CN110926762B - 一种紫外成像仪带外抑制能力的检测***及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种紫外成像仪带外抑制能力的检测***及方法。本发明的检测***，其包括光源、积分球、光功率计和计算控制***；所述的积分球设有一个入光口和两个出光口，所述的入光口与光源连接，一个出光口用于与待测设备连接，另一个出光口与光功率计连接；所述的计算控制***，其包括光源控制单元，光功率计数据采集、处理、显示单元和校验处理单元；所述的校验处理单元，通过分析待测设备光子数和光功率计的数据，选择光子数评价标准，评估待测设备的带外抑制能力。本发明检测***构造简单，对检测环境要求低，对检测人员要求低，便于广泛普及应用。

Description

一种紫外成像仪带外抑制能力的检测***及方法
技术领域
本发明属于紫外成像仪的检测领域，具体地说是一种紫外成像仪带外抑制能力的检测***及方法。
背景技术
近几年，紫外成像仪越来越多地应用到电力设备巡检工作中，电力设备巡检工作多在白天进行，需要设备对除电晕信号波段以外的光信号（如太阳光），具有良好的抑制能力，即具备良好的带外抑制能力。
带外抑制能力，是评价紫外成像仪性能的一项重要指标，带外抑制能力越强，设备对太阳光的抗干扰能力就越强，对电晕放电的检测效果就越好。
目前，各个厂家的紫外成像仪，其标称的性能参数和监测指标存在一定的差异，无法对其带外抑制能力进行统一的评估。
据调研，一般对于带外抑制能力的检测多集中于对紫外滤波组件性能的检测，但国内不少紫外成像仪为进口设备，设备价格昂贵、加工精密，紫外滤波组件的检测无法开展。
标准《DLT 1779-2017 高压电气设备电晕放电检测用紫外成像仪技术条件》，检测方式为选取室外无电弧焊和明火的空旷场地，将紫外成像仪正对晴日太阳，增益设置为最大值，积分时设置为0，手动对焦至无穷远，紫外通道放大倍率为1X，录制紫外通道视频图像3s~5s。观察视频，统计平均每帧光斑点数作为带外抑制参数。该标准利用太阳作为光源，太阳光受地区、时间、天气等影响因素较大，如检测期间无良好天气或周围电焊等干扰过多，则不利于紫外成像仪带外抑制能力检测工作的开展。
CN200610154764提供一种光学低通滤波器性能测试的装置，该装置包括光源，在光源的光路上，依次设置带小孔的挡板、光学成像***、转像***、光学成像***和图像传感器等。该技术虽然是检验光学滤波性能的一种装置，但从***及原理看，只能适用于光可以透过的光学零件或***，不适用紫外成像仪整机滤波性能即带外抑制能力的检测。
CN200710194325基于线性渐变滤波片的纺织品光学性能测试***，它由光源、平行光管、分光镜、线性渐变滤波片、光电二极管列阵探测器、信号处理电路和计算机组成。该技术类似于光学滤波性能检测***，光源包含紫外、红外和可见波段，但整个***利用两个平行光管，三路光路比较，***要求高，同样需要被测系具有透光性，不适于紫外成像仪的带外抑制性能的检测。
此外还有涉及使用滤光片组合方式进行光学滤光性能检测的方案，但对于检测对象只能限于透光的光学组件，且检测***复杂、设计加工精度高、测试对环境、对人员要求高，且无法开展紫外成像仪整机带外抑制性能的检测。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是克服上述现有技术存在的缺陷，提供一种紫外成像仪带外抑制能力的检测***及方法，其检测***构造简单，对检测环境要求低，对环境人员要求低，便于广泛普及和应用。
为此，本发明采用的技术方案如下：一种紫外成像仪带外抑制能力的检测***，其包括光源、积分球、光功率计和计算控制***；
所述的光源提供280-1100nm波段内连续波长的光信号，光源的光谱包括紫外线、可见光和红外线；
所述的积分球设有一个入光口和两个出光口，所述的入光口与光源连接，一个出光口用于与待测设备连接，另一个出光口与光功率计连接；
所述的光源经积分球后分两路输出，一路为参考光，另一路为测试光；参考光与测试光的发光强度相同，参考光进入光功率计，测试光进入待测设备；
所述的计算控制***，其包括光源控制单元，光功率计数据采集、处理、显示单元和校验处理单元；
所述的校验处理单元，通过分析待测设备光子数和光功率计的数据，选择评价标准，评估待测设备的带外抑制能力。
本发明检测时，待测设备对测试光进行成像；光功率计同时测量参考光的强度；观测设备的对光源信号的响应和光子数数值，校验处理单元分析待测设备的光子数数值和光功率计的数据，选择评价标准，评估待测设备的带外抑制能力。
本发明的检测原理：根据紫外成像仪的工作波段，设备对280-1100nm的光源不应有响应；本发明通过检测待测设备在最大增益时对该检测***的响应情况，对其带外抑制能力进行评估。分析评估得到的光子数越多，则设备带外抑制能力就越差；反之，如果通过该检测***检测到的光子数越少，则该检测***对该波段的光源抑制能力就越强，抗干扰能力越强，带外抑制能力越好。
进一步地，所述的校验处理单元内置评价标准，包括太阳光谱曲线的光子数评价标准、特定光源的光子数评价标准和自定义评价标准。
进一步地，所述太阳光谱曲线的光子数评价标准，一方面对光源信号与内置太阳光谱曲线进行比对，保障光源发光光谱近似于太阳光谱；另一方面，当光源信号与内置太阳光谱曲线一致时，设定带外抑制评价光子数指标N0，当设备检测到的光子数小于等于N0时，评判设备带外抑制能力满足要求。
进一步地，所述的校验处理单元，支持自定义评价标准。
进一步地，所述特定光源的光子数评价标准，对于特定光源设置一个光子数评价指标Nt，首先根据功率计参数对光源信号进行评估，查看光源是否满足要求；当光源满足要求后，对比光子数评价指标Nt与设备检测到的光子数，评判设备带外抑制能力是否满足要求。
进一步地，所述的光源包括一个太阳模拟器和多个紫外波段LED光源。太阳模拟器只能模拟400-1100nm波段的太阳光谱，故再设置多个紫外波段LED光源，即可保证光源整体满足太阳曲线要求。
进一步地，所述的光源配光源控制单元，用于控制光源的强度。
进一步地，所述***最后一个出光口口径大于50mm，可保证待测设备受光均匀，且适用于市场上主流紫外成像仪。
进一步地，所述的光功率计，其检测波段大于光源发光波段；所述的光功率计用于测量参考光光功率，保障每次检测光源的稳定性。
进一步地，所述光功率计连接计算控制***的功率计数据处理、采集、显示单元，计算控制***绘制光源光谱曲线。光功率计既可以检测光源的光谱曲线，也可用于检测某个特定波段的光源强度。计算控制***分析待测设备对光源光谱或特定波段光强的响应情况，评估设备带外抑制能力。
利用上述检测***进行检测的方法，其包括步骤：
1）开启待测设备；
2）开启检测***，选择测试标准，待光源稳定后，将光功率计置于积分球一个出光口处，通过光功率计查看光源稳定性和光源曲线，保证每次检测时光源保持一致；
3）将待测设备置于积分球另一个出光口处；观察待测设备对光源信号的响应情况及光子数数值；
4）校验处理单元根据光功率计数据和设备的光子数数值，选择光子数评价标准，评估待测设备的带外抑制能力。
作为上述检测方法的补充，待测设备先在暗室环境下，进行暗背景的光子数统计，再与通过检测***后的所得的光子数相减，测试数据更加准确。
一般滤波性能测试使用单色光源或复合光源，但是无紫外波段的光源。本发明使用光源含太阳模拟器和多个紫外LED，光源含紫外、可见和红外波段，可以更好的模拟太阳光，达到带外抑制测检测效果。
一般的光学滤波性能测试***，一方面，需要使用到组合滤光片，组合滤光片价格成本高，且需要机械或手动控制，***设计复杂，精度高；另一方面，一般滤波性能检验只对于透光***进行检测，对于成像***的滤光性能检测***较少；且其检测***或装置，前端需要平行光管、显微镜等精密光学***，设计复杂，对环境要求高。本发明只含有光源、积分球和功率计，光源通过积分球产生均匀的光，进入光功率计和待测设备，积分球本身也为一个密封的***，所以整个***构造简单，对检测环境要求低，对环境人员要求低，便于广泛普及应用。
此外，本发明的检测***除了用于测试和评估紫外成像仪的带外抑制性能之外，还可用于模拟太阳光，用于检测紫外传感器对太阳光的响应性能。
附图说明
图1为本发明紫外成像仪带外抑制能力的检测***的原理框图；
图2为本发明紫外成像仪带外抑制能力的检测***的部分结构示意图；
图3为本发明计算控制***的原理框图。
具体实施方式
下面结合说明书附图和具体实施方式对本发明作进一步说明。
实施例1
本实施例提供一种紫外成像仪带外抑制能力的检测***，如图1-2所示，其包括光源1、积分球2、光功率计3和计算控制***。
所述的光源1提供280-1100nm波段内连续波长的光信号，光源的光谱包括紫外线、可见光和红外线。所述的光源包括一个太阳模拟器和两个紫外波段LED光源（波长分别为310+5nm、365+5nm）。
所述的积分球2设有一个入光口4和两个出光口5、6，所述的入光口4与光源1连接，一个出光口5用于与待测设备7连接，另一个出光口6与光功率计连接。出光口5口径大于50mm。
所述的光源经积分球后两路出光，一路为参考光，另一路为测试光；参考光与测试光的发光强度相同，参考光进入光功率计，测试光用于进入待测设备。
所述的计算控制***，如图3所示，其包括光源控制单元，光功率计数据采集、处理显示单元，校验处理单元。所述的校验处理单元，通过分析待测设备光子数和光功率计的数据，选择光子数评价标准，评估待测设备的带外抑制能力。
所述的校验处理单元内置评价标准，包括太阳光谱曲线的光子数评价标准、特定光源的光子数评价标准和自定义评价标准。
所述太阳光谱曲线的光子数评价标准，一方面对光源信号与内置太阳光谱曲线进行比对，保障光源发光近似于太阳光谱；另一方面，当光源信号与内置太阳光谱曲线一致时，设定带外抑制评价光子数指标N0，当设备检测到的光子数小于等于N0时，评判设备带外抑制能力满足要求。
N0的设定可以参考标准《DLT 1779-2017 高压电气设备电晕放电检测用紫外成像仪技术条件》。
所述的校验处理单元，支持自定义评价标准。
所述特定光源的光子数评价标准，对于特定光源设置一个光子数评价指标Nt，首先根据功率计参数对光源信号进行评估，查看光源是否满足要求；当光源满足要求后，对比光子数评价指标Nt与设备检测到的光子数，评判设备带外抑制能力是否满足要求。
所述的光源配光源控制单元，用于控制光源的强度。
所述的光功率计，其检测波段大于光源发光波段；所述的光功率计用于测量参考光光功率，保障每次检测光源的稳定性。
所述的光功率计与计算控制***的功率计数采集、处理、显示单元连接，用于绘制光源光谱曲线。
实施例2
本实施例提供一种利用实施例1所述检测***进行紫外成像仪带外抑制能力检测的方法，其包括步骤：
1）开启待测设备；
2）开启检测***，选择测试标准，待光源稳定后，将光功率计置于积分球一个出光口处，通过光功率计查看光源稳定性和光源曲线，保证每次检测时光源保持一致；
3）将待测设备置于积分球另一个出光口处；观察待测设备对光源信号的响应情况及光子数数值；
4）校验处理单元根据光功率计数据和设备的光子数数值，选择光子数评价标准，评估设备带外抑制能力。
待测设备先在暗室环境下，进行暗背景的光子数统计，再与通过检测***后的所得的光子数相减，测试数据更加准确。
实施例3
本实施例提供一种利用实施例1所述检测***进行紫外传感器对太阳光响应性能的方法。
光源使用接近太阳光的氙灯和紫外LED作为光源，经积分球后两路出光，一路为参考光，一路为测试光。光功率计测量参考光功率，待测紫外传感器置于测试光出光口，传感器后端输出响应电信号。
测试流程如下：
1.打开光源，待光源稳定后，功率计读取参考光的光强，同时待测紫外传感器对测试光响应，输出一定的信号值；
2.通过改变光源强度，可以得到不同光源强度下，紫外传感器的响应情况，分析该紫外传感器的探测性能。
此外，积分球出口可放置多个同类型的紫外传感器，可分析该紫外传感器对同一光源响应的一致性。
以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (9)

1.一种紫外成像仪带外抑制能力的检测***，其特征在于，包括光源、积分球、光功率计和计算控制***；
所述的光源提供280-1100nm波段内连续波长的光信号，光源的光谱包括紫外线、可见光和红外线；
所述的积分球设有一个入光口和两个出光口，所述的入光口与光源连接，一个出光口用于与待测设备连接，另一个出光口与光功率计连接；
所述的光源经积分球后分两路输出，一路为参考光，另一路为测试光；参考光与测试光的发光强度相同，参考光进入光功率计，测试光用于进入待测设备；
所述的计算控制***，其包括光源控制单元，光功率计数据采集、处理、显示单元，校验处理单元；
所述的校验处理单元，通过分析待测设备光子数和光功率计的数据，选择光子数评价标准，评估待测设备的带外抑制能力；
所述的校验处理单元内置评价标准，包括太阳光谱曲线的光子数评价标准、特定光源的光子数评价标准和自定义评价标准。
2.根据权利要求1所述的一种紫外成像仪带外抑制能力的检测***，其特征在于，所述太阳光谱曲线的光子数评价标准，一方面将光源信号与内置太阳光谱曲线进行比对，保障光源发光近似于太阳光谱；另一方面，当光源信号与内置太阳光谱曲线一致时，设定带外抑制评价光子数指标N0，当设备检测到的光子数小于等于N0时，评判设备带外抑制能力满足要求。
3.根据权利要求1所述的一种紫外成像仪带外抑制能力的检测***，其特征在于，所述特定光源的光子数评价标准，对于特定光源设置一个光子数评价指标Nt，首先根据功率计参数对光源信号进行评估，查看光源是否满足要求；当光源满足要求后，对比光子数评价指标Nt与设备检测到的光子数，评判设备带外抑制能力是否满足要求。
4.根据权利要求1所述的一种紫外成像仪带外抑制能力的检测***，其特征在于，所述的光源包括一个太阳模拟器和多个紫外波段LED光源。
5.根据权利要求1所述的一种紫外成像仪带外抑制能力的检测***，其特征在于，所述的光源配光源控制单元，用于控制光源的强度。
6.根据权利要求1所述的一种紫外成像仪带外抑制能力的检测***，其特征在于，所述的光功率计，其检测波段大于光源发光波段；所述的光功率计用于测量参考光光功率，保障每次检测光源的稳定性。
7.根据权利要求1所述的一种紫外成像仪带外抑制能力的检测***，其特征在于，所述光功率计连接计算控制***的功率计数据处理、采集、显示单元，计算控制***绘制光源光谱曲线。
8.利用权利要求1-7任一项所述检测***的检测方法，其特征在于，包括步骤：
1）开启待测设备；
2）开启检测***，选择测试标准，待光源稳定后，将光功率计置于积分球一个出光口处，通过光功率计查看光源稳定性和光源曲线，保证每次检测时光源保持一致；
3）将待测设备置于积分球另一个出光口处；观察待测设备对光源信号的响应情况及光子数数值；
4）校验处理单元根据光功率计数据和设备的光子数数值，选择光子数评价标准，评估设备带外抑制能力。
9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，待测设备先在暗室环境下，进行暗背景的光子数统计，再与通过检测***后的所得的光子数相减。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111856369A (zh) * 2020-06-08 2020-10-30 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 一种全日盲紫外成像仪的核心参数的测试装置及方法
CN114047149B (zh) * 2021-11-09 2024-04-26 宁波市计量测试研究院(宁波新材料检验检测中心) 一种食品检测中的趋同性风险预警方法

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001095362A1 (en) * 2000-06-09 2001-12-13 Cymer, Inc. Plasma focus light source with active and buffer gas control
WO2004031746A1 (en) * 2002-10-02 2004-04-15 Lumen Health Innovations, Inc. Apparatus and methods relating to high speed spectroscopy and excitation-emission matrices
US20070019194A1 (en) * 2005-07-21 2007-01-25 Liangyao Chen Full spectral range spectrometer
CN101140222A (zh) * 2007-10-19 2008-03-12 天津炜辐医疗科技有限公司 测定包括混浊介质材料全部光学参数的光谱仪***及方法
CN102944494A (zh) * 2012-11-27 2013-02-27 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所 一种紫外增强污染材料测量装置
CN103105286A (zh) * 2013-01-24 2013-05-15 中国兵器工业第二〇五研究所 成像光电***光谱响应非均匀性测量方法
CN105628196A (zh) * 2015-12-22 2016-06-01 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种紫外焦平面阵列响应特性测试装置及方法
CN106352978A (zh) * 2016-08-02 2017-01-25 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种激光光源及成像光谱仪星上定标方法
US9778103B1 (en) * 2016-05-13 2017-10-03 Eit, Llc UV radiometry instruments and methods
CN107677453A (zh) * 2017-08-25 2018-02-09 北方夜视技术股份有限公司 日盲紫外相机检测灵敏度测试***及测试方法
CN109116197A (zh) * 2018-07-23 2019-01-01 北方夜视技术股份有限公司 日盲紫外相机及紫外光子计数方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108680188B (zh) * 2018-06-21 2023-09-01 中国科学院西安光学精密机械研究所 Pst测试与极弱目标模拟***及pst、探测能力的测试方法

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001095362A1 (en) * 2000-06-09 2001-12-13 Cymer, Inc. Plasma focus light source with active and buffer gas control
WO2004031746A1 (en) * 2002-10-02 2004-04-15 Lumen Health Innovations, Inc. Apparatus and methods relating to high speed spectroscopy and excitation-emission matrices
US20070019194A1 (en) * 2005-07-21 2007-01-25 Liangyao Chen Full spectral range spectrometer
CN101140222A (zh) * 2007-10-19 2008-03-12 天津炜辐医疗科技有限公司 测定包括混浊介质材料全部光学参数的光谱仪***及方法
CN102944494A (zh) * 2012-11-27 2013-02-27 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所 一种紫外增强污染材料测量装置
CN103105286A (zh) * 2013-01-24 2013-05-15 中国兵器工业第二〇五研究所 成像光电***光谱响应非均匀性测量方法
CN105628196A (zh) * 2015-12-22 2016-06-01 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种紫外焦平面阵列响应特性测试装置及方法
US9778103B1 (en) * 2016-05-13 2017-10-03 Eit, Llc UV radiometry instruments and methods
CN106352978A (zh) * 2016-08-02 2017-01-25 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种激光光源及成像光谱仪星上定标方法
CN107677453A (zh) * 2017-08-25 2018-02-09 北方夜视技术股份有限公司 日盲紫外相机检测灵敏度测试***及测试方法
CN109116197A (zh) * 2018-07-23 2019-01-01 北方夜视技术股份有限公司 日盲紫外相机及紫外光子计数方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Design and fabrication of UV band-pass filters based on SiO2/Si3N4 dielectric distributed bragg reflectors;Jiangping Dai等;《Applied Surface Science》;20151230;全文 *
高带外抑制比微波光子滤波器研究进展;李元栋等;《激光与光电子学进展》;20170905;全文 *

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