CN110793941A - 一种智能分辨激光光学层析成像方法的*** - Google Patents

一种智能分辨激光光学层析成像方法的*** Download PDF

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    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
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Abstract

本发明公开了光学相干层析成像技术领域的一种智能分辨激光光学层析成像方法的***，包括光源、第一耦合器、第二耦合器、第三耦合器、第一平衡探测器、环形器、第二平衡探测器、波分复用器、第四耦合器、参考镜、二维扫描振镜、聚焦镜、待测样品、采集卡和计算机，第一耦合器的输入端与光源连接，第一耦合器分别与第二耦合器和环形器连接，第二耦合器与第三耦合器连接，第三耦合器与第一平衡探测器连接，第一平衡探测器与采集卡连接，环形器分别与第二平衡探测器和第四耦合器连接，波分复用器与第四耦合器连接，本***利用到原有重采样方法中被排除的有效信号,提高了样品干涉信号的能量利用率和图像信噪比,同时有较高的重采样精度。

Description

一种智能分辨激光光学层析成像方法的***
技术领域
本发明公开了一种智能分辨激光光学层析成像方法的***，具体为光学相干层析成像技术领域。
背景技术
在多面转镜激光器扫频光学相干层析成像***中,激光器存在着输出光谱错位与扫频范围波动的问题。目前的重采样方法中,普遍利用互相关运算校正光谱错位,并进行大范围的截取,保证扫频范围的一致性,但这会导致成像信噪比与分辨率的降低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种智能分辨激光光学层析成像方法的***，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种智能分辨激光光学层析成像方法的***，包括光源、第一耦合器、第二耦合器、第三耦合器、第一平衡探测器、环形器、第二平衡探测器、波分复用器、第四耦合器、参考镜、二维扫描振镜、聚焦镜、待测样品、采集卡和计算机，所述第一耦合器的输入端与光源连接，所述第一耦合器分别与第二耦合器和环形器连接，所述第二耦合器与第三耦合器连接，所述第三耦合器与第一平衡探测器连接，所述第一平衡探测器与采集卡连接，所述环形器分别与第二平衡探测器和第四耦合器连接，所述第二平衡探测器分别与采集卡和波分复用器连接，所述波分复用器与第四耦合器连接，所述采集卡与计算机连接。
优选的，所述第一耦合器采用95/5型号的耦合器。
优选的，所述第二耦合器、第三耦合器和第四耦合器均采用50/50型号的耦合器。
优选的，所述采集卡分别采集第一平衡探测器传输的MZI干涉信号和第二平衡器传输的MSI干涉信号。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：本***利用到原有重采样方法中被排除的有效信号,提高了样品干涉信号的能量利用率和图像信噪比,同时有较高的重采样精度。
附图说明
图1为本发明光学层析成像方法的***结构示意图。
图中：1光源、2第一耦合器、3第二耦合器、4第三耦合器、5第一平衡探测器、6环形器、7第二平衡探测器、8波分复用器、9第四耦合器、10参考镜、 11二维扫描振镜、12聚焦镜、13待测样品、14采集卡、15计算机。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1，本发明提供一种智能分辨激光光学层析成像方法的***，包括光源1、第一耦合器2、第二耦合器3、第三耦合器4、第一平衡探测器5、环形器6、第二平衡探测器7、波分复用器8、第四耦合器9、参考镜10、二维扫描振镜11、聚焦镜12、待测样品13、采集卡14和计算机15，第一耦合器2的输入端与光源1连接，第一耦合器2分别与第二耦合器3和环形器6连接，第二耦合器3与第三耦合器4连接，第三耦合器4与第一平衡探测器5连接，第一平衡探测器5与采集卡14连接，环形器6分别与第二平衡探测器7和第四耦合器9连接，第二平衡探测器7分别与采集卡14和波分复用器8连接，波分复用器8与第四耦合器9连接，采集卡14与计算机15连接。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (4)

1.一种智能分辨激光光学层析成像方法的***，其特征在于：包括光源(1)、第一耦合器(2)、第二耦合器(3)、第三耦合器(4)、第一平衡探测器(5)、环形器(6)、第二平衡探测器(7)、波分复用器(8)、第四耦合器(9)、参考镜(10)、二维扫描振镜(11)、聚焦镜(12)、待测样品(13)、采集卡(14)和计算机(15)，所述第一耦合器(2)的输入端与光源(1)连接，所述第一耦合器(2)分别与第二耦合器(3)和环形器(6)连接，所述第二耦合器(3)与第三耦合器(4)连接，所述第三耦合器(4)与第一平衡探测器(5)连接，所述第一平衡探测器(5)与采集卡(14)连接，所述环形器(6)分别与第二平衡探测器(7)和第四耦合器(9)连接，所述第二平衡探测器(7)分别与采集卡(14)和波分复用器(8)连接，所述波分复用器(8)与第四耦合器(9)连接，所述采集卡(14)与计算机(15)连接。
2.根据权利要求1所述的一种智能分辨激光光学层析成像方法的***，其特征在于：所述第一耦合器(2)采用95/5型号的耦合器。
3.根据权利要求1所述的一种智能分辨激光光学层析成像方法的***，其特征在于：所述第二耦合器(3)、第三耦合器(4)和第四耦合器(9)均采用50/50型号的耦合器。
4.根据权利要求1所述的一种智能分辨激光光学层析成像方法的***，其特征在于：所述采集卡(14)分别采集第一平衡探测器传输的MZI干涉信号和第二平衡器传输的MSI干涉信号。
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