CN110672036B - 确定投影区域的方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种确定投影区域的方法及装置,属于三维测量技术领域。方法包括:对拍摄区域中的一组结构光进行拍摄,得到一组拍摄图像,所述一组结构光包括至少三幅结构光;根据所述一组拍摄图像,确定所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,任一位置点的波形显著性系数用于指示所述一组拍摄图像中所述任一位置点的结构光形成的成像质量;根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中确定投影区域。本发明实施例中由于波形显著性系数与拍摄图像的绝对亮度值无关,因此避免了由于投影区域的结构光被反射到投影区域导致的误判操作,从而提高了确定投影区域的准确性。

Description

确定投影区域的方法及装置
技术领域
本发明涉及三维测量技术领域,特别涉及一种确定投影区域的方法及装置。
背景技术
三维测量是集中光、机、电、算(数学和计算机)技术于一体的高新技术,主要用于对待测量物体的空间外形和结构进行扫描,以获取待测量物体表面的空间坐标。其中,三维测量包括投影仪、相机和计算机。投影仪用于投射结构光,该结构光照射到待测量物体上可以形成投影光栅。相机用于拍摄投影光栅,得到投影光栅图像。计算机用于基于该投影光栅图像,获取待测量物体的空间坐标。由于投影仪的投影区域与相机的成像区域一般不完全重合(相机的拍摄区域一般大于投影仪的投影区域),即使投影区域与成像区域完全重合,但待测量物体也可能由于镜面反射、内部空洞或者吸光材质等原因在某些区域无法有效成像。也即相机采集的投影光栅图像中既包括能够进行成像的投影区域,又包括不能进行成像的非投影区域。因此,计算机在基于该投影光栅图像获取待测量物体的空间坐标之前,需要先从该投影光栅图像中确定出能够进行成像的投影区域。
现有技术中确定投影区域的过程可以为:摄像仪分别投影一副亮度值较高的第一单色结构光和一副亮度值较低的第二单色结构光。相机分别拍摄第一单色结构光被待测量物体反射出的第一投影光栅和第二单色结构光被待测量物体反射的第二投影光栅,得到第一投影光栅图像和第二投影光栅图像。由于投影区域分别被第一结构光与第二结构光投影,因此投影区域会存在一定的亮度变化。而非投影区域没有结构光照射,因此非投影区域的亮度一般比较稳定。计算机选择在第一摄影光栅图像和第二摄影光栅图像中的亮度差值大于亮度变化阈值的位置点。计算机将选择的位置点组成投影区域。
由于投影区域的结构光(第一结构光和/或者第二结构光)可能会被反射到非投影区域,导致非投影区域的某些像素点的亮度差值也大于亮度变化阈值,使得一部分非投影区域被误确定为投影区域,导致上述方法的准确性差。并且,由于待测量物体的材质反光率不同以及投影仪到待测量物体之间的投影距离不同,很难找到一个对所有投影区域都适用的亮度变化阈值,基于这个固定的亮度变化阈值进行投影区域的划分,会进一步导致准确性差。
发明内容
本发明提供了一种确定投影区域的方法及装置,可以提高确定投影区域的准确性。技术方案如下:
第一方面,本发明实施例提供了一种确定投影区域的方法,所述方法包括:
对拍摄区域中的一组结构光进行拍摄,得到一组拍摄图像,所述一组结构光中包括至少三幅结构光,所述一组拍摄图像包括至少三个拍摄图像;
根据所述一组拍摄图像,确定所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,任一位置点的波形显著性系数用于指示所述一组拍摄图像中所述任一位置点的结构光形成的成像质量;
根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中确定投影区域。
在一个可能的实现方式中,所述对拍摄区域中的一组结构光进行拍摄,得到一组拍摄图像,包括:
在拍摄区域投影一组结构光,所述一组结构光被发射得到一组投影光栅;
对所述一组投影光栅进行拍摄,得到所述一组拍摄图像。
在另一个可能的实现方式中,所述根据所述一组拍摄图像,确定所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,包括:
对于所述拍摄区域中的任一位置点,确定所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的平均亮度值和结构光波形分布的振幅;
根据所述任一位置点的平均亮度值和振幅,确定所述任一位置点的成像质量系数,将所述任一位置点的成像质量系数确定为所述任一位置点的波形显著性系数。
在另一个可能的实现方式中,所述根据所述任一位置点的平均亮度值和振幅,确定所述任一位置点的成像质量系数,包括:
对于所述一组拍摄图像中的每个拍摄图像,确定所述任一位置点的相位值以及所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布的相位偏移量;
根据所述平均亮度值、所述振幅、所述任一位置点的相位值和所述相位偏移量,确定所述任一位置点在所述拍摄图像中的亮度分布值;
根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定所述任一位置点的成像质量系数。
在另一个可能的实现方式中,所述根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定所述任一位置点的成像质量系数,包括:
根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定亮度分布值之和以及亮度分布值和的平方;
根据所述亮度分布值之和以及所述亮度分布值和的平方,确定所述任一位置点的成像质量系数,所述任一位置点的成像质量系数与所述亮度分布值之和成反比,与亮度分布值和的平方成正比。
在另一个可能的实现方式中,所述任一位置点的成像质量系数与所述任一位置点的平均亮度值成正比,与振幅成反比。
在另一个可能的实现方式中,所述根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中确定投影区域,包括:
根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中选择波形显著性系数大于系数阈值的多个位置点;
将所述多个位置点组成所述投影区域。
在另一个可能的实现方式中,所述方法还包括:
接收被输入的所述系数阈值;或者,
根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,确定所述系数阈值。
在另一个可能的实现方式中,所述根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,确定所述系数阈值,包括:
根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,统计波形显著性系数的统计直方图数据;
根据所述波形显著性系数的统计直方图数据,确定最大类间方差;
根据所述最大类间方差,确定所述系数阈值。
在另一个可能的实现方式中,所述根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,确定最大类间方差,包括:
根据所述波形显著性系数的统计直方图数据,确定每个波形显著性系数的位置点数量;
根据所述每个波形显著性系数的位置点数量和所述一组结构光包括的结构光的数量,通过最大类间差法,确定所述最大类间方差。
第二方面,本发明实施例提供了一种确定投影区域的装置,所述装置包括:
拍摄模块,用于对拍摄区域中的一组结构光进行拍摄,得到一组拍摄图像,所述一组结构光中包括至少三幅结构光,所述一组拍摄图像包括至少三个拍摄图像;
第一确定模块,用于根据所述一组拍摄图像,确定所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,任一位置点的波形显著性系数用于指示所述一组拍摄图像中所述任一位置点的结构光形成的成像质量;
第二确定模块,用于根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中确定投影区域。
在一个可能的实现方式中,所述拍摄模块,还用于在拍摄区域投影一组结构光,所述一组结构光被发射得到一组投影光栅;对所述一组投影光栅进行拍摄,得到所述一组拍摄图像。
在另一个可能的实现方式中,所述第一确定模块,还用于对于所述拍摄区域中的任一位置点,确定所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的平均亮度值和结构光波形分布的振幅;根据所述任一位置点的平均亮度值和振幅,确定所述任一位置点的成像质量系数,将所述任一位置点的成像质量系数确定为所述任一位置点的波形显著性系数。
在另一个可能的实现方式中,所述第一确定模块,还用于对于所述一组拍摄图像中的每个拍摄图像,确定所述任一位置点的相位值以及所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布的相位偏移量;根据所述平均亮度值、所述振幅、所述任一位置点的相位值和所述相位偏移量,确定所述任一位置点在所述拍摄图像中的亮度分布值;根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定所述任一位置点的成像质量系数。
在另一个可能的实现方式中,所述第一确定模块,还用于根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定亮度分布值之和以及亮度分布值和的平方;根据所述亮度分布值之和以及所述亮度分布值和的平方,确定所述任一位置点的成像质量系数,所述任一位置点的成像质量系数与所述亮度分布值之和成反比,与亮度分布值和的平方成正比。
在另一个可能的实现方式中,所述任一位置点的成像质量系数与所述任一位置点的平均亮度值成正比,与振幅成反比。
在另一个可能的实现方式中,所述第二确定模块,还用于根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中选择波形显著性系数大于系数阈值的多个位置点;将所述多个位置点组成所述投影区域。
在另一个可能的实现方式中,所述装置还包括:
接收模块,用于接收被输入的所述系数阈值;或者,
第三确定模块,用于根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,确定所述系数阈值。
在另一个可能的实现方式中,所述第三确定模块,还用于根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,统计波形显著性系数的统计直方图数据;根据所述波形显著性系数的统计直方图数据,确定最大类间方差;根据所述最大类间方差,确定所述系数阈值。
在另一个可能的实现方式中,所述第三确定模块,还用于根据所述波形显著性系数的统计直方图数据,确定每个波形显著性系数的位置点数量;根据所述每个波形显著性系数的位置点数量和所述一组结构光包括的结构光的数量,通过最大类间差法,确定所述最大类间方差。
第三方面,本发明实施例提供了一种计算设备,所述计算设备包括:
至少一个处理器;和
至少一个存储器;
所述至少一个存储器存储有一个或多个程序,所述一个或多个程序被配置成由所述至少一个处理器执行,所述一个或多个程序包含用于进行如第一方面或者第一方面任一可能实现方式中所述的方法的指令。
第四方面,本发明实施例提供了一种非易失性计算机可读存储介质,用于存储计算机程序,所述计算机程序通过处理器进行加载来执行如第一方面或者第一方面任一可能实现方式中所述的方法的指令。
本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括:在本发明实施例中,使用波形显著性系数来区分投影区域和非投影区域。由于波形显著性系数与拍摄图像的绝对亮度值无关,因此避免了由于投影区域的结构光被反射到投影区域导致的误判操作以及不需要找对所有投影区域都适用的亮度变化阈值,从而提高了确定投影区域的准确性。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种三维测量***的示意图;
图2是本发明实施例提供的一种确定投影区域的方法流程图;
图3是本发明实施例提供的一种确定投影区域的方法流程图;
图4是本发明实施例提供的一种确定投影区域的装置结构示意图;
图5是本发明实施例提供的一种计算设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
本发明实施例提供了一种三维测量***,参见图1,该三维测量***包括:投影设备101、摄像设备102和计算设备103。计算设备103通过有线或者无线网络分别于投影设备101和摄像设备102连接,从而实现对投影设备101和摄像设备102的控制。
当需要对待测量物体进行三维测量时,计算设备103,用于向投影设备101发送投影指令,该投影指令用于指示投影设备101投影指定波形的一组结构光。该投影指令携带指定波形的标识和该一组结构光包括的结构光的数量。该指定波形的标识可以为该指定波形的形状名称。该一组结构光包括的结构光的数量至少为3,也即该一组结构光中包括至少三幅结构光。该指定波形可以根据需要进行设置并更改,在本发明实施例中,对指定波形不作具体限定;例如,指定波形可以为正弦波形或者余弦波形等。另外,结构光是指特定图案的光,该指定图案可以为平面、网格或者更复杂形状的光。
投影设备101,用于接收该投影指令,根据该投影指令投影指定波形的一组结构光。一组结构光照射到待测量物体上形成一组投影光栅,其中,一副结构光对应一个投影光栅。其中,该投影设备101可以为任一能够投影结构光的设备;例如,该投影设备可以为投影仪。
计算设备103,还用于向摄像设备102发送采集指令,该采集指令用于指示摄像设备102采集一组投影光栅,并返回一组拍摄图像。
摄像设备102,用于接收该采集指令,根据该采集指令采集一组结构光,得到一组拍摄图像。其中,该一组结构光可以为投影设备投影的一组结构光,还可以为投影设备投影的一组结构光被反射得到的一组具有结构光特性的投影光栅。
摄像设备102,还用于将一组拍摄图像传输至计算设备103。摄像设备102可以为任一能够摄影的设备;例如,摄像设备102可以为摄像机、照相机、摄像头等。
计算设备103,还用于接收一组拍摄图像,根据一组拍摄图像,确定投影区域。其中,该计算设备103可以为任一具有计算能力的设备;例如,计算设备103可以为计算机或者终端等。投影光栅是指将结构光投射到物体上形成的投影形状。
需要说明的一点是,投影设备101、摄像设备102和计算设备103可以分别作为独立的设备,投影设备101、摄像设备102和计算设备103中的至少两个设备可以集成在同一个设备中;例如,摄像设备102和计算设备103集成在具有摄像功能和计算功能的电子设备中。
本发明实施例提供了一种确定投影区域的方法,参见图2,该方法包括:
步骤201:对拍摄区域中的一组结构光进行拍摄,得到一组拍摄图像,所述一组结构光中包括至少三幅结构光,所述一组拍摄图像包括至少三个拍摄图像。
步骤202:根据所述一组拍摄图像,确定所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,任一位置点的波形显著性系数用于指示所述一组拍摄图像中所述任一位置点的结构光形成的成像质量。
步骤203:根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中确定投影区域。
在一个可能的实现方式中,所述对拍摄区域中的一组结构光进行拍摄,得到一组拍摄图像,包括:
在拍摄区域投影一组结构光,所述一组结构光被发射得到一组投影光栅;
对所述一组投影光栅进行拍摄,得到所述一组拍摄图像。
在另一个可能的实现方式中,所述根据所述一组拍摄图像,确定所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,包括:
对于所述拍摄区域中的任一位置点,确定所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的平均亮度值和结构光波形分布的振幅;
根据所述任一位置点的平均亮度值和振幅,确定所述任一位置点的成像质量系数,将所述任一位置点的成像质量系数确定为所述任一位置点的波形显著性系数。
在另一个可能的实现方式中,所述根据所述任一位置点的平均亮度值和振幅,确定所述任一位置点的成像质量系数,包括:
对于所述一组拍摄图像中的每个拍摄图像,确定所述任一位置点的相位值以及所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布的相位偏移量;
根据所述平均亮度值、所述振幅、所述任一位置点的相位值和所述相位偏移量,确定所述任一位置点在所述拍摄图像中的亮度分布值;
根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定所述任一位置点的成像质量系数。
在另一个可能的实现方式中,所述根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定所述任一位置点的成像质量系数,包括:
根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定亮度分布值之和以及亮度分布值和的平方;
根据所述亮度分布值之和以及所述亮度分布值和的平方,确定所述任一位置点的成像质量系数,所述任一位置点的成像质量系数与所述亮度分布值之和成反比,与亮度分布值和的平方成正比。
在另一个可能的实现方式中,所述任一位置点的成像质量系数与所述任一位置点的平均亮度值成正比,与振幅成反比。
在另一个可能的实现方式中,所述根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中确定投影区域,包括:
根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中选择波形显著性系数大于系数阈值的多个位置点;
将所述多个位置点组成所述投影区域。
在另一个可能的实现方式中,所述方法还包括:
接收被输入的所述系数阈值;或者,
根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,确定所述系数阈值。在另一个可能的实现方式中,所述根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,确定所述系数阈值,包括:
根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,统计波形显著性系数的统计直方图数据;
根据所述波形显著性系数的统计直方图数据,确定最大类间方差;
根据所述最大类间方差,确定所述系数阈值。
在另一个可能的实现方式中,所述根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,确定最大类间方差,包括:
根据所述波形显著性系数的统计直方图数据,确定每个波形显著性系数的位置点数量;
根据所述每个波形显著性系数的位置点数量和所述一组结构光包括的结构光的数量,通过最大类间差法,确定所述最大类间方差。
在本发明实施例中,使用波形显著性系数来区分投影区域和非投影区域。由于波形显著性系数与拍摄图像的绝对亮度值无关,因此避免了由于投影区域的结构光被反射到投影区域导致的误判操作以及不需要找对所有投影区域都适用的亮度变化阈值,从而提高了确定投影区域的准确性。
本发明实施例提供了一种确定投影区域的方法,该方法的执行主体可以为计算设备,参见图3,该方法包括:
步骤301:计算设备对拍摄区域中的一组结构光进行拍摄,得到一组拍摄图像。
该一组结构光可以为投影设备投影的一组结构光,还可以为投影设备投影的一组结构光被反射得到的一组具有结构光特性的投影光栅。当该一组结构光为投影设备投影的一组结构光时,本步骤可以为:计算设备控制投影设备在拍摄区域投影一组结构光,计算设备控制摄像设备对该一组结构光进行拍摄得到一组拍摄图像。当该一组结构光为投影设备投影的一组结构光被反射得到的一组具有结构光特性的投影光栅时,本步骤可以为:计算设备控制投影设备在拍摄区域投影一组结构光,该一组结构光被发射得到一组投影光栅;计算设备控制摄像设备对该一组投影光栅进行拍摄,得到一组拍摄图像。
需要说明的另一点是,该一组结构光中包括至少三幅结构光,例如,该一组结构光中包括三幅结构光、四幅结构光、五幅结构光等。并且,该一组结构光包括的结构光数量越多,从拍摄区域中确定投影区域的准确性越高。在本发明实施例中,为了简化计算,以该一组结构光包括三幅结构光为例进行说明。
例如,计算设备对拍摄区域中的三幅结构光进行拍摄,得到三个拍摄图像。
步骤302:计算设备根据该一组拍摄图像,确定拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,该任一位置点的波形显著性系数用于指示该一组拍摄图像中的该任一位置点的结构光的成像质量。
本步骤可以通过以下步骤(1)至(2)实现,包括:
(1):对于拍摄区域中的任一位置点,计算设备确定该任一位置点在该一组拍摄图像中的平均亮度值和结构光波形分布的振幅。
计算设备确定该任一位置点在每个拍摄图像中的亮度值,根据该任一位置点在每个拍摄图像中的亮度值,确定平均亮度值。计算设备根据该任一位置点在该一组拍摄图像中的结构光波形分布,确定该结构光波形分布的振幅。
(2):计算设备根据该任一位置点的平均亮度值和振幅,确定该任一位置点的成像质量系数,将该任一位置点的成像质量系数确定为该任一位置点的波形显著性系数。
该任一位置点的成像质量系数与该任一位置点的平均亮度值成正比,与振幅成反比。在一个可能的实现方式中,计算设备可以根据该任一位置点的平均亮度值和振幅,通过任一一种与平均亮度值成正比,与振幅成反比的运算方法,确定该任一位置点的成像质量系数。例如,该运算方法可以为比值法等。当该运算方法为比值法时,本步骤可以为:计算设备将该任一位置点的平均亮度值和振幅的比值,确定为该任一位置点的成像质量系数。
例如,计算设备根据该任一位置点的平均亮度值和振幅,通过以下公式一,确定该任一位置点的成像质量系数。
公式一:
Figure GDA0003077766360000111
(x,y)为该任一位置点的坐标,γ(x,y)为该任一位置点的成像质量系数,I″(x,y)为该任一位置点的平均亮度值,I′(x,y)为任一位置点的振幅。
在另一个可能的实现方式中,步骤(2)中的可以通过以下步骤(2-1)至(2-3)实现,包括:
(2-1):对于该一组拍摄图像中的每个拍摄图像,计算设备确定该任一位置点的相位值以及该任一位置点在该一组拍摄图像中的亮度分布的相位偏移量。
当相位偏移量一致时,
Figure GDA0003077766360000112
k=1,2,3,……,N;其中,N为该一副结构光中包括的结构光的数量。k为该一组拍摄图像的序号。
(2-2):计算设备根据该平均亮度值、该振幅、该任一位置点的相位值和该相位偏移量,确定该任一位置点在该拍摄图像中的亮度分布值。
该亮度分布值随着平均亮度值、该振幅的的增大而增加。并且,计算设备可以根据任一体现亮度分布值随着平均亮度值、该振幅的的增大而增加的运算方法,确定该任一位置点在该拍摄图像中的亮度分布值。
例如,计算设备根据该平均亮度值、该振幅、该任一位置点的相位值和该相位偏移量,通过以下公式二,确定该任一位置点在该拍摄图像中的亮度分布值。
公式二:Ik(x,y)=I′(x,y)+I″(x,y)cos(Φ(x,y)+δk)
其中,k为该拍摄图像的序号,(x,y)为该任一位置点的位置信息,Ik(x,y)为该位置点的亮度分布值,I′(x,y)为该位置点的平均亮度值,I″(x,y)为该位置点处的亮度分布波形的振幅,Φ(x,y)为该位置点的相位值,δk为相位偏移值。
(2-3):计算设备根据该任一位置点在该一组拍摄图像中的亮度分布值,确定该任一位置点的成像质量系数。
计算设备根据该任一位置点在该一组拍摄图像中的亮度分布值,确定亮度分布值之和以及亮度分布值和的平方;根据该亮度分布值之和以及该亮度分布值和的平方,确定该任一位置点的成像质量系数,该任一位置点的成像质量系数与该亮度分布值之和成反比,与亮度分布值和的平方成正比。
计算设备可以通过任一一种体现出成像质量系数与该亮度分布值之和成反比,与亮度分布值和的平方成正比的运算方法,确定该任一位置点的成像质量系数。例如,该运算方法可以为比值法。相应的,计算设备根据该亮度分布值之和以及该亮度分布值和的平方,确定该任一位置点的成像质量系数的步骤可以为:
计算设备根据该亮度分布值之和以及该亮度分布值和的平方,通过以下公式三,确定该任一位置点的成像质量系数。
公式三:
Figure GDA0003077766360000121
其中,(x,y)为该任一位置点的坐标,γ(x,y)为该任一位置点的成像质量系数,
Figure GDA0003077766360000122
为该亮度分布值之和,
Figure GDA0003077766360000123
为该亮度分布值和的平方。
例如,当该一组结构光包括三幅结构光时,则该一组拍摄图像包括三个拍摄图像,分别为第一拍摄图像、第二拍摄图像和第三拍摄图像。相应的,第k幅结构光的亮度分布的相位偏移值
Figure GDA0003077766360000124
则位置点(x,y)的成像质量系数可以简化为公式四所示:
公式四:
Figure GDA0003077766360000125
其中,I1为该像素点在第一拍摄图像中的亮度分布值,I2为该像素点在第二拍摄图像中的亮度分布值,I3为该像素点在第三拍摄图像中的亮度分布值。
再如,当该一副结构光包括4幅结构光时,则位置点(x,y)的成像质量系数可以简化为公式五所示:
公式五:
Figure GDA0003077766360000126
步骤303:计算设备根据该拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从该拍摄区域中选择波形显著性系数大于系数阈值的多个位置点。
对于该投影区域中的每个位置点,计算设备确定该位置点的波形显著性系数是否大于系数阈值;当该位置点的波形显著性系数大于该系数阈值时,选择该位置点;当该位置点的波形显著性系数不大于该系数阈值时,丢弃该位置点。
在本发明实施例中,由于投影区域在某个位置点的一组拍摄图像有规则的亮度变化,而非投影区域的亮度是反射累积得到,在一组拍摄图像上并没有规则的亮度变化,所以波形显著性不明显,因此可以基于该波形显著性系数将非投影区域的被反射区域区分出来。
需要说明的一点是,计算设备可以先确定系数阈值,然后基于每个位置点的波形显著性系数和该系数阈值,进行位置点的选择。计算设备还可以在执行本步骤之前,先确定该系数阈值,在本步骤中直接获取已存储的该系数阈值,基于每个位置点的波形显著性系数和该系数阈值,进行位置点的选中,从而提高确定投影区域的效率。
在一个可能的实现方式中,该系数阈值可以由用户基于经验设置并输入给计算设备。相应的,计算设备确定该系数阈值的步骤可以为:计算设备接收被输入的该系数阈值。该系数阈值为用户基于经验得到的;并且,该系数阈值可以根据需要进行设置并更改,在本发明实施例中,对该系数阈值不作具体限定;例如,该系数阈值可以为0.5、0.55或者0.6等。
在另一个可能的实现方式中,计算设备计算得到该系数阈值;相应的,计算设备确定该系数阈值的步骤可以为:计算设备根据该拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,确定该系数阈值。其中,计算设备根据该拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,确定该系数阈值的步骤可以通过以下步骤(1)至(3)实现,包括:
(1):计算设备根据该拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,统计波形显著性系数的统计直方图数据。
在一个可能的实现方式中,计算设备可以直接基于每个位置点的波形显著性系数进行直方图统计。在另一个可能的实现方式中,由于每个位置点的波形显著性系数为0~1之间的浮点数,为了方便统计直方图分析,计算设备将每个位置点的波形显著性系数进行放大,然后再进行直方图统计。相应的,本步骤可以通过以下步骤(1-1)至(1-3)实现,包括:
(1-1):计算设备将每个位置点的波形显著性系数放大指定倍数,得到放大后的每个位置点的波形显著性系数。
指定倍数可以根据需要进行设置并更改,在本发明实施例中对指定倍数不作具体限定;例如,指定倍数可以为255等。
(1-2):计算设备对放大后的每个位置点的波形显著性系数进行取整,得到每个位置点的波形显著性系数的整数值。
需要说明的是,计算设备可以对放大后的该每个位置点的波形显著性系数进行上取整或者下取整。
(1-3):计算设备根据每个位置点的波形显著性系数的整数值,统计波形显著性系数的统计直方图数据。
在本发明实施例中,计算设备将每个位置点的波形显著性系数放大指定倍数并取整,即将浮点数转换为整数,方便后面步骤的统计直方图分析,进而提高了直方图统计的准确性,进而提高了确定检测区域的准确性。
(2):计算设备根据波形显著性系数的统计直方图数据,确定最大类间方差。
本步骤可以通过以下步骤(2-1)和(2-2)实现,包括:
(2-1):计算设备根据波形显著性系数的统计直方图数据,确定每个波形显著性系数的位置点数量。
(2-2):计算设备根据每个波形显著性系数的位置点数量和该一组结构光包括的结构光的数量,通过最大类间法,确定该最大类间方差。
在一个可能的实现方式中,当在步骤(1)中没有对位置点的波形显著性系数进行放大处理时,本步骤可以通过以下公式七,确定该最大类间方差。
公式七:
Figure GDA0003077766360000141
其中,δ2(k*)为最大类间方差,k为拍摄图像的序号,
Figure GDA0003077766360000142
Figure GDA0003077766360000143
N为该一组结构光包括的结构光的数量,L为指定倍数。
在另一个可能的实现方式中,当在步骤(1)中对位置点的波形显著性系数进行放大处理时,本步骤可以为:计算设备根据每个波形显著性系数的位置点数量、该一组结构光包括的结构光的数量和该指定倍数,通过最大类间法,确定该最大类间方差。
其中,计算设备根据每个波形显著性系数的位置点数量、该一组结构光包括的结构光的数量和该指定倍数,通过最大类间法,通过以下公式八确定该最大类间方差。
公式八:
Figure GDA0003077766360000144
其中,δ2(k*)为最大类间方差,k为拍摄图像的序号,
Figure GDA0003077766360000145
Figure GDA0003077766360000146
N为该一组结构光包括的结构光的数量,L为指定倍数。
(2-2):计算设备根据每个波形显著性系数的位置点数量和该一组结构光包括的结构光的数量,通过最大类间法,确定该最大类间方差。
(3):计算设备根据该最大类间方差,确定该系数阈值。
在一个可能的实现方式中,当在步骤(1)中没有对每个像素点的波形显著性系数进行放大时,在本步骤中,计算设备直接将该最大类间方差作为该系数阈值。
在另一个可能的实现方式中,当在步骤(1)中对每个像素点的波形显著性系数进行放大并取整时,在本步骤中,计算设备将该最大类间方差与该指定倍数的比值作为该系数阈值。
步骤304:计算设备将多个位置点组成投影区域。
在一个可能的实现方式中,计算设备将非位置点组成非投影区域。
在本发明实施例中,使用波形显著性系数来区分投影区域和非投影区域。由于波形显著性系数与拍摄图像的绝对亮度值无关。因此避免了由于投影区域的结构光被反射到投影区域导致的误判操作以及不需要找对所有投影区域都适用的亮度变化阈值,从而提高了确定投影区域的准确性。
另外,由于投影距离不同导致整体变亮或者变暗,但并不影响拍摄图像之间的相对亮度变化。因此,本发明实施例可以避免投影距离对投影区域检测的影响,进一步提高了确定投影区域的准确性。
另外,虽然不同材质的发光特征不同,但是该拍摄区域的某个位置点的材质是固定的,所以一组拍摄图像在某个位置点的亮度变化是一致的。因此,本发明实施例可以避免待测量物体对投影区域检测的影响,进一步提高了确定投影区域的准确性。
本发明实施例提供了一种确定投影区域的装置,该装置可以应用在计算设备中,用于执行上述确定投影区域计算设备执行的步骤。参见图4,该装置包括:
拍摄模块401,用于用于对拍摄区域中的一组结构光进行拍摄,得到一组拍摄图像,所述一组结构光中包括至少三幅结构光,所述一组拍摄图像包括至少三个拍摄图像;
第一确定模块402,用于根据所述一组拍摄图像,确定所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,任一位置点的波形显著性系数用于指示所述一组拍摄图像中所述任一位置点的结构光的成像质量;
第二确定模块403,用于根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中确定投影区域。
在一个可能的实现方式中,所述拍摄模块401,还用于在拍摄区域投影一组结构光,所述一组结构光被发射得到一组投影光栅;对所述一组投影光栅进行拍摄,得到所述一组拍摄图像。
在另一个可能的实现方式中,所述第一确定模块402,还用于对于所述拍摄区域中的任一位置点,确定所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的平均亮度值和结构光波形分布的振幅;根据所述任一位置点的平均亮度值和振幅,确定所述任一位置点的成像质量系数,将所述任一位置点的成像质量系数确定为所述任一位置点的波形显著性系数。
在另一个可能的实现方式中,所述第一确定模块402,还用于对于所述一组拍摄图像中的每个拍摄图像,确定所述任一位置点的相位值以及所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布的相位偏移量;根据所述平均亮度值、所述振幅、所述任一位置点的相位值和所述相位偏移量,确定所述任一位置点在所述拍摄图像中的亮度分布值;根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定所述任一位置点的成像质量系数。
在另一个可能的实现方式中,所述第一确定模块402,还用于根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定亮度分布值之和以及亮度分布值和的平方;根据所述亮度分布值之和以及所述亮度分布值和的平方,确定所述任一位置点的成像质量系数,所述任一位置点的成像质量系数与所述亮度分布值之和成反比,与亮度分布值和的平方成正比。
在另一个可能的实现方式中,所述任一位置点的成像质量系数与所述任一位置点的平均亮度值成正比,与振幅成反比。
在另一个可能的实现方式中,所述第二确定模块403,还用于根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中选择波形显著性系数大于系数阈值的多个位置点;将所述多个位置点组成所述投影区域。
在另一个可能的实现方式中,所述装置还包括:
接收模块,用于接收被输入的所述系数阈值;或者,
第三确定模块,用于根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,确定所述系数阈值。
在另一个可能的实现方式中,所述第三确定模块,还用于根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,统计波形显著性系数的统计直方图数据;根据所述波形显著性系数的统计直方图数据,确定最大类间方差;根据所述最大类间方差,确定所述系数阈值。
在另一个可能的实现方式中,所述第三确定模块,还用于根据所述波形显著性系数的统计直方图数据,确定每个波形显著性系数的位置点数量;根据所述每个波形显著性系数的位置点数量和所述一组结构光包括的结构光的数量,通过最大类间差法,确定所述最大类间方差。
在本发明实施例中,使用波形显著性系数来区分投影区域和非投影区域。由于波形显著性系数与拍摄图像的绝对亮度值无关,因此避免了由于投影区域的结构光被反射到投影区域导致的误判操作以及不需要找对所有投影区域都适用的亮度变化阈值,从而提高了确定投影区域的准确性。
需要说明的是:上述实施例提供的确定投影区域的装置在确定投影区域时,仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成,即将装置的内部结构划分成不同的功能模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。另外,上述实施例提供的确定投影区域的装置与确定投影区域的方法实施例属于同一构思,其具体实现过程详见方法实施例,这里不再赘述。
图5示出了本发明一个示例性实施例提供的计算设备500的结构框图。该计算设备500可以是:智能手机、平板电脑、MP3播放器(Moving Picture Experts Group AudioLayer III,动态影像专家压缩标准音频层面3)、MP4(Moving Picture Experts GroupAudio Layer IV,动态影像专家压缩标准音频层面4)播放器、笔记本电脑或台式电脑。计算设备500还可能被称为用户设备、便携式计算设备、膝上型计算设备、台式计算设备等其他名称。
通常,计算设备500包括有:处理器501和存储器502。
处理器501可以包括一个或多个处理核心,比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器501可以采用DSP(Digital Signal Processing,数字信号处理)、FPGA(Field-Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)、PLA(Programmable Logic Array,可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器501也可以包括主处理器和协处理器,主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器,也称CPU(Central ProcessingUnit,中央处理器);协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中,处理器501可以在集成有GPU(Graphics Processing Unit,图像处理器),GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中,处理器501还可以包括AI(Artificial Intelligence,人工智能)处理器,该AI处理器用于处理有关机器学习的计算操作。
存储器502可以包括一个或多个计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质可以是非暂态的。存储器502还可包括高速随机存取存储器,以及非易失性存储器,比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。在一些实施例中,存储器502中的非暂态的计算机可读存储介质用于存储至少一个指令,该至少一个指令用于被处理器501所执行以实现本申请中方法实施例提供的确定投影区域的方法。
在一些实施例中,计算设备500还可选包括有:***设备接口503和至少一个***设备。处理器501、存储器502和***设备接口503之间可以通过总线或信号线相连。各个***设备可以通过总线、信号线或电路板与***设备接口503相连。具体地,***设备包括:射频电路504、触摸显示屏505、摄像头506、音频电路507、定位组件508和电源509中的至少一种。
***设备接口503可被用于将I/O(Input/Output,输入/输出)相关的至少一个***设备连接到处理器501和存储器502。在一些实施例中,处理器501、存储器502和***设备接口503被集成在同一芯片或电路板上;在一些其他实施例中,处理器501、存储器502和***设备接口503中的任意一个或两个可以在单独的芯片或电路板上实现,本实施例对此不加以限定。
射频电路504用于接收和发射RF(Radio Frequency,射频)信号,也称电磁信号。射频电路504通过电磁信号与通信网络以及其他通信设备进行通信。射频电路504将电信号转换为电磁信号进行发送,或者,将接收到的电磁信号转换为电信号。可选地,射频电路504包括:天线***、RF收发器、一个或多个放大器、调谐器、振荡器、数字信号处理器、编解码芯片组、用户身份模块卡等等。射频电路504可以通过至少一种无线通信协议来与其它计算设备进行通信。该无线通信协议包括但不限于:城域网、各代移动通信网络(2G、3G、4G及5G)、无线局域网和/或WiFi(Wireless Fidelity,无线保真)网络。在一些实施例中,射频电路504还可以包括NFC(Near Field Communication,近距离无线通信)有关的电路,本申请对此不加以限定。
显示屏505用于显示UI(User Interface,用户界面)。该UI可以包括图形、文本、图标、视频及其它们的任意组合。当显示屏505是触摸显示屏时,显示屏505还具有采集在显示屏505的表面或表面上方的触摸信号的能力。该触摸信号可以作为控制信号输入至处理器501进行处理。此时,显示屏505还可以用于提供虚拟按钮和/或虚拟键盘,也称软按钮和/或软键盘。在一些实施例中,显示屏505可以为一个,设置计算设备500的前面板;在另一些实施例中,显示屏505可以为至少两个,分别设置在计算设备500的不同表面或呈折叠设计;在再一些实施例中,显示屏505可以是柔性显示屏,设置在计算设备500的弯曲表面上或折叠面上。甚至,显示屏505还可以设置成非矩形的不规则图形,也即异形屏。显示屏505可以采用LCD(Liquid Crystal Display,液晶显示屏)、OLED(Organic Light-Emitting Diode,有机发光二极管)等材质制备。
摄像头组件506用于采集图像或视频。可选地,摄像头组件506包括前置摄像头和后置摄像头。通常,前置摄像头设置在计算设备的前面板,后置摄像头设置在计算设备的背面。在一些实施例中,后置摄像头为至少两个,分别为主摄像头、景深摄像头、广角摄像头、长焦摄像头中的任意一种,以实现主摄像头和景深摄像头融合实现背景虚化功能、主摄像头和广角摄像头融合实现全景拍摄以及VR(Virtual Reality,虚拟现实)拍摄功能或者其它融合拍摄功能。在一些实施例中,摄像头组件506还可以包括闪光灯。闪光灯可以是单色温闪光灯,也可以是双色温闪光灯。双色温闪光灯是指暖光闪光灯和冷光闪光灯的组合,可以用于不同色温下的光线补偿。
音频电路507可以包括麦克风和扬声器。麦克风用于采集用户及环境的声波,并将声波转换为电信号输入至处理器501进行处理,或者输入至射频电路504以实现语音通信。出于立体声采集或降噪的目的,麦克风可以为多个,分别设置在计算设备500的不同部位。麦克风还可以是阵列麦克风或全向采集型麦克风。扬声器则用于将来自处理器501或射频电路504的电信号转换为声波。扬声器可以是传统的薄膜扬声器,也可以是压电陶瓷扬声器。当扬声器是压电陶瓷扬声器时,不仅可以将电信号转换为人类可听见的声波,也可以将电信号转换为人类听不见的声波以进行测距等用途。在一些实施例中,音频电路507还可以包括耳机插孔。
定位组件508用于定位计算设备500的当前地理位置,以实现导航或LBS(LocationBased Service,基于位置的服务)。定位组件508可以是基于美国的GPS(GlobalPositioning System,全球定位***)、中国的北斗***、俄罗斯的格雷纳斯***或欧盟的伽利略***的定位组件。
电源509用于为计算设备500中的各个组件进行供电。电源509可以是交流电、直流电、一次性电池或可充电电池。当电源509包括可充电电池时,该可充电电池可以支持有线充电或无线充电。该可充电电池还可以用于支持快充技术。
在一些实施例中,计算设备500还包括有一个或多个传感器510。该一个或多个传感器510包括但不限于:加速度传感器511、陀螺仪传感器512、压力传感器513、指纹传感器514、光学传感器515以及接近传感器516。
加速度传感器511可以检测以计算设备500建立的坐标系的三个坐标轴上的加速度大小。比如,加速度传感器511可以用于检测重力加速度在三个坐标轴上的分量。处理器501可以根据加速度传感器511采集的重力加速度信号,控制触摸显示屏505以横向视图或纵向视图进行用户界面的显示。加速度传感器511还可以用于游戏或者用户的运动数据的采集。
陀螺仪传感器512可以检测计算设备500的机体方向及转动角度,陀螺仪传感器512可以与加速度传感器511协同采集用户对计算设备500的3D动作。处理器501根据陀螺仪传感器512采集的数据,可以实现如下功能:动作感应(比如根据用户的倾斜操作来改变UI)、拍摄时的图像稳定、游戏控制以及惯性导航。
压力传感器513可以设置在计算设备500的侧边框和/或触摸显示屏505的下层。当压力传感器513设置在计算设备500的侧边框时,可以检测用户对计算设备500的握持信号,由处理器501根据压力传感器513采集的握持信号进行左右手识别或快捷操作。当压力传感器513设置在触摸显示屏505的下层时,由处理器501根据用户对触摸显示屏505的压力操作,实现对UI界面上的可操作性控件进行控制。可操作性控件包括按钮控件、滚动条控件、图标控件、菜单控件中的至少一种。
指纹传感器514用于采集用户的指纹,由处理器501根据指纹传感器514采集到的指纹识别用户的身份,或者,由指纹传感器514根据采集到的指纹识别用户的身份。在识别出用户的身份为可信身份时,由处理器501授权该用户执行相关的敏感操作,该敏感操作包括解锁屏幕、查看加密信息、下载软件、支付及更改设置等。指纹传感器514可以被设置计算设备500的正面、背面或侧面。当计算设备500上设置有物理按键或厂商Logo时,指纹传感器514可以与物理按键或厂商Logo集成在一起。
光学传感器515用于采集环境光强度。在一个实施例中,处理器501可以根据光学传感器515采集的环境光强度,控制触摸显示屏505的显示亮度。具体地,当环境光强度较高时,调高触摸显示屏505的显示亮度;当环境光强度较低时,调低触摸显示屏505的显示亮度。在另一个实施例中,处理器501还可以根据光学传感器515采集的环境光强度,动态调整摄像头组件506的拍摄参数。
接近传感器516,也称距离传感器,通常设置在计算设备500的前面板。接近传感器516用于采集用户与计算设备500的正面之间的距离。在一个实施例中,当接近传感器516检测到用户与计算设备500的正面之间的距离逐渐变小时,由处理器501控制触摸显示屏505从亮屏状态切换为息屏状态;当接近传感器516检测到用户与计算设备500的正面之间的距离逐渐变大时,由处理器501控制触摸显示屏505从息屏状态切换为亮屏状态。
本领域技术人员可以理解,图5中示出的结构并不构成对计算设备500的限定,可以包括比图示更多或更少的组件,或者组合某些组件,或者采用不同的组件布置。
本发明实施例提供了一种非易失性计算机可读存储介质,用于存储计算机程序,所述计算机程序通过处理器进行加载来执行上述确定投影区域的方法的指令。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成,也可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (20)

1.一种确定投影区域的方法,其特征在于,所述方法包括:
对拍摄区域中的一组结构光进行拍摄,得到一组拍摄图像,所述一组结构光包括至少三幅结构光,所述一组拍摄图像包括至少三个拍摄图像;
对于所述拍摄区域中的任一位置点,确定所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的平均亮度值和结构光波形分布的振幅;
根据所述任一位置点的平均亮度值和振幅,确定所述任一位置点的成像质量系数,将所述任一位置点的成像质量系数确定为所述任一位置点的波形显著性系数;
根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中确定投影区域。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对拍摄区域中的一组结构光进行拍摄,得到一组拍摄图像,包括:
在拍摄区域投影一组结构光,所述一组结构光被发射得到一组投影光栅;
对所述一组投影光栅进行拍摄,得到所述一组拍摄图像。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述任一位置点的平均亮度值和振幅,确定所述任一位置点的成像质量系数,包括:
对于所述一组拍摄图像中的每个拍摄图像,确定所述任一位置点的相位值以及所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布的相位偏移量;
根据所述平均亮度值、所述振幅、所述任一位置点的相位值和所述相位偏移量,确定所述任一位置点在所述拍摄图像中的亮度分布值;
根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定所述任一位置点的成像质量系数。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定所述任一位置点的成像质量系数,包括:
根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定亮度分布值之和以及亮度分布值和的平方;
根据所述亮度分布值之和以及所述亮度分布值和的平方,确定所述任一位置点的成像质量系数,所述任一位置点的成像质量系数与所述亮度分布值之和成反比,与亮度分布值和的平方成正比。
5.根据权利要求1-4任一权利要求所述的方法,其特征在于,所述任一位置点的成像质量系数与所述任一位置点的平均亮度值成正比,与振幅成反比。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中确定投影区域,包括:
根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中选择波形显著性系数大于系数阈值的多个位置点;
将所述多个位置点组成所述投影区域。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
接收被输入的所述系数阈值;或者,
根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,确定所述系数阈值。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,确定所述系数阈值,包括:
根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,统计波形显著性系数的统计直方图数据;
根据所述波形显著性系数的统计直方图数据,确定最大类间方差;
根据所述最大类间方差,确定所述系数阈值。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述根据所述波形显著性系数的统计直方图数据,确定最大类间方差,包括:
根据所述波形显著性系数的统计直方图数据,确定每个波形显著性系数的位置点数量;
根据所述每个波形显著性系数的位置点数量和所述一组结构光包括的结构光的数量,通过最大类间差法,确定所述最大类间方差。
10.一种确定投影区域的装置,其特征在于,所述装置包括:
拍摄模块,用于对拍摄区域中的一组结构光进行拍摄,得到一组拍摄图像,所述一组结构光中包括至少三幅结构光,所述一组拍摄图像包括至少三个拍摄图像;
第一确定模块,用于对于所述拍摄区域中的任一位置点,确定所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的平均亮度值和结构光波形分布的振幅;根据所述任一位置点的平均亮度值和振幅,确定所述任一位置点的成像质量系数,将所述任一位置点的成像质量系数确定为所述任一位置点的波形显著性系数;
第二确定模块,用于根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中确定投影区域。
11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述拍摄模块,还用于在拍摄区域投影一组结构光,所述一组结构光被发射得到一组投影光栅;对所述一组投影光栅进行拍摄,得到所述一组拍摄图像。
12.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述第一确定模块,还用于对于所述一组拍摄图像中的每个拍摄图像,确定所述任一位置点的相位值以及所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布的相位偏移量;根据所述平均亮度值、所述振幅、所述任一位置点的相位值和所述相位偏移量,确定所述任一位置点在所述拍摄图像中的亮度分布值;根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定所述任一位置点的成像质量系数。
13.根据权利要求12所述的装置,其特征在于,所述第一确定模块,还用于根据所述任一位置点在所述一组拍摄图像中的亮度分布值,确定亮度分布值之和以及亮度分布值和的平方;根据所述亮度分布值之和以及所述亮度分布值和的平方,确定所述任一位置点的成像质量系数,所述任一位置点的成像质量系数与所述亮度分布值之和成反比,与亮度分布值和的平方成正比。
14.根据权利要求12-13任一权利要求所述的装置,其特征在于,所述任一位置点的成像质量系数与所述任一位置点的平均亮度值成正比,与振幅成反比。
15.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,
所述第二确定模块,还用于根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,从所述拍摄区域中选择波形显著性系数大于系数阈值的多个位置点;将所述多个位置点组成所述投影区域。
16.根据权利要求15所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
接收模块,用于接收被输入的所述系数阈值;或者,
第三确定模块,用于根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,确定所述系数阈值。
17.根据权利要求16所述的装置,其特征在于,
所述第三确定模块,还用于根据所述拍摄区域中的每个位置点的波形显著性系数,统计波形显著性系数的统计直方图数据;根据所述波形显著性系数的统计直方图数据,确定最大类间方差;根据所述最大类间方差,确定所述系数阈值。
18.根据权利要求17所述的装置,其特征在于,
所述第三确定模块,还用于根据所述波形显著性系数的统计直方图数据,确定每个波形显著性系数的位置点数量;根据所述每个波形显著性系数的位置点数量和所述一组结构光包括的结构光的数量,通过最大类间差法,确定所述最大类间方差。
19.一种计算设备,其特征在于,所述计算设备包括:
至少一个处理器;和至少一个存储器;
所述至少一个存储器存储有一个或多个程序,所述一个或多个程序被配置成由所述至少一个处理器执行,所述一个或多个程序包含用于进行如权利要求1-9任一项所述的方法的指令。
20.一种非易失性计算机可读存储介质,其特征在于,所述非易失性计算机可读存储介质用于存储计算机程序,所述计算机程序通过处理器进行加载来执行如权利要求1-9任一项所述的方法的指令。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005293075A (ja) * 2004-03-31 2005-10-20 Brother Ind Ltd 3次元形状検出装置、3次元形状検出方法、3次元形状検出プログラム
CN102472613B (zh) * 2009-07-29 2014-07-09 佳能株式会社 测量设备和测量方法
CN102155924B (zh) * 2010-12-17 2012-07-04 南京航空航天大学 基于绝对相位恢复的四步相移方法
US9049369B2 (en) * 2013-07-10 2015-06-02 Christie Digital Systems Usa, Inc. Apparatus, system and method for projecting images onto predefined portions of objects
CN103336634B (zh) * 2013-07-24 2016-04-20 清华大学 基于自适应分层结构光的触碰检测***及方法
CN103697834A (zh) * 2013-12-26 2014-04-02 南京理工大学 实时光学三维测量中动态场景无效点的自动识别与排除方法
JP6795993B2 (ja) * 2016-02-18 2020-12-02 株式会社ミツトヨ 形状測定システム、形状測定装置及び形状測定方法
CN106403844B (zh) * 2016-08-26 2018-10-23 合肥工业大学 一种用于投影测量的有效点云快速识别算法
CN107367245B (zh) * 2017-08-22 2019-12-24 西安交通大学 光学三维轮廓测量中的无效点探测与剔除方法

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