CN110246444B - 像素电路及其测试方法、和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种像素电路及其测试方法、和显示装置，其中，像素电路包括：多个阵列排布的子像素，其中，每个子像素包括控流电路、开关电路和像素电极；所述控流电路的第一端与测试数据线连接，所述控流电路的第二端与所述开关电路的第一端连接；所述开关电路的第二端与所述像素电极连接，所述开关电路的控制端与开关控制线连接；所述像素电极还与数据线连接。本发明提供的像素电路及其测试方法、和显示装置，能够延长显示装置的使用寿命。

Description

像素电路及其测试方法、和显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种像素电路及其测试方法、和显示装置。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，简称OLED)具有自发光的特性，采用非常薄的有机材料涂层和玻璃基板制成，当有电流通过时，这些有机材料会发光。由于OLED显示屏具有可视角度大、节省电能等优点，受到了广大消费者的喜爱。

相关技术中，OLED中的液晶盒测试(Cell Test，简称CT)单元的结构如图1所示，其中，为提高数据信号的推送能力，CT单元中的薄膜晶体管(Thin Film Transistor，简称TFT)的宽长比设计得较大。然而，在模组(Module，简称MDL)点灯阶段，TFT处于关断状态时，由于TFT的宽长比较大会导致漏电电流较大，漏电电流与外界侵入CT单元中的水氧发生反应会腐蚀走线过孔位置的元件，降低显示装置的使用寿命。

发明内容

本发明实施例提供一种像素电路及其测试方法、和显示装置，以解决现有技术中像素电路在模组点灯阶段较大的漏电流与水氧发生电化学腐蚀，造成显示装置使用寿命短的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供一种像素电路，包括：多个阵列排布的子像素，其中，每个子像素包括控流电路、开关电路和像素电极；

所述控流电路的第一端与测试数据线连接，所述控流电路的第二端与所述开关电路的第一端连接；所述控流电路用于使电流能够从所述控流电路的第一端流向所述控流电路的第二端，且阻断从所述控流电路的第二端流向所述控流电路的第一端的电流；

所述开关电路的第二端与所述像素电极连接，所述开关电路的控制端与开关控制线连接；所述开关电路在所述开关控制线提供的开关控制信号的控制下，控制所述开关电路的第一端与所述开关电路的第二端导通或断开；

所述像素电极还与数据线连接。

进一步地，所述开关电路包括第一晶体管，所述第一晶体管的第一极与所述开关电路的第一端连接，所述第一晶体管的第二极与所述开关电路的第二端连接，所述第一晶体管的控制极与所述开关控制线连接。

进一步地，所述控流电路包括第二晶体管，所述第二晶体管的第一极与所述控流电路的第一端连接，所述第二晶体管的第二极与所述控流电路的第二端连接，所述第二晶体管的控制极的电位与所述第二晶体管的第二极的电位相等；其中，所述第二晶体管的宽长比小于5。

进一步地，所述第二晶体管的控制极与所述第二晶体管的第二极连接。

进一步地，所述开关电路的第一端与预设走线连接，所述预设走线的电位小于或等于零电位。

进一步地，还包括预设电阻，所述预设电阻的一端与所述开关电路的第一端连接，所述预设电阻的另一端与所述预设走线连接。

进一步地，位于同一行且不同颜色的子像素的开关电路的控制端连接不同的开关控制线，位于同一行且相同颜色的子像素的开关电路的控制端连接同一根开关控制线。

进一步地，位于同一行且不同颜色的子像素的开关电路的第一端连接不同的测试数据线，位于同一行且相同颜色的子像素的开关电路的第一端连接同一根测试数据线。

第二方面，本发明实施例还提供一种如上所述的像素电路的测试方法，所述方法包括：

在液晶盒测试点灯阶段，控制所述测试数据线提供的测试数据信号从所述控流电路的第一端流至所述控流电路的第二端；在开关控制线提供的开关控制信号的控制下，控制所述开关电路的第一端与所述开关电路的第二端之间的连接导通，使得所述测试数据信号驱动所述像素电极发光；

在模组点灯阶段，阻断电流从所述控流电路的第二端流至所述控流电路的第一端；所述数据线提供的数据信号驱动所述像素电极发光。

进一步地，所述控制所述测试数据线提供的测试数据信号从所述控流电路的第一端流至所述控流电路的第二端的步骤，包括：

在所述测试数据线提供的测试数据信号的控制下，导通所述第二晶体管的第一极与所述第二晶体管的第二极之间的连接，使得所述测试数据信号从第二晶体管的第一极流至所述第二晶体管的第二极；

所述阻断电流从所述控流单元的第二端流至所述控流电路的第一端的步骤，包括：

在所述测试数据线提供的测试数据信号的控制下，关断所述第二晶体管的第一极与所述第二晶体管的第二极之间的连接，阻断电流从所述第二晶体管的第二极流至所述第二晶体管的第一极。

进一步地，本发明实施例还提供一种显示装置，包括如上所述的像素电路。

本发明提供的技术方案中，通过控流电路使电流能够从所述控流电路的第一端流向所述控流电路的第二端，且阻断从所述控流电路的第二端流向所述控流电路的第一端的电流。这样，像素电路能够正常进行液晶盒测试，且在模组测试时阻挡开关电路的漏电流流向控流电路的第一端，避免漏电流与水氧发生电化学腐蚀走线过孔位置的元件，延长显示装置的使用寿命。因此，本发明提供的技术方案能够延长显示装置的使用寿命。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1a为现有技术中单个子像素的连接示意图；

图1b为现有技术中同一行中多个子像素的连接示意图；

图2为本发明一实施例提供的像素电路中单个子像素的连接示意图；

图3为本发明另一实施例提供的像素电路中单个子像素的连接示意图；

图4为本发明另一实施例提供的像素电路中同一行中多个子像素的连接示意图；

图5为本发明一实施例提供的像素电路的制作方法中一个阶段的结构示意图；

图6为本发明一实施例提供的像素电路的制作方法中另一个阶段的结构示意图；

图7为本发明一实施例提供的像素电路的制作方法中另一个阶段的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

现有技术中如图1a和图1b所示，其中，CT单元为提高数据信号的推送能力，CT单元中的TFT110的宽长比设计得较大。然而，TFT的宽长比较大时会导致TFT的漏电流较大，例如：TFT的宽长比W/L＝50/3时，TFT的漏电流值为10-⁸A数量级，而显示区的TFT的漏电流值通常在10-¹²A数量级。又由于CT单元表面是有机层，无薄膜封装(Thin-FilmEncapsulation，简称TFE)覆盖，有机层阻挡水氧能力比较差，在信赖性测试中，水氧会通过有机层进入CT单元，这样，在MDL点灯阶段，TFT处于关断状态时，较大的漏电流会与水氧发生电化学腐蚀走线过孔位置的元件，降低显示装置的使用寿命。

本发明实施例针对上述问题，提供一种像素电路及其测试方法、和显示装置，能够解决现有技术中像素电路在模组点灯阶段较大的漏电流与水氧发生电化学腐蚀，造成显示装置使用寿命短的问题。

本发明实施例提供一种像素电路，如图2所示，包括：多个阵列排布的子像素200，其中，每个子像素200包括控流电路210、开关电路220和像素电极230；

所述控流电路210的第一端与测试数据线Test-Data连接，所述控流电路210的第二端与所述开关电路220的第一端连接；所述控流电路210用于使电流能够从所述控流电路210的第一端流向所述控流电路210的第二端，且阻断从所述控流电路210的第二端流向所述控流电路210的第一端的电流；

所述开关电路220的第二端与所述像素电极230连接，所述开关电路220的控制端与开关控制线SW连接；所述开关电路220在所述开关控制线SW提供的开关控制信号的控制下，控制所述开关电路220的第一端与所述开关电路220的第二端导通或断开；

所述像素电极230还与数据线IC-Data连接。

本发明实施例中，通过控流电路使电流能够从所述控流电路的第一端流向所述控流电路的第二端，且阻断从所述控流电路的第二端流向所述控流电路的第一端的电流。这样，像素电路能够正常进行液晶盒测试，且在模组测试时阻挡开关电路的漏电流流向控流电路的第一端，避免漏电流与水氧发生电化学腐蚀走线过孔位置的元件，延长显示装置的使用寿命。因此，本发明提供的技术方案能够延长显示装置的使用寿命。

上述像素电路中的像素单元可以是由三色子像素(红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素)构成的，也可以是其他多色子像素构成的，例如：五色子像素(红色子像素、青色子像素、绿色子像素、黄色子像素和蓝色子像素)构成的，此处不作限定。其中，像素电极230包括电致发光元件，不同颜色的子像素中的像素电极能够发出不同颜色的光。

每个子像素中均包括控流电路210、开关电路220和像素电极230。

控流电路210能够确保测试数据线Test-Data提供的测试数据信号流向开关电路220的第一端，且防止开关电路220的第一端的电流流向测试数据线Test-Data。例如：控流电路210可以为二极管。

在液晶盒测试点灯阶段：开关电路220在开关控制线SW提供的开关控制信号的控制下，控制开关电路220的第一端与开关电路220的第二端导通，此时测试数据线Test-Data提供的测试数据信号能够依次通过控流电路210的第一端、控流电路210的第二端、开关电路220的第一端和开关电路220的第二端，使得测试数据信号驱动像素电极发光，即确保液晶盒测试点灯能够正常进行。

在不进行液晶盒测试时，开关电路220在开关控制线SW提供的开关控制信号的控制下，控制开关电路220的第一端与开关电路220的第二端断开。

像素电极还与数据线IC-Data连接。

在MDL点灯阶段，数据线IC-Data能够直接向像素电极提供数据信号，驱动像素电极发光，即确保MDL点灯能够正常进行。此时，开关电路220在开关控制线SW提供的开关控制信号的控制下，控制开关电路220的第一端与开关电路220的第二端断开，避免测试数据信号对像素电极发光的影响。

在MDL点灯阶段，开关电路220的第一端与开关电路220的第二端断开，但是开关电路220的漏电流较大，通过控流电路210防止开关电路220的第一端的电流流向测试数据线Test-Data，从而避免漏电流与水氧发生电化学腐蚀走线过孔位置的元件，延长显示装置的使用寿命。

进一步地，如图3所示，所述开关电路220包括第一晶体管Q1，所述第一晶体管Q1的第一极与所述开关电路220的第一端连接，所述第一晶体管Q1的第二极与所述开关电路220的第二端连接，所述第一晶体管Q1的控制极与所述开关控制线SW连接。

第一晶体管Q1在开关控制线SW提供的开关控制信号的控制下，控制第一晶体管Q1的第一极与第一晶体管Q1的第二极之间导通或断开。在液晶盒测试点灯阶段，控制第一晶体管Q1的第一极与第一晶体管Q1的第二极之间导通，测试数据线Test-Data提供的测试数据信号能够驱动像素电极230发光。在MDL点灯阶段，控制第一晶体管Q1的第一极与第一晶体管Q1的第二极之间断开，避免测试数据信号对像素电极230的影响，由数据线IC-Data提供的数据信号驱动像素电极230发光。

例如：在MDL点灯阶段，开关控制信号和测试数据信号均提供第一电压，使得第一晶体管Q1的Vgs＝0，控制第一晶体管Q1的第一极与第一晶体管Q1的第二极之间断开。该第一电压可以为7V的正电压。

进一步地，如图3和图4所示，所述控流电路210包括第二晶体管Q2，所述第二晶体管Q2的第一极与所述控流电路210的第一端连接，所述第二晶体管Q2的第二极与所述控流电路210的第二端连接，所述第二晶体管Q2的控制极的电位与所述第二晶体管Q2的第二极的电位相等；其中，所述第二晶体管Q2的宽长比小于5。

本实施例中，第二晶体管Q2用于在液晶盒测试点灯阶段使电流能够从所述第二晶体管Q2的第一极流向所述第二晶体管Q2的第二极，且在MDL点灯阶段阻断从所述第二晶体管Q2的第二极流向所述第二晶体管Q2的第一极的电流。

第二晶体管Q2的控制极的电位与第二晶体管Q2的第二极的电位相等的方式可以是通过导线将第二晶体管Q2的控制极与第二晶体管Q2的第二极相连，也可以是第二晶体管Q2的控制极和第二晶体管Q2的第二极分别连接两电位相等的节点，此处不作限定。

由于第二晶体管Q2的控制极的电位与第二晶体管Q2的第二极的电位相等，因此第二晶体管Q2的第一极与第二晶体管Q2的第二极之间导通或断开取决于第二晶体管Q2的第一极的电位。

在液晶盒测试点灯阶段，可以利用第二晶体管Q2的第一极的电位使得第二晶体管Q2的Vgs小于阈值电压Vth，从而使得第二晶体管Q2的第一极与第二晶体管Q2的第二极之间导通，例如：第二晶体管Q2的控制极为栅极、第二晶体管Q2的第一极为源极、第二晶体管Q2的第二极为漏极为例，第二晶体管Q2的栅极和漏极的电位为0V，测试数据信号为5V，此时第二晶体管Q2的Vgs＝0V-5V＝-5V＜Vth，从而使得第二晶体管Q2的源极与第二晶体管Q2的漏极之间导通。

测试数据线Test-Data提供的测试数据信号能够从所述第二晶体管Q2的第一极流向所述第二晶体管Q2的第二极，进而驱动像素电极发光。

在MDL点灯阶段，可以利用第二晶体管Q2的第一极的电位使得第二晶体管Q2的Vgs大于阈值电压Vth，从而使得第二晶体管Q2的第一极与第二晶体管Q2的第二极之间断开，例如：第二晶体管Q2的控制极为栅极、第二晶体管Q2的第一极为源极、第二晶体管Q2的第二极为漏极为例，第二晶体管Q2的栅极和漏极的电位为0V，测试数据信号为-7V，此时第二晶体管Q2的Vgs＝0V-(-7)V＝7V＞Vth，从而使得第二晶体管Q2的源极与第二晶体管Q2的漏极之间断开。

又由于第二晶体管Q2的宽长比小于5，漏电流很小，开关电路220的漏电流无法从第二晶体管Q2的第二极传输至第二晶体管Q2的第一极，避免漏电流与水氧发生电化学腐蚀走线过孔位置的元件，延长显示装置的使用寿命。

以第一晶体管Q1和第二晶体管Q2均为TFT为例，图4中TFT1、TFT2、TFT3和TFT4分别为同一行的四个子像素的开关电路，TFT5为TFT4所属的子像素中的控流电路。

需要说明的是，上述第二晶体管Q2的控制极为栅极、第二晶体管Q2的第一极为源极、第二晶体管Q2的第二极为漏极仅仅只是一种举例说明，实际上本发明所有实施例中采用的晶体管(第一晶体管Q1和第二晶体管Q2)均可以为三极管、薄膜晶体管或场效应管或其他特性相同的器件。在本发明实施例中，为区分晶体管除控制极之外的两极，将其中一极称为第一极，另一极称为第二极。

在实际操作时，当所述晶体管为三极管时，所述控制极可以为基极，所述第一极可以为集电极，所述第二极可以发射极；或者，所述控制极可以为基极，所述第一极可以为发射极，所述第二极可以集电极。

在实际操作时，当所述晶体管为薄膜晶体管或场效应管时，所述控制极可以为栅极，所述第一极可以为漏极，所述第二极可以为源极；或者，所述控制极可以为栅极，所述第一极可以为源极，所述第二极可以为漏极。

进一步地，所述开关电路220的第一端与预设走线S连接，所述预设走线S的电位小于或等于零电位。

本实施例中，通过将开关电路220的第一端与预设走线S连接，从而能够将开关电路220的第一端的漏电流从预设走线S导出像素电路，避免漏电流在开关电路220的第一端聚集。

预设走线S可以是接地端或接地线，也可以是像素电路中本身具有的低电位导线，例如：电位为-3V的像素补偿线Vinit。

进一步地，像素电路还包括预设电阻，所述预设电阻的一端与所述开关电路的第一端连接，所述预设电阻的另一端与所述预设走线连接。

预设电阻能够消耗处于开关电路220的第一端的漏电流，使得在开关电路220的第一端聚集的漏电流减少，剩余的漏电流再通过预设走线S导出像素电路。

进一步地，位于同一行且不同颜色的子像素的开关电路的控制端连接不同的开关控制线，位于同一行且相同颜色的子像素的开关电路的控制端连接同一根开关控制线。

本实施例中，与一行子像素连接的开关控制线SW的数量等于该行子像素颜色的数量，例如：一行子像素有红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素三种颜色的子像素，则开关控制线SW包括三根开关控制线，每根开关控制线分别与一种颜色的子像素连接，如图4所示，红色开关控制线SW_R与红色子像素中的开关电路的控制端连接，绿色开关控制线SW_G与绿色子像素中的开关电路的控制端连接，蓝色开关控制线SW_B与蓝色子像素中的开关电路的控制端连接。

当然，在一行子像素有其他数量的不同颜色的子像素时，对应的开关控制线SW的数量也不同，例如：一行子像素有五种不同颜色的子像素，则与该行子像素连接的开关控制线SW有五根。

这样，在液晶盒测试点灯阶段，只测试第一颜色子像素时，可以通过与第一颜色子像素对应的开关控制线来控制第一颜色子像素的开关电路的第一端和第二端导通，同时通过其他开关控制线来控制其他颜色子像素的开关电路的第一端和第二端断开，此时在第一颜色子像素的开关电路的第一端有测试数据信号的情况下，像素电极能够在测试数据信号的驱动下发光。

需要说明的是，本实施例中可以是同一行全部颜色的子像素共同连接一根测试数据线，即通过一根测试数据线将测试数据信号传导至该行全部子像素的开关电路的第一端；也可以是同一行同一颜色的子像素共同连接一根测试数据线，不同颜色的子像素连接不同的测试数据线，即通过一根测试数据线将测试数据信号传导至该行中同一种颜色的子像素的开关电路的第一端。

进一步地，位于同一行且不同颜色的子像素的开关电路的第一端连接不同的测试数据线，位于同一行且相同颜色的子像素的开关电路的第一端连接同一根测试数据线。

本实施例中，与一行子像素连接的测试数据线Test-Data的数量等于该行子像素颜色的数量，例如：一行子像素有红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素三种颜色的子像素，则测试数据线Test-Data包括三根测试数据线，每根测试数据线分别与一种颜色的子像素连接，如图4所示，红色测试数据线D_R与红色子像素中的开关电路的第一端连接，绿色测试数据线D_G与绿色子像素中的开关电路的第一端连接，蓝色测试数据线D_B与蓝色子像素中的开关电路的第一端连接。

当然，在一行子像素有其他数量的不同颜色的子像素时，对应的测试数据线Test-Data的数量也不同，例如：一行子像素有五种不同颜色的子像素，则与该行子像素连接的测试数据线Test-Data有五根。

这样，在液晶盒测试点灯阶段，只测试第一颜色子像素时，可以通过与第一颜色子像素对应的测试数据线提供测试数据信号至第一颜色子像素的开关电路的第一端，同时通过其他测试数据线来控制其他颜色子像素的开关电路的第一端没有测试数据信号，此时在第一颜色子像素的开关电路的第一端与第二端导通的情况下，像素电极能够在测试数据信号的驱动下发光。

需要说明的是，本实施例中可以是同一行全部颜色的子像素共同连接一根开关控制线，即通过一根开关控制线将开关控制信号传导至该行全部子像素的开关电路的控制端；也可以是同一行同一颜色的子像素共同连接一根开关控制线，不同颜色的子像素连接不同的开关控制线，即通过一根开关控制线将开关控制信号传导至该行中同一种颜色的子像素的开关电路的控制端。

本发明实施例还提供一种像素电路的测试方法，所述方法包括：

在液晶盒测试点灯阶段，控制所述测试数据线提供的测试数据信号从所述控流电路的第一端流至所述控流电路的第二端；在开关控制线提供的开关控制信号的控制下，控制所述开关电路的第一端与所述开关电路的第二端之间的连接导通，使得所述测试数据信号驱动所述像素电极发光；

在模组点灯阶段，阻断电流从所述控流电路的第二端流至所述控流电路的第一端；所述数据线提供的数据信号驱动所述像素电极发光。

本发明实施例中，通过控流电路使电流能够从所述控流电路的第一端流向所述控流电路的第二端，且阻断从所述控流电路的第二端流向所述控流电路的第一端的电流。这样，像素电路能够正常进行液晶盒测试，且在模组测试时阻挡开关电路的漏电流流向控流电路的第一端，避免漏电流与水氧发生电化学腐蚀走线过孔位置的元件，延长显示装置的使用寿命。因此，本发明提供的技术方案能够延长显示装置的使用寿命。

上述像素电路中的像素单元可以是由三色子像素(红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素)构成的，也可以是其他多色子像素构成的，例如：五色子像素(红色子像素、青色子像素、绿色子像素、黄色子像素和蓝色子像素)构成的，此处不作限定。其中，像素电极包括电致发光元件，不同颜色的子像素中的像素电极能够发出不同颜色的光。

每个子像素中均包括控流电路、开关电路和像素电极。

控流电路能够确保测试数据线提供的测试数据信号流向开关电路的第一端，且防止开关电路的第一端的电流流向测试数据线。例如：控流电路可以为二极管。

在液晶盒测试点灯阶段：开关电路在开关控制线提供的开关控制信号的控制下，控制开关电路的第一端与开关电路的第二端导通，此时测试数据线提供的测试数据信号能够依次通过控流电路的第一端、控流电路的第二端、开关电路的第一端和开关电路的第二端，使得测试数据信号驱动像素电极发光，即确保液晶盒测试点灯能够正常进行。

在不进行液晶盒测试时，开关电路在开关控制线提供的开关控制信号的控制下，控制开关电路的第一端与开关电路的第二端断开。

像素电极还与数据线连接。

在MDL点灯阶段，数据线能够直接向像素电极提供数据信号，驱动像素电极发光，即确保MDL点灯能够正常进行。此时，开关电路在开关控制线提供的开关控制信号的控制下，控制开关电路的第一端与开关电路的第二端断开，避免测试数据信号对像素电极发光的影响。

在MDL点灯阶段，开关电路的第一端与开关电路的第二端断开，但是开关电路的漏电流较大，通过控流电路防止开关电路的第一端的电流流向测试数据线，从而避免漏电流与水氧发生电化学腐蚀走线过孔位置的元件，延长显示装置的使用寿命。

进一步地，所述控流电路包括第二晶体管，所述第二晶体管的第一极与所述控流电路的第一端连接，所述第二晶体管的第二极与所述控流电路的第二端连接，所述第二晶体管的控制极的电位与所述第二晶体管的第二极的电位相等；其中，所述第二晶体管的宽长比小于5；

所述控制所述测试数据线提供的测试数据信号从所述控流电路的第一端流至所述控流电路的第二端的步骤，包括：

在所述测试数据线提供的测试数据信号的控制下，导通所述第二晶体管的第一极与所述第二晶体管的第二极之间的连接，使得所述测试数据信号从第二晶体管的第一极流至所述第二晶体管的第二极；

所述阻断电流从所述控流单元的第二端流至所述控流电路的第一端的步骤，包括：

在所述测试数据线提供的测试数据信号的控制下，关断所述第二晶体管的第一极与所述第二晶体管的第二极之间的连接，阻断电流从所述第二晶体管的第二极流至所述第二晶体管的第一极。

如图3和图4所示，本实施例中，第二晶体管Q2用于在液晶盒测试点灯阶段使电流能够从所述第二晶体管Q2的第一极流向所述第二晶体管Q2的第二极，且在MDL点灯阶段阻断从所述第二晶体管Q2的第二极流向所述第二晶体管Q2的第一极的电流。

第二晶体管Q2的控制极的电位与第二晶体管Q2的第二极的电位相等的方式可以是通过导线将第二晶体管Q2的控制极与第二晶体管Q2的第二极相连，也可以是第二晶体管Q2的控制极和第二晶体管Q2的第二极分别连接两电位相等的节点，此处不作限定。

由于第二晶体管Q2的控制极的电位与第二晶体管Q2的第二极的电位相等，因此第二晶体管Q2的第一极与第二晶体管Q2的第二极之间导通或断开取决于第二晶体管Q2的第一极的电位。

在液晶盒测试点灯阶段，可以利用第二晶体管Q2的第一极的电位使得第二晶体管Q2的Vgs小于阈值电压Vth，从而使得第二晶体管Q2的第一极与第二晶体管Q2的第二极之间导通，例如：第二晶体管Q2的控制极为栅极、第二晶体管Q2的第一极为源极、第二晶体管Q2的第二极为漏极为例，第二晶体管Q2的栅极和漏极的电位为0V，测试数据信号为5V，此时第二晶体管Q2的Vgs＝0V-5V＝-5V＜Vth，从而使得第二晶体管Q2的源极与第二晶体管Q2的漏极之间导通。

测试数据线Test-Data提供的测试数据信号能够从所述第二晶体管Q2的第一极流向所述第二晶体管Q2的第二极，进而驱动像素电极发光。

在MDL点灯阶段，可以利用第二晶体管Q2的第一极的电位使得第二晶体管Q2的Vgs大于阈值电压Vth，从而使得第二晶体管Q2的第一极与第二晶体管Q2的第二极之间断开，例如：第二晶体管Q2的控制极为栅极、第二晶体管Q2的第一极为源极、第二晶体管Q2的第二极为漏极为例，第二晶体管Q2的栅极和漏极的电位为0V，测试数据信号为-7V，此时第二晶体管Q2的Vgs＝0V-(-7)V＝7V＞Vth，从而使得第二晶体管Q2的源极与第二晶体管Q2的漏极之间断开。

又由于第二晶体管Q2的宽长比小于5，漏电流很小，开关电路220的漏电流无法从第二晶体管Q2的第二极传输至第二晶体管Q2的第一极，避免漏电流与水氧发生电化学腐蚀走线过孔位置的元件，延长显示装置的使用寿命。

本发明实施例还提供了一种像素电路的制作方法，包括如下步骤：

步骤1：在衬底基板上形成开关电路和控流电路；

步骤2：形成覆盖于所述开关电路和所述控流电路的测试数据线、数据线和开关控制线；

步骤3：使得所述控流电路的第一端与测试数据线连接，所述控流电路的第二端与所述开关电路的第一端连接；所述开关电路的第二端与所述像素电极连接，所述开关电路的控制端与开关控制线连接；所述像素电极与数据线连接。

以开关电路和控流电路均为场效应晶体管为例进行说明：

首先，可以在衬底基板上形成多晶硅(P-Si)层，之后针对该多晶硅层进行准分子激光退火(ELA)工艺，并利用第一掩膜板进行刻蚀，得到如图5所示的结构；其中，P-Si层可以是通过沉积的方式形成的，具体是物理沉积还是化学沉积此处不作限定；

之后，形成覆盖图5所示的结构的栅极层，并利用第二掩膜板进行刻蚀，形成开关电路和控流电路，如图6所示；其中，栅极层可以是通过沉积的方式形成的，具体是物理沉积还是化学沉积此处不作限定；

之后，形成覆盖图6所示的结构的第一金属层，并利用第三掩膜板进行刻蚀，形成用于连接开关电路和控流电路的导线，如图7所示，此时导线并未与开关电路和控流电路连接；

之后，形成覆盖图7所示的结构的第二金属层，并利用第四掩膜板进行刻蚀，形成测试数据线、数据线和开关控制线；

接着，对衬底基板上已形成的多个功能层进行活化(Activation)工艺、碳纳米管(Carbon Nano Tube，简称CNT)打孔、CNT退火(Anneal)、金属沉积和刻蚀等一系列工艺，使得多层分布的开关电路、控流电路、导线、测试数据线、数据线和开关控制线之间相互连接，如图4所示；

最后，在衬底基板依次形成平坦层(PLN)和像素界定层(PDL)。

上述衬底基板可以采用柔性衬底基板，比如聚酰亚胺薄膜；也可以采用刚性衬底基板，比如石英基板或玻璃基板。

本发明实施例还提供了一种显示装置，包括如上所述的像素电路。

显示装置可以是显示器、手机、平板电脑、电视机、可穿戴电子设备、导航显示设备等。

除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

可以理解，当诸如层、膜、区域或基板之类的元件被称作位于另一元件“上”或“下”时，该元件可以“直接”位于另一元件“上”或“下”，或者可以存在中间元件。

上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，均属于本发明的保护之内。

Claims (10)

1.一种像素电路，其特征在于，包括：多个阵列排布的子像素，其中，每个子像素包括控流电路、开关电路和像素电极；

所述控流电路的第一端与测试数据线连接，所述控流电路的第二端与所述开关电路的第一端连接；所述控流电路用于使电流能够从所述控流电路的第一端流向所述控流电路的第二端，且阻断从所述控流电路的第二端流向所述控流电路的第一端的电流；

所述开关电路的第二端与所述像素电极连接，所述开关电路的控制端与开关控制线连接；所述开关电路在所述开关控制线提供的开关控制信号的控制下，控制所述开关电路的第一端与所述开关电路的第二端导通或断开；

所述像素电极还与数据线连接；

所述开关电路的第一端与预设走线连接，所述预设走线的电位小于或等于零电位。

2.根据权利要求1所述的像素电路，其特征在于，所述开关电路包括第一晶体管，所述第一晶体管的第一极与所述开关电路的第一端连接，所述第一晶体管的第二极与所述开关电路的第二端连接，所述第一晶体管的控制极与所述开关控制线连接。

3.根据权利要求1所述的像素电路，其特征在于，所述控流电路包括第二晶体管，所述第二晶体管的第一极与所述控流电路的第一端连接，所述第二晶体管的第二极与所述控流电路的第二端连接，所述第二晶体管的控制极的电位与所述第二晶体管的第二极的电位相等；其中，所述第二晶体管的宽长比小于5。

4.根据权利要求3所述的像素电路，其特征在于，所述第二晶体管的控制极与所述第二晶体管的第二极连接。

5.根据权利要求1所述的像素电路，其特征在于，还包括预设电阻，所述预设电阻的一端与所述开关电路的第一端连接，所述预设电阻的另一端与所述预设走线连接。

6.根据权利要求1所述的像素电路，其特征在于，位于同一行且不同颜色的子像素的开关电路的控制端连接不同的开关控制线，位于同一行且相同颜色的子像素的开关电路的控制端连接同一根开关控制线。

7.根据权利要求1所述的像素电路，其特征在于，位于同一行且不同颜色的子像素的开关电路的第一端连接不同的测试数据线，位于同一行且相同颜色的子像素的开关电路的第一端连接同一根测试数据线。

8.一种如权利要求1-7中任一项所述的像素电路的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

在液晶盒测试点灯阶段，控制所述测试数据线提供的测试数据信号从所述控流电路的第一端流至所述控流电路的第二端；在开关控制线提供的开关控制信号的控制下，控制所述开关电路的第一端与所述开关电路的第二端之间的连接导通，使得所述测试数据信号驱动所述像素电极发光；

在模组点灯阶段，阻断电流从所述控流电路的第二端流至所述控流电路的第一端；所述数据线提供的数据信号驱动所述像素电极发光。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，应用于权利要求3所述的像素电路；

所述控制所述测试数据线提供的测试数据信号从所述控流电路的第一端流至所述控流电路的第二端的步骤，包括：

在所述测试数据线提供的测试数据信号的控制下，导通所述第二晶体管的第一极与所述第二晶体管的第二极之间的连接，使得所述测试数据信号从第二晶体管的第一极流至所述第二晶体管的第二极；

所述阻断电流从所述控流电路的第二端流至所述控流电路的第一端的步骤，包括：

在所述测试数据线提供的测试数据信号的控制下，关断所述第二晶体管的第一极与所述第二晶体管的第二极之间的连接，阻断电流从所述第二晶体管的第二极流至所述第二晶体管的第一极。

10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-7中任一项所述的像素电路。

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