CN110858782A - 测试方法、测试***以及电子装置 - Google Patents

Abstract

一种测试方法、测试***及电子装置。测试***包括待测装置、电子装置以及微控制器。待测装置包括发光模块。微控制器耦接至电子装置。待测装置读入待测端测试脚本，并且电子装置读入主控端测试脚本。于待测装置中，执行前导程序，借此控制发光模块进行指定次数的开闭，并且在执行完前导程序之后，依序执行各设定程序。于电子装置中，基于自微控制器所读取该发光模块的亮度值来判断待测装置是否已执行完前导程序，并且如判定待测装置已执行完前导程序，执行对应于待测装置所执行的其中一个设定程序的该测试项程序，以自射频装置读取待测装置所发送的射频信号的测量值。

Description

测试方法、测试***以及电子装置

技术领域

本发明涉及一种测试机制，且特别涉及一种测试方法、测试***以及电子装置。

背景技术

传统上，在非信令传输接收标准测试(Non-Signaling Over The Air test)中，使用通用序列总线(Universal Serial Bus，USB)或其它可连接待测装置(Device UnderTest，DUT)的连接线材，通过连接线材来对待测装置发送相关测试命令，并进行射频(RadioFrequency，RF)信号的测量。然而，使用USB或其它可连接待测装置的连接线材，而经由连接线材对待测装置发送相关测试命令，会因为连接线材而带来信号干扰，造成RF信号测量的测试数据不正确的问题。

发明内容

本发明提供一种测试方法、测试***以及电子装置，可避免因连接线材造成的信号干扰。

本发明的用于测试***的测试方法，其中测试***包括待测装置、电子装置以及微控制器，待测装置包括发光模块，微控制器耦接至电子装置。测试方法包括下述步骤。待测装置读入待测端测试脚本，并且电子装置读入主控端测试脚本。待测端测试脚本包括前导程序以及一或多个设定程序。主控端测试脚本包括对应于各设定程序的测试项程序。待测装置执行前导程序，借此控制发光模块进行指定次数的开闭。待测装置在执行完前导程序之后，依序执行各设定程序。电子装置基于自微控制器所读取发光模块的亮度值来判断待测装置是否已执行前导程序。如判定待测装置已执行前导程序，电子装置执行对应于待测装置所执行的其中一个设定程序的测试项程序，以自射频装置读取待测装置所发送的射频信号的测量值。

在本发明的一实施例中，所述前导程序包括下述步骤：致能发光模块；等待第一间隔时间；禁能发光模块；累计执行次数；以及等待第二间隔时间；并且重复执行上述步骤，直到执行次数等于指定次数。

在本发明的一实施例中，设定程序包括下述步骤：设定多个测试参数；依据这些测试参数，发出射频信号；致能发光模块；以及在经过延迟时间之后，禁能发光模块并且停止发送射频信号。

在本发明的一实施例中，电子装置基于自微控制器所读取的亮度值来判断待测装置是否已执行前导程序的步骤包括：在等待时间内，持续自微控制器读取亮度值；基于自微控制器所读取的亮度值，判断在等待时间内发光模块是否进行了指定次数的开闭；以及在等待时间内发光模块进行指定次数的开闭时，判断待测装置已执行前导程序。

在本发明的一实施例中，测试项程序包括：依据自微控制器所读取的亮度值以及阈值，判定发光模块是否被致能；在自微控制器所读取的亮度值大于阈值而判定发光模块被致能时，读取射频信号的测量值；以及在自微控制器所读取的亮度值小于或等于阈值而判定发光模块被禁能时，停止读取测量值。

在本发明的一实施例中，测试项程序还包括：在判定发光模块被致能之后，在检测时间内持续自微控制器读取亮度值，并判断亮度值是否小于或等于阈值，其中检测时间大于延迟时间；以及倘若在检测时间内自微控制器所读取到的亮度值皆未小于或等于阈值，停止执行测试项程序。

在本发明的一实施例中，微控制器包括光感应器，光感应器检测发光模块的输出以产生亮度值。

本发明的用于电子装置的测试方法，包括：读入主控端测试脚本，电子装置耦接至设置于屏蔽箱内的微控制器，屏蔽箱内更设置有包括发光模块的待测装置，主控端测试脚本包括对应于待测装置中所读入的待测端测试脚本的各设定程序的测试项程序；基于自微控制器所读取的亮度值来判断发光模块是否进行了指定次数的开闭；以及在判定发光模块进行了指定次数的开闭之后，对应于待测装置所执行的其中一个设定程序，依序执行各测试项程序，以读取待测装置所发送的射频信号的测量值。

本发明的测试***，包括：待测装置，包括发光模块，发光模块可进行一指定次数的开闭，待测装置能够读入待测端测试脚本，待测端测试脚本包括前导程序以及一或多个设定程序，待测装置在执行完前导程序之后，依序执行各设定程序；微控制器，用以检测发光模块的输出，从而产生对应的亮度值；射频装置，用以测量待测装置所发送的射频信号取得测量值；电子装置，耦接至微控制器，电子装置能够读入主控端测试脚本，主控端测试脚本包括对应于各设定程序的测试项程序，电子装置能够基于自微控制器所读取的亮度值来判断待测装置是否已执行完前导程序，如电子装置判定待测装置已执行完前导程序，电子装置对应于待测装置所执行的其中一个设定程序，依序执行各测试项程序，以自射频装置读取测量射频信号所获得的测量值；以及屏蔽箱，设置有待测装置以及微控制器。

本发明的电子装置，包括：连接设备，耦接至设置于屏蔽箱内的微控制器，其中屏蔽箱内更设置有包括发光模块的待测装置；存储设备，包括主控端测试脚本，主控端测试脚本包括对应于待测装置中所读入的待测端测试脚本的各设定程序的测试项程序；处理器，耦接至连接设备与存储设备，并执行主控端测试脚本。处理器基于自微控制器所读取的亮度值来判断发光模块是否进行了指定次数的开闭；并且，在判定发光模块进行了指定次数的开闭之后，处理器执行对应于待测装置所执行的其中一个设定程序的测试项程序，以读取待测装置所发送的射频信号的测量值。

基于上述，本发明在屏蔽箱(Shielding box)内加入微控制器，以接收待测装置的发光模块的闪烁数据，利用光源闪烁的方式来取代传统使用连接线材作为传输测试命令的方法，避免因为接线材造成的信号干扰。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合说明书附图作详细说明如下。

附图说明

图1是依照本发明一实施例的测试***的方框图。

图2A与图2B是依照本发明一实施例的测试方法的流程图。

图3是依照本发明一实施例的执行前导程序的流程图。

图4是依照本发明一实施例的执行设定程序的流程图。

图5是依照本发明一实施例的电子装置判断是否已执行完前导程序的流程图。

图6是依照本发明一实施例的由电子装置执行测试项程序的流程图。

图7是依照本发明一实施例的于测试过程中所读取到的亮度值一例的图表。

图8是依照本发明一实施例的主控端测试脚本的示意图。

图9A～图9C是依照本发明一实施例的待测端测试脚本的示意图。

附图标记说明：

100 测试***

110 屏蔽箱

111 待测装置

112 发光模块

113 微控制器

120 电子装置

121 处理器

122 存储设备

123 连接设备

130 射频装置

71～75 点亮区段

901～919 程序码

A 主控端测试脚本

B 待测端测试脚本

B1 前导程序

B2 设定程序

T1～T10 时间

S201～S205、S211～S215 测试方法各步骤

S301～S311 执行前导程序的各步骤

S401～S407 执行设定程序的各步骤

S501～S507 电子装置判断是否已执行完前导程序的各步骤

S601～S609 电子装置执行测试项程序的各步骤

具体实施方式

图1是依照本发明一实施例的测试***的方框图。请参照图1，测试***100包括屏蔽箱110、电子装置120以及射频装置130。射频装置130可通过射频(radio frequency，RF)线缆与屏蔽箱110连接，并且射频装置130可通过通用界面总线(General PurposeInterface Bus，GPIB)耦接至电子装置120。

屏蔽箱110内设置有待测装置(Device Under Test，DUT)111以及微控制器113。待测装置111包括发光模块112，并且待测装置111还进一步包括中央处理单元(CentralProcessing Unit，CPU)、存储设备及各种输入输出接口等构件(未示于图1中)。在待测装置111中设置有待测端测试脚本B。发光模块112例如为发光二极管(Light-emitting diode，LED)。

微控制器113设置在屏蔽箱110的内侧壁。微控制器113可以是单芯片微电脑(single-chip microcomputer)，其是将中央处理单元、存储器、定时/计数器(timer/counter)、各种输入输出接口等都整合在一块集成电路芯片上。而在微控制器113上进一步设置有未示出的光感应器，利用光感应器来检测发光模块112的输出，从而产生对应的亮度值。

电子装置120包括处理器121、存储设备122以及连接设备123。连接设备123可采用通用序列总线(Universal Serial Bus，USB)等连接线材来实现。电子装置120于屏蔽箱110的外部通过连接设备123耦接至设置于屏蔽箱110内侧壁的微控制器113，据此可避免连接线材延伸进入屏蔽箱110内部，而造成干扰。

处理器121可采用中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)、图像处理单元(Graphic Processing Unit，GPU)、物理处理单元(Physics Processing Unit，PPU)、可程序化的微处理器(Microprocessor)、嵌入式控制芯片、数字信号处理器(Digital SignalProcessor，DSP)、特殊应用集成电路(Application Specific Integrated Circuits，ASIC)或其他类似装置来实现。

存储设备122可采用任意形式的固定式或可移动式随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、快闪存储器(Flash memory)、安全数字卡(Secure Digital Memory Card，SD)、硬盘或其他类似装置或这些装置的组合来实现。在存储设备122中包括主控端测试脚本A。

待测端测试脚本B包括前导程序以及一或多个设定程序。而主控端测试脚本A包括对应于待测端测试脚本B的各设定程序的测试项程序。在待测装置111中设置待测端测试脚本B，可由待测装置111直接对其自身下达测试指令。以下即搭配上述测试***100来说明测试方法各步骤。

图2A与图2B是依照本发明一实施例的测试方法的流程图。图2A所示为由待测装置111所执行的各步骤，图2B所示为由电子装置120所执行的各步骤。

参照图2A，在步骤S201中，待测装置111读入待测端测试脚本B。接着，在步骤S203中，待测装置111执行前导程序，借此控制发光模块112进行指定次数的开闭。具体而言，待测装置111通过未示出的处理器来执行待测端测试脚本B。

图3是依照本发明一实施例的执行前导程序的流程图。请参照图3，在步骤S301中，待测装置111致能发光模块112(发光模块112点亮)。接着，在步骤S303中，待测装置111等待第一间隔时间。之后，在步骤S305中，禁能发光模块112(发光模块112熄灭)。并且，在步骤S307中，待测装置111累计执行次数。在此，执行次数的初始值为0。接着，在步骤S309中，待测装置111等待第二间隔时间。在步骤S311中，待测装置111判断执行次数是否等于指定次数。在执行次数尚未达到指定次数时，待测装置111重复步骤S301～步骤S309，直到执行次数等于指定次数为止。通过上述步骤S301～S311，可使发光模块112在指定时间内进行指定次数的闪烁。需注意的是，步骤S307以及步骤S309的顺序不以上述为限，亦可先执行步骤S309再执行步骤307。

假设前导程序所设定的指定次数为3次、第一间隔时间为300ms以及第二间隔时间为200ms。待测装置111致能发光模块112，使得发光模块112持续发光300ms，之后禁能发光模块112。而在经过200ms之后，二度致能发光模块112，使得发光模块112持续发光300ms，然后再次禁能发光模块112。于等待200ms之后，三度致能发光模块112，使得发光模块112持续发光300ms。之后，等待200ms，开始依序执行各设定程序。

在执行完前导程序之后，在步骤S205中，待测装置111依序执行各设定程序。以下举例来说明设定程序的流程。

图4是依照本发明一实施例的执行设定程序的流程图。请参照图4，在步骤S401中，待测装置111设定多个测试参数。即，待测装置111会自行设定好所需的测试环境。接着，在步骤S403中，待测装置111依据测试参数，发出射频信号。并且，在步骤S405中，待测装置111致能发光模块112。此时，待测装置111通过发光模块112发出亮光来通知电子装置120已开始进行测试。同时，待测装置111亦会驱动其内建的射频模块来发出射频信号。之后，在步骤S407中，在经过延迟时间之后，禁能发光模块112并且停止发送射频信号。在经过目前执行中的设定程序所对应的延迟时间之后，待测装置111禁能发光模块112(发光模块112熄灭)并且停止发送射频信号。

在此，待测端测试脚本B的每一个设定程序所设定的延迟时间可以相同，也可以不同，在此并不限制。而相应于待测端测试脚本B的设定程序的延迟时间，在主控端测试脚本A的每一个测试项程序中会设定有对应的检测时间。在此，检测时间大于延迟时间。

接着，再次参照图2B，在步骤S211中，电子装置120读入主控端测试脚本A。接着，在步骤S213中，电子装置120判断待测装置111是否已执行完前导程序。在此，电子装置120的处理器121经由连接设备123而自微控制器113读取亮度值，并基于亮度值来判断待测装置111是否已执行完前导程序。

图5是依照本发明一实施例的电子装置判断是否已执行完前导程序的流程图。请参照图5，在步骤S501中，电子装置120的处理器121自微控制器113读取亮度值。接着，在步骤S503中，基于自微控制器113所读取的亮度值，判断在等待时间内发光模块112是否进行了指定次数的开闭。

具体而言，在电子装置120中撰写执行绪(thread)是通过USB等传输线来持续读取微控制器113上的亮度值，并且设定阈值用来判断待测装置111是否致能发光模块112，即判断发光模块112是否发光。当自微控制器113读取到的亮度值大于阈值时，表示此时待测装置111致能发光模块112，使得发光模块112发光；反之，当自微控制器113读取到的亮度值未大于阈值时，表示此时待测装置111禁能发光模块112。

在步骤S505中，判断是否经过等待时间。在未经过等待时间时，持续执行步骤S501以及步骤S503。在等待时间内判定发光模块112进行了指定次数的开闭时，在步骤S507中，判定待测装置111已执行完前导程序。另一方面，倘若在等待时间内未检测到发光模块112进行了指定次数的开闭，则电子装置120停止主控端测试脚本A的执行。在其他实施例中，电子装置120还可进一步提醒使用者测试过程中发生异常，好让使用者控制待测装置111停止执行待测端测试脚本B。

返回图2B，在判定待测装置111已执行完前导程序之后，在步骤S215中，电子装置120依序执行各测试项程序，以读取待测装置111所发送的射频信号的测量值。

具体而言，主控端测试脚本A中的测试项程序与待测端测试脚本B的设定程序相对应。待测装置111会先执行前导程序，以通知电子装置120接下来将要开始依序执行设定程序。因此，当电子装置120判定待测装置111已执行完前导程序之后，电子装置120便可开始依序执行各测试项程序。

在每个测试项程序进行测试的期间，待测装置111会控制发光模块112持续发光，直到设定程序执行结束。而电子装置120在每个测试项程序开始前，会先确认微控制器113所检测到的亮度值是否超过阈值，以在亮度值超过阈值时，电子装置120去读取待测装置111所发送的射频信号的测量值。例如，射频装置130会去测量待测装置111所发送的射频信号的测量值，而电子装置120通过GPIB等自射频装置130来读取待测装置111所发送的射频信号的测量值。

图6是依照本发明一实施例的由电子装置执行测试项程序的流程图。请参照图6，在步骤S601中，电子装置120的处理器121自微控制器113读取亮度值。接着，在步骤S603中，判断亮度值是否大于阈值，借此来判断发光模块112是否被致能。倘若判定亮度值未大于阈值，在步骤S605中，判断是否经过逾时时间。倘若未超过逾时时间，则执行步骤S601，以持续自微控制器读取亮度值。倘若在经过逾时时间所读取到的亮度值仍旧未大于阈值，则电子装置120停止主控端测试脚本A的执行。

而在逾时时间内判定亮度值大于阈值(步骤S603的是)时，在步骤S607中，电子装置120读取射频信号的测量值。接着，在步骤S608中，判断目前所读取到的亮度值是否小于或等于阈值，借此来判断发光模块112是否被禁能。而在自微控制器113所读取的亮度值小于或等于阈值而判定发光模块112被禁能时，停止读取测量值，结束本次的测试项程序。

图7是依照本发明一实施例的于测试过程中所读取到的亮度值一例的图表。在时间T1至时间T2间的点亮区段71、时间T3至时间T4间的点亮区段72、时间T5至时间T6间的点亮区段73代表通过前导程序控制发光模块112进行3次的开闭(闪烁3次)。时间T7至时间T8间的点亮区段74代表第1个设定程序中所设定的延迟时间，时间T9至时间T10间的点亮区段75代表第2个设定程序中所设定的延迟时间。

以下再举实施例来说明主控端测试脚本A与待测端测试脚本B。图8是依照本发明一实施例的主控端测试脚本的示意图。图9A～图9C是依照本发明一实施例的待测端测试脚本的示意图。为了便于说明，在此仅以一项测试项程序进行说明，并且仅列出相关指令而省略其他指令。

在图8所示的测试指令中，指令“CHECK_LEADING 5”为设定等待前导程序完成的等待时间(作为逾时的判断)为5秒。指令“TX_TEST 1，7，13，4”为测试项目，其设定为：通道(channel)为1、数据速率(data rate)为7Mb、功率等级(power leve1)为13、第二检测时间为4秒。

图9A所示为待测端测试脚本B中的前导程序B1。图9B及图9C所示为待测端测试脚本B中的设定程序B2，图9C所示的设定程序B2继续在图9B所示的设定程序B2之后。

在图9A中，前导程序B1包括程序码901、903和905。在程序码901中，先取得视窗管理规范(Windows Management Instrumentation，WMI)的控制权；接着，取得电源控制权；之后对发光模块112进行充电(致能发光模块112)，使得发光模块112发光；然后，释放WMI的控制权。在程序码903中，等待200ms。在程序码905中，先取得WMI的控制权；接着，取得电源控制权；之后取消对发光模块112的充电，即，禁能发光模块112；然后，释放WMI的控制权。并且，利用for回圈(for循环)来决定前导程序B1中发光模块112的发光循环次数。在此设定为3次。

在图9B与图9C中，设定程序B2包括程序码907、909、911......919。程序码907、909是用来设定多个测试参数。例如，设定Wi-Fi支援所有国别、设定Wi-Fi初始化、设定无信号干扰、不开启监视功能、停止Wi-Fi的加密设定、设定Wi-Fi测试为2G、设定频道为1、频带(band)为2GHz、频宽(bandwidth)为20MHz、设定数据速率为7Mb、设定功率等级为13、设定接收天线与传送天线等等。

程序码911是用来开启射频传输模块，以发送射频信号。程序码913为用来致能发光模块112。程序码915是用来等待延迟时间2秒。程序码917是用来禁能发光模块112。程序码919是用来关闭射频传输模块。

综上所述，本发明在屏蔽箱内加入微控制器，并在微控制器上增加光感应器以检测待测装置的发光模块是否发光，以及在待测装置中设置待测端测试脚本，由待测装置自行对自己下达命令，据此，待测装置会在测试过程中，控制发光模块112发光，以通知电子装置120去读取射频信号的测量值。利用光源闪烁的方式来取代传统使用连接线材作为传输测试命令的方法，避免因为接线材造成的信号干扰。

虽然本发明已以实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中技术人员，在不脱离本发明的构思和范围内，当可作些许的变动与润饰，故本发明的保护范围当视权利要求所界定者为准。

Claims (22)

1.一种用于测试***的测试方法，其特征在于，该测试***包括一待测装置、一电子装置以及一微控制器，该待测装置包括一发光模块，该微控制器耦接至该电子装置，该测试方法包括：

该待测装置读入一待测端测试脚本，并且该电子装置读入一主控端测试脚本，该待测端测试脚本包括一前导程序以及一或多个设定程序，该主控端测试脚本包括对应于各该设定程序的测试项程序；

该待测装置执行该前导程序，借此控制该发光模块进行一指定次数的开闭；

该待测装置在执行完该前导程序之后，依序执行各该设定程序；

该电子装置基于自该微控制器所读取该发光模块的亮度值来判断该待测装置是否已执行完该前导程序；以及

如该电子装置判定该待测装置已执行完该前导程序，该电子装置执行对应于该待测装置所执行的其中一个该设定程序的该测试项程序，以自一射频装置读取该待测装置所发送的一射频信号的一测量值。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，该前导程序包括下述步骤：

致能该发光模块；

等待一第一间隔时间；

禁能该发光模块；

累计一执行次数；以及

等待一第二间隔时间；

重复执行上述步骤，直到该执行次数等于该指定次数。

3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，各该设定程序包括下述步骤：

设定多个测试参数；

依据所述多个测试参数，发出该射频信号；

致能该发光模块；以及

在经过一延迟时间之后，禁能该发光模块并且停止发送该射频信号。

4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，该电子装置基于自该微控制器所读取的亮度值来判断该待测装置是否已执行完该前导程序的步骤包括：

在一等待时间内，持续自该微控制器读取该亮度值；

基于自该微控制器所读取的亮度值，判断在该等待时间内该发光模块是否进行了该指定次数的开闭；以及

在该等待时间内该发光模块进行该指定次数的开闭时，判断该待测装置已执行完该前导程序。

5.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，各该测试项程序包括：

依据自该微控制器所读取的亮度值以及一阈值，判定该发光模块是否被致能；

在自该微控制器所读取的亮度值大于该阈值而判定该发光模块被致能时，读取该射频信号的该测量值；以及

在自该微控制器所读取的亮度值小于或等于该阈值而判定该发光模块被禁能时，停止读取该测量值。

6.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于，各该测试项程序还包括：

在判定该发光模块被致能之后，在一检测时间内持续自该微控制器读取该亮度值，并判断该亮度值是否小于或等于该阈值，其中该检测时间大于该延迟时间；以及

倘若在该检测时间内自该微控制器所读取到的该亮度值皆未小于或等于该阈值，停止执行该测试项程序。

7.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，该微控制器包括一光感应器，该光感应器检测该发光模块的输出以产生该亮度值。

8.一种用于电子装置的测试方法，其特征在于，包括：

读入一主控端测试脚本，该电子装置耦接至设置于一屏蔽箱内的一微控制器，该屏蔽箱内更设置有包括一发光模块的一待测装置，该主控端测试脚本包括对应于该待测装置中所读入的一待测端测试脚本的各设定程序的测试项程序；

基于自该微控制器所读取的亮度值来判断该发光模块是否进行了一指定次数的开闭；以及

在判定该发光模块进行了该指定次数的开闭之后，执行对应于该待测装置所执行的其中一个该设定程序的该测试项程序，以读取该待测装置所发送的一射频信号的一测量值。

9.如权利要求8所述的测试方法，其特征在于，还包括：

在一等待时间内，持续自该微控制器读取该亮度值；

基于自该微控制器所读取的亮度值，判断在该等待时间内该发光模块是否进行了该指定次数的开闭。

10.如权利要求8所述的测试方法，其特征在于，各该测试项程序包括：

依据自该微控制器所读取的亮度值以及一阈值，判定该发光模块是否被致能；

在自该微控制器所读取的亮度值大于该阈值而判定该发光模块被致能时，读取该射频信号的该测量值；以及

在自该微控制器所读取的亮度值小于或等于该阈值而判定该发光模块被禁能时，停止读取该测量值。

11.如权利要求10所述的测试方法，其特征在于，各该测试项程序还包括：

在判定该发光模块被致能之后，在一检测时间内持续自该微控制器读取该亮度值，并判断该亮度值是否小于或等于该阈值；以及

倘若在该检测时间内自该微控制器所读取到的该亮度值皆未小于或等于该阈值，停止执行该测试项程序。

12.一种测试***，其特征在于，包括：

一待测装置，包括一发光模块，该发光模块可进行一指定次数的开闭，该待测装置能够读入一待测端测试脚本，该待测端测试脚本包括一前导程序以及一或多个设定程序，该待测装置在执行完该前导程序之后，依序执行各该设定程序；

一微控制器，用以检测该发光模块的输出，从而产生对应的亮度值；

一射频装置，用以测量该待测装置所发送的一射频信号取得一测量值；

一电子装置，耦接至该微控制器，该电子装置能够读入一主控端测试脚本，该主控端测试脚本包括对应于各该设定程序的测试项程序，该电子装置能够基于自该微控制器所读取的该亮度值来判断该待测装置是否已执行完该前导程序，如该电子装置判定该待测装置已执行完该前导程序，该电子装置对应于该待测装置所执行的其中一个该设定程序，依序执行各该测试项程序，以自该射频装置读取测量该射频信号所取得的该测量值；以及

一屏蔽箱，设置有该待测装置以及该微控制器。

13.如权利要求12所述的测试***，其特征在于，该待测装置执行该前导程序包括：

致能该发光模块；

等待一第一间隔时间；

禁能该发光模块；

累计一执行次数；以及

等待一第二间隔时间；

重复执行上述步骤，直到该执行次数等于该指定次数。

14.如权利要求12所述的测试***，其特征在于，该待测装置在执行各该设定程序中，包括：设定多个测试参数；依据所述多个测试参数，发出该射频信号；致能该发光模块；以及在经过一延迟时间之后，禁能该发光模块并且停止发送该射频信号。

15.如权利要求12所述的测试***，其特征在于，该电子装置在一等待时间内，持续自该微控制器读取该亮度值，并且基于自该微控制器所读取的亮度值，判断在该等待时间内该发光模块是否进行了该指定次数的开闭；以及在该等待时间内该发光模块进行该指定次数的开闭时，判断该待测装置已执行完该前导程序。

16.如权利要求14所述的测试***，其特征在于，该电子装置依据自该微控制器所读取的亮度值以及一阈值，判定该发光模块是否被致能；在自该微控制器所读取的亮度值大于一阈值而判定该发光模块被致能时，自该射频装置读取测量该射频信号所获得的该测量值；以及在自该微控制器所读取的亮度值小于或等于该阈值而判定该发光模块被禁能时，停止自该射频装置读取该测量值。

17.如权利要求16所述的测试***，其特征在于，该电子装置在判定该发光模块被致能之后，在一检测时间内持续自该微控制器读取该亮度值，并判断该亮度值是否小于或等于该阈值；倘若在该检测时间内自该微控制器所读取到的该亮度值皆未小于或等于该阈值，该电子装置停止执行该测试项程序，其中该检测时间大于该延迟时间。

18.如权利要求12所述的测试***，其特征在于，该微控制器包括一光感应器，该光感应器检测该发光模块的输出以产生该亮度值。

19.一种电子装置，其特征在于，包括：

一连接设备，耦接至设置于一屏蔽箱内的一微控制器，其中该屏蔽箱内更设置有包括一发光模块的一待测装置；

一存储设备，包括一主控端测试脚本，该主控端测试脚本包括对应于该待测装置中所读入的一待测端测试脚本的各设定程序的测试项程序；

一处理器，耦接至该连接设备与该存储设备，并执行该主控端测试脚本，

该处理器基于自该微控制器所读取的亮度值来判断该发光模块是否进行了一指定次数的开闭；并且，在判定该发光模块进行了该指定次数的开闭之后，该处理器对应于该待测装置所执行的其中一个该设定程序，依序执行各该测试项程序，以读取该待测装置所发送的一射频信号的一测量值。

20.如权利要求19所述的电子装置，其特征在于，该处理器在一等待时间内，持续自该微控制器读取该亮度值，并且基于自该微控制器所读取的亮度值，判断在该等待时间内该发光模块是否进行了该指定次数的开闭。

21.如权利要求19所述的电子装置，其特征在于，该处理器依据自该微控制器所读取的亮度值以及一阈值，判定该发光模块是否被致能；在自该微控制器所读取的亮度值大于该阈值而判定该发光模块被致能时，读取该射频信号的该测量值；并且，该处理器在自该微控制器所读取的亮度值小于或等于该阈值而判定该发光模块被禁能时，停止读取该测量值。

22.如权利要求21所述的电子装置，其特征在于，该处理器在判定该发光模块被致能之后，在一检测时间内持续自该微控制器读取该亮度值，并判断该亮度值是否小于或等于该阈值；并且，倘若在该检测时间内自该微控制器所读取到的该亮度值皆未小于或等于该阈值，该处理器停止执行该测试项程序。

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