CN110319927B - 校准装置 - Google Patents

校准装置 Download PDF

Info

Publication number
CN110319927B
CN110319927B CN201910582637.9A CN201910582637A CN110319927B CN 110319927 B CN110319927 B CN 110319927B CN 201910582637 A CN201910582637 A CN 201910582637A CN 110319927 B CN110319927 B CN 110319927B
Authority
CN
China
Prior art keywords
light intensity
light source
reference light
distance
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201910582637.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110319927A (zh
Inventor
方振东
李效文
徐博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Goertek Inc
Original Assignee
Goertek Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Goertek Inc filed Critical Goertek Inc
Priority to CN201910582637.9A priority Critical patent/CN110319927B/zh
Publication of CN110319927A publication Critical patent/CN110319927A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110319927B publication Critical patent/CN110319927B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明公开一种校准装置，校准装置包括：支座，具有第一安装位和第二安装位，所述第一安装位用于安装参照光源；基准光源，设于所述第二安装位上；以及光强探测组件，设置在所述支座上，且所述光强探测组件设于所述第一安装位和第二安装位的上方；所述光强探测组件用于检测参照光源和基准光源在第一预设检测距离处的光强。如此，可实现利用基准光源对参照光源的光强检测结果进行校准/标定，以使基准光源能够对待测产品的光强检测结果进行统一标准。

Description

校准装置
技术领域
本发明涉及LED灯光强检测技术领域，特别涉及一种校准装置。
背景技术
随着科技的发展，穿戴类产品诸如运动手环，智能手表，蓝牙遥控器，无线耳机等电子产品受到消费者的广泛青睐。LED灯，特别是RGB LED灯，具有亮度高，色饱和度高，寿命长灯特点，作为信号指示灯，在穿戴类设备上得到广泛应用。伴随消费者对安全，美感和舒适度的追求，对LED灯的颜色和亮度的要求越来越高，在LED灯或LED产品生产过程中，需要对其进行检测/测试。
现有技术中，通常使用LED分析仪来测试LED灯的亮度和色度。但是，不同种类的LED分析仪对同一LED灯进行检测时，由于不同种类的LED分析仪的标准不同，其检测结果差异很大。
针对于此，相关技术中提出一种利用基准光源和参照光源来对LED灯产品的检测结果进行统一的方法和装置。在该设计中，如何使用基准光源对参照光源的光强检测结果进行校准是重中之重。需要说明的是，上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
发明内容
本发明的主要目的是提出一种校准装置，旨在解决如何利用基准光源对参照光源的光强检测结果进行校准，使其能够对待测LED灯产品的光强检测结果进行统一标准的问题。
为实现上述目的，本发明提出的一种校准装置，包括：
支座，具有第一安装位和第二安装位，所述第一安装位用于安装参照光源；
基准光源，设于所述第二安装位上；以及
光强探测组件，设置在所述支座上，且所述光强探测组件设于所述第一安装位和第二安装位的上方；
所述光强探测组件用于检测所述参照光源在第一预设检测距离处的光强，所述光强探测组件还用于检测所述基准光源在所述第一预设检测距离处的光强。
可选地，所述第一安装位设于所述第二安装位与所述光强探测组件之间，所述光强探测组件与所述基准光源在上下方向上的距离可调，以使：所述光强探测组件用于检测所述参照光源在第一预设检测距离处的光强，所述光强探测组件还用于检测所述基准光源在所述第一预设检测距离处的光强。
可选地，所述支座包括基座和凸设于所述基座上的支撑架，所述第二安装位设于所述基座，所述光强探测组件可升降地设于所述支撑架上，以使所述光强探测组件与所述基准光源在上下方向上的距离可调；所述第一安装位设于所述支撑架上。
可选地，所述支座还包括可上下滑动地安装在所述支撑架上的升降平台，所述光强探测组件安装在所述升降平台上。
可选地，所述支座还包括设于所述基准光源与所述光强探测组件之间的安装平台，所述安装平台安装在所述支撑架上，所述第一安装位设于所述安装平台上；且所述安装平台上设有光线过孔，所述光线过孔用于供所述基准光源发出的光穿过。
可选地，所述基准光源为标准光源组件。
可选地，所述标准光源组件包括保护壳和光源，所述保护壳具有朝上设置的出光孔，所述光源设于所述保护壳内，所述保护壳的内壁面设有吸光层。
可选地，所述校准装置还包括距离获取装置，所述距离检测装置用于获取所述光强探测组件与所述基准光源在上下方向上的距离、及所述光强探测组件与所述参照光源在上下方向上的距离。
可选地，所述距离获取装置包括位移记录装置，所述位移记录装置设于所述支座的升降平台上。
可选地，所述第一安装位与所述第二安装位为同一安装位，所述参照光源和所述基准光源可择一地、并可拆卸地安装在该安装位；或者，
所述第一安装位与所述第二安装位在水平方向上间隔分布，所述光强探测组件在水平方向上的位置可调，以使：所述光强探测组件用于检测所述参照光源在第一预设检测距离处的光强，所述光强探测组件还用于检测所述基准光源在所述第一预设检测距离处的光强；或者，
所述第一安装位与所述第二安装位在水平方向上间隔分布，且所述第一安装位与所述第二安装位在水平方向上的位置可调，以使：所述光强探测组件用于检测所述参照光源在第一预设检测距离处的光强，所述光强探测组件还用于检测所述基准光源在所述第一预设检测距离处的光强。
本发明还提出一种LED灯光强的检测方法，包括：
获取基准光源的基准光强值I0；
获取参照光源在第一预设检测距离处的第一光强检测值Ix；
获取所述基准光源在所述第一预设检测距离处的第二光强检测值Iy；
基于所述基准光源的基准光强值I0、所述第一光强检测值Ix和所述第二光强检测值Iy，获取所述参照光源的参照光强值Ib。
可选地，所述LED灯光强的检测方法还包括：
获取所述参照光源通过产线光强测试装置在第二预设检测距离处检测的第一产线光强检测值Ixx；
获取待测产品通过所述产线光强测试装置在所述第二预设检测距离处检测的第二产线光强检测值Iyy；
基于所述参照光源的参照光强值Ib、所述第一产线光强检测值Ixx和所述第二产线光强检测值Iyy，获取所述待测产品的参照光强值I。
可选地，所述待测产品的参照光强值I满足：I＝(Ixx/Iyy)*Ib。
可选地，所述参照光源的形状与所述待测产品的形状相同。
可选地，所述参照光源的参照光强值Ib满足：Ib＝(Ix/Iy)*I0。
可选地，所述基准光源为标准光源，所述基准光源的基准光强值I0为所述标准光源的标准光强值，所述参照光源的参照光强值Ib为所述参照光源的标准光强值。
本发明还提出一种LED灯光强的检测***，包括：
校准装置；
参照光源，所述参照光源可拆卸地安装于所述校准装置的第一安装位；
光强检测产线；以及
产线光强测试装置，设置于所述光强检测产线，所述产线光强测试装置用于检测所述光强检测产线上的待测产品的光强值；所述产线光强测试装置还用于检测所述参照光源设置在所述光强检测产线上时的光强值。
所述校准装置包括：
支座，具有第一安装位和第二安装位，所述第一安装位用于安装参照光源；
基准光源，设于所述第二安装位上；以及
光强探测组件，设置在所述支座上，且所述光强探测组件设于所述第一安装位和第二安装位的上方；
所述光强探测组件用于检测所述参照光源在第一预设检测距离处的光强，所述光强探测组件还用于检测所述基准光源在所述第一预设检测距离处的光强。
如此，可实现利用基准光源对参照光源的光强检测结果进行校准/标定，以使基准光源能够对待测产品的光强检测结果进行统一标准(即对待测产品的光强检测结果进行校准/标定)。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明LED灯光强的检测方法一实施例的流程框图；
图2为本发明LED灯光强的检测方法另一实施例的流程框图；
图3为本发明LED灯光强的检测方法的实验过程图；
图4为本发明校准装置一实施例的结构示意图；
图5为图4中校准装置的正投影视图；
图6为图4中校准装置的剖面结构示意图；
图7为本发明校准装置另一实施例的结构示意图；
图8为本发明校准装置又一实施例的结构示意图；
图9为本发明校准装置再一实施例的结构示意图。
附图标号说明：
标号 名称 标号 名称
100 校准装置 15 移动平台
10 支座 20 基准光源
11 基座 21 光源
12 支撑架 22 保护壳
121 支撑柱 221 出光孔
13 升降平台 30 光强探测组件
131 锁紧螺丝/螺栓 31 光纤头
14 安装平台 40 参照光源
141 光线过孔 50 距离获取装置
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。
另外，全文中出现的“和/或”的含义为，包括三个并列的方案，以“A和/或B”为例，包括A方案，或B方案，或A和B同时满足的方案。
如图1-9所示，本发明提出一种校准装置100、LED灯光强的检测方法和LED灯光强的检测方法检测***。
为了便于理解本发明，以下对本发明的发明构思进行说明。
现有技术中，由于不同种类的LED分析仪/测试仪的标准不同，致使：当不同种类的LED分析仪对同一LED灯产品进行检测时，检测结果差异较大。
针对以上问题，本发明旨在对LED灯的检测结果进行统一标准，基于此，本发明旨在借助一参照光源40对LED灯的检测结果进行统一标准，该参照光源40为中间媒介，其用于对待测产品(LED灯)的检测光强值的单位进行换算，实现对待测产品(LED灯)的检测结果进行统一标准；其中光强是指发光强度。而如果要实现借助一参照光源40对LED灯的检测结果进行统一标准，那么首先就要对参照光源40的检测光强值的单位进行校准/标定；基于此，本发明旨在借助基准光源20对参照光源40的检测光强值的单位进行校准/标定。
其中，基准光源20为基准媒介，其用于对参照光源40的检测光强值的单位进行换算，以实现对参照光源40进行校准/标定，使参照光源40的检测光强值的单位换算为基准光源20的单位。
具体的，可采用标准光源(亦称“国际烛光”，是指国际照明委员会为统一颜色测量时的照明所规定的光源)作为基准光源20，标准光源的光强值作为基准光源20的基准光强值I0。其中，标准光源的光强值为国际单位，即坎德拉(简写cd)；如此，最终可将待测产品(LED灯)的检测光强值换算成国际单位，实现对待测产品(LED灯)的检测结果进行统一标准。
特别地，基于基本相同的考虑，基准光源20也可为自定义光源，基准光源20的基准光强值I0也为自定义光强单位，最终可将待测产品(LED灯)的检测光强值换算成自定义光强单位，实现对待测产品(LED灯)的检测结果进行统一标准。
在本实施例中，为了提高本发明的通用性，采用标准光源(亦称“国际烛光”，是指国际照明委员会为统一颜色测量时的照明所规定的光源)作为基准光源20。
在本发明一实施例中，如图1所示，所述LED灯光强的检测方法包括：
S10、获取基准光源20的基准光强值I0。
在本实施例中，基准光源20为标准光源(亦称“国际烛光”，是指国际照明委员会为统一颜色测量时的照明所规定的光源)，基准光源20的基准光强值I0为标准光源的光强值，此时，基准光源20的基准光强值I0的单位为国际单位，即坎德拉(简写cd)。
当然，于其他实施例中，所述基准光源20也可为自定义光源，基准光源20的基准光强值I0也为自定义光强单位。自定义光源及其基准光强值I0的自定义光强单位的设定可参考标准光源及其光强值，在此不必详细赘述。
S20、获取所述参照光源40在第一预设检测距离处的第一光强检测值Ix。
所述参照光源40是中间媒介，其用于对待测产品的检测光强值的单位进行换算，实现对待测产品的光强进行统一标准的定量评估，实现不同的测试设备测试同一待测产品时的测试结果一致性。其中，参照光源40为LED灯或具有LED灯的产品，在本实施例中，所述参照光源40为RGB LED灯或带RGB LED灯的工件。
具体的，光强(即发光强度)是指光源在某一方向的立体角内发出的光通量的大小，其大小与发光角度有关系。
在步骤S20中，获取所述参照光源40在第一方向上的第一光强检测值Ix，在本实施例中，所述第一方向可选为参照光源40的正上方，即第一方向为铅垂方向(即上下方向)。
具体的，可采用光强探测组件30(光强探测器/光强探测装置)来检测参照光源40的光强值。具体来说，将参照光源40与光强探测组件30在第一方向上之间的距离调整为第一预设检测距离，采用光强探测组件30以获取所述参照光源40在第一方向上的第一预设检测距离处的第一光强检测值Ix；其中，第一预设检测距离可根据实际情况自行设定。
S30、获取所述基准光源20在所述第一预设检测距离处的第二光强检测值Iy。
在步骤S30中，基准光源20的第二光强检测值Iy为基准光源20在第一方向上的光强检测值，所述第一方向可选为基准光源20的正上方。
具体的来说，将基准光源20与光强探测组件30在第一方向上之间的距离调整为第一预设检测距离，采用光强探测组件30以获取所述基准光源20在第一方向上的第一预设检测距离处的第二光强检测值Iy；该光强探测组件30与检测参照光源40的光强探测组件30为为同一设备。
需要说明的是，以上步骤S20和S30的顺序可调整；即采用光强探测组件30分别获取参照光源40和基准光源20在第一方向上的第一预设检测距离处的第一光强检测值Ix和第二光强检测值Iy。
S40、基于所述基准光源20的基准光强值I0、第一光强检测值Ix和第二光强检测值Iy，获取所述参照光源40的参照光强值Ib。
具体来说，所述参照光源40的参照光强值Ib满足：Ib＝(Ix/Iy)*I0。即Ib等于Ix与Iy的比值再与I0的乘积。Ib的单位为国际光学单位。
如此，可实现利用基准光源20对参照光源40的光强检测结果进行校准/标定，使参照光源40的第一光强检测值Ix转换成单位为国际光学单位的参照光强值Ib，以使基准光源20能够对待测产品的光强检测结果进行统一标准(即对待测产品的光强检测结果进行校准/标定)。
在具体实施例中，对参照光源40的光强检测结果进行校准后，可利用参照光源40对待测产品进行校准；通常情况下，待测产品一般是刚生产出来的产线产品，该产线产品需要进行测试以确定其是否为合格产品；当然，待测产品也可以是合格产品，有时，也需要对合格产品进行二次测试。本发明以待测产品为产线产品为例进行说明。
进一步地，如图2和3所示，所述LED灯光强的检测方法还包括：
S50、获取参照光源40通过产线光强测试装置在第二预设检测距离处检测的第一产线光强检测值Ixx。
具体的，将参照光源40与产线光强测试装置在第二方向上之间的距离调整为第二预设检测距离，采用产线光强测试装置获取参照光源40在第二方向上的第二预设检测距离处的第一产线光强检测值Ixx。所述第二方向可选为参照光源40的正上方，即第二方向与第一方向为同一方向，即铅垂方向。
S60、获取待测产品通过所述产线光强测试装置在所述第二预设检测距离处检测的第二产线光强检测值Iyy。所述第二方向可选为待测产品的正上方。
具体的，将待测产品与产线光强测试装置在第二方向上之间的距离调整为第二预设检测距离，采用产线光强测试装置获取待测产品在第二方向上的第二预设检测距离处的第二产线光强检测值Iyy。
需要说明的是，以上步骤S50和S60的顺序可调整；即采用产线光强测试装置分别获取参照光源40和待测产品在第二方向上的第二预设检测距离处的第一产线光强检测值Ixx和第二产线光强检测值Iyy。可选地，可先进行步骤S50。
其中，待测产品为生产线上的LED灯或具有LED灯的产品，在本实施例中，待测产品为RGB LED灯或带RGB LED灯的产品。
具体的，在LED灯或具有LED灯的产品的生产线或光强检测产线上，通常有产线光强测试装置，以用于对产线上的待测产品进行测试。
通常情况下，该产线具有传输平台，待测产品设置在传输平台上，传输平台带动待测产品向前运动。产线光强测试装置通常设置在传送平台的上方，以对传输平台上的待测产品进行测试。
本实施例中，可选地，可先将参照光源40设置在传输平台上，并设于待测产品的前方，以使产线光强测试装置先对参照光源40进行检测。其大致工作过程为：
S51、当参照光源40运动到产线光强测试装置的正下方时，产线光强测试装置位于参照光源40的正上方，参照光源40与产线光强测试装置之间的距离为第二预设检测距离，传输平台停止运动，产线光强测试装置对参照光源40进行测试，获得的测试值为第一产线光强检测值Ixx。
S61、传输平台继续向前运动，当待测产品运动到产线光强测试装置的正下方时，产线光强测试装置位于待测产品的正上方，待测产品与产线光强测试装置之间的距离为第二预设检测距离，传输平台停止运动，产线光强测试装置对待测产品进行测试，获得的测试值为第二产线光强检测值Iyy。
然后，传输平台继续向前运动，以对下一待测产品进行测试。
S70、基于所述参照光源40的参照光强值Ib、第一产线光强检测值Ixx和第二产线光强检测值Iyy，获取所述待测产品的参照光强值I。
具体的，所述待测产品的参照光强值I满足：I＝(Ixx/Iyy)*Ib；或者，I＝(Ib/Iyy)*Ixx。即，I等于Ixx与Iyy的比值再与Ib的乘积；或者，I等于Ib与Iyy的比值再与Ixx的乘积。其中，I的单位为国际单位。
需要说明的是，当采用I＝(Ib/Iyy)*Ixx公式计算时，可Ib/Iyy的值作为“换算比例系数k”而输入产线光强测试***中，如此，在测得Ixx后可直接得出参照光强值I。
如此，利用参照光源40，可将产线光强测试装置对待测产品测试的第二产线光强检测值Iyy转换为，单位为国际光学单位的参照光强值I，可实现对待测产品的光强进行定量评估。同时，采用该方法可实现不同的产线光强测试装置测试同一待测产品时的测试结果均可转换成国际光学单位，提高测试结果一致性，可便于实现测试结果与人眼观看效果对等，从而能够快速确定待测产品的目标亮度值。
此外，通过实验验证：通过以上方法可使不同产线光强测试装置测试同一待测产品时的测试结果误差保证在5％之内。
进一步地，所述参照光源40的形状与待测产品的形状相同。如此，可简化参照光源40在产线上的测试过程，提高参照光源40的使用便捷性。
在实际应用中，可根据不同的待测产品的形状，而制备对应的参照光源40。
需要指出的是，本发明可实现对产线光强测试装置的光强检测结果便捷和快速校准；建立产线光强测试装置的光强检测结果与国际光学单位(坎德拉(cd))之间的换算关系，实现产线光强测试装置的光强测试结果的一致性。
需要说明的是，本发明可将待测产品的参照光强值I的单位进一步地转换成国际光学单位流明(lm)，在此不必详述。
根据以上方法中的部分步骤(即步骤S20和步骤S30)，本发明提出一种校准装置100。
在本发明一实施例中，如图4-9所示，所述校准装置100包括：
支座10，具有第一安装位和第二安装位，所述第一安装位用于安装参照光源40；
基准光源20，设于所述第二安装位上；以及
光强探测组件30，设置在所述支座10上，且所述光强探测组件30设于所述第一安装位和第二安装位的上方；
所述光强探测组件30用于检测参照光源40在第一预设检测距离处的光强，所述光强探测组件30还用于检测基准光源20在第一预设检测距离处的光强。
具体的，所述光强探测组件30用于检测参照光源40在第一方向上的第一预设检测距离处的光强，所述光强探测组件30还用于检测基准光源20在第一方向上的第一预设检测距离处的光强；其中，第一方向为铅垂方向。
具体的，基准光源20为基准媒介，其用于对参照光源40的检测光强值的单位进行换算，以实现对参照光源40进行校准/标定，使参照光源40的检测光强值的单位换算为基准光源20的单位。
在本实施例中，基准光源20为标准光源(亦称“国际烛光”，是指国际照明委员会为统一颜色测量时的照明所规定的光源)，基准光源20的基准光强值I0为标准光源的光强值，此时，基准光源20的基准光强值I0的单位为国际单位，即坎德拉(简写cd)。
当然，于其他实施例中，所述基准光源20也可为自定义光源，基准光源20的基准光强值I0也为自定义光强单位。自定义光源及其基准光强值I0的自定义光强单位的设定可参考标准光源及其光强值，在此不必详细赘述。
具体的，参照光源40是中间媒介，其用于对待测产品的检测光强值的单位进行换算，实现对待测产品的光强进行统一标准的定量评估，实现不同的测试设备测试同一待测产品时的测试结果一致性。其中，参照光源40为LED灯或具有LED灯的产品，在本实施例中，所述参照光源40为RGB LED灯或带RGB LED灯的工件。
为了便于理解发明，以下结合以上校准装置100的使用方法进行说明。
具体的，在使用时，可对校准装置100进行以下操作：
1)调整光强探测组件30和/或参照光源40，使光强探测组件30位于参照光源40的正上方，且参照光源40与光强探测组件30之间的距离为第一预设检测距离，此时，光强探测组件30测得参照光源40的光强为第一光强检测值Ix。
2)调整光强探测组件30和/或基准光源20，使光强探测组件30位于基准光源20的正上方，且基准光源20与光强探测组件30之间的距离为第二预设检测距离，此时，光强探测组件30测得基准光源20的光强为第二光强检测值Iy。
然后，可基于所述基准光源20的基准光强值I0、第一光强检测值Ix和第二光强检测值Iy，获取所述参照光源40的参照光强值Ib。具体来说，所述参照光源40的参照光强值Ib满足：Ib＝(Ix/Iy)*I0。
如此，可实现利用基准光源20对参照光源40进行校准/标定，以使基准光源20能够对待测LED灯的检测结果进行统一标准(即对待测LED灯的检测结果进行校准/标定)。
而且，通过设置校准装置100，可提高光强探测组件30对基准光源20和参照光源40检测的准确性和便捷性，从而可提高第一光强检测值Ix和第二光强检测值Iy的准确性，从而可提高参照光强值Ib的准确性。
进一步地，如图4-6所示，所述第一安装位设于所述第二安装位与所述光强探测组件30之间，所述光强探测组件30与所述基准光源20在上下方向上的距离可调，以实现：参照光源40与光强探测组件30之间的距离、及基准光源20与光强探测组件30之间的距离均可调为第一预设检测距离；以使：所述光强探测组件30用于检测所述参照光源40在第一预设检测距离处的光强，所述光强探测组件30还用于检测所述基准光源20在第一预设检测距离处的光强。
具体的，所述第一安装位设于第二安装位之间，光强探测组件30设于第一安装位上方；其中，参照光源40设于第一安装位，基准光源20设于第二安装位，即参照光源40设于基准光源20的上方，光强探测组件30设于参照光源40的上方。
其中，所述光强探测组件30与基准光源20在上下方向上的距离可调至少具有以下含义：
1)所述第一安装位在支座10上的位置固定，以使基准光源20在支座10上的位置固定，所述光强探测组件30可升降地设于所述支座10上，以使光强探测组件30与基准光源20在上下方向上的距离可调，以实现：参照光源40与光强探测组件30之间的距离、及基准光源20与光强探测组件30之间的距离均可调为第一预设检测距离。
该设计中，使用校准装置100时，可通过调节光强探测组件30在上下方向上的位置，使参照光源40与光强探测组件30之间的距离为第一预设检测距离，此时光强探测组件30可测得参照光源40的光强，并记为第一光强检测值Ix；然后，可通过再次调节光强探测组件30在上下方向上的位置，使基准光源20与光强探测组件30之间的距离为第二预设检测距离，此时光强探测组件30可测得基准光源20的光强，并记为第二光强检测值Iy。
2)所述光强探测组件30在支座10上的位置固定，所述第一安装位可升降地设于所述支座10上，以使基准光源20可升降地设于所述支座10上，以使光强探测组件30与基准光源20在上下方向上的距离可调。
在该设计中，需对第一安装位作避让第二安装位运动的避让设计，如所述第一安装位也可升降地设于所述支座10上等，以实现：参照光源40与光强探测组件30之间的距离、及基准光源20与光强探测组件30之间的距离均可调为第一预设检测距离。
3)所述第一安装位可升降地设于所述支座10上，且所述光强探测组件30可升降地设于所述支座10上，以使光强探测组件30与基准光源20在上下方向上的距离可调，以实现：参照光源40与光强探测组件30之间的距离、及基准光源20与光强探测组件30之间的距离均可调为第一预设检测距离。
在本实施例中，以“所述第一安装位在支座10上的位置固定，且所述光强探测组件30可升降地设于所述支座10上”进行说明。
进一步地，如图4-6所示，所述支座10包括基座11和凸设于基座11上的支撑架12，所述第一安装位设于所述支撑架12上，所述参照光源40可拆卸地安装在第一安装位，所述第二安装位设于基座11；所述光强探测组件30可升降地设于支撑架12上，以使所述光强探测组件30与基准光源20在上下方向上的距离可调。
具体的，支撑架12用于支撑光强探测组件30和设于第一安装位的参照光源40，所述基座11用于支撑该支撑架12；如此设置，可简化支座10的结构。在本实施例中，所述基座11大致呈板状。
进一步地，如图4-6所示，所述支座10还包括可上下滑动地安装在支撑架12上的升降平台13，所述光强探测组件30安装在升降平台13上，以使所述光强探测组件30可升降地设于支撑架12上。如此，通过设置升降平台13可便于安装光强探测组件30。
具体的，如图4-6所示，所述升降平台13为升降板；所述支撑架12包括凸设于基座11上的、且相对设置的两支撑柱121，所述升降平台13上设有两滑孔，所述升降平台13通过该滑孔可上下滑动地安装在支撑柱121上。
需要指出的是，两支撑柱121的形状可以相同，也可以不同；两滑孔的形状与各自对应的支撑柱121的形状相适配。在本实施例中，两支撑柱121的形状不同，一支撑柱121为圆柱状，其对应的滑孔为圆孔；另一支撑柱121为方柱状，其对应的滑孔为方孔。
具体的，所述光强探测组件30具有光纤头31，光纤头31用于接收光线；所述升降平台13上设有光纤过孔(图未标)，光强探测组件30安装在升降平台13的上表面，所述光纤头31安装在该光纤过孔内。
在本实施例中，所述光纤头31的长度较短，以避免在光强探测组件30升降的过程中光纤头31晃动，从而保证光纤头31的弯折角度不变，以提高检测的准确性。当然，也可以通过其他方式来实现以上目的，如在光纤头31外设置防晃管，所述防晃管对应光纤过孔设置，并套设在光纤头31外。
于其他实施例中，也可通过其他方式将光强探测组件30可升降地设于支撑架12上，比如光强探测组件30直接可滑动地安装在支撑柱121上；又比如支撑架12上设有直线驱动装置(如气缸驱动装置、或液压缸驱动装置、或齿轮-齿条驱动装置等)，光强探测组件30设于该直线驱动装置的输出端；等等，在此不必一一赘述。
在本实施例中，通过手动调节升降平台13升降；当然，于其他实施例中，也可采用直线驱动装置来驱动升降平台13升降。
进一步地，所述升降平台13上还设有定位结构，所述定位结构包括锁紧螺丝/螺栓131、及设于所述升降平台13的侧面上、且与一滑孔贯通的锁紧孔，所述锁紧螺丝/螺栓131与锁紧孔螺纹连接，旋松锁紧螺丝/螺栓131，即可调节升降平台13升降；当升降平台13运动到预设位置时，旋紧锁紧螺丝/螺栓131，使锁紧螺丝/螺栓131与支撑柱121抵接，从而对升降平台13进行定位。
进一步地，如图4-6所示，所述支座10还包括设于基准光源20与光强探测组件30之间的安装平台14，所述安装平台14安装在支撑架12上，所述第一安装位设于安装平台14上，所述参照光源40可拆卸地安装于第一安装位；且所述安装平台14上设有光线过孔141，所述光线过孔141用于供基准光源20发出的光穿过。在本实施例中，所述安装平台14为安装板。
具体的，当检测参照光源40时，将参照光源40安装在第一安装位；当检测基准光源20时，将参照光源40从第一安装位卸下，基准光源20发出的光穿过光线过孔141进行测试。
如此，通过设置安装平台14可便于安装参照光源40。
具体的，所述第一安装位包括卡接结构和/或螺纹连接结构，以使参照光源40可通过卡接结构和/或螺纹连接结构设于第一安装位，在此不必详述。
当然，也可以不设置安装平台14，而将参照光源40直接可拆卸地安装在支撑柱121上。
具体的，当所述基准光源20为标准光源组件。所述标准光源组件包括保护壳22和光源21，所述保护壳22具有朝上设置的出光孔221，所述光源21设于保护壳22内，所述保护壳22的内壁面设有吸光层。
可选地，所述吸光层可为涂层；即在保护壳22的内壁面涂布黑色吸光材料(如石墨等)以形成吸光层。
如此，通过设置吸光层，可避免光源21发射的光在保护罩内发生多次反射。
可以理解的是，所述出光孔221设于光源的正上方，使光源21发射的光从出光孔221中出射；具体的，可将标准光源看作一个点光源。
进一步地，如图5和6所示，所述校准装置100还包括距离获取装置50，所述距离检测装置用于获取光强探测组件30与基准光源20在上下方向上的距离、及所述光强探测组件30与参照光源40在上下方向上的距离。
如此，通过设置距离获取装置50，距离检测装置可用于获取光强探测组件30与基准光源20在上下方向上的距离、并可用于获取光强探测组件30与参照光源40在上下方向上的距离，从而可便于将参照光源40与光强探测组件30之间的距离、及基准光源20与光强探测组件30之间的距离快速调节为第一预设检测距离。
进一步地，如图5和6所示，所述距离获取装置50包括位移记录装置，所述位移记录装置设于所述支座10的升降平台13或光强探测组件30上。具体的，所述位移记录装置为游标卡尺或位移传感器。
在本实施例中，所述位移记录装置的起点为基准光源20，即当光强检测组件的光纤头31正好接触基准光源20时，位移记录装置的示数为0。
具体的，在使用校准装置100时，1)将参照光源40设于第一安装位，驱动升降平台13向下运动，使光强检测组件的光纤头31正好接触参照光源40，记录此时位移记录装置的示数X1。2)驱动升降平台13向上运动至合适的位置，记录此时位移记录装置的示数X2；此时，光强探测组件30测得参照光源40的光强为第一光强检测值Ix。3)卸下参照光源40，驱动升降平台13向下运动至合适的位置，使位移记录装置的示数为X3，X3＝X2-X1；此时，光强探测组件30测得基准光源20的光强为第二光强检测值Iy。
可以理解，X2与X1的差值即为第一预设检测距离，即X2-X1＝X3＝第一预设检测距离。
当然，于其他实施例中，也可将位移记录装置的起点为设置为其他位置，在此不必详述。
需要说明的是，于其他实施例中，还可通过其他结构来实现将参照光源40与光强探测组件30之间的距离、及基准光源20与光强探测组件30之间的距离均调节为第一预设检测距离，以下举例进行简要说明。
在本发明校准装置100的另一实施例中，如图7所示，所述第一安装位与所述第二安装位为同一安装位，所述参照光源40和所述基准光源20可择一地、并可拆卸地安装在该安装位。
在该实施例中，如图7所示，测试时，可先将参照光源40安装在该安装位，此时，光强探测组件30测得参照光源40的光强为第一光强检测值Ix；然后卸下参照光源40，将基准光源20安装在该安装位，此时，光强探测组件30测得基准光源20的光强为第二光强检测值Iy。
需要说明的是，参照光源40与基准光源20的形状，一般不相同，将参照光源40或基准光源20安装到该安装位时，可做适当调整，以使参照光源40与光强探测组件30之间的距离、及基准光源20与光强探测组件30之间的距离均为第一预设检测距离。
在本发明校准装置100的又一实施例中，如图8所示，所述第一安装位与第二安装位在水平方向上间隔分布，所述光强探测组件30在水平方向上的位置可调，以使：所述光强探测组件30用于检测所述参照光源40在第一预设检测距离处的光强，所述光强探测组件30还用于检测所述基准光源20在所述第一预设检测距离处的光强。可选地，所述光强探测组件30可转动地安装在支座10(的支撑架12)上；或者，所述光强探测组件30可平移地安装在支座10(的支撑架12)上。
在该实施例中，如图8所示，测试时，参照光源40安装到第一安装位，基准光源20安装到第二安装位；可先将光强探测组件30移动(平移或转动)至参照光源40的正上方，此时参照光源40与光强探测组件30之间的距离为第一预设检测距离，光强探测组件30测得参照光源40的光强为第一光强检测值Ix；然后，移动(平移或转动)光强探测组件30，使光强探测组件30移动(平移或转动)至基准光源20的正上方，此时基准光源20与光强探测组件30之间的距离为第一预设检测距离，光强探测组件30测得基准光源20的光强为第二光强检测值Iy。
在本发明校准装置100的再一实施例中，如图9所示，所述第一安装位与第二安装位在水平方向上间隔分布，且所述第一安装位与第二安装位在水平方向上的位置可调，以使：所述光强探测组件30用于检测所述参照光源40在第一预设检测距离处的光强，所述光强探测组件30还用于检测所述基准光源20在所述第一预设检测距离处的光强。
在该实施例中，如图9所示，可选地，所述第一安装位与第二安装位设于一移动平台15上，移动平台15可转动地安装在支座10(的基座11)上；或者，所述，移动平台15可平移地安装在支座10(的基座11)上。
在该实施例中，测试时，参照光源40安装到第一安装位，基准光源20安装到第二安装位；移动(平移或转动)移动平台15，使参照光源40运动至光强探测组件30的正下方，此时参照光源40与光强探测组件30之间的距离为第一预设检测距离，光强探测组件30测得参照光源40的光强为第一光强检测值Ix；然后，移动(平移或转动)移动平台15，使基准光源20运动至光强探测组件30的正下方，此时基准光源20与光强探测组件30之间的距离为第一预设检测距离，光强探测组件30测得基准光源20的光强为第二光强检测值Iy。
本发明还提出一种LED灯光强的检测***，该LED灯光强的检测***包括：
校准装置100；
参照光源40，所述参照光源40可拆卸地安装于校准装置100的第一安装位；
光强检测产线；以及
产线光强测试装置，设置于所述光强检测产线，所述产线光强测试装置用于检测所述光强检测产线上的待测产品的光强值；所述产线光强测试装置还用于检测所述参照光源40设置在所述光强检测产线上时的光强值。
校准装置100的具体结构参照上述实施例，由于本发明LED灯光强的检测***采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。
具体的，所述光强检测产线具有传输平台，待测产品设置在传输平台上，传输平台带动待测产品向前运动。产线光强测试装置通常设置在传送平台的上方，以对传输平台上的待测产品进行测试。
本实施例中，可选地，可先将参照光源40设置在传输平台上，并设于待测产品的前方，以使产线光强测试装置先对参照光源40进行检测。其大致工作过程为：
1)当参照光源40运动到产线光强测试装置的正下方时，产线光强测试装置位于参照光源40的正上方，参照光源40与产线光强测试装置之间的距离为第二预设检测距离，传输平台停止运动，产线光强测试装置对参照光源40进行测试，获得的测试值为第一产线光强检测值Ixx。
2)传输平台继续向前运动，当待测产品运动到产线光强测试装置的正下方时，产线光强测试装置位于待测产品的正上方，待测产品与产线光强测试装置之间的距离为第二预设检测距离，传输平台停止运动，产线光强测试装置对待测产品进行测试，获得的测试值为第二产线光强检测值Iyy。
然后，传输平台继续向前运动，以对下一待测产品进行测试。
如此，可基于所述参照光源40的参照光强值Ib、第一产线光强检测值Ixx和第二产线光强检测值Iyy，获取所述待测产品的参照光强值I。即I＝(Ixx/Iyy)*Ib；或者，I＝(Ib/Iyy)*Ixx。
如此，利用参照光源40，可将产线光强测试装置对待测产品测试的第二产线光强检测值Iyy转换为，单位为国际光学单位的参照光强值I，可实现对待测产品的光强进行定量评估。同时，采用该方法可实现不同的产线光强测试装置测试同一待测产品时的测试结果均可转换成国际光学单位，提高测试结果一致性，可便于实现测试结果与人眼观看效果对等，从而能够快速确定待测产品的目标亮度值。
进一步地，所述参照光源40的形状与待测产品的形状相同。如此，可简化参照光源40在产线上的测试过程，提高参照光源40的使用便捷性。
在实际应用中，可根据不同的待测产品的形状，而制备对应的参照光源40；以提高校准装置100的适用性。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (15)

1.一种校准装置，其特征在于，包括：
支座，具有第一安装位和第二安装位，所述第一安装位用于安装参照光源；
基准光源，设于所述第二安装位上；以及
光强探测组件，设置在所述支座上，且所述光强探测组件设于所述第一安装位和第二安装位的上方；
所述光强探测组件用于检测所述参照光源在第一预设检测距离处的光强，所述光强探测组件还用于检测所述基准光源在所述第一预设检测距离处的光强；
所述第一安装位设于所述第二安装位与所述光强探测组件之间，所述光强探测组件与所述基准光源在上下方向上的距离可调，以使：所述光强探测组件用于检测所述参照光源在第一预设检测距离处的光强，所述光强探测组件还用于检测所述基准光源在所述第一预设检测距离处的光强。
2.如权利要求1所述的校准装置，其特征在于，所述支座包括基座和凸设于所述基座上的支撑架，所述第二安装位设于所述基座，所述光强探测组件可升降地设于所述支撑架上，以使所述光强探测组件与所述基准光源在上下方向上的距离可调；所述第一安装位设于所述支撑架上。
3.如权利要求2所述的校准装置，其特征在于，所述支座还包括可上下滑动地安装在所述支撑架上的升降平台，所述光强探测组件安装在所述升降平台上。
4.如权利要求2所述的校准装置，其特征在于，所述支座还包括设于所述基准光源与所述光强探测组件之间的安装平台，所述安装平台安装在所述支撑架上，所述第一安装位设于所述安装平台上；且所述安装平台上设有光线过孔，所述光线过孔用于供所述基准光源发出的光穿过。
5.如权利要求1至4中任意一项所述的校准装置，其特征在于，所述基准光源为标准光源组件。
6.如权利要求5所述的校准装置，其特征在于，所述标准光源组件包括保护壳和光源，所述保护壳具有朝上设置的出光孔，所述光源设于所述保护壳内，所述保护壳的内壁面设有吸光层。
7.如权利要求1至4中任意一项所述的校准装置，其特征在于，所述校准装置还包括距离获取装置，所述距离获取装置用于获取所述光强探测组件与所述基准光源在上下方向上的距离、及所述光强探测组件与所述参照光源在上下方向上的距离。
8.如权利要求7所述的校准装置，其特征在于，所述距离获取装置包括位移记录装置，所述位移记录装置设于所述支座的升降平台上。
9.如权利要求1至4中任意一项所述的校准装置，其特征在于，所述第一安装位与所述第二安装位为同一安装位，所述参照光源和所述基准光源可择一地、并可拆卸地安装在该安装位；或者，
所述第一安装位与所述第二安装位在水平方向上间隔分布，所述光强探测组件在水平方向上的位置可调，以使：所述光强探测组件用于检测所述参照光源在第一预设检测距离处的光强，所述光强探测组件还用于检测所述基准光源在所述第一预设检测距离处的光强；或者，
所述第一安装位与所述第二安装位在水平方向上间隔分布，且所述第一安装位与所述第二安装位在水平方向上的位置可调，以使：所述光强探测组件用于检测所述参照光源在第一预设检测距离处的光强，所述光强探测组件还用于检测所述基准光源在所述第一预设检测距离处的光强。
10.一种LED灯光强的检测方法，其特征在于，包括：
获取基准光源的基准光强值I0；
获取参照光源在第一预设检测距离处的第一光强检测值Ix；
获取所述基准光源在所述第一预设检测距离处的第二光强检测值Iy；
基于所述基准光源的基准光强值I0、所述第一光强检测值Ix和所述第二光强检测值Iy，获取所述参照光源的参照光强值Ib；
所述参照光源的参照光强值Ib满足：Ib＝(Ix/Iy)*I0。
11.如权利要求10所述的LED灯光强的检测方法，其特征在于，所述LED灯光强的检测方法还包括：
获取所述参照光源通过产线光强测试装置在第二预设检测距离处检测的第一产线光强检测值Ixx；
获取待测产品通过所述产线光强测试装置在所述第二预设检测距离处检测的第二产线光强检测值Iyy；
基于所述参照光源的参照光强值Ib、所述第一产线光强检测值Ixx和所述第二产线光强检测值Iyy，获取所述待测产品的参照光强值I。
12.如权利要求11所述的LED灯光强的检测方法，其特征在于，所述待测产品的参照光强值I满足：I＝(Ixx/Iyy)*Ib。
13.如权利要求11所述的LED灯光强的检测方法，其特征在于，所述参照光源的形状与所述待测产品的形状相同。
14.如权利要求10至13中任意一项所述的LED灯光强的检测方法，其特征在于，所述基准光源为标准光源，所述基准光源的基准光强值I0为所述标准光源的标准光强值，所述参照光源的参照光强值Ib为所述参照光源的标准光强值。
15.一种LED灯光强的检测***，其特征在于，包括：
如权利要求1至9中任意一项所述的校准装置；
参照光源，所述参照光源可拆卸地安装于所述校准装置的第一安装位；
光强检测产线；以及
产线光强测试装置，设置于所述光强检测产线，所述产线光强测试装置用于检测所述光强检测产线上的待测产品的光强值；所述产线光强测试装置还用于检测所述参照光源设置在所述光强检测产线上时的光强值。
CN201910582637.9A 2019-06-27 2019-06-27 校准装置 Active CN110319927B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910582637.9A CN110319927B (zh) 2019-06-27 2019-06-27 校准装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910582637.9A CN110319927B (zh) 2019-06-27 2019-06-27 校准装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110319927A CN110319927A (zh) 2019-10-11
CN110319927B true CN110319927B (zh) 2021-10-08

Family

ID=68121532

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910582637.9A Active CN110319927B (zh) 2019-06-27 2019-06-27 校准装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110319927B (zh)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101689222A (zh) * 2007-05-07 2010-03-31 真实仪器公司 用于故障检验和过程监测的辐射光学监测***的校准
KR101155213B1 (ko) * 2010-11-19 2012-06-13 크로마 에이티이 인코포레이티드 이차원 광학 검측의 플랫필드 교정방법
CN103616167A (zh) * 2013-12-05 2014-03-05 福州大学 一种背光源发光均匀性自动检测***
CN109297587A (zh) * 2018-09-11 2019-02-01 Oppo广东移动通信有限公司 光学传感器的校准方法和装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004191232A (ja) * 2002-12-12 2004-07-08 Yokogawa Electric Corp 光量検出器の校正方法および光量測定装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101689222A (zh) * 2007-05-07 2010-03-31 真实仪器公司 用于故障检验和过程监测的辐射光学监测***的校准
KR101155213B1 (ko) * 2010-11-19 2012-06-13 크로마 에이티이 인코포레이티드 이차원 광학 검측의 플랫필드 교정방법
CN103616167A (zh) * 2013-12-05 2014-03-05 福州大学 一种背光源发光均匀性自动检测***
CN109297587A (zh) * 2018-09-11 2019-02-01 Oppo广东移动通信有限公司 光学传感器的校准方法和装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN110319927A (zh) 2019-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN204514571U (zh) 一种cob光组件光色空间分布测试设备
CN105571822A (zh) 一种二维色彩分析仪校准装置及校准方法
CN104792498B (zh) 一种光源动态测试方法
CN204855669U (zh) 一种机载显示器光电参数自动测量装置
CN103954436B (zh) 高精度光谱辐射定标装置
CN110319927B (zh) 校准装置
CN111060204A (zh) 一种色彩分析仪的定标装置及方法
CN203824740U (zh) 高精度光谱辐射定标装置
CN101629849A (zh) 灯具照度检测仪
CN103940378A (zh) 九头激光平面度测量仪
CN211291747U (zh) 一种色彩分析仪的定标装置
CN203274911U (zh) 一种窄光束led灯光通量测量装置
KR101020489B1 (ko) 엘이디 램프 검사장치 및 검사방법
CN114858421A (zh) 一种手术无影灯照度参数测试方法
Liu et al. Study on methodology of LED's luminous flux measurement with integrating sphere
CN210923028U (zh) 一种不规则灯具光谱分布检测装置
CN114397546A (zh) 用于紫外成像电晕检测的目标发光量标定方法及标定装置
CN207351565U (zh) 一种高精度光功率光波长测试机台
CN208270113U (zh) 温度校准夹具
CN108076340B (zh) Ccd/cmos参数检测***
CN207317933U (zh) 一种亮度计校准装置
CN207540667U (zh) 一种光斑光分布的测试***
CN207897093U (zh) Ccd/cmos参数检测***
CN215639772U (zh) 一种用于高照度校准的标准装置
CN110954212A (zh) 一种玩具led光辐射测试***

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant