CN110441235A - 一种多模耦合原位显微光谱成像*** - Google Patents

一种多模耦合原位显微光谱成像*** Download PDF

Info

Publication number
CN110441235A
CN110441235A CN201910867527.7A CN201910867527A CN110441235A CN 110441235 A CN110441235 A CN 110441235A CN 201910867527 A CN201910867527 A CN 201910867527A CN 110441235 A CN110441235 A CN 110441235A
Authority
CN
China
Prior art keywords
imaging
optical path
micro
reflecting mirror
spectrum
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201910867527.7A
Other languages
English (en)
Inventor
窦新存
柯于雷
***
祖佰祎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xinjiang Technical Institute of Physics and Chemistry of CAS
Original Assignee
Xinjiang Technical Institute of Physics and Chemistry of CAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xinjiang Technical Institute of Physics and Chemistry of CAS filed Critical Xinjiang Technical Institute of Physics and Chemistry of CAS
Priority to CN201910867527.7A priority Critical patent/CN110441235A/zh
Publication of CN110441235A publication Critical patent/CN110441235A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

本发明公开一种多模耦合原位显微光谱成像***,该***是由倒置显微镜、激发光光源模块、光路切换模块、显微成像及光谱测试模块组成,涉及样品同一微米级区域多项光谱及成像测量的功能,包括微区拉曼光谱、微区荧光光谱、荧光显微成像、微区透射光谱、透射显微成像、微区反射光谱、反射显微成像。该***具有无需移动样品到多种检测设备,便能实现对样品同一微区进行多模式、多维度的原位检测分析的特点,可原位表征获得样品微区信息,即可实时获得样品同一微区的拉曼光谱、荧光光谱及成像、透射光谱及成像、反射光谱及成像等多重信息。并消除由于样品转移而造成的测量误差,极大提高了测试结果的可靠性。

Description

一种多模耦合原位显微光谱成像***
技术领域
本发明属于光学分析检测领域,具体涉及一种多模耦合原位显微光谱成像***。
背景技术
显微光谱及成像技术,主要包括测量样品微区的拉曼光谱、荧光光谱及成像、透射光谱及成像和反射光谱及成像等分析测试技术。物质的拉曼光谱可反映物质分子结构信息;荧光光谱及成像可反映物质的能级信息;透射光谱及成像与反射光谱及成像可直观并精确反映物质的颜色及颜色变化。显微光谱及成像技术不仅具有空间分辨能力,而且还具有光谱分辨能力,可获知样品微区的成分及结构。该技术在工业、分析检测、科学研究等领域的应用十分广泛。
然而在实际应用中,显微光谱及成像技术中的各项光谱分析及测试技术相互独立,需要移动样品至不同仪器进行分析测试,造成不可避免的测量误差。现有的仪器设备***无法满足对样品同一微区进行多项原位显微光谱及成像测量的需求。若能够在不转移样品的前提下,在一套测试***上同时实现拉曼光谱、荧光光谱及成像、透射光谱及成像和反射光谱及成像的分析测试功能,将能够更全面地原位表征样品微区的成分及结构,从而进一步拓展显微光谱及成像技术的应用,促进光学分析检测领域的进一步发展。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种多模耦合原位显微光谱成像***,该***是由倒置显微镜、激发光光源模块、光路切换模块、显微成像及光谱测试模块组成,具有无需移动样品到多种检测设备,便能实现对样品同一微区进行多模式、多维度的原位检测分析的特点,可原位表征获得样品微区信息,即可实时获得样品同一微区的拉曼光谱、荧光光谱及成像、透射光谱及成像、反射光谱及成像等多重信息。并消除由于样品转移而造成的测量误差,极大提高了测试结果的可靠性。
本发明所述的一种多模耦合原位显微光谱成像***,该***是由倒置显微镜、激发光光源模块、光路切换模块、显微成像及光谱测试模块组成,所述激发光光源模块是由拉曼光源单元、荧光激发光源单元、反射照明光源单元三部分组成;其中,拉曼光源单元是由532nm高亮度半导体激光器(1)、第一透镜(2)、第二透镜(3)、第一可变光阑(4)、带通滤波片(5)、双色分光镜(6)、长通滤波片(7)、第一光纤耦合器(8)、第一反射镜(9)和第二反射镜(10)组成;荧光激发光源单元是由第二可变光阑(15)、第三反射镜(16)、第二可调式反射镜(17)和氙灯光源(19)组成;反射照明光源单元是由第四反射镜(18)和白光光源(20)组成;所述光路切换模块是由光路切换器第一光路切换器(11)和第二光路切换器(24)组成,其中第一光路切换器(11)包括第三透镜(12)、第一可调式反射镜(13)和第四透镜(14);第二光路切换器(24)包括第五透镜(25)、第三可调式反射镜(26)和第六透镜(27);所述显微成像及光谱测试模块是由第一显微成像用检测器(23)、第二光纤耦合器(28)、光谱仪(29)、第二显微成像用检测器(30)和计算机(31)组成,其中第一显微成像用检测器(23)为CMOS面阵相机,第二显微成像用检测器(30)为CCD面阵相机;激发光光源模块中的拉曼光源单元分别与光路切换模块中的第一光路切换器(11)和第二光路切换器(24)连接,荧光激发光源单元和反射照明光源单元分别与第一光路切换器(11)连接;光路切换模块中的第一光路切换器(11)和第二光路切换器(24)分别与倒置显微镜(22)连接,第二光路切换器(24)与显微成像及光谱测试模块中的第二光纤耦合器(28)连接;显微成像及光谱测试模块中的光谱仪(29)上设有第二显微成像用检测器(30),计算机(31)分别与第一显微成像用检测器(23)和第二显微成像用检测器(30)串接。
所述倒置显微镜(22)的一个C-mount接口与第一显微成像用检测器(23)连接,另一C-mount接口与第二光路切换器(24)连接,后侧接口与第三可变光阑(21)连接。
激发光光源模块中双色分光镜(6)反射532nm的拉曼激发光,并同时透射500-2500nm的拉曼散射信号;长通滤波片(7)透射510-2500nm的拉曼散射信号;第一反射镜(9)、第二反射镜(10)、第三反射镜(16)和第四反射镜(18)均为全反镜;第二可调式反射镜(17)为90°可调式表面反射镜。
光路切换模块中第一可调式反射镜(13)和第三可调式反射镜(26)均为45°可调式滑动反射镜。
本发明所述的一种多模耦合原位显微光谱及成像***,该***具体操作按下列步骤进行:
a、调节第一光路切换器(11),使拉曼光源进入到倒置显微镜(22)的载物台样品上,聚焦至样品微区,激发样品微区并产生拉曼散射信号,拉曼散射信号由倒置显微镜(22)返回第一光路切换器(11),经过第二反射镜(10)、第一反射镜(9)、双色分光镜(6)、长通滤波片(7)、第一光纤耦合器(8)、第二光路切换器(24)、第二光纤耦合器(28)入射至光谱仪(29)及第二显微成像用检测器(30),计算机(31)显示样品微区的拉曼光谱;
b、调节第一光路切换器(11),使荧光激发光源、反射照明光源、透射光激发光源分别进入到倒置显微镜(22)载物台的样品上,聚焦至样品微区,激发样品微区,根据激发光光源的不同,样品微区产生对应的光谱信号,其由第一显微成像用检测器(23)接收时,计算机(31)分别独立显示样品微区的荧光、反射及透射图像;当样品受激产生的光谱信号切换至经过第二光路切换器(24)时,荧光、反射、透射光谱信号通过第二光纤耦合器(28)入射至光谱仪(29)及第二显微成像用检测器(30),根据对应的光谱信号,计算机(31)分别独立显示样品微区的荧光光谱、反射光谱和透射光谱。
本发明所述的一种多模耦合原位显微光谱成像***,该***与现有技术比较,具有以下有益效果:
(1)对待测样品的微米级区域实现原位拉曼光谱、荧光光谱及成像、透射光谱及成像和反射光谱及成像等多模分析检测表征,有效地避免了由于移动样品造成的测量偏差,在样品的原位表征方面具有不可替代的优势;
(2)此外,本发明可实现拉曼光谱、荧光光谱及成像、透射光谱及成像和反射光谱及成像等多重信息的独立获取,可突破以往仪器设备设计中仅单一信号收集的局限性,实现样品多层次信息的原位获取。
附图说明
图1为本发明多模耦合原位显微光谱成像***示意图;
图2为本发明多模耦合原位显微光谱成像***结构示意图;
图3为本发明拉曼激光单元结构示意图;
图4为本发明荧光激发光源单元结构示意图;
图5为本发明反射照明光源单元结构示意图;
图6为本发明光路切换模块结构示意图,其中a为第一光路切换器,b为第二光路切换器;
图7为本发明显微成像及光谱测试模块结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图,对本发明的技术方案进行具体说明。
实施例
本发明所述的一种多模耦合原位显微光谱成像***,该***是由倒置显微镜、激发光光源模块、光路切换模块、显微成像及光谱测试模块组成,所述激发光光源模块是由拉曼光源单元、荧光激发光源单元、反射照明光源单元三部分组成;其中,拉曼光源单元是由532nm高亮度半导体激光器1、第一透镜2、第二透镜3、第一可变光阑4、带通滤波片5、双色分光镜6、长通滤波片7、第一光纤耦合器8、第一反射镜9和第二反射镜10组成;荧光激发光源单元是由第二可变光阑15、第三反射镜16、第二可调式反射镜17和氙灯光源19组成;反射照明光源单元是由第四反射镜18和白光光源20组成;所述光路切换模块是由光路切换器第一光路切换器11和第二光路切换器24组成,其中第一光路切换器11包括第三透镜12、第一可调式反射镜13和第四透镜14;第二光路切换器24包括第五透镜25、第三可调式反射镜26和第六透镜27;所述显微成像及光谱测试模块是由第一显微成像用检测器23、第二光纤耦合器28、光谱仪29、第二显微成像用检测器30和计算机31组成,其中第一显微成像用检测器23为CMOS面阵相机,第二显微成像用检测器30为CCD面阵相机;激发光光源模块中的拉曼光源单元分别与光路切换模块中的第一光路切换器11和第二光路切换器24连接,荧光激发光源单元和反射照明光源单元分别与第一光路切换器11连接;光路切换模块中的第一光路切换器11和第二光路切换器24分别与倒置显微镜22连接,第二光路切换器24与显微成像及光谱测试模块中的第二光纤耦合器28连接;显微成像及光谱测试模块中的光谱仪29上设有第二显微成像用检测器30,计算机31分别与第一显微成像用检测器23和第二显微成像用检测器30串接;
所述倒置显微镜22的一个C-mount接口与第一显微成像用检测器23连接、另一C-mount接口与第二光路切换器24连接、后侧接口与第三可变光阑21连接;
激发光光源模块中双色分光镜6反射532nm的拉曼激发光,并同时透射500-2500nm的拉曼散射信号;长通滤波片7透射510-2500nm的拉曼散射信号;第一反射镜9、第二反射镜10、第三反射镜16、第四反射镜18均为全反镜;第二可调式反射镜17为90°可调式表面反射镜;
光路切换模块中第一可调式反射镜13和第三可调式反射镜26均为45°可调式滑动反射镜;
在使用时,通过调节激发光源模块、光路切换模块和显微成像及光谱测试模块,实现在不同激发光源下样品微米级区域多重信息的独立获取;
选择荧光碳量子点纳米纤维膜样品为例:
荧光碳量子点纳米纤维膜样品任一微米级区域拉曼光谱的测量:
将该样品至于倒置显微镜22载物台,打开532nm高亮度半导体激光器,532nm绿色激光经过由第一透镜2、第二透镜3构成的光束扩束器、第一可变光阑4、带通滤波片5,在双色分光镜6上反射532nm的入射光,经过第一反射镜9、第二反射镜10,调节第一光路切换器11中的第一可调式反射镜13和第三可变光阑21,最终进入倒置显微镜22,聚焦至样品微区,调节第一可变光阑4和第三可变光阑21可调节激光强度及光斑大小,调节倒置显微镜22光路切换模块,使得样品的拉曼散射信号沿着原光路返回直接透过双色分光镜,经长通滤波片7过滤纯化后,利用第一光纤耦合器8导入第二光路切换器24,调节第三可调式反射镜26,使得拉曼散射信号通过第六透镜27经过第二光纤耦合器28进入光谱仪29中,实现对样品微区拉曼光谱信号的采集,可在计算机上呈现样品微区的拉曼光谱;
该样品同一微区荧光光谱及成像的分析测量:
打开氙灯光源19,调节第一光路转换器11中的第一可调式反射镜13及第二可调式反射镜17,使532nm拉曼激发光无法进入倒置显微镜22并使氙灯激发光进入倒置显微镜22,聚焦至样品同一微区,调节倒置显微镜22光路切换模块,使得样品的荧光光谱信号进入第一显微成像用检测器23,实现对样品微区荧光图像的采集;调节倒置显微镜22光路切换模块,使得样品的荧光光谱信号通过第五透镜25,并调节第二光路切换器24中的第三可调式反射镜26,再通过第六透镜27,经过第二光纤耦合器28进入光谱仪29及第二显微成像用检测器30,实现对样品同一微区荧光光谱信号的采集,此时在计算机上显示样品同一微区的荧光光谱及成像;
该样品同一微区反射光谱及成像的分析测量:
打开白光光源20,调节第一光路转换器11中的第一可调式反射镜13及第二可调式反射镜17,使得532nm拉曼激发光、反射照明光均无法进入倒置显微镜22仅使白光进入倒置显微镜22,聚焦至样品同一微区,调节倒置显微镜22光路切换模块,使得样品的反射光谱信号进入第一显微成像用检测器23,实现对样品微区反射图像的采集;调节倒置显微镜22光路切换模块,使得样品的反射光谱信号通过第五透镜25,并调节第二光路切换器24中的第三可调式反射镜26,再通过第六透镜27,经过第二光纤耦合器28进入光谱仪29及第二显微成像用检测器30,实现对样品同一微区反射光谱信号的采集,此时在计算机上显示样品同一微区的反射光谱及成像;
该样品同一微区透射光谱及成像的分析测量:
调节第一光路转换器11中的第一可调式反射镜13及第二可调式反射镜17,使得532nm拉曼激发光、荧光激发光、反射照明光等外界光源均无法进入倒置显微镜22,使用倒置显微镜22自带光源,并聚焦至样品同一微区,调节倒置显微镜22光路切换模块,使得样品的透射光谱信号进入第一显微成像用检测器23,实现对样品微区透射图像的采集;调节倒置显微镜22光路切换模块,使得样品的透射光谱信号通过第五透镜25,并调节第二光路切换器24中的第三可调式反射镜26,再通过第六透镜27,经过第二光纤耦合器28进入光谱仪29及第二显微成像用检测器30,实现对样品同一微区透射光谱信号的采集,此时在计算机上显示样品同一微区的透射光谱及成像。
本发明提供一种多模耦合原位显微光谱及成像***,该***能够实现对样品同一微米级区域原位检测显微拉曼光谱、显微荧光光谱及成像、显微透射光谱及成像、显微反射光谱及成像的功能,从而实现对样品微区进行多维度、多模式的快速检测。
以上是本发明的较佳实施例,凡依本发明技术方案所作的改变,所产生的功能作用未超出本发明技术方案的范围时,均属于本发明的保护范围。

Claims (4)

1.一种多模耦合原位显微光谱成像***,其特征在于,该***是由倒置显微镜、激发光光源模块、光路切换模块、显微成像及光谱测试模块组成,所述激发光光源模块是由拉曼光源单元、荧光激发光源单元、反射照明光源单元三部分组成;其中,拉曼光源单元是由532nm高亮度半导体激光器(1)、第一透镜(2)、第二透镜(3)、第一可变光阑(4)、带通滤波片(5)、双色分光镜(6)、长通滤波片(7)、第一光纤耦合器(8)、第一反射镜(9)和第二反射镜(10)组成;荧光激发光源单元是由第二可变光阑(15)、第三反射镜(16)、第二可调式反射镜(17)和氙灯光源(19)组成;反射照明光源单元是由第四反射镜(18)和白光光源(20)组成;所述光路切换模块是由光路切换器第一光路切换器(11)和第二光路切换器(24)组成,其中第一光路切换器(11)包括第三透镜(12)、第一可调式反射镜(13)和第四透镜(14);第二光路切换器(24)包括第五透镜(25)、第三可调式反射镜(26)和第六透镜(27);所述显微成像及光谱测试模块是由第一显微成像用检测器(23)、第二光纤耦合器(28)、光谱仪(29)、第二显微成像用检测器(30)和计算机(31)组成,其中第一显微成像用检测器(23)为CMOS面阵相机,第二显微成像用检测器(30)为CCD面阵相机;激发光光源模块中的拉曼光源单元分别与光路切换模块中的第一光路切换器(11)和第二光路切换器(24)连接,荧光激发光源单元和反射照明光源单元分别与第一光路切换器(11)连接;光路切换模块中的第一光路切换器(11)和第二光路切换器(24)分别与倒置显微镜(22)连接,第二光路切换器(24)与显微成像及光谱测试模块中的第二光纤耦合器(28)连接;显微成像及光谱测试模块中的光谱仪(29)上设有第二显微成像用检测器(30),计算机(31)分别与第一显微成像用检测器(23)和第二显微成像用检测器(30)串接。
2.根据权利要求1所述的一种多模耦合原位显微光谱成像***,其特征在于,所述倒置显微镜(22)的一个C-mount接口与第一显微成像用检测器(23)连接,另一C-mount接口与第二光路切换器(24)连接,后侧接口与第三可变光阑(21)连接。
3.根据权利要求1所述一种多模耦合原位显微光谱成像***,其特征在于,激发光光源模块中双色分光镜(6)反射532 nm的拉曼激发光,并同时透射500-2500nm的拉曼散射信号;长通滤波片(7)透射510-2500nm的拉曼散射信号;第一反射镜(9)、第二反射镜(10)、第三反射镜(16)和第四反射镜(18)均为全反镜;第二可调式反射镜(17)为90°可调式表面反射镜。
4.根据权利要求1所述的一种多模耦合原位显微光谱成像***,其特征在于,光路切换模块中第一可调式反射镜(13)和第三可调式反射镜(26)均为45°可调式滑动反射镜。
CN201910867527.7A 2019-09-13 2019-09-13 一种多模耦合原位显微光谱成像*** Pending CN110441235A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910867527.7A CN110441235A (zh) 2019-09-13 2019-09-13 一种多模耦合原位显微光谱成像***

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910867527.7A CN110441235A (zh) 2019-09-13 2019-09-13 一种多模耦合原位显微光谱成像***

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN110441235A true CN110441235A (zh) 2019-11-12

Family

ID=68440115

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910867527.7A Pending CN110441235A (zh) 2019-09-13 2019-09-13 一种多模耦合原位显微光谱成像***

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110441235A (zh)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111458312A (zh) * 2020-03-09 2020-07-28 哈尔滨工业大学 一种软脆光学晶体加工表层微区荧光性缺陷检测光学***
CN112285090A (zh) * 2020-09-29 2021-01-29 军事科学院***工程研究院卫勤保障技术研究所 一种便携式共焦单细胞拉曼散射检测***
CN112577931A (zh) * 2020-11-25 2021-03-30 江苏度微光学科技有限公司 一种适用于低温强磁场环境下的显微光谱成像测试样品杆及其测试方法
CN112649368A (zh) * 2020-12-25 2021-04-13 厦门大学 基于物镜耦合型的表面等离子体耦合发射定向增强型显微荧光成像与光谱检测方法及装置
CN112730275A (zh) * 2021-02-04 2021-04-30 华东理工大学 显微光谱成像***、农药检测***及其方法
CN113834803A (zh) * 2021-09-22 2021-12-24 福州大学 一种多功能显微成像光学***
CN114235696A (zh) * 2021-12-17 2022-03-25 清华大学 材料微区光学性质测量装置
CN114324281A (zh) * 2021-12-30 2022-04-12 中国科学院合肥物质科学研究院 一种土壤有机污染物原位监测分析用荧光收集装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10281876A (ja) * 1997-04-09 1998-10-23 Bunshi Bio Photonics Kenkyusho:Kk 偏光性イメージング装置
CN101216414A (zh) * 2007-12-29 2008-07-09 中国科学院西安光学精密机械研究所 多功能光学微操纵装置
CN104931479A (zh) * 2015-06-16 2015-09-23 吉林大学 一种集成化、可成像式便携激光拉曼光谱检测仪
CN105424189A (zh) * 2015-12-04 2016-03-23 江南大学 扫描式多功能显微光谱成像方法
CN107044959A (zh) * 2017-02-16 2017-08-15 江苏大学 显微多模态融合光谱检测***
CN108645831A (zh) * 2018-06-14 2018-10-12 厦门大学 多功能表面等离子体耦合发射荧光与拉曼检测仪及其检测方法
CN209215732U (zh) * 2018-11-28 2019-08-06 上海复享光学股份有限公司 平行光路切换装置及显微镜***

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10281876A (ja) * 1997-04-09 1998-10-23 Bunshi Bio Photonics Kenkyusho:Kk 偏光性イメージング装置
CN101216414A (zh) * 2007-12-29 2008-07-09 中国科学院西安光学精密机械研究所 多功能光学微操纵装置
CN104931479A (zh) * 2015-06-16 2015-09-23 吉林大学 一种集成化、可成像式便携激光拉曼光谱检测仪
CN105424189A (zh) * 2015-12-04 2016-03-23 江南大学 扫描式多功能显微光谱成像方法
CN107044959A (zh) * 2017-02-16 2017-08-15 江苏大学 显微多模态融合光谱检测***
CN108645831A (zh) * 2018-06-14 2018-10-12 厦门大学 多功能表面等离子体耦合发射荧光与拉曼检测仪及其检测方法
CN209215732U (zh) * 2018-11-28 2019-08-06 上海复享光学股份有限公司 平行光路切换装置及显微镜***

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
程晨: "几种二维材料在波导激光中的应用及超快激光修饰研究", 《中国博士学位论文全文数据库 信息科技辑》 *

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111458312A (zh) * 2020-03-09 2020-07-28 哈尔滨工业大学 一种软脆光学晶体加工表层微区荧光性缺陷检测光学***
CN111458312B (zh) * 2020-03-09 2023-03-14 哈尔滨工业大学 一种软脆光学晶体加工表层微区荧光性缺陷检测光学***
CN112285090A (zh) * 2020-09-29 2021-01-29 军事科学院***工程研究院卫勤保障技术研究所 一种便携式共焦单细胞拉曼散射检测***
CN112577931A (zh) * 2020-11-25 2021-03-30 江苏度微光学科技有限公司 一种适用于低温强磁场环境下的显微光谱成像测试样品杆及其测试方法
CN112577931B (zh) * 2020-11-25 2024-04-19 江苏度微光学科技有限公司 一种适用于低温强磁场环境下的显微光谱成像测试样品杆及其测试方法
CN112649368A (zh) * 2020-12-25 2021-04-13 厦门大学 基于物镜耦合型的表面等离子体耦合发射定向增强型显微荧光成像与光谱检测方法及装置
CN112649368B (zh) * 2020-12-25 2022-05-13 厦门大学 基于物镜耦合型的表面等离子体耦合发射定向增强型显微荧光成像与光谱检测方法及装置
CN112730275A (zh) * 2021-02-04 2021-04-30 华东理工大学 显微光谱成像***、农药检测***及其方法
CN112730275B (zh) * 2021-02-04 2023-06-30 华东理工大学 显微光谱成像***、农药检测***及其方法
CN113834803A (zh) * 2021-09-22 2021-12-24 福州大学 一种多功能显微成像光学***
CN114235696A (zh) * 2021-12-17 2022-03-25 清华大学 材料微区光学性质测量装置
CN114324281A (zh) * 2021-12-30 2022-04-12 中国科学院合肥物质科学研究院 一种土壤有机污染物原位监测分析用荧光收集装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110441235A (zh) 一种多模耦合原位显微光谱成像***
CN102841083B (zh) 一种激光扫描位相显微成像方法及***
CN108072970B (zh) 光镊光片显微成像装置和方法
CN107192702B (zh) 分光瞳激光共焦cars显微光谱测试方法及装置
CN107861230B (zh) 变焦光镊共聚焦显微成像装置及方法
US11879780B2 (en) Coherent anti-Stokes Raman scattering microscope imaging apparatus
CN106441571A (zh) 一种光源模块及应用其的线扫描多光谱成像***
CN113740307B (zh) 一种多模态非线性显微成像***
CN102621121A (zh) 生物组织内源性成分的多模式多光子显微成像装置
CN106990095A (zh) 反射式共焦cars显微光谱测试方法及装置
CN116256377A (zh) 基于圆二向色性的暗场共焦显微测量装置与方法
CN116399222A (zh) 基于圆二向色性暗场非线性热波共焦显微测量装置与方法
CN115684079A (zh) 一种高灵敏度和高信噪比的瞬态吸收光谱测量***
CN110879205B (zh) 不可见光波段表面等离激元共振的测谱和成像光学***
US11782088B2 (en) Devices, methods and sample holder for testing photonic integrated circuits and photonic integrated circuits
CN108132026A (zh) 半导体中红外可见光双波长透射式干涉测试装置
CN117783013A (zh) 瞬态荧光和光电流的成像***及方法
CN106979460A (zh) 一种荧光光源及荧光显微成像***
CN215493172U (zh) 基于单光子计数法的显微圆偏振荧光光谱探测***
CN114166760B (zh) 一种基于微区瞬态光谱的载流子扩散系数测量装置与方法
CN209372225U (zh) 一种拉曼面阵高光谱反射和透射双模式的成像***
CN212135057U (zh) 一种单分子荧光超导探测显微镜
CN209460145U (zh) 一种集成反射和透射的拉曼线扫描高光谱成像***
CN110082296B (zh) 光信号测量***
CN210571973U (zh) 一种带有光镊的显微拉曼***

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20191112

WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication