CN110568346A - 一种智能卡的老化测试方法及*** - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种智能卡的老化测试方法,包括:配置***权限指令和文件内容更新列表;设置老化测试总次数、当前测试次数和文件***校验频率;读取并保存初始记录;在对文件内容更新列表中的文件进行读写校验的基础上辅以智能卡整个文件***结构的扫描与校验过程、智能卡功能校验过程等辅助检测手段可大幅提高智能卡老化测试的准确性和测试效率。本申请还提供一种智能卡的老化测试***,具有上述有益效果。
Description
技术领域
本申请涉及集成电路领域,特别涉及一种智能卡的老化测试方法及***。
背景技术
智能卡是一种含有集成电路芯片的卡片,包含了微处理器、I/O接口及存储器等。提供数据的运算、访问控制及存储等功能,又称“集成电路卡”。英文名称为“IntegratedCircuit Card”或“Smart Card”,智能卡就是一个超微型的计算机***,包括硬件(集成电路芯片)、操作***(COS)、基于COS的文件***及卡片应用等。
常见的手机卡、银行卡、社保卡、身份证、物联网卡等都是智能卡。每一张智能卡都是有寿命的,使用的次数多了,工作时间长了也会老化,同时不适宜的外部环境还会加速智能卡的老化。当它接近或达到它的使用寿命时可能会出现各种各样的问题,有些可能还会给使用者带来一定程度的损失。一般地,同一类型的智能卡在相同的外部环境中的寿命基本上在一个稳定的范围之内。
现有的技术一般是不停地对卡片上的特定的常用文件进行重复的读写,直到读出的值与写入的值不同即可判断卡片已老化。该方法虽简单直接,但存在误差,有时未达到写入的值与读出值不同的最大次数之前,卡片其他方面(比如文件***结构、重要的配置及初始值、卡片功能等)已损坏或不稳定,因为老化测试时间一般都比较长,难以及时发现故障问题,测试效率低。
发明内容
本申请的目的是提供一种智能卡的老化测试方法和老化测试***,能够对智能卡同时进行老化测试和稳定性测试。
为解决上述技术问题,本申请提供一种智能卡的老化测试方法,具体技术方案如下:
配置所述智能卡的***权限指令和文件内容更新列表;其中,所述智能卡置于预设量度的测试环境中;
设置老化测试总次数、当前测试次数和文件***校验频率;
扫描所述智能卡,保存文件***结构、内容、配置项及初始值作为初始记录;
利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证;
判断文件读写验证是否成功;
若文件读写验证失败,则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命;
若文件读写验证成功,判断当前测试次数是否满足所述文件***校验频率;
若否,返回执行利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证的步骤;
若是,扫描智能卡的当前文件***结构、当前文件***内容、当前配置项及当前初始值并与所述初始记录进行对比,得到比对结果;
若所述比较结果不一致,则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命;
若所述比较结果一致,则当前测试次数加1,判断所述当前测试次数是否等于老化测试总次数;
若所述当前测试次数不等于老化测试总次数,返回执行利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证的步骤;
若所述当前测试次数等于老化测试总次数,则将所述老化测试总次数作为所述智能卡的寿命。
其中,利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证之前,还包括:
利用测试脚本判断所述智能卡的初始功能是否正常;
若是,则执行利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证的步骤;
若否,重新检测所述初始功能,直至失败次数超过预设次数或所述初始功能正常。
其中,还包括:
修改所述测试环境的预设量度,并重新对所述智能卡进行老化测试。
其中,所述预设量度包括温度、湿度、酸碱度和盐度中一种或任意几种的组合。
其中,若所述比较结果不一致,则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命包括:
若所述比较结果不一致,则将所述当前测试次数的修正值作为所述智能卡的寿命。
本申请还提供一种智能卡的老化测试***,包括:
配置模块,用于配置所述智能卡的***权限指令和文件内容更新列表;其中,所述智能卡置于预设量度的测试环境中;设置老化测试总次数、当前测试次数和文件***校验频率;
文件***扫描模块,用于扫描所述智能卡,保存文件***结构、内容、配置项及初始值作为初始记录;
读写校验模块,用于利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证;判断文件读写验证是否成功;若文件读写验证失败,则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命;
文件***校验模块,用于所述读写校验模块执行文件读写验证成功时,判断当前测试次数是否满足所述文件***校验频率;若否,返回所述读写校验模块;若是,扫描智能卡的当前文件***结构、当前文件***内容、当前配置项及当前初始值并与所述初始记录进行对比,得到比对结果;若所述比较结果不一致,则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命;
寿命计算模块,用于所述文件***校验模块得到的比对结果一致时,当前测试次数加1,判断所述当前测试次数是否等于老化测试总次数;若所述当前测试次数不等于老化测试总次数,返回所述读写校验模块;若所述当前测试次数等于老化测试总次数,则将所述老化测试总次数作为所述智能卡的寿命。
其中,还包括:
功能测试模块,用于利用测试脚本判断所述智能卡的初始功能是否正常;若是,进入所述读写校验模块;若否,重新检测所述初始功能,直至失败次数超过预设次数或所述初始功能正常。
其中,还包括:
二次测试模块,用于修改所述测试环境的预设量度,并重新对所述智能卡进行老化测试。
本申请提供一种智能卡的老化测试方法,包括:配置所述智能卡的***权限指令和文件内容更新列表;其中,所述智能卡置于预设量度的测试环境中;设置老化测试总次数、当前测试次数和文件***校验频率;扫描所述智能卡,保存文件***结构、内容、配置项及初始值作为初始记录;利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证;判断文件读写验证是否成功;若文件读写验证失败,则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命;若文件读写验证成功,判断当前测试次数是否满足所述文件***校验频率;若否,返回执行利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证的步骤;若是,扫描智能卡的当前文件***结构、当前文件***内容、当前配置项及当前初始值并与所述初始记录进行对比,得到比对结果;若所述比较结果不一致,则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命;若所述比较结果一致,则当前测试次数加1,判断所述当前测试次数是否等于老化测试总次数;若所述当前测试次数不等于老化测试总次数,返回执行利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证的步骤;若所述当前测试次数等于老化测试总次数,则将所述老化测试总次数作为所述智能卡的寿命。
本申请在进行智能卡的老化测试的同时辅以预设频率的智能卡文件***的扫描和检测功能,在测试时可以尽早发现智能卡的故障问题,提高智能卡老化测试的准确性和测试效率。本申请还提供一种智能卡的老化测试***,具有上述有益效果。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例所提供的一种智能卡的老化测试方法的流程图;
图2为本申请实施例所提供的一种智能卡的老化测试***结构示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
请参考图1,图1为本申请实施例所提供的一种智能卡的老化测试方法的流程图,该老化测试方法包括:
S101:配置智能卡的***权限指令和文件内容更新列表;
需要注意的是,智能卡置于预设量度的测试环境中。容易理解的是,智能卡在不同的使用环境中对应的使用寿命并不相同。在此对于测试环境的预设量度不作具体限定,包括但不限于温度、湿度、酸碱度和盐度中任一种或任意几种的组合。
配置***权限指令是为了便于后续测试过程,由于测试过程中需要对智能卡进行读、写、激活、失效等操作,。因此本步骤需要对这些操作所需要的智能卡权限进行配置,包括但不限于:PIN1/PIN2/AMD1…ADM10/PUK1/PUK2等,以保证测试过程中的正常使用。在此对于***权限指令的种类不作限定,应由本领域技术人员根据实际测试需求做相应的选择设定。
配置文件内容更新列表,文件内容更新列表中包含若干个文件。每个文件的信息包括但不限于文件ID,文件类型,文件记录号等。
此外,本步骤中针对于***权限指令和文件内容更新列表的配置具有很强的扩展性,即本领域技术人员根据实际测试需求选择适当的***权限指令以及文件内容更新列表进行配置,以适应不同测试需求。由于每个文件都有相应的读写等权限,因此也做了文件权限的配置功能,并可由用户自由指定,具有很强的伸缩性。
S102:设置老化测试总次数、当前测试次数和文件***校验频率;
图1中以M作为老化测试总次数,N为当前测试次数。M和N仅为指代字母,不作为对老化测试总次数和当前测试次数的任何限定。
S103:扫描所述智能卡,保存文件***结构、内容、配置项及初始值作为初始记录;
初始文件***的结构和内容等数据作为一个重要监测点的原始数据保存起来,为后续该监测点的校验提供原始对比依据。容易理解的是,在本步骤中,除了针对文件结构和内容的扫描外,还可以根据不同测试需求进行智能卡其他内容的读取和保存,例如智能卡配置项等等,在此不作具体限定。
读取智能卡时同时还需要读取智能卡的初始功能。容易理解的是,在进行测试时,由于测试区域之间的关联性,即使测试时显示测试成功,仅仅意味着写入的数据和读出的数据相同,然而可能实际功能已经发生变化。因此对智能卡的初始功能进行校验也是必要的。
S104:利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证;
当累计的测试次数达到所述预设总测试次数时将所述预设总测试次数作为所述智能卡的寿命。
在对智能卡测试前,通常应设定本次测试的最大测试次数,即预设总测试次数。该预设总测试次数通常也为智能卡的预期标准,或者略高于预期值。例如某一智能卡目标寿命为读写十万次,则本次测试的预设总测试次数即可设为十万次,或者十一万次。在此对于预设总测试次数不作具体限定。
在测试过程中,利用***权限指令对智能卡进行文件内容的更新。该预设值用于进行后续校验,在此不作具体限定,其可以为随机值,也可以为特定值。
S105:判断文件读写验证是否成功;若否,进入S109;若是,进入S106。
S107:判断当前测试次数是否满足所述文件***校验频率;若是,进入S108;若否,返回S104;
S108:扫描智能卡的当前文件***结构、当前文件***内容、当前配置项及当前初始值并与所述初始记录进行对比,得到比对结果;若比较结果不一致,进入S109;若是,进入S110;
本步骤旨在进行文件***的比对,包括结构、内容、配置项以及初始值等内容的比对。
S109:寿命测试失败,将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命;
S110:当前测试次数加1,判断所述当前测试次数是否等于老化测试总次数;若是,进入S111;若否,返回S104;
S111:将所述老化测试总次数作为所述智能卡的寿命。
当任一次测试失败时,将当前累计的测试次数作为智能卡的寿命。
若测试成功,则循环进行测试。直至测试失败,或者累计的测试次数达到老化测试总次数,此时,将老化测试总次数作为智能卡的寿命。
本步骤旨在设置预设频率,对测试过程中的智能卡进行实时功能检测。由于测试时可能存在读写无问题,但实时功能已经发生变化的可能。因此通过设置预设频率对智能卡进行实时功能检测。在此对于预设频率不作限定,可以设为每一万次测试检测一次实时功能,或者每一千次测试检测一次实时功能等等。一旦实时功能发生异常,则此时根据预设频率和预设总测试次数得到最低寿命。
特别的,当S108得到的比对结果不一致时,可以将所述当前测试次数的修正值作为所述智能卡的寿命。举例而言,若预设总测试次数为100万次,预设频率为每一万次测试检测一次实时功能,在实际测试过程中,第10次检测实时功能时发现异常,此时文件读写校验模块已经正常进行了99999次测试,由于无法确定在九万次与十万次之间的哪一次读写验证时实时功能发生了变化,保守起见将智能卡的最低寿命修正为(10-1)×10000=90000次,即智能卡寿命修正值为90000次。同理,对于预设频率的智能卡文件***的扫描与校验模块出现校验失败的情况时也参照此算法。容易理解的是,在智能卡的老化测试过程中,对于测试得到的寿命结果可以进行相关的修正,当然,具体的修正方式应视具体的测试过程而定,例如可以使用取均值、舍弃不确定值等方式,在此不作限定。对老化测试的测试结果进行修正,使得测试结果更加准确、有效。
此外,还需要注意的是,无论在何时得到智能卡的寿命,其都是在本申请实施例步骤S101中的预设量度下的寿命,仅在该预设量度下有效。
本申请实施例通过将文件内容的更新检测与智能卡的老化测试相结合,在进行智能卡的老化测试时,对更新后的文件内容对应的实际读取值和所述预设值是否一致作判断,借此判断测试过程中是否发生文件内容的变化。同时测试过程中以预设频率检测智能卡的功能是否发生变化,将功能变化检测与老化测试相结合,在测试时可以尽早发现智能卡的故障问题,提高智能卡老化测试的准确性和测试效率。
由本实施例可以看出,本申请旨在将智能卡文件内容的扫描比对过程与智能卡的功能检测过程相结合,在进行文件内容测试的过程中以一定频率对智能卡进行功能检测,可以大大提高智能卡的老化测试效率,尽快发现智能卡在测试过程中的异常变化。在不脱离本申请原理的前提下,还可以对本申请进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。
基于上述实施例,作为优选的实施例,在执行步骤S104,即对智能卡进行读写测试前,还可以包括:
判断所述智能卡的初始功能是否正常;若是,进入S104;
本步骤旨在进行智能卡初始功能是否正常的判断,实际上也是智能卡应用性能的判断。若初始功能正常,则可以进入S104对智能卡进行测试。若不正常,说明该智能卡损坏。
基于上述实施例,作为优选的实施例,在得到该预设量度下的智能卡寿命后,还可以修改所述测试环境的预设量度,并重新对所述智能卡进行老化测试。
容易理解的是,智能卡可能工作在不同环境下,用户的使用环境不同,则容易影响智能卡的寿命,例如通常高温环境下的智能卡寿命较短,有效读写次数相对于常温下较少。因此,为了便于用户准确把握智能卡在不同环境下的寿命情况,可以修改测试环境的预设量度,并重新按照上述实施例的测试过程对智能卡进行测试。在此对于预设量度的修改不作限定,其可以采用控制变量法,或者模拟实际使用环境以进行测试。
下面对本申请实施例提供的一种智能卡的老化测试***进行介绍,下文描述的一种智能卡的老化测试***与上文描述的一种智能卡的老化测试方法可相互对应参照。
参见图2,图2为本申请实施例所提供的一种智能卡的老化测试***结构示意图,该老化测试***包括:
配置模块100,用于配置所述智能卡的***权限指令和文件内容更新列表;其中,所述智能卡置于预设量度的测试环境中;设置老化测试总次数、当前测试次数和文件***校验频率;
文件***扫描模块200,用于扫描所述智能卡,保存文件***结构、内容、配置项及初始值作为初始记录;
读写校验模块300,用于利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证;判断文件读写验证是否成功;若文件读写验证失败,则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命;
文件***校验模块400,用于所述读写校验模块300执行文件读写验证成功时,判断当前测试次数是否满足所述文件***校验频率;若否,返回所述读写校验模块;若是,扫描智能卡的当前文件***结构、当前文件***内容、当前配置项及当前初始值并与所述初始记录进行对比,得到比对结果;若所述比较结果不一致,则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命;
寿命计算模块500,用于所述文件***校验模块得到的比对结果一致时,当前测试次数加1,判断所述当前测试次数是否等于老化测试总次数;若所述当前测试次数不等于老化测试总次数,返回所述读写校验模块300;若所述当前测试次数等于老化测试总次数,则将所述老化测试总次数作为所述智能卡的寿命。
基于上述实施例,作为优选的实施例,老化测试***包括:
判断模块,用于采用测试脚本判断所述智能卡的初始功能是否正常。
基于上述实施例,作为优选的实施例,还包括:
二次测试模块,用于修改所述测试环境的预设量度,并重新对所述智能卡进行老化测试。
基于上述实施例,作为优选的实施例,所述文件***校验模块400包括:
修正单元,用于若所述比较结果不一致,则将所述当前测试次数的修正值作为所述智能卡的寿命。
说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例提供的***而言,由于其与实施例提供的方法相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。
本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请原理的前提下,还可以对本申请进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。
还需要说明的是,在本说明书中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
Claims (8)
1.一种智能卡的老化测试方法,其特征在于,包括:
配置所述智能卡的***权限指令和文件内容更新列表;其中,所述智能卡置于预设量度的测试环境中;
设置老化测试总次数、当前测试次数和文件***校验频率;
扫描所述智能卡,保存文件***结构、内容、配置项及初始值作为初始记录;
利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证;
判断文件读写验证是否成功;
若文件读写验证失败,则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命;
若文件读写验证成功,判断当前测试次数是否满足所述文件***校验频率;
若否,返回执行利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证的步骤;
若是,扫描智能卡的当前文件***结构、当前文件***内容、当前配置项及当前初始值并与所述初始记录进行对比,得到比对结果;
若所述比较结果不一致,则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命;
若所述比较结果一致,则当前测试次数加1,判断所述当前测试次数是否等于老化测试总次数;
若所述当前测试次数不等于老化测试总次数,返回执行利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证的步骤;
若所述当前测试次数等于老化测试总次数,则将所述老化测试总次数作为所述智能卡的寿命。
2.根据权利要求1所述的老化测试方法,其特征在于,利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证之前,还包括:
利用测试脚本判断所述智能卡的初始功能是否正常;
若是,则执行利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证的步骤;
若否,重新检测所述初始功能,直至失败次数超过预设次数或所述初始功能正常。
3.根据权利要求1所述的老化测试方法,其特征在于,还包括:
修改所述测试环境的预设量度,并重新对所述智能卡进行老化测试。
4.根据权利要求1所述的老化测试方法,其特征在于,所述预设量度包括温度、湿度、酸碱度和盐度中一种或任意几种的组合。
5.根据权利要求1所述的老化测试方法,其特征在于,若所述比较结果不一致,则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命包括:
若所述比较结果不一致,则将所述当前测试次数的修正值作为所述智能卡的寿命。
6.一种智能卡的老化测试***,其特征在于,包括:
配置模块,用于配置所述智能卡的***权限指令和文件内容更新列表;其中,所述智能卡置于预设量度的测试环境中;设置老化测试总次数、当前测试次数和文件***校验频率;
文件***扫描模块,用于扫描所述智能卡,保存文件***结构、内容、配置项及初始值作为初始记录;
读写校验模块,用于利用所述***权限指令和预设值对所述文件内容更新列表中的文件进行读写验证;判断文件读写验证是否成功;若文件读写验证失败,则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命;
文件***校验模块,用于所述读写校验模块执行文件读写验证成功时,判断当前测试次数是否满足所述文件***校验频率;若否,返回所述读写校验模块;若是,扫描智能卡的当前文件***结构、当前文件***内容、当前配置项及当前初始值并与所述初始记录进行对比,得到比对结果;若所述比较结果不一致,则将所述当前测试次数作为所述智能卡的寿命;
寿命计算模块,用于所述文件***校验模块得到的比对结果一致时,当前测试次数加1,判断所述当前测试次数是否等于老化测试总次数;若所述当前测试次数不等于老化测试总次数,返回所述读写校验模块;若所述当前测试次数等于老化测试总次数,则将所述老化测试总次数作为所述智能卡的寿命。
7.根据权利要求6所述的老化测试***,其特征在于,还包括:
功能测试模块,用于利用测试脚本判断所述智能卡的初始功能是否正常;若是,进入所述读写校验模块;若否,重新检测所述初始功能,直至失败次数超过预设次数或所述初始功能正常。
8.根据权利要求7所述的老化测试***,其特征在于,还包括:
二次测试模块,用于修改所述测试环境的预设量度,并重新对所述智能卡进行老化测试。
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CN201910949429.8A CN110568346A (zh) | 2019-10-08 | 2019-10-08 | 一种智能卡的老化测试方法及*** |
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CN201910949429.8A Pending CN110568346A (zh) | 2019-10-08 | 2019-10-08 | 一种智能卡的老化测试方法及*** |
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