CN110490938A - 用于校验摄像头标定参数的方法、装置及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请提出一种用于校验摄像头标定参数的方法、装置及电子设备，该方法包括获取各摄像头对标定物体拍摄得到的图像；采用标定参数对各图像进行校正，得到校正后的各目标图像；从各目标图像中确定出同名点；根据各目标图像中的同名点，判断标定参数是否满足校验指标。通过本申请，由于是分析各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，以进行后续标定参数的校验，能够直观地反映标定参数在成像应用时的偏差情况，使得标定参数的校验更为精准，提升标定参数的校验效果。
Description
技术领域
本申请涉及电子设备技术领域，尤其涉及一种用于校验摄像头标定参数的方法、装置及电子设备。
背景技术
摄像头标定，即获得摄像头的内参和外参，在采用摄像头成像时，采用预先标定的内参和外参，将待拍摄物体，从三维世界映射到摄像头成像平面以进行成像，在实际应用的过程中，为了保障后续的成像效果，在预先对摄像头进行标定之后，有必要对标定得到的内参和外参进行校验。
相关技术中，在对标定得到的内参和外参进行校验时，一般是对摄像头的原始的内参及外参均添加随机噪声，而后，采用添加噪声后的内参和外参进行二次标定，将二次标定得到的新的内参和外参与阈值进行比较，根据比较结果进行校验。
这种方式下，由于是采用人工引入随机噪声的方式进行标定参数的校验，不能够直接反映标定参数在后续成像应用时的偏差情况，校验不够精准，校验效果不佳。
发明内容
本申请旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
为此，本申请的目的在于提出一种用于校验摄像头标定参数的方法、装置及电子设备，由于是分析各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，以进行后续标定参数的校验，能够直观地反映标定参数在成像应用时的偏差情况，使得标定参数的校验更为精准，提升标定参数的校验效果。
为达到上述目的，本申请第一方面实施例提出的用于校验摄像头标定参数的方法，应用于电子设备中，电子设备包括多个摄像头，该方法包括：获取各所述摄像头对标定物体拍摄得到的图像；采用标定参数对各所述图像进行校正，得到校正后的各目标图像；从各所述目标图像中确定出同名点；根据各所述目标图像中的同名点，判断所述标定参数是否满足校验指标。
本申请第一方面实施例提出的用于校验摄像头标定参数的方法，通过获取各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，并采用标定参数对各图像进行校正，得到校正后的各目标图像，以及从各目标图像中确定出同名点，并根据各目标图像中的同名点，判断标定参数是否满足校验指标，由于是分析各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，以进行后续标定参数的校验，能够直观地反映标定参数在成像应用时的偏差情况，使得标定参数的校验更为精准，提升标定参数的校验效果。
为达到上述目的，本申请第二方面实施例提出的用于校验摄像头标定参数的装置，包括：获取模块，用于获取各所述摄像头对标定物体拍摄得到的图像；校正模块，用于采用标定参数对各所述图像进行校正，得到校正后的各目标图像；确定模块，用于从各所述目标图像中确定出同名点；判断模块，用于根据各所述目标图像中的同名点，判断所述标定参数是否满足校验指标。
本申请第二方面实施例提出的用于校验摄像头标定参数的装置，通过获取各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，并采用标定参数对各图像进行校正，得到校正后的各目标图像，以及从各目标图像中确定出同名点，并根据各目标图像中的同名点，判断标定参数是否满足校验指标，由于是分析各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，以进行后续标定参数的校验，能够直观地反映标定参数在成像应用时的偏差情况，使得标定参数的校验更为精准，提升标定参数的校验效果。
为达到上述目的，本申请第三方面实施例提出的计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由终端的处理器被执行时，使得终端能够执行一种用于校验摄像头标定参数的方法，所述方法包括：本申请第一方面实施例提出的用于校验摄像头标定参数的方法。
本申请第三方面实施例提出的计算机可读存储介质，通过获取各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，并采用标定参数对各图像进行校正，得到校正后的各目标图像，以及从各目标图像中确定出同名点，并根据各目标图像中的同名点，判断标定参数是否满足校验指标，由于是分析各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，以进行后续标定参数的校验，能够直观地反映标定参数在成像应用时的偏差情况，使得标定参数的校验更为精准，提升标定参数的校验效果。
为达到上述目的，本申请第四方面实施例提出了一种电子设备，该电子设备包括超广角摄像头、广角摄像头、长焦摄像头、壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，所述电路板安置在所述壳体围成的空间内部，所述处理器和所述存储器设置在所述电路板上；所述电源电路，用于为所述电子设备的各个电路或器件供电；所述存储器用于存储可执行程序代码；所述处理器通过读取所述存储器中存储的可执行程序代码来运行与所述可执行程序代码对应的程序，以用于执行：获取各所述摄像头对标定物体拍摄得到的图像；采用标定参数对各所述图像进行校正，得到校正后的各目标图像；从各所述目标图像中确定出同名点；根据各所述目标图像中的同名点，判断所述标定参数是否满足校验指标。
本申请第四方面实施例提出的电子设备，通过获取各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，并采用标定参数对各图像进行校正，得到校正后的各目标图像，以及从各目标图像中确定出同名点，并根据各目标图像中的同名点，判断标定参数是否满足校验指标，由于是分析各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，以进行后续标定参数的校验，能够直观地反映标定参数在成像应用时的偏差情况，使得标定参数的校验更为精准，提升标定参数的校验效果。
本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1是本申请一实施例提出的用于校验摄像头标定参数的方法的流程示意图；
图2为本申请实施例中标定物体示意图；
图3是本申请另一实施例提出的用于校验摄像头标定参数的方法的流程示意图；
图4是本申请一实施例提出的用于校验摄像头标定参数的装置的结构示意图；
图5是本申请一实施例提出的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。相反，本申请的实施例包括落入所附加权利要求书的精神和内涵范围内的所有变化、修改和等同物。
为了解决相关技术中采用人工引入随机噪声的方式进行标定参数的校验，不能够直接反映标定参数在后续成像应用时的偏差情况，校验不够精准，校验效果不佳，本申请实施例提供一种用于校验摄像头标定参数的方法，通过获取各所述摄像头对标定物体拍摄得到的图像，并采用标定参数对各所述图像进行校正，得到校正后的各目标图像，从各所述目标图像中确定出同名点，以及根据各所述目标图像中的同名点，判断所述标定参数是否满足校验指标，由于是分析各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，以进行后续标定参数的校验，能够直观地反映标定参数在成像应用时的偏差情况，使得标定参数的校验更为精准，提升标定参数的校验效果。
图1是本申请一实施例提出的用于校验摄像头标定参数的方法的流程示意图。
本实施例以用于校验摄像头标定参数的方法被配置在用于校验摄像头标定参数的装置中来举例说明。
本实施中用于校验摄像头标定参数的方法被配置在用于校验摄像头标定参数的装置中，用于校验摄像头标定参数的装置可以设置在电子设备或是服务器中，本申请实施例对此不作限制。
本实施例以用于校验摄像头标定参数的方法被配置在电子设备中为例。
电子设备可以是智能手机、平板电脑、车载电脑等，对此不作限制。
本发明实施例中的电子设备可以包括多个摄像头，多个摄像头例如，超广角摄像头、广角摄像头、长焦摄像头等，对此不作限制。
本发明实施例中，以多个摄像头为超广角摄像头、广角摄像头、长焦摄像头进行示例。
参见图1，该方法包括：
S101:获取各摄像头对标定物体拍摄得到的图像。
其中，标定物体为三维的立体物体，或者，也可以为二维平面的标定图卡，对此不作限制。
参见图2，图2为本申请实施例中标定物体示意图，该标定物体为二维平面的标定图卡，标定物体上具有显著的特征的点，可以被称为预设特征点，该预设特征点用于后续进行摄像头标定，预设特征点的数量可以为一个或者多个，为了保障标定精准度，一般预设多个预设特征点，图2中的标定物体21上可以预设多个预设特征点，为了便于后续进行特征点检测，因此，可以将标定物体21上黑色和白色正方形的交叉点(可以被称为角点)作为预设特征点。
在具体执行的过程中，可以控制各摄像头，对标定物体拍摄得到图像，例如，可以控制各摄像头同时对标定物体拍摄得到图像，并由电子设备的中央处理器获取各所述摄像头对标定物体拍摄得到的图像，对此不作限制。
作为一种示例，在控制各摄像头，对标定物体拍摄得到图像时，可以将标定图卡放置于固定位置，例如将标定图卡垂直于地面放置，电子设备与标定图卡相互平行，且相距特定的距离，电子设备垂直于地面，电子设备上各摄像头的光轴垂直于电子设备，平行于地面，在此放置方式下控制各摄像头，对标定物体拍摄得到图像，而后，将拍摄得到的与各摄像头对应的图像存储在存储器中，在存储时，也可以将各摄像头的标识与对应图像相关联，并将各摄像头的标识与对应图像关联进行存储，便于后续快速地读取图像。
在具体执行的过程中，在控制各摄像头，对标定物体拍摄得到图像时，拍摄的角度可以为正对着标定图卡，或者，也可以侧对着标定图卡，采集各角度下，与各摄像头对应的图像，或者，也可以设置电子设备与标定图卡相互平行，且相距多个不同的特定的距离，从而基于各特定的距离下，采集与各摄像头对应的图像，由此可以支持后续分别采用不同角度，不同的特定距离对应的图像进行多次校验，以多角度保障标定参数校验的精准度。
S102：采用标定参数对各图像进行校正，得到校正后的各目标图像。
其中，以多个摄像头为超广角摄像头、广角摄像头、长焦摄像头进行示例，标定参数可以例如为超广角摄像头，广角摄像头，长焦摄像头的内参，以及超广角摄像头与广角摄像头之间的外参，广角摄像头与长焦摄像头之间的外参。
其中，采用标定参数对各图像进行校正后的图像，可以被称为目标图像。
在具体执行的过程中，可以采用超广角摄像头与广角摄像头的内参，和超广角摄像头与广角摄像头之间的外参，对超广角摄像头与广角摄像头的图像进行校正，得到分别与超广角摄像头与广角摄像头对应的目标图像，而后，采用广角摄像头与长焦摄像头的内参，和广角摄像头与长焦摄像头之间的外参，对广角摄像头与长焦摄像头的图像进行校正，得到分别与广角摄像头与长焦摄像头对应的目标图像，后续采用分别与超广角摄像头与广角摄像头对应的目标图像，对超广角摄像头与广角摄像头的标定参数进行校验，以及采用分别与广角摄像头与长焦摄像头对应的目标图像，对广角摄像头与长焦摄像头的标定参数进行校验，对此不作限制。
S103：从各目标图像中确定同名点。
其中，若超广角、广角、长焦摄像头对同一标定物体拍摄得到各目标图像，则同名点是标定物体上的实际的点，对应映射在各目标图像中的点。
作为一种示例，在采用分别与超广角摄像头与广角摄像头对应的目标图像，对超广角摄像头与广角摄像头的标定参数进行校验时，可以确定与超广角摄像头对应的第一目标图像，和与广角摄像头对应的第二目标图像的第一同名点，在采用分别与广角摄像头与长焦摄像头对应的目标图像，对超广角摄像头与长焦摄像头的标定参数进行校验时，可以确定与广角摄像头对应的第三目标图像，和与长焦摄像头对应的第四目标图像的第二同名点，对此不作限制。
一些实施例中，在从各所述目标图像中确定出同名点时，可以采用相关技术中的图像识别算法，识别各目标图像中的同名点。
而本发明实施例中，可以对各所述目标图像进行亚像素角点检测，以识别所述预设特征点映射至各所述目标图像中的图像坐标数据；根据所述图像坐标数据，对各所述目标图像进行特征点匹配，以确定出所述多个目标图像之间的同名点。
作为一种示例，假设包括目标图像A、目标图像B，以及目标图像C，预设特征点映射至目标图像A中的图像坐标数据为A1，预设特征点映射至目标图像B中的图像坐标数据为A2，预设特征点映射至目标图像C中的图像坐标数据为A3，则可以根据图像坐标数据A1、图像坐标数据A2，以及图像坐标数据A3进行分析，确定A1、A2，以及A3指示的目标图像中的特征点是否对应为标定图卡中同一预设特征点，若是，则确定A1、A2，以及A3指示的目标图像中的特征点为同名点，且该同名点对应于不同的目标图像中的特征点，该同名点在不同的目标图像中具有不相同的图像坐标数据。
通过对各所述目标图像进行亚像素角点检测，以识别所述预设特征点映射至各所述目标图像中的图像坐标数据；根据所述图像坐标数据，对各所述目标图像进行特征点匹配，以确定出所述多个目标图像之间的同名点，能够快速准确的确定各目标图像之间的同名点，并根据各目标图像中同名点的坐标判断标定参数，缩短判断时间，提高判断准确性。
S104：根据各目标图像中的同名点，判断标定参数是否满足校验指标。
在具体执行的过程中，由于同名点对应于不同的目标图像中的特征点，该同名点在不同的目标图像中具有不相同的图像坐标数据，可以分析该同名点对应于不同目标图像中的图像坐标数据，以根据分析的结果判断标定参数是否满足校验指标。
本实施例中，通过获取各所述摄像头对标定物体拍摄得到的图像，并采用标定参数对各所述图像进行校正，得到校正后的各目标图像，从各所述目标图像中确定出同名点，以及根据各所述目标图像中的同名点，判断所述标定参数是否满足校验指标，由于是分析各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，以进行后续标定参数的校验，能够直观地反映标定参数在成像应用时的偏差情况，使得标定参数的校验更为精准，提升标定参数的校验效果。
图3是本申请另一实施例提出的用于校验摄像头标定参数的方法的流程示意图。
参见图3，该方法包括：
S301：获取各所述摄像头对标定物体拍摄得到的图像。
S302：采用标定参数对各所述图像进行校正，得到校正后的各目标图像。
S303：从各所述目标图像中确定出同名点。
S301-S303的执行过程可以参见上述实施例，在此不再赘述。
S304：确定目标同名点映射于各所述目标图像中的图像坐标，得到与所述目标同名点对应的多个图像坐标，其中，所述目标同名点为多个同名点中的一个。
S305：根据所述多个图像坐标，确定所述目标同名点对应的视差。
S306：根据所述目标同名点对应的视差，判断所述标定参数是否满足校验指标。
一些实施例中，可以从预设关系表中，确定与上述目标同名点的视差所对应的标准特征，而后分析标定参数对应的实际的特征，将实际的特征与标准特征相比较，以判断所述标定参数是否满足校验指标。
而本发明实施例中，根据所述目标同名点对应的视差，确定对应的深度值；根据所述深度值，判断所述标定参数是否满足校验指标。
作为一种示例，可以根据目标同名点在不同图像上的坐标，对不同图像基线方向上坐标进行相减得到对应的视差，其中，目标同名点有多个，对每个同名点进行相似的操作，得到多个对应的视差，在根据三角测距原理将各视差转化为深度值，多个视差对应得到多个深度值，通过深度值判断标定参数的准确性，由于深度值能够更直观地表达出同名点的视差，由此使得判断所述标定参数是否满足校验指标的参考信息更为直观化，提升判定效果，使得判定逻辑更为清晰。
可选地，根据各所述目标同名点对应的深度值，确定平均深度值；判断所述平均深度值是否在阈值范围内；若所述平均深度值在所述阈值范围内，则确定所述标定参数满足所述校验指标，若所述平均深度值不在所述阈值范围内，则确定所述标定参数不满足所述校验指标。
一些实施例中，多个目标同名点对应多个视差，相应的存在多个深度值，对多个深度值进行均值计算，得到平均深度值，在误差可允许的范围内，将平均深度值与设置的阈值进行比较，在平均深度值属于阈值范围内时，判断摄像头标定参数符合校验指标，在平均深度值超出阈值范围时，判断摄像头标定参数不符合校验指标，通过计算深度均值并与阈值进行比较，能够使得比对更为简捷，且符合应用场景需求，在有效提高摄像头标定参数判断的准确性的同时，提升判定效率。
本实施例中，通过获取各所述摄像头对标定物体拍摄得到的图像，并采用标定参数对各所述图像进行校正，得到校正后的各目标图像，从各所述目标图像中确定出同名点，以及根据各所述目标图像中的同名点，判断所述标定参数是否满足校验指标，由于是分析各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，以进行后续标定参数的校验，能够直观地反映标定参数在成像应用时的偏差情况，使得标定参数的校验更为精准，提升标定参数的校验效果，通过根据所述目标同名点对应的视差，确定对应的深度值；根据所述深度值，判断所述标定参数是否满足校验指标，通过深度值判断标定参数的准确性，由于深度值能够更直观地表达出同名点的视差，由此使得判断所述标定参数是否满足校验指标的参考信息更为直观化，提升判定效果，使得判定逻辑更为清晰。通过计算深度均值并与阈值进行比较，能够使得比对更为简捷，且符合应用场景需求，在有效提高摄像头标定参数判断的准确性的同时，提升判定效率。
图4是本申请一实施例提出的用于校验摄像头标定参数的装置的结构示意图。
用于校验摄像头标定参数的装置设置在电子设备中。
电子设备可以为智能手机，平板电脑，车载电脑等。
参见图4，该装置400包括：
获取模块401，用于获取各摄像头对标定物体拍摄得到的图像；
校正模块402，用于采用标定参数对各图像进行校正，得到校正后的各目标图像；
确定模块403，用于从各目标图像中确定出同名点；
判断模块404，用于根据各目标图像中的同名点，判断标定参数是否满足校验指标。
可选地，一些实施例中，同名点的数量为多个，判断模块404，具体用于：
确定目标同名点映射于各目标图像中的图像坐标，得到与目标同名点对应的多个图像坐标，其中，目标同名点为多个同名点中的一个，并根据多个图像坐标，确定目标同名点对应的视差，以及根据目标同名点对应的视差，判断标定参数是否满足校验指标。
可选地，一些实施例中，标定物体上包括预设特征点，确定模块403，具体用于：
对各目标图像进行亚像素角点检测，以识别预设特征点映射至各目标图像中的图像坐标数据，并根据图像坐标数据，对各目标图像进行特征点匹配，以确定出多个目标图像之间的同名点。
可选地，一些实施例中，判断模块404，进一步用于：
根据目标同名点对应的视差，确定对应的深度值，并根据深度值，判断标定参数是否满足校验指标。
可选地，一些实施例中，判断模块404，还用于：
根据各目标同名点对应的深度值，确定平均深度值，并判断平均深度值是否在阈值范围内；
若平均深度值在阈值范围内，则确定标定参数满足校验指标，若平均深度值不在阈值范围内，则确定标定参数不满足校验指标。
需要说明的是，前述图1-图3实施例中对用于校验摄像头标定参数的方法实施例的解释说明也适用于该实施例的用于校验摄像头标定参数的装置400，其实现原理类似，此处不在赘述。
本实施例中，通过获取各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，并采用标定参数对各图像进行校正，得到校正后的各目标图像，以及从各目标图像中确定同名点，根据各目标图像中的同名点，判断标定参数是否满足校验指标，由于是分析各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，以进行后续标定参数的校验，能够直观地反映标定参数在成像应用时的偏差情况，使得标定参数的校验更为精准，提升标定参数的校验效果。
图5是本申请一实施例提出的电子设备的结构示意图。
参见图5，本实施例的电子设备50包括：超广角摄像头501，广角摄像头502、长焦摄像头503、壳体504、处理器505、存储器506、电路板07、电源电路508，电路板507安置在壳体504围成的空间内部，处理器505、存储器506设置在电路板507上；电源电路508，用于为电子设备50各个电路或器件供电；存储器506用于存储可执行程序代码；其中，处理器505通过读取存储器506中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，以用于执行：
获取各摄像头对标定物体拍摄得到的图像；
采用标定参数对各图像进行校正，得到校正后的各目标图像；
从各目标图像中确定出同名点；
根据各目标图像中的同名点，判断标定参数是否满足校验指标。
需要说明的是，前述图1-图3实施例中对用于校验摄像头标定参数的方法实施例的解释说明也适用于该实施例的电子设备50，其实现原理类似，此处不在赘述。
本实施例中，通过获取各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，并采用标定参数对各图像进行校正，得到校正后的各目标图像，以及从各目标图像中确定同名点，根据各目标图像中的同名点，判断标定参数是否满足校验指标，由于是分析各摄像头对标定物体拍摄得到的图像，以进行后续标定参数的校验，能够直观地反映标定参数在成像应用时的偏差情况，使得标定参数的校验更为精准，提升标定参数的校验效果。
为了实现上述实施例，本申请实施例提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现前述方法实施例的用于校验摄像头标定参数的方法。
需要说明的是，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本申请的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本申请的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
应当理解，本申请的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行***执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。
此外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (12)
1.一种用于校验摄像头标定参数的方法，应用于电子设备中，所述电子设备包括多个摄像头，其特征在于，所述方法包括：
获取各所述摄像头对标定物体拍摄得到的图像；
采用标定参数对各所述图像进行校正，得到校正后的各目标图像；
从各所述目标图像中确定出同名点；
根据各所述目标图像中的同名点，判断所述标定参数是否满足校验指标。
2.如权利要求1所述的用于校验摄像头标定参数的方法，其特征在于，所述同名点的数量为多个，所述根据各所述目标图像中的同名点，判断所述标定参数是否满足校验指标，包括：
确定目标同名点映射于各所述目标图像中的图像坐标，得到与所述目标同名点对应的多个图像坐标，其中，所述目标同名点为多个同名点中的一个；
根据所述多个图像坐标，确定所述目标同名点对应的视差；
根据所述目标同名点对应的视差，判断所述标定参数是否满足校验指标。
3.如权利要求2所述用于校验摄像头标定参数的方法，其特征在于，所述标定物体上包括预设特征点，所述从各所述目标图像中确定出同名点，包括：
对各所述目标图像进行亚像素角点检测，以识别所述预设特征点映射至各所述目标图像中的图像坐标数据；
根据所述图像坐标数据，对各所述目标图像进行特征点匹配，以确定出所述多个目标图像之间的同名点。
4.如权利要求2所述的用于校验摄像头标定参数的方法，其特征在于，所述根据所述目标同名点对应的视差，判断所述标定参数是否满足校验指标，包括：
根据所述目标同名点对应的视差，确定对应的深度值；
根据所述深度值，判断所述标定参数是否满足校验指标。
5.如权利要求2所述的用于校验摄像头标定参数的方法，其特征在于，所述根据所述深度值，判断所述标定参数是否满足校验指标，包括：
根据各所述目标同名点对应的深度值，确定平均深度值；
判断所述平均深度值是否在阈值范围内；
若所述平均深度值在所述阈值范围内，则确定所述标定参数满足所述校验指标，若所述平均深度值不在所述阈值范围内，则确定所述标定参数不满足所述校验指标。
6.一种用于校验摄像头标定参数的装置，应用于电子设备中，所述电子设备包括多个摄像头，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于获取各所述摄像头对标定物体拍摄得到的图像；
校正模块，用于采用标定参数对各所述图像进行校正，得到校正后的各目标图像；
确定模块，用于从各所述目标图像中确定出同名点；
判断模块，用于根据各所述目标图像中的同名点，判断所述标定参数是否满足校验指标。
7.如权利要求6所述的用于校验摄像头标定参数的装置，其特征在于，所述同名点的数量为多个，所述判断模块，具体用于：
确定目标同名点映射于各所述目标图像中的图像坐标，得到与所述目标同名点对应的多个图像坐标，其中，所述目标同名点为多个同名点中的一个，并根据所述多个图像坐标，确定所述目标同名点对应的视差，以及根据所述目标同名点对应的视差，判断所述标定参数是否满足校验指标。
8.如权利要求7所述的用于校验摄像头标定参数的装置，其特征在于，所述标定物体上包括预设特征点，所述确定模块，具体用于：
对各所述目标图像进行亚像素角点检测，以识别所述预设特征点映射至各所述目标图像中的图像坐标数据，并根据所述图像坐标数据，对各所述目标图像进行特征点匹配，以确定出所述多个目标图像之间的同名点。
9.如权利要求7所述的用于校验摄像头标定参数的装置，其特征在于，所述判断模块，进一步用于：
根据所述目标同名点对应的视差，确定对应的深度值，并根据所述深度值，判断所述标定参数是否满足校验指标。
10.如权利要求7所述的用于校验摄像头标定参数的装置，其特征在于，所述判断模块，还用于：
根据各所述目标同名点对应的深度值，确定平均深度值，并判断所述平均深度值是否在阈值范围内；
若所述平均深度值在所述阈值范围内，则确定所述标定参数满足所述校验指标，若所述平均深度值不在所述阈值范围内，则确定所述标定参数不满足所述校验指标。
11.一种电子设备，包括超广角摄像头、广角摄像头、长焦摄像头、壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中所述电路板安置在所述壳体围成的空间内部，所述处理器和所述存储器设置在所述电路板上；所述电源电路，用于为所述电子设备的各个电路或器件供电；所述存储器用于存储可执行程序代码；所述处理器通过读取所述存储器中存储的可执行程序代码来运行与所述可执行程序代码对应的程序，以用于执行：
获取各所述摄像头对标定物体拍摄得到的图像；
采用标定参数对各所述图像进行校正，得到校正后的各目标图像；
从各所述目标图像中确定出同名点；
根据各所述目标图像中的同名点，判断所述标定参数是否满足校验指标。
12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行实现如权利要求1-5中任一项所述的用于校验摄像头标定参数的方法。
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