CN110444120B - 显示面板及其驱动方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及显示技术领域，提出一种显示面板，所述显示面板包括用于弯折的弯折区，所述显示面板还包括：检测像素单元、检测线、计算模块、补偿模块，检测像素单元共用位于所述弯折区的虚拟像素单元为所述检测像素单元；检测线连接于位于同一列的所述检测像素单元，用以检测所述检测像素单元的驱动电流；计算模块连接所述检测线，用于检测所述显示面板弯折前后各行所述检测像素单元驱动电流的变化量；补偿模块连接所述计算模块，用于根据所述驱动电流的变化量补偿相应行所述发光像素单元的数据信号，以降低所述发光像素单元弯折前后发光驱动电流的变化量。本公开提供的显示面板能够避免弯折造成的显示异常。

Description

显示面板及其驱动方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其驱动方法。

背景技术

近年来，柔性折叠产品备受关注，相关技术中显示面板的驱动阵列基板通常使用低温多晶硅技术(LTPS，Low Temperature Poly-silicon)制作。由于显示面板中的金属层与半导体多晶硅具有应变效应，显示面板弯折时，金属导线、半导体多晶硅沿其轴线方向会受力形变(伸长或缩短)，从而引起其电阻值会随着变化。

所以在柔性显示面板折叠过程中，由于金属与半导体电阻的变化，从而会引起像素驱动电路输出电流的变化，像素驱动电路输出电流的变化可能会引起显示不均问题，即出现Mura。

需要说明的是，在上述背景技术部分发明的信息仅用于加强对本发明的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本发明的目的在于提供一显示面板及其驱动方法。该显示面板能够解决相关技术中显示面板由于弯折出现显示异常的技术问题。

本发明的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本发明的实践而习得。

根据本发明的一个方面，提供一种显示面板，所述显示面板包括用于弯折的弯折区，所述显示面板还包括：检测像素单元、检测线、计算模块以及补偿模块。检测像素单元共用位于所述弯折区的所述虚拟像素单元为所述检测像素单元；检测线连接于位于同一列的所述检测像素单元，用以检测所述检测像素单元的驱动电流；计算模块连接所述检测线，用于检测所述显示面板弯折前后各行所述检测像素单元驱动电流的变化量；补偿模块连接所述计算模块，用于根据所述驱动电流的变化量补偿相应行所述发光像素单元的数据信号，以降低所述发光像素单元弯折前后发光驱动电流的变化量。

本发明的一种示例性实施例中，所述补偿模块与所述检测像素单元连接，用于根据所述驱动电流的变化量补偿相应行所述检测像素单元的数据信号。

本发明的一种示例性实施例中，所述显示面板还包括多个开关单元，所述开关单元连接于所述检测像素单元与所述检测线之间，多个所述开关单元用于分别响应于一控制信号以择一导通所述检测像素单元和检测线。

本发明的一种示例性实施例中，所述显示面板包括多行栅线，多行所述栅线分别向多个所述开关单元提供所述控制信号。

本发明的一种示例性实施例中，所述开关单元包括开关晶体管，开关晶体管的第一端连接所述检测像素单元，第二端连接所述检测线，控制端用于接收所述控制信号以将所述检测像素单元的电流传输到所述检测线。

本发明的一种示例性实施例中，所述检测像素单元共用多列所述虚拟像素单元，所述检测线为多条，每条所述检测线分别与位于同一列的所述检测像素单元连接。

本发明的一种示例性实施例中，所述检测像素单元包括驱动晶体管，所述检测线与所述驱动晶体管的源漏极同层成型。

本发明的一种示例性实施例中，所述开关晶体管集成于所述显示面板的像素电路层。

本发明的一种示例性实施例中，所述计算模块、补偿模块集成于所述显示面板的时序控制电路。

根据本发明的一个方面，提供一种显示面板驱动方法，用于驱动上述的显示面板，该方法包括：

逐行驱动所述显示面板；

利用计算模块检测所述显示面板弯折前后各行所述检测像素单元驱动电流的变化量；

利用补偿模块根据所述驱动电流的变化量补偿相应行所述发光像素单元的数据信号，以降低所述发光像素单元弯折前后发光驱动电流的变化量。

本公开提供一种显示面板及其驱动方法，所述显示面板包括用于弯折的弯折区，所述显示面板还包括：检测像素单元、检测线、计算模块以及补偿模块。检测像素单元共用位于所述弯折区的虚拟像素单元为所述检测像素单元；检测线连接于位于同一列的所述检测像素单元，用以检测所述检测像素单元的驱动电流；计算模块连接所述检测线，用于检测所述显示面板弯折前后各行所述检测像素单元驱动电流的变化量；补偿模块连接所述计算模块，用于根据所述驱动电流的变化量补偿相应行所述发光像素单元的数据信号，以降低所述发光像素单元弯折前后发光驱动电流的变化量。一方面，本公开通过检测检测像素单元弯折前后驱动电流的变化量，并根据该电流变化量补偿发光像素单元的数据信号，以使发光像素单元在弯折前后输出电流不变，从而解决了显示面板由于弯折造成的显示异常；另一方面，该显示面板通过共用虚拟像素单元为检测像素单元，从而避免了重新设置检测像素单元，简化了显示面板的结构，节约了成本。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为相关技术中显示面板的像素结构分布图；

图2为虚拟像素单元内像素驱动电路的一种电路结构示意图；

图3为发光像素单元内像素驱动电路的一种电路结构示意图；

图4为本公开显示面板一种示例性实施例的像素分布图；

图5为本公开显示面板一种示例性实施例的弯折结构示意图；

图6为本公开显示面板一种示例性实施例的功能框图；

图7为本公开显示面板一种示例性实施例中检测像素单元的连接结构图；

图8为本公开显示面板一种示例性实施例中检测线上电流的时间变化图；

图9为本公开显示面板另一种示例性实施例的功能框图；

图10为本公开显示面板另一种示例性实施例的像素分布图；

图11为本公开显示面板一种示例性实施例中检测像素单元的连接结构图；

图12为本公开显示面板另一种示例性实施例中检测线上电流的时间变化图；

图13为图4显示面板中检测像素单元的侧向剖面图；

图14为图10显示面板中检测像素单元的侧向剖面图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施例使得本发明将更加全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略它们的详细描述。

虽然本说明书中使用相对性的用语，例如“上”“下”来描述图标的一个组件对于另一组件的相对关系，但是这些术语用于本说明书中仅出于方便，例如根据附图中所述的示例的方向。能理解的是，如果将图标的装置翻转使其上下颠倒，则所叙述在“上”的组件将会成为在“下”的组件。其他相对性的用语，例如“高”“低”“顶”“底”“左”“右”等也作具有类似含义。当某结构在其它结构“上”时，有可能是指某结构一体形成于其它结构上，或指某结构“直接”设置在其它结构上，或指某结构通过另一结构“间接”设置在其它结构上。

用语“一个”、“一”、“所述”用以表示存在一个或多个要素/组成部分/等；用语“包括”和“具有”用以表示开放式的包括在内的意思并且是指除了列出的要素/组成部分/等之外还可存在另外的要素/组成部分/等。

如图1所示，为相关技术中显示面板的像素结构分布图。相关技术中，显示面板一般包括位于显示区的发光像素单元2，以及位于发光像素单元2周围的虚拟像素单元1。虚拟像素单元1一般不设置阳极和发光单元，从而形成围绕显示区的黑边框。如图2、3所示，图2为虚拟像素单元内像素驱动电路的一种电路结构示意图，图3为发光像素单元内像素驱动电路的一种电路结构示意图。虚拟像素单元由于没有设置发光单元OLED，因此，在显示面板逐行扫描时，虚拟像素单元不发光。

本示例性实施例首先提供一种显示面板，如图4、5、6所示，图4为本公开显示面板一种示例性实施例的像素分布图，图5为本公开显示面板一种示例性实施例的弯折结构示意图，图6为本公开显示面板一种示例性实施例的功能框图。所述显示面板包括用于弯折的弯折区3，所述显示面板还包括：检测像素单元5、检测线CK、计算模块7以及补偿模块8。检测像素单元5共用位于所述弯折区3的虚拟像素单元4为所述检测像素单元5；检测线CK连接于位于同一列的所述检测像素单元5，用以检测所述检测像素单元的驱动电流；计算模块7连接所述检测线CK，用于检测所述显示面板弯折前后各行所述检测像素单元5驱动电流的变化量；补偿模块8连接所述计算模块7，用于根据所述驱动电流的变化量补偿相应行所述发光像素单元6的数据信号，以降低所述发光像素单元6弯折前后发光驱动电流的变化量。

本公开提供一种显示面板，所述显示面板包括用于弯折的弯折区，所述显示面板还包括：检测像素单元、检测线、计算模块以及补偿模块。检测像素单元共用位于所述弯折区的虚拟像素单元为所述检测像素单元；检测线连接于位于同一列的所述检测像素单元，用以检测所述检测像素单元的驱动电流；计算模块连接所述检测线，用于检测所述显示面板弯折前后各行所述检测像素单元驱动电流的变化量；补偿模块连接所述计算模块，用于根据所述驱动电流的变化量补偿相应行所述发光像素单元的数据信号，以降低所述发光像素单元弯折前后发光驱动电流的变化量。一方面，本公开通过检测检测像素单元弯折前后驱动电流的变化量，并根据该电流变化量补偿相应行发光像素单元的数据信号，以使发光像素单元在弯折前后输出电流不变，从而解决了显示面板由于弯折造成的显示异常；另一方面，该显示面板通过共用虚拟像素单元为检测像素单元，从而避免了重新设置检测像素单元，简化了显示面板的结构，节约了成本。

本示例性实施例中，检测线连接检测像素单元具体可以指，检测线连接检测像素单元中像素驱动电路的电流输出端。例如，检测像素单元的像素驱动电路可以为相关技术中图2中的像素驱动电路。发光像素单元的像素驱动电路可以为相关技术中图3的像素驱动电路。如图7所示，为本公开显示面板一种示例性实施例中检测像素单元的连接结构图。检测线可以与检测像素单元中晶体管T6的输出端连接，用以检测所述检测像素单元的驱动电流。应该理解的是，在其他示例性实施例中，检测像素单元的像素驱动电路还可以为其他的电路结构，例如，2T1C等。

本示例性实施例中，计算模块7检测所述显示面板弯折前后各行所述检测像素单元5驱动电流的变化量的方式可以是，利用显示面板逐行扫描功能，读取非弯折状态下各个时刻检测线的电流；产品弯折后，利用显示面板逐行扫描功能，读取检测线各个时刻的电流；由于检测线上的电流为各行检测像素单元驱动电流的累加电流，因此可以结合各行检测像素单元扫描的时间节点，逐行计算各行检测像素的驱动电流。如图8所示，为本公开显示面板一种示例性实施例中检测线上电流的时间变化图，其中实线表示显示面板非弯折状态下检测线上电流的变化状态，虚线为显示面板弯折后检查线上电流的变化状态。由图8可以看出，检测像素单元逐行导通向检测线输入驱动电流，因此检测线的电流为逐渐增大状态。显示面板在弯折状态下，位于弯折区时，由于显示面板中的金属导线以及半导体被拉伸，造成金属导线以及半导体电阻增加，从而导致检测上累积的电流相对于非弯折状态略有减小。计算模块7可以结合各行检测像素单元扫描的时间节点，逐行计算各行检测像素的驱动电流。例如，第10-20行检测像素单元位于弯折区。显示面板非弯折状态下，扫描到第10行检测像素单元时，记录的检测线电流为I1，显示面板在弯折状态下，扫描到第10行检测像素单元时，记录的检测线电流为I2，因此可以得出第10行检测像素单元驱动电流变化量为I2-I1。显示面板非弯折状态下，扫描到第11行检测像素单元时，记录的检测线电流为I3，显示面板在弯折状态下，扫描到第11行检测像素单元时，记录的检测线电流为I4，因此可以得出第11行检测像素单元驱动电流变化量为I4-I3-(I2-I1)，依次类推可以计算得出其他检测像素单元的驱动电流变化量。

本示例性实施例中，图9为本公开显示面板另一种示例性实施例的功能框图。所述补偿模块8可以与所述检测像素单元5连接，用于根据所述驱动电流的变化量补偿相应行所述检测像素单元的数据信号。当计算模块7计算的出驱动电流变化量时，补偿模块8可以根据所述驱动电流的变化量补偿相应行所述检测像素单元的数据信号，此时，计算模块7可以检测补偿后检测像素单元的驱动电流与弯折前是否还有差异，如果存在差异还可以再进行多次补偿。

本示例性实施例中，如图10、11所示，图10为本公开显示面板另一种示例性实施例的像素分布图，图11为本公开显示面板一种示例性实施例中检测像素单元的连接结构图。所述显示面板还可以包括多个开关单元T0，所述开关单元T10连接于所述检测像素单元与所述检测线之间，多个所述开关单元T10用于分别响应于一控制信号以择一导通所述检测像素单元和检测线。例如，开关单元T10可以逐行导通，当第m+2行的开关单元导通时，其他行的开关单元关断，此时检测线检测到的电流仅仅为第m+2行检测像素单元的驱动电流。当第m+3行的开关单元导通时，其他行的开关单元关断，此时检测线检测到的电流仅仅为第m+3行检测像素单元的驱动电流，依次类推检测线可以分别检测到不同行检测像素单元的驱动电流。

其中，所述开关单元可以包括开关晶体管，开关晶体管的第一端连接所述检测像素单元，第二端连接所述检测线，控制端用于接收所述控制信号以将所述检测像素单元的电流传输到所述检测线。

本示例性实施例中，计算模块7检测所述显示面板弯折前后各行所述检测像素单元5驱动电流的变化量的方式可以是，利用显示面板逐行扫描功能，读取非弯折状态下各个时刻检测线的电流；产品弯折后，利用显示面板逐行扫描功能，读取检测线各个时刻的电流；由于检测线上的电流为各行检测像素单元驱动电流的电流，因此可以直接计算各行检测像素的驱动电流。如图12所示，为本公开显示面板另一种示例性实施例中检测线上电流的时间变化图，其中实线表示显示面板非弯折状态下检测线上电流的变化状态，虚线为显示面板弯折后检查线上电流的变化状态。由图12可以看出，检测像素单元择一向检测线输入驱动电流，显示面板在非弯折状态下检测线上电流不变。显示面板在弯折状态下，位于弯折区时，由于显示面板中的金属导线以及半导体被拉伸，造成金属导线以及半导体电阻增加，从而导致检测上的电流相对于非弯折状态略有减小。其中，弯折角越大，检测线上电流越小。计算模块7可以结合各行检测像素单元扫描的时间节点，直接计算各行检测像素的驱动电流。例如，第10-20行检测像素单元位于弯折区。显示面板非弯折状态下，扫描到第10行检测像素单元时，记录的检测线电流为I1，显示面板在弯折状态下，扫描到第10行检测像素单元时，记录的检测线电流为I2，因此可以得出第10行检测像素单元驱动电流变化量为I2-I1。显示面板非弯折状态下，扫描到第11行检测像素单元时，记录的检测线电流为I3，显示面板在弯折状态下，扫描到第11行检测像素单元时，记录的检测线电流为I4，因此可以得出第11行检测像素单元驱动电流变化量为I4-I3，依次类推可以计算得出其他检测像素单元的驱动电流变化量。

本示例性实施例中，所述显示面板包括有多行栅线，栅线逐行输出栅极驱动信号。因此，多行所述栅线可以分别向多个所述开关单元提供所述控制信号。例如，当检测像素单元的像素驱动电路为如图2所示的7T1C结构。由于该像素驱动电路驱动过程中，EM信号可以为一行控制两行像素，某一行的EM信号在该行像素接收到栅极驱动信号SCAN时为高电平信号，且该EM信号自接收到栅极驱动信号SCAN起为高电平信号的时长为6倍的SCAN信号时长。因此，第m行检测像素单元是在第m+6行栅线输出栅极驱动信号以后，EM信号才为低电平，以使第m行检测像素单元中的像素驱动电路输出驱动电流。由此可知，如图10所示，第m行的开关单元T0可以共用第m+n行的栅极驱动信号为控制信号，其中n需要大于6。

应该理解的是，根据检测像素单元像素驱动电路结构以及驱动方式的不同，上述开关单元共用栅极提供控制信号的方式也不同，例如，当检测像素单元的像素驱动电路为2T1C结构时，由于第m行像素驱动电路是在第m上栅线输出栅极驱动信号时输出驱动电流，因此，第m行的开关单元T0可以共用第m行的栅极驱动信号为控制信号。

本示例性实施例中，如图4、10所示，所述检测像素单元可以共用两列所述虚拟像素单元，所述检测线为两条，每条所述检测线分别与位于同一列的所述检测像素单元连接。应该理解的是，在其他示例性实施例中，所述检测像素单元可以共用其他列数的所述虚拟像素单元，所述检测线为其他条数，每条所述检测线分别与位于同一列的所述检测像素单元连接。

本示例性实施例中，如图13、14所示，图13为图4显示面板中检测像素单元的侧向剖面图，图14为图10显示面板中检测像素单元的侧向剖面图。源/漏极9为图4、10中晶体管T6的输出端，晶体管11为图4、10中晶体管T3。所述检测像素单元包括驱动晶体管(图4中T1，图13中未画出，T1与T3源/漏极同层成型)，所述检测线10可以与所述驱动晶体管的源/漏极同层成型。其中，如图14所示，所述开关晶体管12可以集成于所述显示面板的像素电路层，开关晶体管12可以共用晶体管11的有源层，同时共用晶体管T6的一个源/漏极。

本示例性实施例中，所述计算模块、补偿模块可以集成于所述显示面板的时序控制电路。

本示例性实施例还提供一种显示面板驱动方法，用于驱动上述的显示面板，该方法包括：

逐行驱动所述显示面板；

利用计算模块检测所述显示面板弯折前后各行所述检测像素单元驱动电流的变化量；

利用补偿模块根据所述驱动电流的变化量补偿相应行所述发光像素单元的数据信号，以降低所述发光像素单元弯折前后发光驱动电流的变化量。

该显示面板驱动方法与上述的显示面板具有相同的技术特征和工作原理，上述内容已经做出详细说明，此处不再赘述。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其他实施例。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限。

Claims (10)

1.一种显示面板，所述显示面板包括用于弯折的弯折区，其特征在于，所述显示面板包括：

检测像素单元，共用位于所述弯折区的虚拟像素单元为所述检测像素单元；

检测线，连接于位于同一列的所述检测像素单元，用以检测所述检测像素单元的驱动电流；

计算模块，连接所述检测线，用于检测所述显示面板弯折前后各行所述检测像素单元驱动电流的变化量；

补偿模块，连接所述计算模块，用于根据所述驱动电流的变化量补偿相应行发光像素单元的数据信号，以降低所述发光像素单元弯折前后发光驱动电流的变化量。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述补偿模块与所述检测像素单元连接，用于根据所述驱动电流的变化量补偿相应行所述检测像素单元的数据信号。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：

多个开关单元，所述开关单元连接于所述检测像素单元与所述检测线之间，多个所述开关单元用于分别响应于一控制信号以择一导通所述检测像素单元和检测线。

4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括多行栅线，多行所述栅线分别向多个所述开关单元提供所述控制信号。

5.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述开关单元包括：

开关晶体管，第一端连接所述检测像素单元，第二端连接所述检测线，控制端用于接收所述控制信号以将所述检测像素单元的驱动电流传输到所述检测线。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测像素单元共用多列所述虚拟像素单元，所述检测线为多条，每条所述检测线分别与位于同一列的所述检测像素单元连接。

7.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测像素单元包括驱动晶体管，所述检测线与所述驱动晶体管的源漏极同层成型。

8.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述开关晶体管集成于所述显示面板的像素电路层。

9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述计算模块、补偿模块集成于所述显示面板的时序控制电路。

10.一种显示面板驱动方法，用于驱动权利要求1-9任一项所述的显示面板，其特征在于，包括：

逐行驱动所述显示面板；

利用计算模块检测所述显示面板弯折前后各行所述检测像素单元驱动电流的变化量；

利用补偿模块根据所述驱动电流的变化量补偿相应行所述发光像素单元的数据信号，以降低所述发光像素单元弯折前后发光驱动电流的变化量。

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