CN110299114A - 显示均匀性的判断方法、装置及存储介质 - Google Patents

显示均匀性的判断方法、装置及存储介质 Download PDF

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王代青
强科文
李健林
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Abstract

本发明公开了一种显示均匀性的判断方法、装置及存储介质。所述显示均匀性的判断方法包括：获取待测试图像的亮度参数，根据所述亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数；确定所述待测试图像的缺陷数据，根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的第二均匀性判断参数；根据所述第一均匀性判断参数以及所述第二均匀性判断参数确定所述待测试图像的均匀性。本申请的技术方案，能够准确判断显示装置的显示均匀性。

Description

显示均匀性的判断方法、装置及存储介质
技术领域
本发明涉及声音处理技术领域，尤其涉及一种显示均匀性的判断方法、装置及存储介质。
背景技术
显示装置可以根据背光的不同，分为侧入式显示装置和直下式显示装置。侧入式显示装置由于其轻且薄的优点而备受人们青睐，其背光***主要包括背光源、导光板、反射片以及膜片组。以LED作为背光源，LED发出的光在导光板及其网点的作用下将线光源变成面光源，再经过膜片的扩散作用使得其发光均匀性提高。
直下式显示装置由于其成本低而被人们接纳，其背光***主要包括背光源、扩散片、反射片以及膜片组。以LED作为背光源，LED搭配二次透镜增大其发光角度，反射片将照射到其表面的光进行反射，提高出光量，最后所有光经过扩散板和膜片的扩散作用使得发光均匀性提高。
不管是侧入式显示装置还是直下式显示装置，都存在均匀性问题，比如，出现灯影、亮暗带、Mura等问题，这些问题直接影响到用户的观看体验。而目前均匀性的判断方法主要包括主观评估方法和九点均匀性评估方法，主观评估方法的缺点是均匀性的标准因人而异，而九点均匀性评估方法，准确性低。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种显示均匀性的判断方法、装置及存储介质，旨在提高对显示均匀性判断的准确性。
为实现上述目的，本发明提供一种显示均匀性的判断方法，所述显示均匀性的判断方法包括以下步骤：
获取待测试图像的亮度参数，根据所述亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数；
确定所述待测试图像的缺陷数据，根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的第二均匀性判断参数；
根据所述第一均匀性判断参数以及所述第二均匀性判断参数确定所述待测试图像的均匀性。
可选的，所述亮度参数为所述待测试图像的有效显示区域中各个目标区域的亮度值，所述根据所述亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数的步骤包括：
根据各个所述目标区域的亮度值确定最小亮度值与最大亮度值；
将所述最小亮度值与所述最大亮度值进行比值计算，获得第一比值；
以所述第一比值作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
可选的，所述亮度参数为所述待测试图像的有效显示区域中各个目标区域的色度坐标值，所述根据所述亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数的步骤包括：
根据各个所述目标区域的色度坐标值计算任意两个目标区域的色度坐标差值；
获取所述色度坐标差值的最大值；
以所述色度坐标差值的最大值作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
可选的，所述亮度参数为所述待测试图像的有效显示区域中各个像素的亮度值，所述根据所述亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数的步骤包括：
将各个所述像素的亮度值分别与参考亮度值进行差值计算，获得多个亮度差值；
将各个所述亮度差值分别与所述参考亮度值进行比值计算，获得多个第二比值；
根据多个所述第二比值计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
可选的，所述根据多个所述第二比值计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数的步骤包括：
将各个所述第二比值分别与预设比值进行比较；
计算所述第二比值大于预设比值的目标第二比值的数量；
计算所述目标第二比值的数量占有效显示区域中的总像素数量的数量百分比；
以所述数量百分比作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
可选的，所述根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的第二均匀性判断参数的步骤包括：
根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的有效显示区域的缺陷面积；
计算所述有效显示区域的缺陷面积占所述有效显示区域的总面积的面积百分比；
以所述面积百分比作为所述待测试图像的第二均匀性判断参数。
可选的，所述根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的第二均匀性判断参数的步骤包括：
根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的有效显示区域中的缺陷区域的数量；
以所述有效显示区域中的缺陷区域的数量作为所述待测试图像的第二均匀性判断参数。
可选的，所述根据所述第一均匀性判断参数以及所述第二均匀性判断参数确定所述待测试图像的均匀性的步骤包括：
根据所述第一均匀性判断参数确定所述第一均匀性判断参数的等级；
根据所述第二均匀性判断参数确定所述第二均匀性判断参数的等级；
根据所述第一均匀性判断参数的等级以及所述第二均匀性判断参数的等级确定所述待测试图像的均匀性。
为实现上述目的，本发明还提供一种显示均匀性的判断装置，所述显示均匀性的判断装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的显示均匀性的判断程序，所述显示均匀性的判断程序被所述处理器执行时实现如上任一项所述的显示均匀性的判断方法的步骤。
为实现上述目的，本发明还提供一种存储介质，所述存储介质存储有显示均匀性的判断程序，所述显示均匀性的判断程序被所述处理器执行时实现如上所述的显示均匀性的判断方法的各个步骤。
本发明的技术方案，通过待测试图像的亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数；根据待测试图像的缺陷数据计算所述待测试图像的第二均匀性判断参数；根据所述第一均匀性判断参数以及所述第二均匀性判断参数确定所述待测试图像的均匀性。也就是说，本申请的技术方案，结合待测试图像的显示均匀性以及显示缺陷对待测试图像的均匀性进行综合判断，能够提高对均匀性判断的准确性。
附图说明
图1为本申请显示均匀性的判断装置的硬件结构示意图；
图2为本申请显示均匀性的判断方法一实施例的流程示意图；
图3为图2中步骤S1的一细化流程示意图；
图4为图2中步骤S1的另一细化流程示意图；
图5为图2中步骤S1的又一细化流程示意图；
图6为图5中步骤S18的一细化流程示意图；
图7为图2中步骤S2的一细化流程示意图；
图8为图2中步骤S2的另一细化流程示意图；
图9为图2中步骤S3的一细化流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明实施例的主要解决方案是：获取待测试图像的亮度参数，根据所述亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数；确定所述待测试图像的缺陷数据，根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的第二均匀性判断参数；根据所述第一均匀性判断参数以及所述第二均匀性判断参数确定所述待测试图像的均匀性。
本申请的技术方案，通过获取待测试图像的亮度参数，并根据待测试图像的亮度参数计算待测试图像的第一均匀性判断参数；以及，确定待测试图像的缺陷数据，根据待测试图像的缺陷数据计算待测试图像的第二均匀性判断参数；并根据第一均匀性判断参数以及第二均匀性判断参数确定待测试图像的均匀性。
作为一种实现方案，显示均匀性的判断装置可以如图1所示。
本申请实施例方案涉及的是显示均匀性的判断装置，显示均匀性的判断装置包括：处理器1001，例如CPU，通信总线1002，存储器1003。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。
存储器1003可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatilememory)，例如磁盘存储器。如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1003中可以包括显示均匀性的判断程序；而处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的显示均匀性的判断程序，并执行以下操作：
获取待测试图像的亮度参数，根据所述亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数；
确定所述待测试图像的缺陷数据，根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的第二均匀性判断参数；
根据所述第一均匀性判断参数以及所述第二均匀性判断参数确定所述待测试图像的均匀性。
可选的，处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的显示均匀性的判断程序，并执行以下操作：
根据各个所述目标区域的亮度值确定最小亮度值与最大亮度值；
将所述最小亮度值与所述最大亮度值进行比值计算，获得第一比值；
以所述第一比值作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
可选的，处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的显示均匀性的判断程序，并执行以下操作：
根据各个所述目标区域的色度坐标值计算任意两个目标区域的色度坐标差值；
获取所述色度坐标差值的最大值；
以所述色度坐标差值的最大值作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
可选的，处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的显示均匀性的判断程序，并执行以下操作：
将各个所述像素的亮度值分别与参考亮度值进行差值计算，获得多个亮度差值；
将各个所述亮度差值分别与所述参考亮度值进行比值计算，获得多个第二比值；
根据多个所述第二比值计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
可选的，处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的显示均匀性的判断程序，并执行以下操作：
将各个所述第二比值分别与预设比值进行比较；
计算所述第二比值大于预设比值的目标第二比值的数量；
计算所述目标第二比值的数量占有效显示区域中的总像素数量的数量百分比；
以所述数量百分比作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
可选的，处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的显示均匀性的判断程序，并执行以下操作：
根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的有效显示区域的缺陷面积；
计算所述有效显示区域的缺陷面积占所述有效显示区域的总面积的面积百分比；
以所述面积百分比作为所述待测试图像的第二均匀性判断参数。
可选的，处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的显示均匀性的判断程序，并执行以下操作：
根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的有效显示区域中的缺陷区域的数量；
以所述有效显示区域中的缺陷区域的数量作为所述待测试图像的第二均匀性判断参数。
可选的，处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的显示均匀性的判断程序，并执行以下操作：
根据所述第一均匀性判断参数确定所述第一均匀性判断参数的等级；
根据所述第二均匀性判断参数确定所述第二均匀性判断参数的等级；
根据所述第一均匀性判断参数的等级以及所述第二均匀性判断参数的等级确定所述待测试图像的均匀性。
参照图2，图2为本申请显示均匀性的判断方法一实施例的流程示意图。
所述显示均匀性的判断方法包括以下步骤：
步骤S1，获取待测试图像的亮度参数，根据所述亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数；
所述待测试图像，为用于测试显示装置显示均匀性而选取的图像。本实施例中，可以先将显示装置显示的图像调节至目标灰阶值，例如，调节至50％灰阶，再将调节至目标灰阶值的图像投影至屏幕中，对屏幕中的图像进行数据捉捕，例如，采用分辨率高的照相机，可选分辨率大于屏幕分辨率0.5倍的照相机，对屏幕中的图像拍照，获得待测试的图像。所述亮度参数可选为待测试图像的像素亮度值、区域亮度值、色度坐标值等。所述第一均匀性判断参数，作为判断待测试图像的均匀性的其中一个判断依据。在获得待测试图像的亮度参数后，再根据所述亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数，例如，预先将待测试图像划分为多个区域，在计算待测试图像的第一均匀性判断参数时，先获取待测试图像的各个区域的亮度值，计算待测试图像的最小亮度值与最大亮度值的差值，以所述差值作为所述第一均匀性判断参数。具体的，在本发明一实施例中，参考图3，所述步骤S1包括：
步骤S10，根据各个所述目标区域的亮度值确定最小亮度值与最大亮度值；
本实施例中，所述亮度参数为所述待测试图像的有效显示区域中各个目标区域的亮度值。为了提高对显示均匀性的判断的准确性，以待测试图像四周边框内缩预设数量的像素后的区域作为有效显示区域，例如，以待测试图像四周边框内缩25个像素后的区域作为有效显示区域。所述有效显示区域包括预设的多个目标区域，其中，目标区域的数量、形状和大小可以根据显示装置的尺寸、显示的不均匀程度等设置。例如，可以根据有效显示区域的显示不均匀情况来划分目标区域及确定目标区域的数量；也可以将有效显示区域平均划分为多个目标区域等，例如，可以将有效显示区域平均划分为16*9个目标区域。在计算待测试图像的第一均匀性判断参数时，先获取各个目标区域的亮度值，每个目标区域的亮度值可以为该目标区域的最小亮度值、最大亮度值或者平均亮度值，本实施例所述的目标区域的亮度值可选为该目标区域的平均亮度值。在获得各个目标区域的亮度值后，从各个目标区域的亮度值中确定最小亮度值以及最大亮度值，也就是说，每个目标区域对应一个亮度值，多个目标区域则表示多个亮度值，从多个亮度值中确定最小亮度值以及最大亮度值，以Ymin表示多个目标区域中的最小亮度值，以Ymax表示多个目标区域中的最大亮度值。
步骤S11，将所述最小亮度值与所述最大亮度值进行比值计算，获得第一比值；
在确定最小亮度值Ymin以及最大亮度值Ymax后，将最小亮度值Ymin与最大亮度值Ymax进行比值计算，获得第一比值，所述第一比值以△Y表示，△Y＝Ymin/Ymax。其中，若所述第一比值△Y越接近1，所述待测试图像的均匀性越好。
步骤S12，以所述第一比值作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
以所述第一比值△Y作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数，即以第一比值△Y作为评估待测试图像的均匀性的其中一个判断依据。
可选的，在本发明一实施例中，参考图4，所述步骤S1包括：
步骤S13，根据各个所述目标区域的色度坐标值计算任意两个目标区域的色度坐标差值；
本实施例的亮度参数为待测试图像的有效显示区域中各个目标区域的色度坐标值。人眼对色彩的感知是一种错综复杂的过程，为了将色彩的描述加以量化，国际照明协会(CIE)根据标准观测者的视觉实验，将人眼对不同波长的辐射能所引起的视觉感加以纪录，计算出红、绿、蓝三原色的配色函数，经过数学转换后即得所谓的CIE1931ColorMatchingFunction(x(()y(()z(())。根据CIE1931配色函数，将人眼对可见光的刺激值以XYZ表示，经下列公式换算得到xy值，即CIE1931(xy)色度坐标，然而，由于以(xy)色度坐标所建构之色域为非均匀性，使色差难以量化表示，所以CIE于1976年将CIE1931色度坐标加以转换，使其所形成之色域为接近均匀之色度空间，让色彩差异得以量化表示，即CIE1976UCS(UniformChromaticityScale)色度坐标，以(u’v’)表示。本实施例中，所述目标区域的色度坐标值可选为各个目标区域的平均色度坐标值，可通过各个目标区域内的像素的色度坐标值计算各个目标区域的色度坐标值，以计算某一目标区域的色度坐标值u'，v'为例说明，设定该目标区域的像素总数为n，以un，vn表示每个像素的色度坐标值，n＝1、2、3、4、、、、、这个目标区域的u'＝(u1+u2+u3+u4+、、、、+un)/n，v'＝(v1+v2+v3+v4+、、、、+vn)/n，从而计算出该目标区域的色度坐标值u'，v'。以此类推，可以计算出每个目标区域的色度坐标值。
在获得每个目标区域的色度坐标值后，将多个目标区域以排列组合的方式进行两两组合，从而获得多组由两个目标区域构成的组合，再进一步计算每一组合内的两个目标区域的色度坐标差值。为了便于理解，以△u'v'表示某一组合中的两个目标区域之间的色度坐标差值，以(u'i，v'i)以及(u'j，v'j)表示该组合内的两个目标区域的色度坐标值，那么，该组合中的两个目标区域之间的色度坐标差值即可获得该组合中的两个目标区域的色度坐标差值，同理可计算出任一组合中的两个目标区域的色度坐标差值，所述色度坐标差值的数量与所述组合数对应，例如，若待测试图像包括A、B、C三个目标区域，将A、B、C三个目标区域进行两两组合，可获得AB、AC、BC组合，计算每组组合的色度坐标差值，可获得三个色度坐标差值。
步骤S14，获取所述色度坐标差值的最大值；
在获得每组组合中的两个目标区域的色度坐标差值后，从所获得的多个色度坐标差值中确定色度坐标差值的最大值，其中，色度坐标差值越小，待测试图像的均匀性越好。
步骤S15，以所述色度坐标差值的最大值作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
以所确定的色度坐标差值的最大值作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
可选的，在本发明一实施例中，参考图5，所述步骤S1包括：
步骤S16，将各个所述像素的亮度值分别与参考亮度值进行差值计算，获得多个亮度差值；
本实施例中，所述亮度参数为所述待测试图像的有效显示区域中各个像素的亮度值。所述参考亮度值，可以为有效显示区域的平均亮度值、中心点亮度值、有效显示区域中位于中心位置的像素的亮度值、或者有效显示区域的像素的平均亮度值。本实施例的参考亮度值可选为有效显示区域的各个像素的平均亮度值，可以通过将有效显示区域中的各个像素亮度值依次累加，再与有效显示区域中的像素总数进行比值计算，获得像素的平均亮度值，即参考亮度值，以L'表示。将各个像素的亮度值分别与参考亮度值作差，获得多个亮度差值，例如，以△Ln表示亮度差值，其中n＝1、2、3、、n，以L1、L2、L3、、、、Ln表示各个像素的亮度值，那么，△L1＝L1-L'，△L2＝L2-L'，△L3＝L3-L'、、、△Ln＝Ln-L'等。
步骤S17，将各个所述亮度差值分别与所述参考亮度值进行比值计算，获得多个第二比值；
在获得多个亮度差值后，将各个亮度差值分别与参考亮度值进行比值计算，获得多个第二比值，例如，△L1/L'，△L2/L'，△L3/L'、、、△Ln/Ln等。
步骤S18，根据多个所述第二比值计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
在将各个亮度差值与参考亮度值进行比值计算，获得多个第二比值后，可以根据所述多个第二比值计算第一均匀性判断参数，例如，计算所述第二比值大于预设比值的数量，以所获得的数量作为第一均匀性判断参数。具体的，在本发明一实施例中，参照图6，步骤S18包括：
步骤S180，将各个所述第二比值分别与预设比值进行比较；
所述预设比值，可选为待测试图像中像素的亮度梯度，所述预设比值可以根据实际需要设定，例如，对于100％灰阶的待测试图像，其预设比值可设置为2/100，即0.02，而对于0％灰阶的待测试图像，其预设比值可设置为0.00004。在获得多个第二比值后，将多个第二比值逐一与预设比值进行比较。
步骤S181，计算所述第二比值大于预设比值的目标第二比值的数量；
将大于预设比值的第二比值以目标第二比值表示。将各个第二比值分别与预设比值进行大小比较，并统计第二比值大于预设比值的所述目标第二比值的数量。
步骤S182，计算所述目标第二比值的数量占有效显示区域中的总像素数量的数量百分比；
在获得目标第二比值的数量后，计算目标第二比值的数量占有效显示区域中的总像素数量的数量百分。其中，若数量百分比越小，说明待测试图像的均匀性越好，若数量百分比越大，说明待测试图像中亮度偏高或者偏低的像素数量越多，待测试图像的均匀性越差。
步骤S183，以所述数量百分比作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
以所述数量百分比作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
步骤S2，确定所述待测试图像的缺陷数据，根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的第二均匀性判断参数；
所述缺陷数据，为待测试图像的有效显示区域中的高亮区域或者低亮区域，例如团状Mura、点状Mura、线状Mura等。其中，所述高亮或者低亮，表示其亮度不在预设亮度范围内，例如，亮度高于或者低于有效显示区域的平均亮度的20％，则可判定为高亮或者低亮。所述第二均匀性判断参数，作为判断待测试图像的均匀性的另外一个判断依据。在获得缺陷数据，即高亮区域或者低亮区域后，再根据缺陷数据计算第二均匀性判断参数，例如，计算待测试图像的有效显示区域中的高亮区域与低亮区域的面积，以面积作为第二均匀性判断参数。具体的，参照图7，在一实施例中，步骤S2包括：
步骤S20，根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的有效显示区域的缺陷面积；
在显示装置的尺寸较大时，如32寸、55寸、65寸等等，若显示画面中存在较大面积的高亮或者较大面积的低亮，例如团状Mura，其中，以低于或者高于有效显示区域中的平均亮度20％的亮度，且这种低亮或者高于的部分是连续存在的，则认为这属于团状Mura，较大面积的高亮或者较大面积的低亮会影响画面的播放效果，因此，可通过计算高亮区域的面积以及低亮区域的面积，来评估待测试图像的均匀性。本实施例中，在待测试图像存在面积较大的高亮区域及低亮区域时，通过计算有效显示区域内各个高亮区域及低亮区域的面积，将各个高亮区域及低亮区域的面积累加，获得面积之和，所述面积之和即为效显示区域的缺陷面积。
步骤S21，计算所述有效显示区域的缺陷面积占所述有效显示区域的总面积的面积百分比；
进一步的，在获得有效显示区域中的缺陷面积之后，计算所述缺陷面积占有效显示区域的总面积的面积百分比；其中，所述面积百分比越大，说明待测试图像中的缺陷面积越大，所述待测试图像的均匀性越差。
步骤S22，以所述面积百分比作为所述待测试图像的第二均匀性判断参数。
以所述面积百分比作为待测试图像的第二均匀性判断参数。
可选的，在一实施例中，参照图8，步骤S2包括：
步骤S23，根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的有效显示区域中的缺陷区域的数量；
在显示装置的尺寸较小，例如，小于32寸，若显示画面中存在较多小面积的高亮或者小面积的低亮时，例如点状Mura、线状Mura时，其中，以低于或者高于有效显示区域中的平均亮度20％的亮度，且小面积的高亮区域或者小面积的低亮区域中的像素个数小于设定的像素个数，则认为这属于点状Mura、线状Mura。较小面积的高亮或者较小面积的低亮会影响画面的播放效果，因此，可通过计算高亮区域以及低亮区域的数量，来评估待测试图像的均匀性。本实施例中，在待测试图像存在较多小面积的高亮区域及低亮区域时，计算有效显示区域内高亮区域及低亮区域的数量，所述高亮区域及低亮区域均为所述待测试图像的有效显示区域的缺陷区域。其中，高亮区域及低亮区域的数量越多，说明待测试图像的均匀性越差。
步骤S24，以所述有效显示区域中的缺陷区域的数量作为所述待测试图像的第二均匀性判断参数。
以有效显示区域中的缺陷区域的数量作为待测试图像的第二均匀性判断参数。
步骤S3，根据所述第一均匀性判断参数以及所述第二均匀性判断参数确定所述待测试图像的均匀性。
在获得第一均匀性判断参数及第二均匀性判断参数后，可根据第一均匀性判断参数及第二均匀性判断参数确定待测试图像的均匀性，例如，若所述第一均匀性判断参数及所述第二均匀性判断参数均满足预设条件，则判断所述待测试图像的均匀性符合要求。具体的，参照图9，在一实施例中，步骤S3包括：
步骤S30，根据所述第一均匀性判断参数确定所述第一均匀性判断参数的等级；
在获得第一均匀性判断参数后，可根据所述第一均匀性判断参数进行等级划分。
可选的，在第一均匀性判断参数为第一比值△Y时，可根据所述第一比值△Y的大小对所述第一均匀性判断参数进行等级划分，其中，在对所述第一均匀性判断参数进行等级划分时，还可以综合显示装置的尺寸设置，例如，对于大尺寸的显示装置，如55寸的显示装置，可以设定：
在第一比值△Y<6/10时，将所述第一均匀性判断参数的等级设为四级；
在6/10<第一比值△Y<7/10时，将所述第一均匀性判断参数的等级设为三级；
在7/10<第一比值△Y<8/10时，将所述第一均匀性判断参数的等级设为二级；
在第一比值△Y>8/10时，将所述第一均匀性判断参数的等级设为一级。
其中，所述第一比值△Y越接近1，所述待测试图像的均与性越好。
可选的，在第一均匀性判断参数为色度坐标差值的最大值时，可根据所述色度坐标差值的最大值对所述第一均匀性判断参数进行等级划分，其中，在对所述第一均匀性判断参数进行等级划分时，还可以综合显示装置的尺寸设置，例如，对于大尺寸的显示装置，如55寸的显示装置，可以设定：
在色度坐标差值的最大值△u'v'>0.03时，将所述第一均匀性判断参数的等级设为四级；
在0.02<色度坐标差值的最大值△u'v'<0.03时，将所述第一均匀性判断参数的等级设为三级；
在0.01<色度坐标差值的最大值△u'v'<0.02时，将所述第一均匀性判断参数的等级设为二级；
在色度坐标差值的最大值△u'v'<0.01时，将所述第一均匀性判断参数的等级设为一级。
其中，所述色度坐标差值越小，所述待测试图像的均匀性越好。
可选的，在第一均匀性判断参数为目标第二比值的数量占有效显示区域中的总像素数量的数量百分比时，根据所述数量百分比对所述第一均匀性判断参数进行等级划分，其中，在对所述第一均匀性判断参数进行等级划分时，还可以综合显示装置的尺寸设置，例如，对于大尺寸的显示装置，如55寸的显示装置，可以设定：
在数量百分比<10％时，将所述第一均匀性判断参数的等级设为一级；
在10％<百分比<20％时，将所述第一均匀性判断参数的等级设为二级；
在20％<百分比<30％时，将所述第一均匀性判断参数的等级设为三级；
在百分比>30％时，将所述第一均匀性判断参数的等级设为四级。
其中，所述数量百分比越小，所述待测试图像的均匀性越好。
步骤S31，根据所述第二均匀性判断参数确定所述第二均匀性判断参数的等级；
在获得第二均匀性判断参数后，对所述第二均匀性判断参数进行等级划分。
在所述第二均匀性判断参数为面积百分比时，根据所述面积百分比确定所述第二均匀性判断参数的等级，其中，在对所述第二均匀性判断参数进行等级划分时，还可以综合显示装置的尺寸、以及灰阶值设置，例如，对于大尺寸的显示装置，如55寸的显示装置，在其灰阶值较高，例如100％灰阶时，可以设定：
在面积百分比<5％时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为一级；
在5％<面积百分比<10％时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为二级；
在10％<面积百分比<15％时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为三级；
在面积百分比>15％时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为四级。
又或者，在其灰阶值较低，如30％灰阶时，由于此时显示装置所显示的画面会存在屏和背光的双重Mura影响，要求更为严格，因此，可以设定：
在面积百分比<4％时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为一级；
在4％<面积百分比<8％时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为二级；
在8％<面积百分比<12％时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为三级；
在面积百分比>12％时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为四级。
其中，所述面积百分比越大，所述待测试图像的均匀性越差。
可选的，在所述第二均匀性判断参数为缺陷区域的数量时，根据所述缺陷区域的数量确定所述第二均匀性判断参数的等级，其中，在对所述第二均匀性判断参数进行等级划分时，还可以综合显示装置的尺寸、以及灰阶值设置，例如，对于大尺寸的显示装置，如55寸的显示装置，在其灰阶值较高，例如100％灰阶时，可以设定：
在缺陷区域的数量<10时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为一级；
在10<缺陷区域的数量<20时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为二级；
在20<缺陷区域的数量<30时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为三级；
在缺陷区域的数量>30时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为四级。
又或者，在其灰阶值较低，如30％灰阶时，由于此时显示装置所显示的画面会存在屏和背光的双重Mura影响，要求更为严格，因此，可以设定：
在缺陷区域的数量<7时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为一级；
在7<缺陷区域的数量<15时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为二级；
在15<缺陷区域的数量<25时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为三级；
在缺陷区域的数量>25时，将所述第二均匀性判断参数的等级设为四级。
其中，所述缺陷区域的数量越多，所述待测试图像的均匀性越差。
步骤S32，根据所述第一均匀性判断参数的等级以及所述第二均匀性判断参数的等级确定所述待测试图像的均匀性。
在确定第一均匀性判断参数的等级及第二均匀性判断参数的等级后，可根据第一均匀性判断参数的等级及第二均匀性判断参数的等级确定待测试图像的均匀性，便于开发人员在后续调节显示装置的显示均匀性时，能够有针对性的进行调节。例如，在第一均匀性判断参数的等级及第二均匀性判断参数的等级均为一等时，判断所述待测试图像的均匀性较佳；在第一均匀性判断参数的等级和第二均匀性判断参数的等级不相等时，根据所述第一均匀性判断参数的等级及第二均匀性判断参数的等级中的低等级判定所述待测试图像的均匀性。还可以根据第一均匀性判断参数的等级和第二均匀性判断参数的等级对待测试图像的均匀性进行等级划分。例如，在第一均匀性判断参数的等级及第二均匀性判断参数的等级均为一级时，则认为待测试图像的均匀性等级为一级，即均匀性较佳；在第一均匀性判断参数的等级及第二均匀性判断参数的等级不相等时，则以所述第一均匀性判断参数的等级及第二均匀性判断参数的等级中的低等级作为所述待测试图像的均匀性等级；当然，也可以根据实际需要确定待测试图像的均匀性等级，此处不限。
本申请的技术方案，通过待测试图像的亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数；根据待测试图像的缺陷数据计算所述待测试图像的第二均匀性判断参数；根据所述第一均匀性判断参数以及所述第二均匀性判断参数确定所述待测试图像的均匀性。也就是说，本申请的技术方案，结合待测试图像的显示均匀性以及显示缺陷对待测试图像的均匀性进行综合判断，有效的提高对均匀性判断的准确性。
本发明还提出一种显示均匀性的判断装置，所述显示均匀性的判断装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的显示均匀性的判断程序，所述显示均匀性的判断程序被所述处理器执行时实现如上所述的显示均匀性的判断方法的步骤。
本实施例中，所述显示均匀性的判断装置可选为电视机、平板电脑、手机等具有显示面板的显示装置。
以上仅为本发明的可选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种显示均匀性的判断方法，其特征在于，所述显示均匀性的判断方法包括以下步骤：
获取待测试图像的亮度参数，根据所述亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数；
确定所述待测试图像的缺陷数据，根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的第二均匀性判断参数；
根据所述第一均匀性判断参数以及所述第二均匀性判断参数确定所述待测试图像的均匀性。
2.如权利要求1所述的显示均匀性的判断方法，其特征在于，所述亮度参数为所述待测试图像的有效显示区域中各个目标区域的亮度值，所述根据所述亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数的步骤包括：
根据各个所述目标区域的亮度值确定最小亮度值与最大亮度值；
将所述最小亮度值与所述最大亮度值进行比值计算，获得第一比值；
以所述第一比值作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
3.如权利要求1所述的显示均匀性的判断方法，其特征在于，所述亮度参数为所述待测试图像的有效显示区域中各个目标区域的色度坐标值，所述根据所述亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数的步骤包括：
根据各个所述目标区域的色度坐标值计算任意两个目标区域的色度坐标差值；
获取所述色度坐标差值的最大值；
以所述色度坐标差值的最大值作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
4.如权利要求1所述的显示均匀性的判断方法，其特征在于，所述亮度参数为所述待测试图像的有效显示区域中各个像素的亮度值，所述根据所述亮度参数计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数的步骤包括：
将各个所述像素的亮度值分别与参考亮度值进行差值计算，获得多个亮度差值；
将各个所述亮度差值分别与所述参考亮度值进行比值计算，获得多个第二比值；
根据多个所述第二比值计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
5.如权利要求4所述的显示均匀性的判断方法，其特征在于，所述根据多个所述第二比值计算所述待测试图像的第一均匀性判断参数的步骤包括：
将各个所述第二比值分别与预设比值进行比较；
计算所述第二比值大于预设比值的目标第二比值的数量；
计算所述目标第二比值的数量占有效显示区域中的总像素数量的数量百分比；
以所述数量百分比作为所述待测试图像的第一均匀性判断参数。
6.如权利要求1至5任一项所述的显示均匀性的判断方法，其特征在于，所述根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的第二均匀性判断参数的步骤包括：
根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的有效显示区域的缺陷面积；
计算所述有效显示区域的缺陷面积占所述有效显示区域的总面积的面积百分比；
以所述面积百分比作为所述待测试图像的第二均匀性判断参数。
7.如权利要求1至5任一项所述的显示均匀性的判断方法，其特征在于，所述根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的第二均匀性判断参数的步骤包括：
根据所述缺陷数据计算所述待测试图像的有效显示区域中的缺陷区域的数量；
以所述有效显示区域中的缺陷区域的数量作为所述待测试图像的第二均匀性判断参数。
8.如权利要求1所述的显示均匀性的判断方法，其特征在于，所述根据所述第一均匀性判断参数以及所述第二均匀性判断参数确定所述待测试图像的均匀性的步骤包括：
根据所述第一均匀性判断参数确定所述第一均匀性判断参数的等级；
根据所述第二均匀性判断参数确定所述第二均匀性判断参数的等级；
根据所述第一均匀性判断参数的等级以及所述第二均匀性判断参数的等级确定所述待测试图像的均匀性。
9.一种显示均匀性的判断装置，其特征在于，所述显示均匀性的判断装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的显示均匀性的判断程序，所述显示均匀性的判断程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的显示均匀性的判断方法的步骤。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有显示均匀性的判断程序，所述显示均匀性的判断程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的显示均匀性的判断方法的步骤。
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