校准方法 - Google Patents

具有自动校准功能的温度传感器及校准方法 Download PDF

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CN110954248B CN201911362923.0A CN201911362923A CN110954248B CN 110954248 B CN110954248 B CN 110954248B CN 201911362923 A CN201911362923 A CN 201911362923A CN 110954248 B CN110954248 B CN 110954248B
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Abstract

本发明公开了一种具有自动校准功能的温度传感器及校准方法,所述温度传感器包括温度敏感器件、模数转换器、温度值补偿模块、温度值寄存器、校准系数计算模块、可编程非易失存储器、校准系数寄存器。本发明通过在现有传感器中增加了校准系数计算模块和可编程非易失存储器,使得温度传感器被测试时校准计算和温度补偿都在温度传感器芯片内部完成,外部只需要对温度传感器发送测试命令,大大了减少人工和测试机的参与,可提高温度传感器的同测数,缩短测试时间。

Description

具有自动校准功能的温度传感器及校准方法
技术领域
本发明涉及温度传感器领域和集成电路领域,具体涉及一种具有自动校准功能的温度传感器及校准方法。
背景技术
随着近年来应用需求的不断提高和半导体行业的快速发展,温度传感器作为电子设备中最常规器件之一,人们对它要求也越来越高,不仅要精度高、性能好,还有成本低。一些非理想因素,例如PVT(technology voltage temperature,工艺、电压、温度)的影响,以及用户可读的要求,使得测温结果与真实所需要读取到温度值之间存在线性和非线性的偏差,校准补偿就是为了修正和减小偏差。
温度传感器无论作为单个芯片还是IP(intellectual property)模块,都基本包括片内或片外温度敏感器件、模数转换器、温度校准补偿和数字信号处理。其中,温度校准补偿算法直接影响传感器的精度和成本,高精度的校准算法,如函数拟合、分段查表以及模拟参数修调等,都非常复杂,硬件消耗和测试成本都很高。
目前来说,因测试台的升温、降温以及芯片测温都需要足够长的时间才能稳定,温度传感器的校准过程需要消耗大量的时间,另由于每个温度传感器的校准系数是不同的,需要测试机对每个温度传感器分别测试并计算校准系数,对测试机的要求高,同测性差,传感器的测试时间长。
发明内容
本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中温度传感器被测试时测试时间长,同测性差的缺陷,提供一种具有自动校准功能的温度传感器及校准方法。
本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题:
本发明提供了一种具有自动校准功能的温度传感器,所述温度传感器包括温度敏感器件、模数转换器、温度值补偿模块、温度值寄存器、校准系数计算模块、可编程非易失存储器、校准系数寄存器;
所述模数转换器与所述温度敏感器件及温度值补偿模块连接,用于实现对温度敏感器件采样的模拟信号到数字信号的转换,将所述数字信号输出给所述温度值补偿模块;
所述温度值补偿模块与所述温度值寄存器及校准系数寄存器连接,用所述校准系数寄存器的输出信号对所述数字信号进行补偿,以得到补偿后的温度值,并输出给所述温度值寄存器;
所述温度值寄存器与校准系数计算模块和可编程非易失存储器连接,用于锁存当前补偿后的温度值,并将所述当前补偿后的温度值分别输出给校准系数计算模块和可编程非易失存储器;
所述校准系数计算模块与温度寄存器及可编程非易失存储器连接,用于实现校准系数的计算,并将校准系数输出到所述可编程非易失存储器和所述校准系数寄存器中;
所述可编程非易失存储器,用于保存所述校准系数和温度敏感器件采样的补偿前的实际温度;
所述校准系数寄存器与所述校准系数计算模块、所述可编程非易失存储器及所述温度值补偿模块相连接,用于锁存当前校准系数,并输出给所述温度值补偿模块。
较佳地,所述温度值补偿模块,包括乘法器和加法器;
所述乘法器用于实现增益补偿;
所述加法器用于偏置补偿;
补偿公式如下:
Tpr=adc_value*gn+os
其中adc_value为模数转换器输出的数字信号,gn为增益系数,os为偏置系数,Tpr为补偿后的温度值。
较佳地,当多个温度传感器的增益系数大于预设值时,所述校准系数计算模块用于增益系数计算和偏置系数的计算;
所述增益系数gn计算公式如下:
Figure BDA0002337678360000031
其中Tpr1_r,Tpr2_r分别是温度敏感器件采样的第一温度下和第二温度下的理论温度值,Tpr1,Tpr2分别是温度敏感器件采样的第一温度下和第二温度下补偿前的实际测温值;
所述偏置系数os的计算公式如下:
os=Tpr2_r-Tpr3
其中Tpr3是温度敏感器件采样的第二温度下增益补偿之后的实际测温值;
当多个温度传感器的增益系数小于或等于预设值时,所述校准系数计算模块用于偏置系数的计算;
所述偏置系数os的计算公式如下:
os=Tpr3_r-Tpr4
其中Tpr3_r是在温度敏感器件采样的第三温度下的理论温度值,Tpr4在温度敏感器件采样的第三温度下增益补偿后的实际测温值;
所述校准系数计算模块还用于将设计温度传感器时的理论增益系数作为补偿时的增益系数。
较佳地,所述温度传感器还包括通信接口模块;
所述通信接口模块,用于通过串口或并口实现所述补偿后的温度值输出给外部主机和接收外部主机发送的测试命令。
本发明还提供了一种采用具有自动校准功能的温度传感器实现的校准方法,所述校准方法包括:
S1.基于所述温度敏感器件采样的温度进行增益系数及偏置系数的计算;
S2.基于已计算出的所述增益系数及所述偏置系数进行温度补偿计算。
较佳地,所述基于所述温度敏感器件采样的温度进行所述增益系数及所述偏置系数的计算步骤包括:
当多个温度传感器的增益系数大于预设值时,所述计算步骤包括:
S01.将测试台稳定到第一温度;
S02.将若干个温度传感器作为一组,并对所述若干个温度传感器上电;
S03.所述模数转换器对所述温度敏感器件采样的模拟信号进行数字信号的转换,以得到所述第一温度下补偿前的实际测温值;
S04.通过通信接口发送第一命令到所述若干个温度传感器中,把所述第一温度下补偿前的实际测温值写入所述若干个温度传感器所对应的可编程非易失存储器中;
S05.将所述若干个温度传感器下电,并返回步骤S02,直到测完若干组温度传感器;
S06.将测试台稳定到第二温度;
S07.对所述若干个温度传感器进行上电;
S08.所述模数转换器对所述温度敏感器件采样的模拟信号进行数字信号的转换,以得到所述第二温度下补偿前的实际测温值;
S09.通过通信接口发送第二命令到所述若干个温度传感器中,把所述第一温度下补偿前的实际测温值从可编程非易失存储器中读到所述若干个温度传感器对应的内部寄存器中;
S10.通过通信接口发送第三命令到所述若干个温度传感器中,把所述第一温度和第二温度对应的理论温度值分别写入所述若干个温度传感器的校准系数寄存器中;
S11.所述若干个温度传感器通过校准系数计算模块进行增益系数计算和偏置系数的计算;
S12.通过通信接口发送第四命令到所述若干个温度传感器中,把所述若干个温度传感器对应的增益系数写入对应的校准系数寄存器和非易失存储器;
S13.基于所述若干个温度传感器已得到的对应增益系数,以得到第二温度下增益补偿之后的实际测温值;
S14.根据所述偏置系数计算公式对所述若干个温度传感器进行偏置系数的计算,以得到所述若干个温度传感器各自对应的偏置系数;
S15.通过通信接口发送第五命令到所述若干个温度传感器中,把所述若干个温度传感器对应的偏置系数写入对应的校准系数寄存器和非易失存储器中;
S16.将所述若干个温度传感器下电,并返回步骤S07,直到测完若干组温度传感器;
当多个温度传感器的增益系数小于或等于预设值时,所述计算步骤包括:
S21.将测试台稳定到第三温度;
S22.对所述若干个温度传感器进行上电;
S23.通过通信接口发送第六命令到所述若干个温度传感器,把所述若干个温度传感器的理论增益系数写入所述若干个温度传感器对应的校准系数寄存器和非易失存储器中;
S24.基于所述若干个温度传感器的理论增益系数,以得到所述若干个温度传感器的第三温度下补偿后的实际测温值;
S25.通过通信接口发送第七命令到所述若干个温度传感器中,把第三温度对应的理论温度值写入所述若干个温度传感器的校准系数寄存器中;
S26.根据所述偏置系数的计算公式对所述若干个温度传感器进行偏置系数的计算,以得到所述若干个温度传感器各自对应的偏置系数;
S27.通过通信接口发送第八命令到所述若干个温度传感器,把所述若干个温度传感器各自对应的偏置系数写入对应的校准系数寄存器和非易失存储器中;
S28.将所述若干个温度传感器下电,并返回步骤S22,直到测完若干组温度传感器;
较佳地,基于已计算出的所述增益系数及所述偏置系数进行温度补偿计算步骤包括:
S31.将所述若干个温度传感器进行上电,并将所述增益系数及所述偏置系数从非易失存储器中下载到所述若干个温度传感器的校准系数寄存器中;
S32.所述模数转换器对所述温度敏感器件采样的模拟信号进行数字信号的转换,以得到第四温度下补偿前的实际测温值;
S33.基于所述若干个温度传感器对应的增益系数及偏置系数,根据所述补偿公式计算,以得到第四温度下补偿后的实际测温值。
本发明的积极进步效果在于:
本发明中,通过在现有传感器中增加了校准系数计算模块和可编程非易失存储器,使得温度传感器被测试时校准计算和温度补偿都在温度传感器芯片内部完成,外部只需要对温度传感器发送测试命令。与现有的技术相比,只增加了少量的电路,大大了减少人工和测试机的参与,降低了对测试条件的要求,可提高温度传感器的同测数,缩短测试时间。
附图说明
图1为发明实施例1的具有自动校准功能的温度传感器的模块示意图。
图2为本发明实施例2的多个温度传感器的增益系数大于预设值时的具有自动校准功能的温度传感器的校准方法的流程图。
图3为本发明实施例2的多个温度传感器的增益系数小于或等于预设值时的具有自动校准功能的温度传感器的校准方法的流程图。
图4为本发明实施例2温度传感器温度自动补偿的步骤的流程图。
具体实施方式
下面通过实施例的方式进一步说明本发明,但并不因此将本发明限制在所述的实施例范围之中。
实施例1
如图1所示,本实施例的具有自动校准功能的温度传感器包括数模转换器1,温度值补偿模块2,温度值寄存器3,通信接口模块4,校准系数计算模块5,可编程非易失存储器6,校准系数寄存器7。
模数转换器1用于实现对温度敏感器件采样的模拟信号到数字信号的转换,通常用SAR-ADC(逐次逼近型模数转换器)和sigma-delta ADC(积分-微分型模数转换器)实现,输出给温度值补偿模块2,另外,基于具体的需求,模数转换器1可选经过滤波器;
温度值补偿模块2用校准系数寄存器7的输出对模数转换器1的结果进行补偿,得到补偿后的温度值,并输出给温度值寄存器3。温度值补偿模块2包括增益补偿和偏置补偿,补偿公式如下:
Tpr=adc_value*gn+os
其中adc_value是模数转换器1的输出,增益系数gn和偏置系数os是校准系数寄存器7的输出,Tpr是补偿后的温度值,锁存在温度值寄存器3。
其中增益补偿用一个乘法器实现,偏置补偿用一个加法器实现。
温度值寄存器3用于锁存当前补偿后的温度值,并分别输出给通信接口模块4、校准系数计算模块5和可编程非易失存储器6;
通信接口模块4用于实现结果输出和外部控制,可用串口或并口实现;
校准系数计算模块5用于实现校准系数的计算,并把校正系数输出给可编程非易失存储器6和校准系数寄存器7。
当批量的增益系数不满足预设值时,校准系数计算模块用于增益系数计算和偏置系数的计算;
增益系数gn计算公式如下:
Figure BDA0002337678360000071
其中Tpr1_r,Tpr2_r分别是温度敏感器件采样的第一温度下和第二温度下的理论温度值,Tpr1,Tpr2分别是温度敏感器件采样的第一温度下和第二温度下补偿之前的实际测温值;
偏置系数os的计算公式如下:
os=Tpr2_r-Tpr3
其中Tpr3是温度敏感器件采样的第二温度下增益补偿之后的实际测温值;
当批量的增益系数满足预设值时,校准系数计算模块用于偏置系数的计算;
所述偏置系数os的计算公式如下:
os=Tpr3_r-Tpr4
其中Tpr3_r是在温度敏感器件采样的第三温度下的理论温度值,Tpr4在温度敏感器件采样的第三温度下增益补偿之后的实际测温值;
所述校准系数计算模块还用于将设计温度传感器时的理论增益系数作为补偿时的增益系数。
可编程非易失存储器6用于保存校准系数和温度敏感器件采样的第一温度下补偿之前的实际测温值。当使用已校准的温度传感器每次上电后,从可编程非易失存储器6中自动下载校准系数到校准系数寄存器;当测试温度传感器每次下电时,可保存温度敏感器件采样的第一温度下补偿之前的实际测温值;
校准系数寄存器7,用于锁存当前校准系数,并输出给温度值补偿模块2。
如图1中的虚线框内是实现校准系数计算和下电保存系数的框图,之后,校准系数计算模块5不再工作,每次上电后,只需从可编程非易失存储器6中下载校准系数,如果发现校准补偿有误,还可以进行二次系数计算。
本实施例通过在现有传感器中增加了校准系数计算模块和可编程非易失存储器,使得温度传感器被测试时校准计算和温度补偿都在温度传感器芯片内部完成,外部只需要对温度传感器发送测试命令。与现有的技术相比,只增加了少量的电路,大大了减少人工和测试机的参与,降低了对测试条件的要求,可提高温度传感器的同测数,缩短测试时间。
实施例2
本实施例的温度传感器的校准方法采用实施例1中的具有自动校准功能的温度传感器实现。
如图2所示,当多个温度传感器的增益系数大于预设值时,具有自动校准功能的温度传感器的校准方法,包括以下步骤:
步骤S101、测试台温度稳定到第一温度值(T1)℃;这里的测试台,指的是晶圆测试,通常要求测试台的精度高于温度传感器的测量精度。
步骤S102、上电一组温度传感器,并等待ADC至少完成一次转换;其中一组温度传感器,具体指的是温度传感器测试时可同时进行测试校准的多个温度传感器。
步骤S103、通过通信接口发送命令CMD1到该组的各个温度传感器,内部执行的是把当前测温值Tpr1写入各自的可编程非易失存储器。其中温度值Tpr1是第一温度下校准前温度传感器的测温值;
步骤S104、下电该组温度传感器,并返回步骤S102,直到测完所有温度传感器。
其中,第二温度下测试步骤如下:
步骤S105、测试台温度稳定到第二温度值(T2)℃;通常为了测试准确性,(T1)℃和(T2)℃不要选取常温,而要选取测试范围内精度要求高的两个点,比如T1取40℃,T2取85℃。
步骤S106、上电一组温度传感器,并等待ADC至少完成一次转换,各个温度传感器的当前测温值Tpr2;其中Tpr2是补偿前的温度值。
步骤S107、通过通信接口发送命令CMD2到该组的各个温度传感器,内部执行的是把存储的Tpr1读出到各自的内部寄存器;
步骤S108、通过通信接口发送命令CMD3到该组的各个温度传感器,实现把(T1)℃和(T2)℃对应的理论温度值Tpr1_r和Tpr2_r写入各个温度传感器的寄存器;
步骤S109、各温度传感器内部进行校准增益系数gn的计算。内部执行的公式为;
Figure BDA0002337678360000091
步骤S110、通过通信接口发送命令CMD4到该组的各个温度传感器,内部执行的是把各自增益系数gn写入对应的寄存器和非易失存储器;
步骤S111、等待至少一个完整的ADC转换周期,用各自的gn补偿后的温度值为Tpr3;
步骤S112、各温度传感器内部进行校准偏置系数os的计算。内部执行的公式为:
os=Tpr2_r-Tpr3
步骤S113、通过通信接口发送命令CMD5到该组的各个温度传感器,内部执行的是把各自偏置系数os写入对应的寄存器和非易失存储器;
步骤S114、下电该组温度传感器,并返回步骤S106,直到测完所有温度传感器。
如图3所示,多个温度传感器的增益系数小于或等于预设值时,具有自动校准功能的温度传感器的校准方法,包括以下步骤:
步骤S201、测试台温度稳定到第三温度值(T3)℃;通常为了测试准确性,(T3)℃不要选取常温,比如T3取40℃。
步骤S202、上电一组温度传感器;
本实施例中可同时校准的多个温度传感器。
步骤S203、通过通信接口发送命令CMD6到该组的各个温度传感器,实现把批量增益gn写入各个温度传感器的寄存器和非易失存储器;
步骤S204、等待ADC至少完成一次转换,各个温度传感器的当前测温值Tpr4;其中,Tpr4是用增益gn补偿之后的温度值。
步骤S205、通过通信接口发送命令CMD7到该组的各个温度传感器,实现把(T3)℃对应的理论温度值Tpr3_r写入各个温度传感器的寄存器;
步骤S206、各温度传感器内部进行校准偏置系数os的计算;内部执行的公式为:
os=Tpr3_r-Tpr4
步骤S207、通过通信接口发送命令CMD8到该组的各个温度传感器,把各自偏置系数os写入对应的寄存器和非易失存储器;
步骤S208、下电该组温度传感器,并返回步骤S202,直到测完所有温度传感器。
本实施例中命令CMD1~CMD8是批量命令,即对每个温度传感器发送完全一样的命令。
如图4所示,温度传感器温度自动补偿的步骤包括:
步骤S301、上电,并自动从非易失存储器中下载校准系数(增益gn和偏置os)到各自的增益和偏置寄存器;
步骤S302、ADC开始一次转换,得到转换结果adc_vaule;
步骤S303、基于各自增益和偏置寄存器的值校准ADC的转换结果adc_value,得到一次校准后的温度值Tpr,校准公式:
Tpr=adc_value*gn+os
其中adc_value是模数转换器(ADC)的输出,增益系数gn和偏置系数os是校准系数寄存器的输出,Tpr是补偿后的温度值;
返回步骤S302,直到测完。
本实施例提供的温度传感器自动校准方法在整个校准计算过程都不需要人工和测试机参与计算,只进行命令发送,对测试机的计算能力和存储能力没有要求,非常方便温度传感器的测试,测试机能进行更多温度传感器的同时测试,对提高测试效率、节约测试时间非常有效。
虽然以上描述了本发明的具体实施方式,但是本领域的技术人员应当理解,这仅是举例说明,本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下,可以对这些实施方式做出多种变更或修改,但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。

Claims (5)

1.一种具有自动校准功能的温度传感器,其特征在于,所述温度传感器包括温度敏感器件、模数转换器、温度值补偿模块、温度值寄存器、校准系数计算模块、可编程非易失存储器、校准系数寄存器;
所述模数转换器与所述温度敏感器件及温度值补偿模块连接,用于实现对温度敏感器件采样的模拟信号到数字信号的转换,将所述数字信号输出给所述温度值补偿模块;
所述温度值补偿模块与所述温度值寄存器及校准系数寄存器连接,用所述校准系数寄存器的输出信号对所述数字信号进行补偿,以得到补偿后的温度值,并输出给所述温度值寄存器;
所述温度值寄存器与校准系数计算模块和可编程非易失存储器连接,用于锁存当前补偿后的温度值,并将所述当前补偿后的温度值分别输出给校准系数计算模块和可编程非易失存储器;
所述校准系数计算模块与温度寄存器及可编程非易失存储器连接,用于实现校准系数的计算,并将校准系数输出到所述可编程非易失存储器和所述校准系数寄存器中;
所述可编程非易失存储器,用于保存所述校准系数和温度敏感器件采样的补偿前的实际温度;
所述校准系数寄存器与所述校准系数计算模块、所述可编程非易失存储器及所述温度值补偿模块相连接,用于锁存当前校准系数,并输出给所述温度值补偿模块;
所述温度值补偿模块,包括乘法器和加法器;
所述乘法器用于实现增益补偿;
所述加法器用于偏置补偿;
补偿公式如下:
Tpr=adc_value*gn+os
其中adc_value为模数转换器输出的数字信号,gn为增益系数,os为偏置系数,Tpr为补偿后的温度值;
当多个温度传感器的增益系数大于预设值时,所述校准系数计算模块用于增益系数计算和偏置系数的计算;
所述增益系数gn计算公式如下:
Figure FDA0002956501880000021
其中Tpr1_r,Tpr2_r分别是温度敏感器件采样的第一温度下和第二温度下的理论温度值,Tpr1,Tpr2分别是温度敏感器件采样的第一温度下和第二温度下补偿前的实际测温值;
所述偏置系数os的计算公式如下:
os=Tpr2_r-Tpr3
其中Tpr3是温度敏感器件采样的第二温度下增益补偿之后的实际测温值;
当多个温度传感器的增益系数小于或等于预设值时,所述校准系数计算模块用于偏置系数的计算;
所述偏置系数os的计算公式如下:
os=Tpr3_r-Tpr4
其中Tpr3_r是在温度敏感器件采样的第三温度下的理论温度值,Tpr4是在温度敏感器件采样的第三温度下增益补偿后的实际测温值;
所述校准系数计算模块还用于将设计温度传感器时的理论增益系数作为补偿时的增益系数。
2.如权利要求1所述的具有自动校准功能的温度传感器,其特征在于,所述温度传感器还包括通信接口模块;
所述通信接口模块,用于通过串口或并口实现所述补偿后的温度值输出给外部主机和接收外部主机发送的测试命令。
3.一种具有自动校准功能的温度传感器的校准方法,其特征在于,所述校准方法采用权利要求1所述的具有自动校准功能的温度传感器实现,所述校准方法包括:
S1.基于所述温度敏感器件采样的温度进行增益系数及偏置系数的计算;
S2.基于已计算出的所述增益系数及所述偏置系数进行温度补偿计算。
4.如权利要求3所述的具有自动校准功能的温度传感器的校准方法,其特征在于,所述基于所述温度敏感器件采样的温度进行所述增益系数及所述偏置系数的计算步骤包括:
当多个温度传感器的增益系数大于预设值时,所述计算步骤包括:
S01.将测试台稳定到第一温度;
S02.将若干个温度传感器作为一组,并对所述若干个温度传感器上电;
S03.所述模数转换器对所述温度敏感器件采样的模拟信号进行数字信号的转换,以得到所述第一温度下补偿前的实际测温值;
S04.通过通信接口发送第一命令到所述若干个温度传感器中,把所述第一温度下补偿前的实际测温值写入所述若干个温度传感器所对应的可编程非易失存储器中;
S05.将所述若干个温度传感器下电,并返回步骤S02,直到测完若干组温度传感器;
S06.将测试台稳定到第二温度;
S07.对所述若干个温度传感器进行上电;
S08.所述模数转换器对所述温度敏感器件采样的模拟信号进行数字信号的转换,以得到所述第二温度下补偿前的实际测温值;
S9.通过通信接口发送第二命令到所述若干个温度传感器中,把所述第二温度下补偿前的实际测温值从可编程非易失存储器中读到所述若干个温度传感器对应的内部寄存器中;
S10.通过通信接口发送第三命令到所述若干个温度传感器中,把所述第一温度和第二温度对应的理论温度值分别写入所述若干个温度传感器的校准系数寄存器中;
S11.所述若干个温度传感器通过校准系数计算模块进行增益系数计算和偏置系数的计算;
S12.通过通信接口发送第四命令到所述若干个温度传感器中,把所述若干个温度传感器对应的增益系数写入对应的校准系数寄存器和非易失存储器;
S13.基于所述若干个温度传感器已得到的对应增益系数,以得到第二温度下增益补偿之后的实际测温值;
S14.根据所述偏置系数计算公式对所述若干个温度传感器进行偏置系数的计算,以得到所述若干个温度传感器各自对应的偏置系数;
S15.通过通信接口发送第五命令到所述若干个温度传感器中,把所述若干个温度传感器对应的偏置系数写入对应的校准系数寄存器和非易失存储器中;
S16.将所述若干个温度传感器下电,并返回步骤S07,直到测完若干组温度传感器;
当多个温度传感器的增益系数小于或等于预设值时,所述计算步骤包括:
S21.将测试台稳定到第三温度;
S22.对所述若干个温度传感器进行上电;
S23.通过通信接口发送第六命令到所述若干个温度传感器,把所述若干个温度传感器的理论增益系数写入所述若干个温度传感器对应的校准系数寄存器和非易失存储器中;
S24.基于所述若干个温度传感器的理论增益系数,以得到所述若干个温度传感器的第三温度下补偿后的实际测温值;
S25.通过通信接口发送第七命令到所述若干个温度传感器中,把第三温度对应的理论温度值写入所述若干个温度传感器的校准系数寄存器中;
S26.根据所述偏置系数的计算公式对所述若干个温度传感器进行偏置系数的计算,以得到所述若干个温度传感器各自对应的偏置系数;
S27.通过通信接口发送第八命令到所述若干个温度传感器,把所述若干个温度传感器各自对应的偏置系数写入对应的校准系数寄存器和非易失存储器中;
S28.将所述若干个温度传感器下电,并返回步骤S22,直到测完若干组温度传感器。
5.如权利要求3所述的具有自动校准功能的温度传感器的校准方法,其特征在于,基于已计算出的所述增益系数及所述偏置系数进行温度补偿计算步骤包括:
S31.将若干个温度传感器进行上电,并将所述增益系数及所述偏置系数从非易失存储器中下载到所述若干个温度传感器的校准系数寄存器中;
S32.所述模数转换器对所述温度敏感器件采样的模拟信号进行数字信号的转换,以得到第四温度下补偿前的实际测温值;
S33.基于所述若干个温度传感器对应的增益系数及偏置系数,根据所述补偿公式计算,以得到第四温度下补偿后的实际测温值。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210153240A (ko) * 2020-06-10 2021-12-17 에스케이하이닉스 주식회사 온도 센서 및 이의 제어 방법
CN112462740B (zh) * 2020-11-25 2022-04-22 中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心 一种斯特林制冷机控制器温度补偿校准方法
CN113267264B (zh) * 2021-05-23 2023-04-14 山东英信计算机技术有限公司 一种温度传感器的温度检测方法、***、设备以及介质
CN113503988B (zh) * 2021-07-09 2022-12-23 苏州纳芯微电子股份有限公司 温度传感器校准方法、***及温度传感器
CN114265376B (zh) * 2021-12-07 2023-09-01 中国电子科技集团公司第四十八研究所 一种zmd31050芯片的调试方法和批量调试***
CN116448264B (zh) * 2023-02-01 2023-09-19 苏州聚元微电子股份有限公司 温度传感器、温度测量方法及芯片

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7340366B2 (en) * 2004-03-04 2008-03-04 Atmel Corporation Method and apparatus of temperature compensation for integrated circuit chip using on-chip sensor and computation means
US7102417B2 (en) * 2004-11-05 2006-09-05 International Business Machines Corporation Integrated circuit die including a temperature detection circuit, and system and methods for calibrating the temperature detection circuit
CN203241127U (zh) * 2013-04-08 2013-10-16 北京农业信息技术研究中心 温度自动补偿电子秤及校准***
JP2016031274A (ja) * 2014-07-29 2016-03-07 日本電気株式会社 抵抗変化素子を用いたデジタル温度センサ及びコントローラ
CN104935535B (zh) * 2015-04-17 2019-01-18 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种自适应大调制带宽i/q调制误差数字补偿方法及***
CN110501094A (zh) * 2019-09-05 2019-11-26 珠海格力电器股份有限公司 电器温度传感器的故障检测校准方法、空调器及计算机可读存储介质

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