CN110830789A - 一种过曝检测方法、装置及一种过曝抑制方法、装置 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例提供了一种过曝检测方法、装置及电子设备以及一种过曝抑制方法、装置及电子设备。过曝检测方法包括：获得成像传感器采集到的画面中每个像素点的Bayer格式数据；基于获得的Bayer格式数据，计算画面对应的亮度值；基于亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定画面是否为过曝画面。过曝抑制方法包括：当确定成像传感器采集到的画面为过曝画面时，计算画面的当前曝光值；基于预设期望曝光值和当前曝光值，计算画面对应的拍摄图像的实际曝光值；根据预设期望曝光值和实际曝光值的数值关系，确定曝光参数的调整量，并按照调整量调整曝光参数。与现有技术相比，应用本发明实施例提供的方案，能够提高过曝检测的准确率，进而取得更好的过曝抑制效果。

Description

一种过曝检测方法、装置及一种过曝抑制方法、装置
技术领域
本发明涉及摄像技术领域，特别是涉及一种过曝检测方法、装置及电子设备，以及一种过曝抑制方法、装置及电子设备。
背景技术
在摄像技术领域，曝光也可以称为曝光度，是指在摄影的过程中允许进入镜头，并照在感光媒体(胶片相机的底片或是数码照相机的图像传感器)上的光量，其可以通过光圈、快门和感光媒体的感光度来控制。当曝光度被控制在合理范围内时，可以使拍摄得到的照片对比度强、亮度适中，具有较高的质量。而当拍摄时出现光圈较大、快门过慢等情况时，会导致曝光时间过长或面积过大，从而产生过曝现象，使拍摄得到的照片亮度过高、画面泛白，质量较差。
因此，为了获得质量较高的照片，在成像传感器采集到画面后，需要检测该画面是否过曝，并根据过曝检测结果，对画面的曝光情况进行调整，以使拍摄得到的照片具有较高的质量。
当前，常用的过曝检测方法为：将成像传感器采集到的画面转化为灰度图，并将该灰度图划分为多个测光单元；判断每个测光单元中灰度值介于预设数值和255之间的像素点的个数是否大于预设阈值；当大于预设阈值时，判断该测光单元是否位于红外补光区域且该红外补光区域存在运动物体，当满足上述两个条件时，说明该测光单元存在过曝现象。
然后，在上述曝光检测方法中，由于灰度图的位深限制，因此在将成像传感器采集到的画面转化为灰度图的过程中，需要对画面数据进行压缩，进而导致损失大量的画面信息，造成过曝检测的准确率较低。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种过曝检测方法、装置及电子设备，以实现提高过曝检测的准确率。本发明实施例还提供了一种过曝抑制方法、装置及电子设备，以实现在上述过曝检测方法的基础上取得更好的过曝抑制效果。
具体技术方案如下：
第一方面，本发明实施例提供了一种过曝检测方法，所述方法包括：
获得成像传感器采集到的画面中每个像素点的拜尔Bayer格式数据；
基于所述每个像素点的Bayer格式数据，计算所述画面对应的亮度值，其中，所述亮度值为：用于表征所述画面曝光程度的数值；
基于所述亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定所述画面是否为过曝画面。
作为本发明实施例的一种实施方式，所述基于所述每个像素点的Bayer格式数据，计算所述画面对应的亮度值的步骤，包括：
将所述画面划分为多个区块；
针对每一区块，基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据，计算该区块对应的第一亮度值，其中，所述第一亮度值为：用于表征该区块的曝光程度的数值；
基于所述多个区块对应的第一亮度值，计算所述画面对应的亮度值。
作为本发明实施例的一种实施方式，所述针对每一区块，基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据，计算该区块对应的第一亮度值的步骤，包括：
针对每一区块，计算该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值；
针对每一区块，基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，确定该区块对应的第一亮度值。
作为本发明实施例的一种实施方式，所述针对每一区块，基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，确定该区块对应的第一亮度值的步骤，包括：
针对每一区块，将该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，作为该区块对应的第一亮度值；或，
针对每一区块，将该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，与该区块对应的曝光权重相乘，并将相乘所得到的乘积作为该区块对应的第一亮度值。
作为本发明实施例的一种实施方式，所述画面的区块的数量为m*n；
每个区块对应的曝光权重按照预设公式计算得到，其中，所述预设公式为：
Figure BDA0001757287820000031
其中，Kij为画面中位于第i行第j列的区块的曝光权重。
作为本发明实施例的一种实施方式，所述基于所述多个区块对应的第一亮度值，计算所述画面对应的亮度值的步骤，包括：
计算所述多个区块对应的第一亮度值的平均值，将计算得到的平均值作为所述画面对应的亮度值。
作为本发明实施例的一种实施方式，所述基于所述亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定所述画面是否为过曝画面的步骤，包括：
判断所述亮度值是否大于预设过曝阈值；
如果大于，确定所述画面为过曝画面；
否则，确定所述画面为正常曝光画面。
第二方面，本发明实例提供了一种基于上述第一方面提供的一种过曝检测方法的过曝抑制方法，所述方法包括：
当确定成像传感器采集到的画面为过曝画面时，计算所述画面的当前曝光值；
基于预设曝光系数和所述当前曝光值，计算所述画面对应的拍摄图像的实际曝光值，其中，所述预设曝光系数为：用于表征所述画面与所述画面对应的拍摄图像的位深差距的数值；
根据预设期望曝光值和所述实际曝光值的数值关系，确定曝光参数的调整量，其中，所述期望曝光值为：基于当前光照情况，所期望得到的所述成像传感器采集到的画面对应的拍摄图像的曝光值；
按照所述调整量调整曝光参数。
作为本发明实施例的一种实施方式，所述计算所述画面的当前曝光值的步骤，包括：
针对所述画面中的每一区块，基于该区块对应的第一亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定该区块是否为非过曝区块；其中，所述画面被划分为多个区块，且每一区块对应的第一亮度值为基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据所确定的；
计算所确定的各个非过曝区块的第一亮度值的和，作为所述画面的当前曝光值。
作为本发明实施例的一种实施方式，所述针对所述画面中的每一区块，基于该区块对应的第一亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定该区块是否为非过曝区块的步骤，包括：
针对所述画面中的每一区块，判断该区块对应的第一亮度值是否大于预设过曝阈值；
如果大于，确定该区块为过曝区块；
否则，确定该区块为非过曝区块。
作为本发明实施例的一种实施方式，所述根据所述预设期望曝光值和所述实际曝光值的数值关系，确定曝光参数的调整量的步骤，包括：
根据所述预设期望曝光值和所述实际曝光值的数值的倍数关系，确定曝光参数的调整量。
作为本发明实施例的一种实施方式，其特征在于，所述曝光参数包括以下参数中的一种或多种：增益、快门和光圈。
第三方面，本发明实施例提供了一种过曝检测装置，所述装置包括：
数据获得模块，用于获得成像传感器采集到的画面中每个像素点的Bayer格式数据；
亮度值计算模块，用于基于所述每个像素点的Bayer格式数据，计算所述画面对应的亮度值，其中，所述亮度值为：用于表征所述画面曝光程度的数值；
画面确定模块，用于基于所述亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定所述画面是否为过曝画面。
第四方面，本发明实施例提供了一种基于上述第一方面提供的一种过曝检测方法的过曝抑制装置，所述装置包括：
当前曝光值计算模块，用于当确定成像传感器采集到的画面为过曝画面时，计算所述画面的当前曝光值；
实际曝光值计算模块，用于基于预设曝光系数和所述当前曝光值，计算所述画面对应的拍摄图像的实际曝光值，其中，所述预设曝光系数为：用于表征所述画面与所述画面对应的拍摄图像的位深差距的数值；
调整量计算模块，用于根据预设期望曝光值和所述实际曝光值的数值关系，确定曝光参数的调整量，其中，所述期望曝光值为：基于当前光照情况，所期望得到的所述成像传感器采集到的画面对应的拍摄图像的曝光值；
镜头调整模块，用于按照所述调整量调整曝光参数。
第五方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
存储器，用于存放计算机程序；
处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现上述第一方面提供的一种过曝检测方法中任一所述的方法步骤。
第六方面，本发明实施例还提供了另一种电子设备，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
存储器，用于存放计算机程序；
处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现上述第二方面提供的一种过曝抑制方法中任一所述的方法步骤。
第七方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面提供的一种过曝检测方法中任一所述的方法步骤。
第八方面，本发明实施例还提供了另一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第二方面提供的一种过曝抑制方法中任一所述的方法步骤。
以上可见，本发明实施例提供的过曝抑制方法中，在对成像传感器采集到的画面进行过曝检测时，不需要将画面转化为灰度图，从而不需要对该画面进行压缩，因此，在过曝检测过程中画面信息不会丢失，可以基于全部的画面信息对画面进行过曝检测，进而能够提高过曝检测的准确率。
进而，在上述过曝检测方法的检测结果的基础上，采用过曝抑制方法对过曝画面进行过曝抑制，能够取得更好的过曝抑制效果。此外，本发明实施例提供的过曝抑制方法中，根据预设期望曝光值和实际曝光值之间的数据关系，可以定量确定曝光参数的调整量，进而按照该确定的调整量调整曝光参数对画面进行过曝抑制，提高了过曝抑制的准确性和效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种过曝检测方法的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的一种过曝抑制方法的流程示意图；
图3为本发明实施例提供的一种过曝检测装置的结构示意图；
图4为本发明实施例提供的一种过曝抑制装置的结构示意图；
图5为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图；
图6为本发明实施例提供的另一种电子设备的结构示意图；
图7为本发明实施例提供的一种将成像传感器采集到的画面划分为多个区块的方式的示意图；
图8为本发明实施例提供的一种电子设备的曝光参数调整顺序的示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在当前常用的曝光检测方法中，由于灰度图的位深限制，因此在将成像传感器采集到的画面转化为灰度图的过程中，需要对画面数据进行压缩，进而导致损失大量的画面信息，造成过曝检测的准确率较低。为了提高过曝检测的准确率，进而，取得更好的过曝抑制效果，本发明实例提供了一种过曝检测方法、装置及电子设备以及一种过曝抑制方法、装置及电子设备。
需要说明的是，本发明实施例提供的方案应用于任何可以进行拍照或录影的电子设备，例如，手机、平板电脑、摄像机等，以下简称电子设备。例如，当用户使用照相机进行拍照时，在成像传感器采集到的画面后，首先对该画面进行过曝检测，判断该画面是否为过曝画面，进而，当该画面为过曝画面时，对该画面进行过曝抑制。也就是说，本发明实施例提供的过曝检测方法和过曝抑制方法应用于同一电子设备，过曝抑制方法是基于过曝检测方法的检测结果进行的。当对成像传感器采集到的画面的检测结果为画面曝光正常时，可以不继续进行过曝抑制。
为了便于理解本发明实施例提供的方案，下面对本发明实施例涉及到的有关电子设备拍摄图像的过程进行简要说明。
电子设备的镜头在对拍摄对象进行取景后，成像传感器会基于镜头所取景的内容生成画面，该画面即为成像传感器采集到的画面，此时，画面的格式为Bayer格式，其后缀名为.raw。
其中，Bayer格式可以理解为电子设备拍摄得到的图像的最原始的画面格式，在Bayer格式画面中，每个像素点只有一种颜色信息。不同的电子设备对应的Bayer格式的位深不同，其范围在10位-16位之间。
接着，成像传感器将该画面输出给电子设备用于图像处理的芯片，例如，ISP(In-System Programming，内部存贮程序)芯片等。这些用于图像处理的芯片可以将上述Bayer格式的画面转化为其他格式的图像，例如，.jpeg格式等，并将格式转换后的图像保存电子设备的存储空间中。此时，这些被存储的图像即为电子设备拍摄得到的图像，可以简称为拍摄图像，可以理解的，这些拍摄图像分别与拍摄该图像时成像传感器采集到的画面相对应。
需要说明的是，由于当前技术发展的限制，电子设备拍摄得到的图像的位深通常为8位，也就是说，上述用于图像处理的芯片在进行上述图像转换时，会对成像传感器采集到的画面进行数据压缩，从而造成画面信息的丢失。因此，为了减少画面信息的丢失，使画面过曝检测的结果更加准确，本发明实施例提供的方案是基于成像传感器采集到的画面的Bayer格式数据进行的。
下面首先对本发明实施例提供的一种过曝检测方法进行介绍。
图1为本发明实施例提供的一种过曝检测方法的流程示意图，如图1所示，该过曝检测方法可以包括如下步骤：
S101：获得成像传感器采集到的画面中每个像素点的Bayer格式数据。
根据上述对电子设备拍摄图像的过程的说明，则在镜头对拍摄画面进行取景后，电子设备便可以获得成像传感器针对镜头所取景的内容采集到的画面，以及该画面中每个像素点的Bayer格式数据。
S102：基于每个像素点的Bayer格式数据，计算画面对应的亮度值。
其中，亮度值为：用于表征画面曝光程度的数值。
在获得上述画面的各个像素点的Bayer格式数据后，电子设备便可以基于所获得的每个像素点的Bayer格式数据，计算该画面对应的亮度值。其中，计算得到的亮度值可以用于表征画面的曝光程度。可以理解的，画面对应的亮度值越大说明该画面的曝光程度越大，反之，说明该画面的曝光程度越小。
具体的，电子设备可以通过多种方式计算画面对应的亮度值，例如，计算该画面中所有像素点的Bayer格式数据的平均值，将该平均值作为画面对应的亮度值；又例如，计算该画面中所有像素点的Bayer格式数据的和值，进而计算该和值与设定的修正系数的乘积，并将计算得到的乘积作为该画面对应的亮度值。当然，还可以有其他计算画面对应的亮度值的方式，这都是合理的，为了行文清晰，后续会对电子设备计算画面对应的亮度值的方式进行举例介绍。
S103：基于亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定画面是否为过曝画面。
在计算得到画面对应的亮度值后，电子设备便可以基于画面对应的亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定该画面是否为过曝画面。其中，过曝阈值可以根据实际应用中对拍摄到的图像明亮程度的需求进行设定，当对拍摄到的图像明亮程度的需求较高时，过曝阈值可以较大，反之，过曝阈值可以较小。通常可以下面的公式设定过曝阈值设置的大小：
λ＝α*2n
其中，λ为过曝阈值，α为设置系数，n为该电子设备对应的Bayer格式数据的位深。需要说明的是，上述公式中，α在大多情况下可以是80％，当然，α也可以是75％、90％或其他能够满足实际需要的数值，这都是合理的。
可选的，一种具体实现方式中，上述步骤S103可以包括：
判断亮度值是否大于预设过曝阈值；
如果大于，确定画面为过曝画面；
否则，确定画面为正常曝光画面。
也就是说，在本实现方式中，电子设备在计算得到画面对应的亮度之后，可以判断该亮度值与预设过曝阈值的数值大小，并根据二者的数据大小关系，确定电子设备的后续操作。
具体的，如果该亮度值大于预设过曝阈值，则可以确定该画面为过曝画面，需要对该画面进行过曝抑制，调节该画面对应的亮度值不大于预设过曝阈值，进而拍摄该画面，得到该画面对应的拍摄图像；如果该亮度值不大于预设过曝阈值，则可以确定该画面为正常曝光画面，不需要对该画面进行过曝抑制，可以直接拍摄该画面，得到该画面对应的拍摄图像。
以上可见，本发明实施例提供的过曝抑制方法中，在对成像传感器采集到的画面进行过曝检测时，不需要将画面转化为灰度图，从而不需要对该画面进行压缩，因此，在过曝检测过程中画面信息不会丢失，可以基于全部的画面信息对画面进行过曝检测，进而能够提高过曝检测的准确率。
下面，对上述步骤S102，基于每个像素点的Bayer格式数据，计算画面对应的亮度值的方式进行举例介绍。
可选的，一种具体实现方式中，上述步骤S102可以包括：
步骤A1：将画面划分为多个区块；
在获得成像传感器针对镜头所取景的内容采集到的画面，以及该画面中每个像素点的Bayer格式数据后，电子设备可以将该画面划分为多个区块，可以理解的，每个区块中可以包括多个像素点。
需要说明的是，划分后的多个区块互相之间没有重复的部分，且该多个区块包括了该画面的全部内容，这些区块中的像素点包括了该画面的全部像素点。具体的，电子设备可以采用多种方式将画面划分为多个区块，这都是合理的。
例如，电子设备可以随机地将该画面划分成多个区块，这些区块的大小不一、形状不一，可以包括相同数量的像素点，也可以包括不同数量的像素点。
又例如，电子设备可以按照预设的区块大小，将画面划分为大小相同、形状相同的区块，这些区块包括相同数量的像素点，如图7所示，在画面的高度上进行m均分，将画面均分为m行，在画面的宽度上进行n均分，将画面均分为n列，从而将画面划分为m*n个区块；其中，Aij为区块的编号，1≤i≤m，1≤j≤n。
举例来说，在这种区块划分方式中，每个区块包括的像素点的数量可以是16*16个，或8*8个。其中，每个区块包括的像素点的数量是16*16个表示该区块中有16个像素行，每行包括16个像素点；类似的，每个区块包括的像素点的数量是8*8个表示该区块中有8个像素行，每行包括8个像素点。
步骤A2：针对每一区块，基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据，计算该区块对应的第一亮度值，其中，第一亮度值为：用于表征该区块的曝光程度的数值；
将画面划分为多个区块后，针对每一区块，电子设备便可以基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据，计算该区块对应的第一亮度值。其中，计算得到的第一亮度值可以用于表征该区块的曝光程度。可以理解的，区块对应的第一亮度值越大说明该区块的曝光程度越大，反之，说明该区块的曝光程度越小。
具体的，针对每一区块，电子设备可以通过多种方式计算该区块对应的第一亮度值，例如，计算该区块中所有像素点的Bayer格式数据的和值，将该和值作为该区块对应的第一亮度值；又例如，在计算该区块中所有像素点的Bayer格式数据的和值后，将该和值与设定的修正系数相乘，将计算得到的乘积作为该区块对应的亮度值。当然，还可以有其他计算各个区块对应的第一亮度值的方式，这都是合理的。为了行文清晰，后续会对电子设备计算各个区块对应的第一亮度值的方法进行举例介绍。
步骤A3：基于多个区块对应的第一亮度值，计算画面对应的亮度值。
在计算得到多个区块对应的第一亮度值后，电子设备便可以基于该多个区块对应的第一亮度值，计算画面对应的亮度值。
具体的，电子设备可以通过多种方式计算画面对应的亮度值，例如，计算该多个区块对应的第一亮度值的和值，将该计算得到的和值作为画面对应的第一亮度值，又例如，计算该多个区块对应的第一亮度值的平均值，将该计算得到的平均值作为画面对应的亮度值。
当然，还可以有其他基于多个区块对应的第一亮度值，计算画面对应的亮度值的方式，这都是合理的。
下面，对上述步骤A2，针对每一区块，基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据，计算该区块对应的第一亮度值的方式进行举例说明：
可选的，一种具体实现方式中，上述步骤A2可以包括：
步骤B1：针对每一区块，计算该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值；
步骤B2：针对每一区块，基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，确定该区块对应的第一亮度值。
在本实现方式中，将获得的成像传感器采集到的画面划分为多个区块后，针对每一区块，电子设备便可以计算该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，进而，可以基于该计算得到的平均值，确定该区块对应的第一亮度值。
可选的，一种具体实现方式中，针对每一区块，电子设备可以直接将计算得到的该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，作为该区块对应的第一亮度值。
可选的，另一种具体实现方式中，针对每一区块，电子设备还可以在计算得到该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值后，将该计算得到的平均值与该区块对应的曝光权重相乘，并将相乘所得到的乘积作为该区块对应的第一亮度值。具体的，可以通过如下公式计算各个区块对应的第一亮度值：
Ah＝Bayerh*Kh
其中，Ah为第h个区块对应的第一亮度值，1≤h≤H，H为上述多个区块的数量，Bayerh为第h个区块中每个像素点的Bayer值的平均值，Kh为第h个区块的曝光权重。
进一步的，如果该画面对应的亮度值的计算方式是：计算该多个区块对应的第一亮度值的平均值，将该计算得到的平均值作为画面对应的亮度值，则可以通过如下公式计算画面对应的亮度值，其中，L1为画面对应的亮度值：
Figure BDA0001757287820000121
具体的，当电子设备将成像传感器采集到的画面按照如图7所示的方式划分为多个区块时，便可以通过如下公式计算该画面对应的亮度值：
其中，Aij为画面中位于第i行第j列的区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，Kij为画面中位于第i行第j列的区块的曝光权重。
可选的，一种具体实现方式中，针对每一个区块，该区块的曝光权重可以是预先设置好的，这样，电子设备在获得成像传感器采集到的画面，并对该画面划分为多个区块后，便可以获得该多个区块中各个像素点的Bayer格式数据及该多个区块中每个区块的曝光权重。
在本实现方式中，各个区块的曝光权重可以根据用户观看该画面对应的拍摄图像时，对拍摄图像不同位置的关注程度进行设置，例如，对于用户关注程度高的位置，位于该位置的区块的曝光权重可以较高，反之，则可以较低。
具体的，当电子设备将成像传感器采集到的画面按照如图7所示的方式划分为多个区块时，每个区块对应的曝光权重可以按照预设公式计算得到，该预设公式可以如下所示：
其中，Kij为画面中位于第i行第j列的区块的曝光权重。
当然，除上述预设公式外，其他任意能够对成像传感器采集到的画面划分后的每个区块曝光权重进行预设的方式均属于本发明实施例的保护范围。
由于每个区块的曝光权重是预先设置好的，因此，为了保证在电子设备在将上述画面划分为多个区块后，得到的每个区块的曝光权重可以符合预先设置好的各个区块的曝光权重，则电子设备预先设置了将上述画面划分为多个区块时的划分方式，进而预先设置了划分得到的多个区块形状和大小。也就是说，如果不重新设置各个区块的曝光权重，则对于每次成像传感器采集到的画面，电子设备在对其进行过曝检测时，均可以按照固定的、预先设置好的划分方式，将该画面划分为固定的、预先设置好大小和形状的区块。
可以理解的，对于不同的拍摄对象，用户对拍摄图像的不同位置的关注程度可以不同，因此，当拍摄对象不同时，对成像传感器采集到的画面进行划分的方式可以不同。这种情况下，在拍摄不同的对象时，每次对成像传感器采集到的画面进行划分后，得到的区块的数量、各个区块的大小以及各个区块的形状可以是不同的，从而每个区块的拍摄权重也就可以是不同。
进而，可选的，在一种具体实现方式中，电子设备可以在将成像传感器采集到的画面划分为多个区块后，根据实际应用中用户对每个区块的关注程度设置各个区块的曝光权重。这样，电子设备便可以将该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，与该区块对应的曝光权重相乘，并将相乘所得到的乘积作为该区块对应的第一亮度值。显然，在本实现方式中，可以保证针对不同的拍摄对象，对成像传感器采集到的画面的进行过曝检测的结果更加合理。
对应于上述本发明实例提供的一种过曝检测方法，本发明实例还提供了一种过曝抑制方法。
图2为本发明实施例提供的一种过曝抑制方法的流程示意图。需要说明的是，该方法是在确定成像传感器采集到的画面为过曝画面时进行的。当成像传感器采集到的画面采集到的画面被确定为过曝画面时，为了能够获取高质量的拍摄图像，则需要对该画面进行过曝抑制，调节该画面对应的亮度值不大于预设过曝阈值，进而拍摄该画面，得到该画面对应的拍摄图像。如图2所示，该过曝抑制方法可以包括以下步骤：
S201：计算画面的当前曝光值；
在确定成像传感器采集到的画面为过曝画面时，电子设备可以计算该画面的当前曝光值。
具体的，电子设备可以通过多种方式计算上述画面的当前曝光值。例如，可以理解的，在上述步骤S201中，电子设备可以获得该画面中各个像素点的Bayer格式数据，则电子设备可以基于该各个像素点的Bayer格式数据计算该画面的当前曝光值，举例而言，可以计算该画面中所有像素点的Bayer格式数据的和值，并将该和值作为该画面的当前曝光值。又例如，电子设备可以根据成像传感器采集该画面时，电子设备的曝光参数来计算该画面的当前曝光值，举例而言，可以根据成像传感器采集该画面时，电子设备的增益、光圈以及快门来计算该画面的当前曝光值。当然，还可以有其他计算上述画面的当前曝光值的方式，这都是合理的，为了行文清晰，后续会对电子设备计算上述画面的当前曝光值的方式进行举例说明。
S202：基于预设曝光系数和当前曝光值，计算画面对应的拍摄图像的实际曝光值。其中，预设曝光系数为：用于表征画面与画面对应的拍摄图像的位深差距的数值。
S203：根据预设期望曝光值和实际曝光值的数值关系，确定曝光参数的调整量。其中，期望曝光值为：基于当前光照情况，所期望得到的成像传感器采集到的画面对应的拍摄图像的曝光值。
具体的，曝光参数包括以下参数中的一种或多种：增益、快门和光圈。
S204：按照调整量调整曝光参数。
在计算得到上述画面的当前曝光值后，电子设备便可以基于预设曝光系数和当前曝光值，计算上述画面对应的拍摄图像的实际曝光值。进而，便可以根据预设期望曝光值和实际曝光值的数值关系，确定曝光参数的调整量，并按照该调整量调整曝光参数。为了行文清晰，后续会对步骤S202-S203的具体执行方式进行举例介绍。
以上可见，本发明实施例提供的方案中，在过曝检测方法的检测结果的基础上，采用过曝抑制方法对过曝画面进行过曝抑制，能够取得更好的过曝抑制效果。此外，本发明实施例提供的过曝抑制方法中，根据预设期望曝光值和实际曝光值之间的数据关系，可以定量确定曝光参数的调整量，进而按照该确定的调整量调整曝光参数对画面进行过曝抑制，提高了过曝抑制的准确性和效率。
可以理解的，在用户使用电子设备对拍摄对象进行拍摄，得到拍摄图像时，可以根据当前的光照情况，通过数学计算，得到一个预期的曝光值，该预期的曝光值的意义在于，当用户实际拍摄得到的拍摄图像的曝光值与该预期的曝光值相同，或存在较小差异时，此时得到的拍摄图像的质量最高或较高。这个用户通过经验或者数学计算得到的预期的曝光值即为上述步骤S203中的预设期望曝光值，可以理解成，基于当前光照情况，所期望得到的成像传感器采集到的画面对应的拍摄图像的曝光值。
需要说明的是，根据上述对电子设备拍摄图像的过程的说明，成像传感器采集到的画面为Bayer格式，其位深在10位-16位之间，而图像处理芯片对成像传感器采集到的画面进行处理后得到的拍摄图像的位深为8位，因此，成像传感器采集到的画面的位深与该画面对应的拍摄画面的位深存在量级上的差距，显然，该差距可以用上述曝光系数表征。进一步的，而在上述步骤S201中，电子设备计算得到的是成像传感器采集到的画面的当前曝光值，而在步骤S203中，期望曝光值是成像传感器采集到的画面对应的拍摄图像的曝光值，则上述当前曝光值与上述期望曝光值之间存在量级上的差距，进而，上述曝光系数也可以用来表征，上述当前曝光值与上述期望曝光值之间的差距。
这样，便可以将计算得到的成像传感器采集到的画面的当前曝光值通过曝光系数转化为该画面对应的拍摄图像的实际曝光值，以使得该实际曝光值与步骤S203中的期望曝光值实现量级上的统一，进而，电子设备可以执行步骤S203，根据预设期望曝光值和实际曝光值的数值关系，确定曝光参数的调整量。
可选的，一种具体实现方式中，电子设备可以根据如下公式计算曝光系数：
其中，k为曝光系数，L′1为成像传感器采集到的画面曝光正常时画面对应的亮度值，T1为预设期望曝光值。
也就是说，在当前光照强度下，用户可以实现通过多次尝试，使得成像传感器采集到的画面曝光正常，进而，电子设备便可以根据该曝光正常画面对应的亮度值，以及当前光照强度下的预设期望曝光值计算曝光系数。
需要说明的是，在本实现方式中，电子设备在根据上述公式计算曝光系数时，在成像传感器采集到的画面曝光正常时，也可以采用与上述计算画面对应的亮度值相似的方法计算该曝光正常的画面对应的亮度值，即L′1，进而根据计算得到的L′1计算曝光系数。
具体的，当电子设备将成像传感器采集到的曝光正常的画面按照如图7所示的方式划分为多个区块，且每个区块具有曝光权重时，便可以通过如下公式计算该画面对应的亮度值：
Figure BDA0001757287820000162
其中，A'ij为该曝光正常的画面中位于第i行第j列的区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，K'ij为该曝光正常的画面中位于第i行第j列的区块的曝光权重。则
Figure BDA0001757287820000171
可选的，另一种实现方式中，电子设备也可以根据电子设备的成像传感器对应的Bayer格式位深以及得到的拍摄图像的位深，确定上述曝光系数。
具体的，电子设备可以通过以下公式计算曝光系数：
Figure BDA0001757287820000172
其中，β为固定系数，Bm为得到的拍摄图像的位深，Bs为电子设备的成像传感器对应的Bayer格式位深。
需要说明的是，曝光系数也可以理解为：用于表示上述当前曝光值与上述期望曝光值之间的映射关系的系数，显然，当电子设备的成像传感器和图像处理芯片确定时，该电子设备的曝光系数是确定的。
根据上述说明，下面分别对上述步骤S201-S203的执行方式进行举例介绍。
可选的，一种具体实现方式中，上述步骤S201可以包括：
步骤C1：针对画面中的每一区块，基于该区块对应的第一亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定该区块是否为非过曝区块；其中，画面被划分为多个区块，且每一区块对应的第一亮度值为基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据所确定的。
可以理解的，上述步骤C1中，在确定某个区块为过曝区块时，由于后续方案中不涉及该过曝区块，则可以在确定了过曝区块后，将过曝区块的相关信息删除，从而节省内存空间。
可选的，一种具体实现方式中，上述步骤C1，确定针对画面中的每一区块是否为非过曝区块的方式可以是：针对画面中的每一区块，判断该区块对应的第一亮度值是否大于预设过曝阈值；如果大于，确定该区块为过曝区块；否则，确定该区块为非过曝区块。
需要说明的是，一种情况中，如果在确定该画面是否为过曝画面时，电子设备已经将该画面划分为多个区块，并计算了每个区块对应的第一亮度值，则在步骤C1中，针对该画面中的每一区块，电子设备便可以直接基于该区块对应的第一亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定该区块是否为非过曝区块。在这种情况中，预设过曝阈值与上述本发明实施例提供的一种过曝检测方法中的预设过曝阈值相同。
另一种情况中，如果在确定该画面是否为过曝画面时，电子设备并没有对该画面进行区块划分，则在步骤C1中，电子设备需要首先将该画面划分为多个区块，并计算每个区块对应的第一亮度值，进而根据每个区块对应的亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定该区块是否为非过曝区块。可以理解的，在这种情况中，电子设备将画面划分为多个区块并计算每个区块对应的第一亮度值的方式可以与上述本发明实施例提供的一种过曝检测方法中电子设备将画面划分为多个区块并计算每个区块对应的第一亮度值的方式相同，这里不再赘述。
在这种情况中，与上述过曝检测方法相同的是，过曝阈值也可以根据实际应用中对拍摄到的图像明亮程度的需求进行设定，当对拍摄到的图像明亮程度的需求较高时，过曝阈值可以较大，反之，过曝阈值可以较小。同样的，也可以下面的公式设定过曝阈值设置的大小：
λ＝α*2n
其中，λ为过曝阈值，α为设置系数，n为该电子设备对应的Bayer格式数据的位深。需要说明的是，上述公式中，α在大多情况下可以是80％，当然，α也可以是75％、90％或其他能够满足实际需要的数值，这都是合理的。
步骤C2：计算所确定的各个非过曝区块的第一亮度值的和，作为画面的当前曝光值。
具体的，可以通过以下公式计算画面的当前曝光值：
其中，L2为画面的当前曝光值，Ah′为第h′个非过曝区块对应的第一亮度值，1≤h′≤H′，H′为所确定的非过曝区块的数量，可以理解的，H′≤H。
具体的，当每个非过曝区块对应的第一亮度是通过该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值与该区块的曝光权重进行乘积运算得到时，也可以通过以下公式计算画面的当前曝光值：
Figure BDA0001757287820000192
其中，Bayerh′为第h′个非过曝区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，Kh′为第h′个非过曝区块的曝光权重。
可选的，一种具体实现方式中，在上述步骤S202中，电子设备可以通过如下公式计算上述画面对应的拍摄图像的实际曝光值：
Figure BDA0001757287820000193
其中，T2为上述画面对应的拍摄图像的实际曝光值，L2为上述画面的当前曝光值，k为预设曝光系数。
可选的，一种具体实现方式中，根据上述曝光系数的计算方法，上述画面对应的拍摄图像的实际曝光值也可以通过如下公式计算得到：
Figure BDA0001757287820000194
可选的，一种具体实现方式中，在上述步骤S203中，电子设备可以根据预设期望曝光值和实际曝光值的数值的倍数关系，确定曝光参数的调整量。
需要说明的是，在本发明实施例中，曝光参数可以是增益、光圈和快门中的一种或几种，因此，在本实现方式中，电子设备可以根据预设期望曝光值和实际曝光值的数值的倍数关系，确定增益、光圈和快门中一种或几种的调整量。
例如，假设期望曝光值的数值是实际曝光值的数值的二分之一时，当需要调整的曝光参数为增益时，则可以确定增益的调整量为当前增益的二分之一；
当需要调整的曝光参数为光圈时，由于光圈F值相邻时，电子设备的光圈处于这两个F值所对应的档位时，同一单位时间内的进光量相差一倍，且当光圈F值越小时，电子设备在同一单位时间内的进光量越大，光圈的每个F值代表着光圈的一个档位，则在这种情况下，可以确定光圈的调整量为1个档位，且是所对应的光圈F值增大的档位；
当需要调整的曝光参数为快门时，由于相邻两级的快门速度所对应的电子设备的曝光量相差一倍，且快门速度越慢，所对应的电子设备的曝光量越大，则在这种情况下，可以确定快门的调整量为1级，且是所对应的快门速度增大的快门级别。
可以理解的，很多时候需要通过多次曝光抑制才能够将成像传感器由过曝状态调整为曝光正常状态，因此，在这个过程中需要多次确定曝光参数的调整量，并按照每次确定的曝光参数调整量来调整曝光参数。那么，将很容易出现，当需要继续调整某个曝光参数，该曝光参数已经调整为0，或者已经调整到一个预设的极限位置，不能够继续进行调整的情况，因此，需要对另外的曝光参数的调整量进行确定，并按照该调整量调整曝光参数。也就是说，根据不同的电子设备，可以确定多个曝光参数的调整顺序，以及每个曝光参数的调整条件。
例如，如图8所示，在对某电子设备的成像传感器采集到的画面进行过曝抑制时，首先确定该电子设备增益的调整量，按照该调整量调整增益。如果当该电子设备的增益已经调整到预设的无损增益点Gu时，该电子设备的成像传感器采集到的画面仍然为过曝画面，则确定该电子设备光圈的调整量，按照该调整量调整光圈。如果当该电子设备的光圈已经调整到预设的最佳景深光圈Ib时，该电子设备的成像传感器采集到的画面仍然为过曝画面，则再次确定该电子设备增益的调整量，按照该调整量调整增益。如果当该电子设备的增益已经调整到0时，该电子设备的成像传感器采集到的画面仍然为过曝画面，则确定该电子设备快门的调整量，并按照该调整量，调整快门。
可以理解的，在上述图8所示的例子中，电子设备对过曝画面的过曝抑制过程可以包括针对一个曝光参数确定一次调整量，也可以是针对一个曝光参数确定多次调整量，还可以是针对多个曝光参数确定多次调整量，这都是合理的。
需要说明的是，上述图8所示的例子仅用来做具体举例说明，并不是对本发明实施例的限制，事实上，针对不同的电子设备，上述不同曝光参数的调整顺序可以不同。
又例如，当曝光参数为快门时，由于在正常情况下，快门的调节步长可以在千分之一秒级别，因此，当实际曝光值的数不是期望曝光值的数值的整数倍，电子设备也可以确定快门的调整量。
具体的，在这种情况下，可以通过如下公式计算快门的调整量：
Figure BDA0001757287820000211
其中，ST为快门的调整量，Ss为快门的调节步长，T1为期望曝光值，T2为实际曝光值。
根据上述说明，本发明实施例提供的过曝抑制方法可以定量调节曝光参数，提高过曝抑制的方向性和准确性。同时，当仅对一个曝光参数确定一次调整量即可实现过曝抑制时，还提高了过曝抑制的效果。
此外，正常情况下，快门调节步长可以在千分之一秒级别，增益调节步长可以在百分之一dB(Decibel，分贝)。在本发明实施例提供的过曝抑制方法中，可以通过快门和增益的搭配使用，以使得成像传感器采集到的画面的曝光度的调节步长可以精细到十万分之一以上，因此，即使对于位深度最高的CMOS成像传感器(16bit：0-65536)也能够完全覆盖其统计信息的最小变化值，进而，这种过曝抑制曝光调节可以认为是能够做到完全线性的。也就是说，在过曝抑制过程中，增益和快门可以实现无极变化，以使得过曝抑制时不会出现画面曝光闪烁的问题。
需要说明的是，上述本发明实施例提供了一种过曝检测方法和一种过曝抑制方法，然而，在实际应用中，可以是在采用本发明实施例提供的过曝检测方法确定成像传感器采集到的画面为过曝画面时，采用本发明实施例提供的过曝抑制方法对该画面的曝光度进行抑制，将该画面的曝光度调整为满足正常曝光的曝光度；也可以是，在采用本发明实施例提供的过曝检测方法确定成像传感器采集到的画面为过曝画面时，采用其他的过曝抑制方法对该画面的曝光度进行抑制，将该画面的曝光度调整为满足正常曝光的曝光度；还可以是，在采用其他过曝检测方法确定成像传感器采集到的画面为过曝画面时，采用本发明实施例提供的过曝抑制方法对该画面的曝光度进行抑制，将该画面的曝光度调整为满足正常曝光的曝光度。这都是合理的。也就是说，本发明实施例提供的一种过曝检测方法和一种过曝抑制方法可以单独进行。
对应于上述本发明实施例提供的一种过曝检测方法，本发明实施例还提供了一种过曝检测装置。
图3为本发明实施例提供的一种过曝检测装置的结构示意图，如图3所示，该过曝检测装置可以包括以下模块：
数据获得模块310，用于获得成像传感器采集到的画面中每个像素点的Bayer格式数据；
亮度值计算模块320，用于基于每个像素点的Bayer格式数据，计算画面对应的亮度值，其中，亮度值为：用于表征画面曝光程度的数值；
画面确定模块330，用于基于亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定画面是否为过曝画面。
以上可见，本发明实施例提供的过曝抑制方法中，在对成像传感器采集到的画面进行过曝检测时，不需要将画面转化为灰度图，从而不需要对该画面进行压缩，因此，在过曝检测过程中画面信息不会丢失，可以基于全部的画面信息对画面进行过曝检测，进而能够提高过曝检测的准确率。
作为本发明的一种实施方式，上述亮度值计算模块320可以包括：
画面划分子模块(图3中未示出)，用于将画面划分为多个区块；
第一亮度值计算子模块(图3中未示出)，用于针对每一区块，基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据，计算该区块对应的第一亮度值，其中，第一亮度值为：用于表征该区块的曝光程度的数值；
亮度值计算子模块(图3中未示出)，用于基于多个区块对应的第一亮度值，计算画面对应的亮度值。
作为本发明实施例的一种实施方式，上述第一亮度值计算子模块(图3中未示出)可以包括：
平均值计算单元(图3中未示出)，用于针对每一区块，计算该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值；
第一亮度值确定单元(图3中未示出)，用于针对每一区块，基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，确定该区块对应的第一亮度值。
作为本发明实施例的一种实施方式，上述第一亮度值确定单元(图3中未示出)可以包括：
第一确定子单元(图3中未示出)，用于针对每一区块，将该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，作为该区块对应的第一亮度值；或，
第二确定子单元(图3中未示出)，用于针对每一区块，将该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，与该区块对应的曝光权重相乘，并将相乘所得到的乘积作为该区块对应的第一亮度值。
作为本发明实施例的一种实施方式，上述画面的区块的数量可以为m*n；
每个区块对应的曝光权重可以按照预设公式计算得到，其中，该预设公式可以为：
Figure BDA0001757287820000231
其中，Kij为画面中位于第i行第j列的区块的曝光权重。
作为本发明实施例的一种实施方式，上述亮度值计算子模块(图3中未示出)可以具体用于：
计算多个区块对应的第一亮度值的平均值，将计算得到的平均值作为画面对应的亮度值。
作为本发明实施例的一种实施方式，上述画面确定模块330可以包括：
画面判断子模块(图3中未示出)，用于判断亮度值是否大于预设过曝阈值，如果大于，触发第一确定子模块(图3中未示出)，否则，触发第二确定子模块(图3中未示出)；
第一确定子模块(图3中未示出)，用于确定画面为过曝画面；
第二确定子模块(图3中未示出)，用于确定画面为正常曝光画面。
对应于上述本发明实施例提供的一种过曝抑制方法，本发明实施例还提供了一种过曝抑制装置。
图4为本发明实施例提供的一种过曝抑制装置的结构示意图，如图4所示，该过曝抑制装置可以包括以下模块：
当前曝光值计算模块410，用于当确定成像传感器采集到的画面为过曝画面时，计算画面的当前曝光值；
实际曝光值计算模块420，用于基于预设曝光系数和当前曝光值，计算画面对应的拍摄图像的实际曝光值，其中，预设曝光系数为：用于表征画面与画面对应的拍摄图像的位深差距的数值；
调整量计算模块430，用于根据预设期望曝光值和实际曝光值的数值关系，确定曝光参数的调整量，其中，期望曝光值为：基于当前光照情况，所期望得到的成像传感器采集到的画面对应的拍摄图像的曝光值；
镜头调整模块440，用于按照调整量调整曝光参数。
以上可见，本发明实施例提供的方案中，在过曝检测方法的检测结果的基础上，采用过曝抑制方法对过曝画面进行过曝抑制，能够取得更好的过曝抑制效果。此外，本发明实施例提供的过曝抑制方法中，根据预设期望曝光值和实际曝光值之间的数据关系，可以定量确定曝光参数的调整量，进而按照该确定的调整量调整曝光参数对画面进行过曝抑制，提高了过曝抑制的准确性和效率。
作为本发明实施例的一种实施方式，上述当前曝光值计算模块410可以包括：
区块确定子模块(图4中未示出)，用于针对画面中的每一区块，基于该区块对应的第一亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定该区块是否为非过曝区块；其中，画面被划分为多个区块，且每一区块对应的第一亮度值为基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据所确定的；
当前曝光值计算子模块(图4中未示出)，用于计算所确定的各个非过曝区块的第一亮度值的和，作为画面的当前曝光值。
作为本发明实施例的一种实施方式，上述区块确定子模块(图4中未示出)可以包括：
区块判断单元(图4中未示出)，用于针对画面中的每一区块，判断该区块对应的第一亮度值是否大于预设过曝阈值，如果大于，触发第一确定单元(图4中未示出)，否则，触发第二确定单元(图4中未示出)；
第一确定单元(图4中未示出)，用于确定该区块为过曝区块；
第二确定单元(图4中未示出)，用于确定该区块为非过曝区块。
作为本发明实施例的一种实施方式，上述调整量计算模块430可以具体用于：
根据预设期望曝光值和实际曝光值的数值的倍数关系，确定曝光参数的调整量。
作为本发明实施例的一种实施方式，上述曝光参数可以包括以下参数中的一种或多种：增益、快门和光圈。
本发明实施例还提供了一种电子设备，如图5所示，包括处理器501、通信接口502、存储器503和通信总线504，其中，处理器501，通信接口502，存储器503通过通信总线504完成相互间的通信，
存储器503，用于存放计算机程序；
处理器501，用于执行存储器503上所存放的程序时，实现上述本发明实施例提供的一种过曝检测方法。
具体的，上述过曝检测方法，包括：
获得成像传感器采集到的画面中每个像素点的Bayer格式数据；
基于每个像素点的Bayer格式数据，计算画面对应的亮度值，其中，亮度值为：用于表征画面曝光程度的数值；
基于亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定画面是否为过曝画面。
需要说明的是，上述处理器501执行存储器503上存放的程序而实现的过曝检测的其他实现方式，与前述方法实施例部分提供的过曝检测方法实施例相同，这里不再赘述。
以上可见，本发明实施例提供的过曝抑制方法中，在对成像传感器采集到的画面进行过曝检测时，不需要将画面转化为灰度图，从而不需要对该画面进行压缩，因此，在过曝检测过程中画面信息不会丢失，可以基于全部的画面信息对画面进行过曝检测，进而能够提高过曝检测的准确率。
本发明实施例还提供了一种电子设备，如图6所示，包括处理器601、通信接口602、存储器603和通信总线604，其中，处理器601，通信接口602，存储器603通过通信总线604完成相互间的通信，
存储器603，用于存放计算机程序；
处理器601，用于执行存储器603上所存放的程序时，实现上述本发明实施例提供的一种过曝抑制方法。
具体的，该过曝抑制方法，包括：
当确定成像传感器采集到的画面为过曝画面时，计算画面的当前曝光值；
基于预设曝光系数和当前曝光值，计算画面对应的拍摄图像的实际曝光值，其中，预设曝光系数为：用于表征画面与画面对应的拍摄图像的位深差距的数值；
根据预设期望曝光值和实际曝光值的数值关系，确定曝光参数的调整量，其中，期望曝光值为：基于当前光照情况，所期望得到的成像传感器采集到的画面对应的拍摄图像的曝光值；
按照调整量调整曝光参数。
需要说明的是，上述处理器601执行存储器603上存放的程序而实现的过曝抑制的其他实现方式，与前述方法实施例部分提供的过曝抑制方法实施例相同，这里不再赘述。
以上可见，本发明实施例提供的方案中，在过曝检测方法的检测结果的基础上，采用过曝抑制方法对过曝画面进行过曝抑制，能够取得更好的过曝抑制效果。此外，本发明实施例提供的过曝抑制方法中，根据预设期望曝光值和实际曝光值之间的数据关系，可以定量确定曝光参数的调整量，进而按照该确定的调整量调整曝光参数对画面进行过曝抑制，提高了过曝抑制的准确性和效率。
上述电子设备提到的通信总线可以是外设部件互连标准(Peripheral ComponentInterconnect，PCI)总线或扩展工业标准结构(Extended Industry StandardArchitecture，EISA)总线等。该通信总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
通信接口用于上述电子设备与其他设备之间的通信。
存储器可以包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)，也可以包括非易失性存储器(Non-Volatile Memory，NVM)，例如至少一个磁盘存储器。可选的，存储器还可以是至少一个位于远离前述处理器的存储装置。
上述的处理器可以是通用处理器，包括中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、网络处理器(Network Processor，NP)等；还可以是数字信号处理器(Digital SignalProcessing，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。
本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储极致内存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述本发明实施例提供的一种过曝检测方法。
具体的，上述过曝检测方法，包括：
获得成像传感器采集到的画面中每个像素点的Bayer格式数据；
基于每个像素点的Bayer格式数据，计算画面对应的亮度值，其中，亮度值为：用于表征画面曝光程度的数值；
基于亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定画面是否为过曝画面。
需要说明的是，上述计算机程序被处理器执行时而实现的过曝检测方法的其他方法，与前述方法实施例部分提供的过曝检测方法实施例相同，这里不再赘述。
以上可见，本发明实施例提供的过曝抑制方法中，在对成像传感器采集到的画面进行过曝检测时，不需要将画面转化为灰度图，从而不需要对该画面进行压缩，因此，在过曝检测过程中画面信息不会丢失，可以基于全部的画面信息对画面进行过曝检测，进而能够提高过曝检测的准确率。
本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储极致内存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述本发明实施例提供的一种过曝抑制方法。
具体的，上述过曝抑制方法，包括：
当确定成像传感器采集到的画面为过曝画面时，计算画面的当前曝光值；
基于预设曝光系数和当前曝光值，计算画面对应的拍摄图像的实际曝光值，其中，预设曝光系数为：用于表征画面与画面对应的拍摄图像的位深差距的数值；
根据预设期望曝光值和实际曝光值的数值关系，确定曝光参数的调整量，其中，期望曝光值为：基于当前光照情况，所期望得到的成像传感器采集到的画面对应的拍摄图像的曝光值；
按照调整量调整曝光参数。
需要说明的是，上述计算机程序被处理器执行时而实现的过曝抑制方法的其他方法，与前述方法实施例部分提供的过曝抑制方法实施例相同，这里不再赘述。
以上可见，本发明实施例提供的方案中，在过曝检测方法的检测结果的基础上，采用过曝抑制方法对过曝画面进行过曝抑制，能够取得更好的过曝抑制效果。此外，本发明实施例提供的过曝抑制方法中，根据预设期望曝光值和实际曝光值之间的数据关系，可以定量确定曝光参数的调整量，进而按照该确定的调整量调整曝光参数对画面进行过曝抑制，提高了过曝抑制的准确性和效率。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于装置实施例、电子设备实施例及计算机可读存储介质实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。

Claims (18)

1.一种过曝检测方法，其特征在于，所述方法包括：
获得成像传感器采集到的画面中每个像素点的拜尔Bayer格式数据；
基于所述每个像素点的Bayer格式数据，计算所述画面对应的亮度值，其中，所述亮度值为：用于表征所述画面曝光程度的数值；
基于所述亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定所述画面是否为过曝画面。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述每个像素点的Bayer格式数据，计算所述画面对应的亮度值的步骤，包括：
将所述画面划分为多个区块；
针对每一区块，基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据，计算该区块对应的第一亮度值，其中，所述第一亮度值为：用于表征该区块的曝光程度的数值；
基于所述多个区块对应的第一亮度值，计算所述画面对应的亮度值。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述针对每一区块，基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据，计算该区块对应的第一亮度值的步骤，包括：
针对每一区块，计算该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值；
针对每一区块，基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，确定该区块对应的第一亮度值。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述针对每一区块，基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，确定该区块对应的第一亮度值的步骤，包括：
针对每一区块，将该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，作为该区块对应的第一亮度值；或，
针对每一区块，将该区块中各个像素点的Bayer格式数据的平均值，与该区块对应的曝光权重相乘，并将相乘所得到的乘积作为该区块对应的第一亮度值。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述画面的区块的数量为m*n；
每个区块对应的曝光权重按照预设公式计算得到，其中，所述预设公式为：
Figure FDA0001757287810000021
其中，Kij为画面中位于第i行第j列的区块的曝光权重。
6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述多个区块对应的第一亮度值，计算所述画面对应的亮度值的步骤，包括：
计算所述多个区块对应的第一亮度值的平均值，将计算得到的平均值作为所述画面对应的亮度值。
7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定所述画面是否为过曝画面的步骤，包括：
判断所述亮度值是否大于预设过曝阈值；
如果大于，确定所述画面为过曝画面；
否则，确定所述画面为正常曝光画面。
8.一种基于权利要求1-7任一项过曝检测方法的过曝抑制方法，其特征在于，所述方法包括：
当确定成像传感器采集到的画面为过曝画面时，计算所述画面的当前曝光值；
基于预设曝光系数和所述当前曝光值，计算所述画面对应的拍摄图像的实际曝光值，其中，所述预设曝光系数为：用于表征所述画面与所述画面对应的拍摄图像的位深差距的数值；
根据预设期望曝光值和所述实际曝光值的数值关系，确定曝光参数的调整量，其中，所述期望曝光值为：基于当前光照情况，所期望得到的所述成像传感器采集到的画面对应的拍摄图像的曝光值；
按照所述调整量调整曝光参数。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述计算所述画面的当前曝光值的步骤，包括：
针对所述画面中的每一区块，基于该区块对应的第一亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定该区块是否为非过曝区块；其中，所述画面被划分为多个区块，且每一区块对应的第一亮度值为基于该区块中各个像素点的Bayer格式数据所确定的；
计算所确定的各个非过曝区块的第一亮度值的和，作为所述画面的当前曝光值。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述针对所述画面中的每一区块，基于该区块对应的第一亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定该区块是否为非过曝区块的步骤，包括：
针对所述画面中的每一区块，判断该区块对应的第一亮度值是否大于预设过曝阈值；
如果大于，确定该区块为过曝区块；
否则，确定该区块为非过曝区块。
11.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述根据所述预设期望曝光值和所述实际曝光值的数值关系，确定曝光参数的调整量的步骤，包括：
根据所述预设期望曝光值和所述实际曝光值的数值的倍数关系，确定曝光参数的调整量。
12.根据权利要求8-11任一项所述的方法，其特征在于，所述曝光参数包括以下参数中的一种或多种：增益、快门和光圈。
13.一种过曝检测装置，其特征在于，所述装置包括：
数据获得模块，用于获得成像传感器采集到的画面中每个像素点的Bayer格式数据；
亮度值计算模块，用于基于所述每个像素点的Bayer格式数据，计算所述画面对应的亮度值，其中，所述亮度值为：用于表征所述画面曝光程度的数值；
画面确定模块，用于基于所述亮度值与预设过曝阈值的大小关系，确定所述画面是否为过曝画面。
14.一种基于权利要求1-7任一项过曝检测方法的过曝抑制装置，其特征在于，所述装置包括：
当前曝光值计算模块，用于当确定成像传感器采集到的画面为过曝画面时，计算所述画面的当前曝光值；
实际曝光值计算模块，用于基于预设曝光系数和所述当前曝光值，计算所述画面对应的拍摄图像的实际曝光值，其中，所述预设曝光系数为：用于表征所述画面与所述画面对应的拍摄图像的位深差距的数值；
调整量计算模块，用于根据预设期望曝光值和所述实际曝光值的数值关系，确定曝光参数的调整量，其中，所述期望曝光值为：基于当前光照情况，所期望得到的所述成像传感器采集到的画面对应的拍摄图像的曝光值；
镜头调整模块，用于按照所述调整量调整曝光参数。
15.一种电子设备，其特征在于，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
存储器，用于存放计算机程序；
处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现权利要求1-7任一所述的方法步骤。
16.一种电子设备，其特征在于，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
存储器，用于存放计算机程序；
处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现权利要求8-12任一所述的方法步骤。
17.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7任一所述的方法步骤。
18.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求8-12任一所述的方法步骤。
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