CN110189703A - 一种显示面板和显示装置 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例公开了一种显示面板和显示装置，显示面板包括显示区和周边电路区；显示区设置有多条扫描信号线、多条发光控制信号线、多条参考信号线和多个矩阵排布的像素电路；周边电路区设置有多个扫描驱动电路、多个发光控制电路、低电位信号线、高电位信号线和参考信号总线；周边电路区还包括多个老化测试端子，低电位信号线、高电位信号线以及参考信号总线中的至少一个分别与两个老化测试端子电连接，该两个老化测试端子上连接不同的老化测试信号，保证在老化测试阶段，显示区不同位置上的像素单元发光亮度相同或者相近，不同位置上的像素单元老化速度相同或者相近，保证显示区不同位置上的像素单元在显示阶段显示均一性良好。

Description

一种显示面板和显示装置
技术领域
本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板和显示装置。
背景技术
有机发光显示器(Organic Light Emitting Diode OLED)是当今平板显示器研究领域的热点之一，与液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)相比，OLED具有低能耗、生成成本低、自发光、宽视角及相应速度快等优点，目前，在手机、PDA、数码相机等平板显示领域，OLED已经开始取代传统的LCD。
但是，OLED显示器的发光材料存在一定的衰减性，因此在OLED显示器出厂之前一般会进行老化测试，在老化测试过程中向OLED显示器输入较大的发光信号，加速发光材料的衰减过程。但是由于传输测试电流的导线上的电阻会造成发光信号的电压降，造成显示区不同区域接收到的发光信号不同，显示区不同区域发光材料的衰减程度不同，造成显示器后续的显示阶段不同区域的显示亮度不同，影响显示装置显示均一性。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供一种显示面板和显示装置，以解决现有技术中在老化测试阶段显示面板不同区域老化程度不同，导致显示面板在显示阶段不同区域显示亮度不同，显示均一性较差的技术问题。
第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：
显示区和周边电路区；
所述显示区设置有多条扫描信号线、多条发光控制信号线、多条参考信号线和多个矩阵排布的像素电路；
所述周边电路区设置有多个扫描驱动电路、多个发光控制电路、低电位信号线、高电位信号线和参考信号总线；
所述扫描驱动电路的扫描信号输入端分别与所述低电位信号线和所述高电位信号线电连接，所述扫描驱动电路的扫描信号输出端与所述扫描信号线电连接；
所述发光控制电路的发光控制信号输入端分别与所述低电位信号线和所述高电位信号线电连接，所述发光控制电路的发光控制信号输出端与所述发光控制信号线电连接；
所述参考信号总线与多条所述参考信号线电连接；
所述周边电路区还包括多个老化测试端子，所述低电位信号线、所述高电位信号线以及所述参考信号总线中的至少一个分别与两个所述老化测试端子电连接。
第二方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括第一方面所述的显示面板。
本发明实施例提供的显示面板和显示装置，通过设置低电位信号线、高电位信号线以及参考信号总线中的至少一个分别与两个老化测试端子电连接，接收两个不同的老化测试信号，保证显示面板不同显示区域的像素电路可以接收到相同或者相近的发光信号，驱动与其对应的像素单元发光亮度相同或者相近，保证显示面板不同显示区域的像素单元在老化测试阶段的老化程度相同或者相近，在后续的显示阶段中不同区域的像素单元显示亮度相同或者相近，保证显示面板显示亮度均一性良好，显示面板显示效果良好。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1是现有技术中一种显示面板的结构示意图；
图2是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；
图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；
图4是本发明实施例提供的一种像素电路的结构示意图；
图5是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；
图6是本发明实施例提供的另一种像素电路的结构示意图；
图7是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；
图8是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；
图9是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；
图10是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；
图11是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；
图12是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将结合本发明实施例中的附图，通过具体实施方式，完整地描述本发明的技术方案。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下获得的所有其他实施例，均落入本发明的保护范围之内。
由于OLED显示器的发光材料存在一定的衰减性，且在初始使用阶段衰减速率较大，在后续使用阶段衰减速率区域稳定，因此在OLED显示器出厂之前一般会进行老化测试，过滤掉发光材料快速衰减阶段。图1是现有技术中一种显示面板的结构示意图，如图1所示，显示面板包括显示区11和周边电路区12，集成驱动电路13位于周边电路区12内且位于显示区11一侧，由于发光信号是通过集成驱动电路13输入至显示区11不同区域的像素单元14中，且为了加速老化测试过程，发光信号一般较大，因此发光信号在传输过程中在发光信号传输线15(例如PVDD信号线、PVEE信号线等)上存在较大的电压降，导致靠近集成区域电路13一侧的像素单元14接收到的发光信号较大，远离集成驱动电路13一侧的像素单元14接收到的发光信号较小。如此在老化测试结束后，靠近集成区域电路13一侧的像素单元14与远离集成驱动电路13一侧的像素单元14的老化程度不同，在后续显示过程中会造成靠近集成区域电路13一侧的像素单元14与远离集成驱动电路13一侧的像素单元14的发光亮度不同，影响显示面板发光亮度均一性，影响显示面板的显示效果。
基于上述技术问题，本发明实施例提供一种显示区和周边电路区；显示区设置有多条扫描信号线、多条发光控制信号线、多条参考信号线和多个矩阵排布的像素电路；周边电路区设置有多个扫描驱动电路、多个发光控制电路、低电位信号线、高电位信号线和参考信号总线；扫描驱动电路的扫描信号输入端分别与低电位信号线和高电位信号线电连接，扫描驱动电路的扫描信号输出端与扫描信号线电连接；发光控制电路的发光控制信号输入端分别与低电位信号线和高电位信号线电连接，发光控制电路的发光控制信号输出端与发光控制信号线电连接；参考信号总线与多条参考信号线电连接；周边电路区还包括多个老化测试端子，低电位信号线、高电位信号线以及参考信号总线中的至少一个分别与两个老化测试端子电连接。采用上述技术方案，通过设置低电位信号线、高电位信号线以及参考信号总线中的至少一个分别与两个老化测试端子电连接，接收两个不同的老化测试信号，保证显示面板不同显示区域的像素电路可以接收到相同或者相近的发光信号，驱动与其对应的像素单元发光亮度相同或者相近，保证显示面板不同显示区域的像素单元在老化测试阶段的老化程度相同或者相近，在后续的显示阶段中不同区域的像素单元显示亮度相同或者相近，保证显示面板显示亮度均一性良好，显示面板显示效果良好。
以上是本发明的核心思想，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本发明实施例保护的范围。
图2是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，如图2所示，本发明实施例提供的显示面板包括：显示区11和周边电路区12；显示区11设置有多条扫描信号线111、多条发光控制信号线112、多条参考信号线113和多个矩阵排布的像素电路114；周边电路区12设置有多个扫描驱动电路121、多个发光控制电路122、低电位信号线123、高电位信号线124和参考信号总线125；扫描驱动电路121的扫描信号输入端分别与低电位信号线123和高电位信号线124电连接，扫描驱动电路121的扫描信号输出端与扫描信号线111电连接；发光控制电路122的发光控制信号输入端分别与低电位信号线123和高电位信号线124电连接，发光控制电路122的发光控制信号输出端与发光控制信号线112电连接；参考信号总线125与多条参考信号线113电连接；周边电路区12还包括多个老化测试端子20，低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的至少一个分别与两个老化测试端子20电连接。
如图2所示，显示区11设置有多条扫描信号线111、多条发光控制信号线112、多条参考信号线113和多个矩阵排布的像素电路114，同行排列的像素电路114连接同一条扫描信号线111、同一条发光控制信号线112和同一条参考信号线113，接收相同的扫描信号、发光控制信号和参考信号。
周边电路区12设置有多个级联设置的扫描驱动电路121，如图中所示的scan1、scan2、……、scan6，扫描驱动电路121的第一扫描信号输入端与低电位信号线123电连接，第二扫描信号输入端与高电位信号线124电连接，扫描信号输出端与扫描信号线111电连接，通过扫描信号线111向像素电路114提供包括低电位信号和高电位信号的扫描信号。周边电路区12还设置有多个级联设置的发光控制电路122，如图中所示的emit1、emit2、……、emit6，发光控制电路122的第一发光控制信号输入端与低电位信号线123电连接，第二发光控制信号输入端与高电位信号线124电连接，发光控制信号输出端与发光控制信号线112电连接，通过发光控制信号线112向像素电路114提供包括低电位信号和高电位信号的发光控制信号。参考信号总线125与多条参考信号线113电连接，通过参考信号线113向像素电路114提供参考信号。
周边电路区12中还设置有多个老化测试端子20，多个老化测试端子20用于在老化测试过程中，向低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中提供老化测试信号，完成老化测试过程。具体的，低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的至少一个分别与两个老化测试端子20电连接，如此低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的至少一个便可以同时接收到两个大小不同的老化测试信号，保证显示面板显示区11内不同位置处的像素电路114可以接收到相同或者相近的发光信号，驱动与其对应的像素单元发光亮度相同或者相近，保证显示面板显示区11内不同位置处的像素单元在老化测试阶段的老化程度相同或者相近，在后续的显示阶段中不同位置处的像素单元显示亮度相同或者相近，保证显示面板显示亮度均一性良好，显示面板显示效果良好。具体的，以图2所示的低电位信号线123与两个老化测试端子20电连接为例进行说明，低电位信号线123接收两个大小不同的老化测试信号，这样通过扫描驱动电路121向显示面板不同位置的像素电路114提供不同的扫描信号，或者通过发光控制电路122向显示面板不同位置的像素电路114提供不同的发光控制信号，通过不同的扫描信号或者发光控制信号控制显示面板不同位置上的像素电路114对应的像素单元在老化测试过程中的发光程度相同或者相近，老化程度相同或者相近，保证显示面板在老化测试阶段之后的显示阶段中，不同位置的像素单元的发光程度相同，显示面板显示均一性良好。
可选的，低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的至少一个分别与两个老化测试端子20电连接，具体可以包括多种实现方式。其中一种实现方式可以参考图2所示，老化测试端子20包括第一测试端子部分21和第二测试端子部分22，第一测试端子部分21和第二测试端子部分22分别位于显示区11相对设置的两侧，这种设置方式仅需在显示区11相对设置的两侧分别设置第一测试端子部分21和第二测试端子部分22，低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的至少一个分别与第一测试端子部分21和第二测试端子部分22电连接即可，实现方式简单。另一种实现方式可以参考图3所示，图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，图3以低电位信号线123与老化测试信号线30在远离老化测试端子20的一侧电连接为例进行说明。如图3所示，多个老化测试端子20位于显示区11的同一侧，显示面板还包括至少一条老化测试信号线30，老化测试信号线30的一端连接一老化测试端子20，另一端与低电位信号线123、高电位信号线124或者参考信号总线125在远离老化测试端子20的一侧电连接，实现低电位信号线123、高电位信号线124或者参考信号总线125中的至少一个可以同时连接两个老化测试信号，这种设置方式可以仅从显示区11的一侧输入老化测试信号，老化测试信号提供方式简单。本发明实施例对如何实现低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的至少一个分别与两个老化测试端子20电连接不进行限定，只需保证低电位信号线123、高电位信号线124或者参考信号总线125中的至少一个可以同时连接两个不同的老化测试信号，保证显示面板显示区11内不同位置处的像素电路114可以接收到相同或者相近的老化测试信号，显示面板显示区11内不同位置处的像素单元在老化测试阶段的老化程度相同或者相近即可。
接下来对如何通过低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的至少一个分别与两个老化测试端子20电连接，便可以实现显示面板显示区11内不同位置处的像素电路114可以接收到相同或者相近的发光信号进行说明。
图4是本发明实施例提供的一种像素电路的结构示意图，图5是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，如图4和图5所示，像素电路114包括第一P型薄膜晶体管T1和第二P型薄膜晶体管T2，发光控制信号线112分别与第一P型薄膜晶体管T1和第二P型薄膜晶体管T2的控制端电连接；低电位信号线123分别与第一老化测试端子201和第二老化测试端子202电连接；低电位信号线123包括第一子低电位信号线1231和第二子低电位信号线1232，其中，第一子低电位信号线1231和第二子低电位信号线1232的一端分别与第一老化测试端子201电连接，第一子低电位信号线1231的另一端与第二老化测试端子202电连接；第一子低电位信号线1231与多个发光控制信号输入端电连接，第二子低电位信号线1232与多个扫描信号输入端电连接；显示面板包括老化阶段，在老化阶段中，第一老化测试端子201上连接有第一低电位信号VGL1，第二老化测试端子202上连接有第二低电位信号VGL2，其中，VGL2<VGL1<0。
示例性的，当像素电路114包括第一P型薄膜晶体管T1和第二P型薄膜晶体管T2，且第一P型薄膜晶体管T1和第二P型薄膜晶体管T2的驱动控制信号小于0时，第一P型薄膜晶体管T1和第二P型薄膜晶体管T2导通；且在老化阶段，第一P型薄膜晶体管T1和第二P型薄膜晶体管T2工作在线性区。
如图5所示，由于第二老化端子202靠近发光控制电路emit1一侧，第一老化端子201靠近发光控制电路emit6一侧，因此发光控制电路emit1输出的EMIT1信号更接近第二老化端子202连接的第二低电位信号VGL2，发光控制电路emit6输出的EMIT6信号更接近第一老化端子201连接的第二低电位信号VGL1，因此，当第一老化测试端子201上连接的第一低电位信号VGL1与第二老化测试端子202上连接的第二低电位信号VGL2满足VGL2<VGL1<0时，发光控制电路emit1输出的发光控制信号EMIT1与发光控制电路emit6输出的发光控制信号EMIT6满足EMIT1<EMIT6<0。同时，由于在老化阶段，第一P型薄膜晶体管T1和第二P型薄膜晶体管T2工作在线性区，因此，发光控制信号EMIT1控制的整行像素电路114中，第一P型薄膜晶体管T1和第二P型薄膜晶体管T2的开启程度较大，发光控制信号EMIT6控制的整行像素电路114中，第一P型薄膜晶体管T1和第二P型薄膜晶体管T2的开启程度较小。
如图4所示，由于第一P型薄膜晶体管T1和第二P型薄膜晶体管T2位于PVDD信号的传输线路上，因此，发光控制信号EMIT1控制的整行像素电路114中第一P型薄膜晶体管T1和第二P型薄膜晶体管T2的开启程度较大，更多的发光信号(PVDD信号)可以传输至像素单元(OLED)上，如此可以弥补因发光控制信号EMIT1控制的整行像素电路114位于远离集成驱动电路13的一侧造成的电压降较大的问题，保证发光控制信号EMIT1控制的整行像素电路114接收到的发光信号与发光控制信号EMIT6控制的整行像素电路114接收到的发光信号相同或者相近，保证整个显示面板距离集成驱动电路13不同位置处的像素电路114可以接收到相同或者相近的发光信号，保证整个显示面板中的像素单元的发光亮度相同或者相近，像素单元在老化阶段的老化程度相同或者相近，进而保证在老化阶段之后的显示阶段中，整个显示面板中的像素单元的发光亮度相同，保证显示面板的显示均一性良好。
可选的，继续参考图5所示，本发明实施例提供的显示面板中，周边电路区12还设置有多个显示测试端子40，低电位信号线123、高电位信号线124和参考信号总线125分别连接一显示测试端子40，用于在显示测试阶段，接收显示测试信号，其中，老化测试端子20复用部分显示测试端子40。
示例性的，在老化阶段之前或者之后，还需要对显示面板进行显示测试(VTtest)，检测显示面板的显示性能。其中，老化测试端子20可以复用部分显示测试端子40，或者显示测试端子40可以复用老化测试端子20，保证显示面板周边电路区12中各种信号端子设置方式简单，减少各种信号端子的数量，减小周边电路区12的面积，有利于实现显示面板的窄边框设计。
进一步的，在显示测试阶段中，第二老化测试端子202上的电位与第一老化测试端子201上的电位相同，或者，第二老化测试端子202上的电位浮置。
示例性的，本发明实施例提供的显示面板，仅在老化阶段需要要求第一老化测试端子201和第二老化测试端子202上的老化测试信号不同，通过向低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的至少一个输入不同的老化测试信号，保证显示面板中具体集成驱动电路13不同具体的像素电路114可以接收到相同或者相近的发光信号；在其他阶段，例如显示测试端子，第二老化测试端子202上的电位与第一老化测试端子201上的电位相同，或者，第二老化测试端子202上的电位浮置即可，无需设置第一老化测试端子201和第二老化测试端子202上的显示测试信号不同，显示测试方法简单。
图6是本发明实施例提供的另一种像素电路的结构示意图，图7是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，如图6和图7所示，像素电路114包括第一N型薄膜晶体管T1’和第二N型薄膜晶体管T2’，发光控制信号线112分别与第一N型薄膜晶体管T1’和第二N型薄膜晶体管T2’的控制端电连接；高电位信号线124分别与第三老化测试端子203和第四老化测试端子204电连接；高电位信号线124包括第一子高电位信号线1241和第二子高电位信号线1242，其中，第一子高电位信号线1241和第二子高电位信号线1242的一端分别与第三老化测试端子203电连接，第一子高电位信号线1241的另一端与第四老化测试端子204电连接；第一子高电位信号线1241与多个发光控制信号输入端电连接，第二子高电位信号线1242与多个扫描信号输入端电连接；显示面板包括老化阶段，在老化阶段中，第三老化测试端子203上连接有第一高电位信号VGH1，第四老化测试端子204上连接有第二高电位信号VGH2，其中，VGH2>VGH1>0。
示例性的，当像素电路114包括第一N型薄膜晶体管T1’和第二N型薄膜晶体管T2’，且第一N型薄膜晶体管T1’和第二N型薄膜晶体管T2’的驱动控制信号大于0时，第一N型薄膜晶体管T1’和第二N型薄膜晶体管T2’导通；且在老化阶段，第一N型薄膜晶体管T1’和第二N型薄膜晶体管T2’工作在线性区。
如图7所示，由于第四老化端子204靠近发光控制电路emit1一侧，第三老化端子203靠近发光控制电路emit6一侧，因此发光控制电路emit1输出的EMIT1信号更接近第四老化端子204连接的第二高电位信号VGH2，发光控制电路emit6输出的EMIT6信号更接近第三老化端子203连接的第一高电位信号VGH1，因此，当第三老化测试端子203上连接的第一高电位信号VGH1与第四老化测试端子204上连接的第二高电位信号VGH2满足VGH2>VGH1>0时，发光控制电路emit1输出的发光控制信号EMIT1与发光控制电路emit6输出的发光控制信号EMIT6满足EMIT1>EMIT6>0。同时，由于在老化阶段，第一N型薄膜晶体管T1’和第二N型薄膜晶体管T2’工作在线性区，因此，发光控制信号EMIT1控制的整行像素电路114中，第一N型薄膜晶体管T1’和第二N型薄膜晶体管T2’的开启程度较大，发光控制信号EMIT6控制的整行像素电路114中，第一N型薄膜晶体管T1’和第二N型薄膜晶体管T2’的开启程度较小。
如图6所示，由于第一N型薄膜晶体管T1’和第二N型薄膜晶体管T2’位于PVDD信号的传输线路上，因此，发光控制信号EMIT1控制的整行像素电路114中第一N型薄膜晶体管T1’和第二N型薄膜晶体管T2’的开启程度较大，更多的发光信号(PVDD信号)可以传输至像素单元(OLED)上，可以弥补因发光控制信号EMIT1控制的整行像素电路114位于远离集成驱动电路13的一侧造成的电压降较大的问题，保证发光控制信号EMIT1控制的整行像素电路114接收到的发光信号与发光控制信号EMIT6控制的整行像素电路114接收到的发光信号相同或者相近，保证整个显示面板距离集成驱动电路13不同位置处的像素电路114可以接收到相同或者相近的发光信号，保证整个显示面板中的像素单元的发光亮度相同或者相近，像素单元在老化阶段的老化程度相同或者相近，进而保证在老化阶段之后的显示阶段中，整个显示面板中的像素单元的发光亮度相同，保证显示面板的显示均一性良好。
进一步的，在显示测试阶段中，第四老化测试端子204上的电位与第三老化测试端子203上的电位相同，或者，第四老化测试端子204上的电位浮置。
示例性的，本发明实施例提供的显示面板，仅在老化阶段需要要求第三老化测试端子203和第四老化测试端子204上的老化测试信号不同，通过向低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的至少一个输入不同的老化测试信号，保证显示面板中具体集成驱动电路13不同具体的像素电路114可以接收到相同或者相近的发光信号；在其他阶段，例如显示测试端子，第四老化测试端子204上的电位与第三老化测试端子203上的电位相同，或者，第四老化测试端子204上的电位浮置即可，无需设置第三老化测试端子203和第四老化测试端子204上的显示测试信号不同，显示测试方式简单。
图8是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，结合图4和图8所示，像素电路114包括第三P型薄膜晶体管T3和存储电容Cst，第三P型薄膜晶体管T3的漏极以及存储电容Cst的第一电极板在第一节点N1电连接；扫描信号线111与第三P型薄膜晶体管T3的控制端电连接；高电位信号线124分别与第五老化测试端子205和第六老化测试端子206电连接；高电位信号线包括第一子高电位信号线1241和第二子高电位信号线1242，其中，第一子高电位信号线1241和第二子高电位信号线1242的一端分别与第六老化测试端子206电连接，第二子高电位信号线1242的另一端与第五老化测试端子205电连接；第一子高电位信号线1241与多个发光控制信号输入端电连接，第二子高电位信号线1242与多个扫描信号输入端电连接；显示面板包括老化阶段，在老化阶段中，第五老化测试端子205上连接有第三高电位信号VGH3，第六老化测试端子206上连接有第四高电位信号VGH4，其中，VGH4>VGH3>0。
首先对像素电路114的工作原理进行简单描述：在初始化阶段，第六薄膜晶体管T6打开，参考信号充入存储电容Cst。在数据写入和补偿阶段阶段，第四薄膜晶体管T4、第五薄膜晶体管T5和第三薄膜晶体管T3打开，Vdata充入存储电容Cst，第一节点N1的电压VN1＝Vdata-|Vth|，其中|Vth|为第五薄膜晶体管T5的阈值电压。在发光阶段的到来时刻，由于扫描信号线111上的扫描信号从低电位信号突变到高电位信号，信号变化量为VGH-VGL，一般在第一节点N1与扫描信号线111之间存在耦合电容Cg，此时由于扫描信号跳变影响第一节点N1节点电位变化ΔV＝Cg/(Cg+Cst)*(VGH-VGL)，使第一节点N1电位变化至VN1+ΔV。在发光阶段，OLED的发光电流I＝K(PVDD-Vdata-ΔV)2，其中K为常数。因此设置不同老化测试端子20上的高电位信号不同，可以影响第一节点N1节点电位变化ΔV，进而影响OLED的发光电流，影响OLED的老化程度。
具体的，由于第五老化测试端子205靠近扫描驱动电路scan1一侧，第六老化测试端子206靠近扫描驱动电路scan6一侧，因此扫描驱动电路scan1输出的SCAN1信号更接近第五老化测试端子205连接的第三高电位信号VGH3，扫描驱动电路scan6输出的SCAN6信号更接近第六老化测试端子206连接的第四高电位信号VGH4，因此，当第五老化测试端子205上连接的第三高电位信号VGH3与第六老化测试端子206上连接的第四高电位信号VGH4满足VGH4>VGH3>0时，扫描驱动电路scan1输出的SCAN1信号与扫描驱动电路scan6输出的SCAN6信号满足SCAN6>SCAN1>0。因此SCAN1信号控制的整行像素电路114中在扫描信号跳变时在第一节点N1节点电位变化ΔV1更接近Cg/(Cg+Cst)*(VGH3-VGL)，SCAN6信号控制的整行像素电路114中在扫描信号跳变时在第一节点N1节点电位变化ΔV6更接近Cg/(Cg+Cst)*(VGH4-VGL)，因此，ΔV1<ΔV6，因此SCAN1信号控制的整行像素电路114对应的像素单元的发光单元I1＝K(PVDD-Vdata-ΔV1)与SCAN6信号控制的整行像素电路114对应的像素单元的发光单元I6＝K(PVDD-Vdata-ΔV6)满足I1>I6。即通过设置第五老化测试端子205上连接的第三高电位信号VGH3与第六老化测试端子206上连接的第四高电位信号VGH4满足VGH4>VGH3>0，可以保证SCAN1信号控制的整行像素电路114接收到的发光信号与SCAN6信号控制的整行像素电路114接收到的发光信号相同或者相近，保证整个显示面板距离集成驱动电路13不同位置处的像素电路114可以接收到相同或者相近的发光信号，保证整个显示面板中的像素单元的发光亮度相同或者相近，像素单元在老化阶段的老化程度相同或者相近，进而保证在老化阶段之后的显示阶段中，整个显示面板中的像素单元的发光亮度相同，保证显示面板的显示均一性良好。
进一步的，在显示测试阶段中，第五老化测试端子205上的电位与第六老化测试端子206上的电位相同，或者，第五老化测试端子205上的电位浮置。
示例性的，本发明实施例提供的显示面板，仅在老化阶段需要要求第五老化测试端子205和第六老化测试端子206上的老化测试信号不同，通过向低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的至少一个输入不同的老化测试信号，保证显示面板中具体集成驱动电路13不同具体的像素电路114可以接收到相同或者相近的发光信号；在其他阶段，例如显示测试端子，第五老化测试端子205上的电位与第六老化测试端子206上的电位相同，或者，第五老化测试端子205上的电位浮置即可，无需设置第五老化测试端子205和第六老化测试端子206上的显示测试信号不同，显示测试方式简单。
图9是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，结合图6和图9所示，像素电路114包括第三N型薄膜晶体管T3’和存储电容Cst，第三N型薄膜晶体管T3’的源极以及存储电容Cst的第一电极板在第一节点N1电连接；扫描信号线111与第三N型薄膜晶体管T3’的控制端电连接；低电位信号线123分别与第七老化测试端子207和第八老化测试端子208电连接；低电位信号线包括第一子低电位信号线1231和第二子低电位信号线1232，其中，第一子低电位信号线1231和第二子低电位信号线1232的一端分别与第八老化测试端子208电连接，第二子低电位信号线1232的另一端与第七老化测试端子207电连接；第一子低电位信号线1231与多个发光控制信号输入端电连接，第二子低电位信号线1232与多个扫描信号输入端电连接；显示面板包括老化阶段，在老化阶段中，第七老化测试端子207上连接有第三低电位信号VGL3，第八老化测试端子208上连接有第四低电位信号VGL4，其中，VGL4<VGL3<0。
首先对像素电路114的工作原理进行简单描述：在初始化阶段，第六薄膜晶体管T6’打开，参考信号充入存储电容Cst。在数据写入和补偿阶段阶段，第四薄膜晶体管T4’、第五薄膜晶体管T5’和第三薄膜晶体管T3’打开，Vdata充入存储电容Cst，第一节点N1的电压VN1＝Vdata-|Vth|，其中|Vth|为第五薄膜晶体管T5’的阈值电压。在发光阶段的到来时刻，由于扫描信号线111上的扫描信号从高电位信号突变到低电位信号，信号变化量为VGH-VGL，一般在第一节点N1与扫描信号线111之间存在耦合电容Cg，此时由于扫描信号跳变影响第一节点N1节点电位变化ΔV＝Cg/(Cg+Cst)*(VGH-VGL)，使第一节点N1电位变化至VN1+ΔV。在发光阶段，OLED的发光电流I＝K(PVDD-Vdata-ΔV)，其中K为常数。因此设置不同老化测试端子20上的低电位信号不同，可以影响第一节点N1节点电位变化ΔV，进而影响OLED的发光电流，影响OLED的老化程度。
具体的，由于第七老化测试端子207靠近扫描驱动电路scan1一侧，第八老化测试端子208靠近扫描驱动电路scan6一侧，因此扫描驱动电路scan1输出的SCAN1信号更接近第七老化测试端子207连接的第三低电位信号VGL3，扫描驱动电路scan6输出的SCAN6信号更接近第八老化测试端子208连接的第四低电位信号VGL4，因此，当第七老化测试端子207上连接的第三低电位信号VGL3与第八老化测试端子208上连接的第四低电位信号VGL4满足VGL4<VGL3<0时，扫描驱动电路scan1输出的SCAN1信号与扫描驱动电路scan6输出的SCAN6信号满足SCAN6<SCAN1<0。因此SCAN1信号控制的整行像素电路114中在扫描信号跳变时在第一节点N1节点电位变化ΔV1更接近Cg/(Cg+Cst)*(VGH-VGL3)，SCAN6信号控制的整行像素电路114中在扫描信号跳变时在第一节点N1节点电位变化ΔV6更接近Cg/(Cg+Cst)*(VGH-VGL4)，因此，ΔV1<ΔV6，因此SCAN1信号控制的整行像素电路114对应的像素单元的发光单元I1＝K(PVDD-Vdata-ΔV1)与SCAN6信号控制的整行像素电路114对应的像素单元的发光单元I6＝K(PVDD-Vdata-ΔV6)满足I1>I6。即通过设置第七老化测试端子207上连接的第三低电位信号VGL3与第八老化测试端子208上连接的第四低电位信号VGL4满足VGL4<VGL3<0，可以保证SCAN1信号控制的整行像素电路114接收到的发光信号与SCAN6信号控制的整行像素电路114接收到的发光信号相同或者相近，保证整个显示面板距离集成驱动电路13不同位置处的像素电路114可以接收到相同或者相近的发光信号，保证整个显示面板中的像素单元的发光亮度相同或者相近，像素单元在老化阶段的老化程度相同或者相近，进而保证在老化阶段之后的显示阶段中，整个显示面板中的像素单元的发光亮度相同，保证显示面板的显示均一性良好。
进一步的，在显示测试阶段中，第七老化测试端子207上的电位与第八老化测试端子208上的电位相同，或者，第七老化测试端子207上的电位浮置。
示例性的，本发明实施例提供的显示面板，仅在老化阶段需要要求第七老化测试端子207和第八老化测试端子208上的老化测试信号不同，通过向低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的至少一个输入不同的老化测试信号，保证显示面板中具体集成驱动电路13不同具体的像素电路114可以接收到相同或者相近的发光信号；在其他阶段，例如显示测试端子，第七老化测试端子207上的电位与第八老化测试端子208上的电位相同，或者，第七老化测试端子207上的电位浮置即可，无需设置第七老化测试端子207和第八老化测试端子208上的显示测试信号不同，显示测试方式简单。
图10是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，参考图4、图6和图10所示，像素电路114包括第三薄膜晶体管、第四薄膜晶体管、第五薄膜晶体管和存储电容，参考信号线113、第三薄膜晶体管以及存储电容的第一电极板在第一节点电连接；第四薄膜晶体管和第五薄膜晶体管在第二节点电连接，扫描信号线111与第三薄膜晶体管和所述第四薄膜晶体管的控制端电连接；参考信号总线125的两端分别与第九老化测试端子209和第十老化测试端子210电连接；显示面板包括老化阶段，在老化阶段中，第九老化测试端子209上连接有第一参考信号VREF1，第十老化测试端子210上连接有第二参考信号VREF2，|VREF2|>|VREF1|，其中，所述第一参考信号VREF1和所述第二参考信号VREF2的极性相同。
当像素电路114中包含的薄膜晶体管均为P型薄膜晶体管时，此时VREF2<VREF1<0；当像素电路114中包含的薄膜晶体管均为N型薄膜晶体管时，此时VREF2>VREF1>0。
具体的，当像素电路114中包含的薄膜晶体管均为P型薄膜晶体管时，如图4所示，第三薄膜晶体管以及存储电容的第一电极板在第一节点电连接可以理解为第三P型薄膜晶体管T3的漏极以及存储电容Cst的第一电极板在第一节点N1电连接；第四薄膜晶体管和第五薄膜晶体管在第二节点电连接可以理解为第四P型薄膜晶体管T4的漏极和第五P型薄膜晶体管T5的源极在第二节点N2电连接。当像素电路114中包含的薄膜晶体管均为N型薄膜晶体管时，第三薄膜晶体管以及存储电容的第一电极板在第一节点电连接可以理解为第三N型薄膜晶体管T3’的源极以及存储电容Cst的第一电极板在第一节点N1电连接；第四薄膜晶体管和第五薄膜晶体管在第二节点电连接可以理解为第四N型薄膜晶体管T4’的源极和第五N型薄膜晶体管T5’的漏极在第二节点N2电连接。
接下来以像素电路114中的薄膜晶体管均为P型薄膜晶体管为例进行说明。
根据上述的像素电路114的工作原理介绍，在初始阶段结束后，第一节点N1的电压为VREF；在数据写入和补偿阶段，第四薄膜晶体管T4、第五薄膜晶体管T5和第三薄膜晶体管T3打开，第二节点N2节点的电压为VN2＝Vdata，此时电容充电，N1点电位变大；在阈值抓取阶段，NI点电位变化了△N1，在阈值抓取阶段结束时，N1点电位为VN1＝VREF+△N1。所以通过设置不同的VREF，可以得到不同的N1点电位，即第五薄膜晶体管T5的栅极电位。在发光阶段，OLED的发光电流I＝K(Vgs-Vth)2，其中，K薄膜晶体管中沟道区的宽长比，为常数，Vgs第五薄膜晶体管T5的栅源电压，第五薄膜晶体管T5的源极电压为定值Vdata；Vth为第五薄膜晶体管T5的阈值电压为定值，因此，通过设置不同的VREF电位，可以得到不同的第五薄膜晶体管T5的栅极电位，进而得到OLED不同的发光电流，对应OLED不同的老化程度。
由于第十老化端子210上的第二参考信号VREF2与第九老化端子209上的第一参考信号VREF1满足VREF2<VREF1<0，因此，靠近第十老化端子210一侧的像素电路114中OLED的发光电流I1＝K(Vgs-Vth)2与靠近第九老化端子209一侧的像素电路114中OLED的发光电流I2＝K(Vgs-Vth)2满足I1>I2。由于第十老化端子210位于远离集成驱动电路10的一侧，因此，设置第十老化端子210上的第二参考信号VREF2与第九老化端子209上的第一参考信号VREF1满足VREF2<VREF1<0可以弥补远离集成驱动电路13一侧的像素电路114因电压降造成的发光信号小的问题，保证远离集成驱动电路13一侧的像素电路114接收到的发光信号与靠近集成驱动电路13一侧的像素电路114接收到的发光信号相同或者相近，保证整个显示面板距离集成驱动电路13不同位置处的像素电路114可以接收到相同或者相近的发光信号，保证整个显示面板中的像素单元的发光亮度相同或者相近，像素单元在老化阶段的老化程度相同或者相近，进而保证在老化阶段之后的显示阶段中，整个显示面板中的像素单元的发光亮度相同，保证显示面板的显示均一性良好。
进一步的，在显示测试阶段中，第十老化测试端子210上的电位与第九老化测试端子209上的电位相同，或者，第十老化测试端子210上的电位浮置。
示例性的，本发明实施例提供的显示面板，仅在老化阶段需要要求第十老化测试端子210和第九老化测试端子209上的老化测试信号不同，通过向低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的至少一个输入不同的老化测试信号，保证显示面板中具体集成驱动电路13不同具体的像素电路114可以接收到相同或者相近的发光信号；在其他阶段，例如显示测试端子，第十老化测试端子210上的电位与第九老化测试端子209上的电位相同，或者，第十老化测试端子210上的电位浮置即可，无需设置第十老化测试端子210和第九老化测试端子209上的显示测试信号不同，显示测试方式简单。
综上，上述实施例对如何通过低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的至少一个分别与两个老化测试端子20电连接，便可以实现显示面板显示区11内不同位置处的像素电路114可以接收到相同或者相近的发光信号进行详细说明，基于上述说明可以知道，通过设置低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的至少一个分别与两个老化测试端子20电连接，接收两个不同的老化测试信号，保证显示面板不同显示区域的像素电路可以接收到相同或者相近的发光信号，驱动与其对应的像素单元发光亮度相同或者相近，保证显示面板不同显示区域的像素单元在老化测试阶段的老化程度相同或者相近，在后续的显示阶段中不同区域的像素单元显示亮度相同或者相近，保证显示面板显示亮度均一性良好，显示面板显示效果良好。同时上述实施例还对显示检测阶段，各个老化测试端子上的信号要求进行了说明，保证显示测试方式简单。需要说明的是，本发明实施例仅以低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的一个分别与两个老化测试端子20电连接，接收两个不同的老化测试信号为例进行说明，可以理解的是，当低电位信号线123、高电位信号线124以及参考信号总线125中的两个或者三个分别与两个老化测试端子20电连接时，同样可以达到相同的技术效果，这里不再赘述。
可选的，继续参考图2、图3、图5、图7、图8、图9和图10所示，本发明实施例提供的显示面板中周边电路区12中还设置有集成驱动电路13；其中，低电位信号线123与集成驱动电路13电连接，用于在显示阶段接收低电位信号；高电位信号线124与集成驱动电路13电连接，用于在显示阶段接收高电位信号；参考信号总线125与集成驱动电路13电连接，用于在显示阶段接收参考信号，保证显示面板可以实现正常显示。
可选的，对于老化测试端子20均位于显示区11的同一侧，显示周边电路区12中还包括老化测试信号线30的情况，老化测试信号线30和与其电连接的低电位信号线123、高电位信号线124或者参考信号总线125位于显示区11的同一侧，如图3所示；或者，还可以位于分别位于显示区11相对设置的两侧，如图11所示，本发明实施例对此不进行限定。
基于同样的发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，图12是本发明实施例提供的显示装置的示意图，本发明实施例提供的显示装置100包括本发明任意实施例所述的显示面板101。可选的，本发明实施例提供显示装置可以为图12所示的手机，也可以为电脑、电视机、智能穿戴显示装置等，本发明实施例对此不作特殊限定。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，本发明的各个实施方式的特征可以部分地或者全部地彼此耦合或组合，并且可以以各种方式彼此协作并在技术上被驱动。对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (16)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：
显示区和周边电路区；
所述显示区设置有多条扫描信号线、多条发光控制信号线、多条参考信号线和多个矩阵排布的像素电路；
所述周边电路区设置有多个扫描驱动电路、多个发光控制电路、低电位信号线、高电位信号线和参考信号总线；
所述扫描驱动电路的扫描信号输入端分别与所述低电位信号线和所述高电位信号线电连接，所述扫描驱动电路的扫描信号输出端与所述扫描信号线电连接；
所述发光控制电路的发光控制信号输入端分别与所述低电位信号线和所述高电位信号线电连接，所述发光控制电路的发光控制信号输出端与所述发光控制信号线电连接；
所述参考信号总线与多条所述参考信号线电连接；
所述周边电路区还包括多个老化测试端子，所述低电位信号线、所述高电位信号线以及所述参考信号总线中的至少一个分别与两个所述老化测试端子电连接。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述像素电路包括第一P型薄膜晶体管和第二P型薄膜晶体管，所述发光控制信号线分别与所述第一P型薄膜晶体管和第二P型薄膜晶体管的控制端电连接；所述低电位信号线分别与第一老化测试端子和第二老化测试端子电连接；
所述低电位信号线包括第一子低电位信号线和第二子低电位信号线，其中，所述第一子低电位信号线和所述第二子低电位信号线的一端分别与所述第一老化测试端子电连接，所述第一子低电位信号线的另一端与所述第二老化测试端子电连接；
所述第一子低电位信号线与多个所述发光控制信号输入端电连接，所述第二子低电位信号线与多个所述扫描信号输入端电连接；
所述显示面板包括老化阶段，在所述老化阶段中，所述第一老化测试端子上连接有第一低电位信号VGL1，所述第二老化测试端子上连接有第二低电位信号VGL2，其中，VGL2<VGL1<0。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括显示测试阶段，在所述显示测试阶段中，所述第二老化测试端子上的电位与所述第一老化测试端子上的电位相同，或者，所述第二老化测试端子上的电位浮置。
4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述像素电路包括第一N型薄膜晶体管和第二N型薄膜晶体管，所述发光控制信号线分别与所述第一N型薄膜晶体管和第二N型薄膜晶体管的控制端电连接；
所述高电位信号线分别与第三老化测试端子和第四老化测试端子电连接；
所述高电位信号线包括第一子高电位信号线和第二子高电位信号线，其中，所述第一子高电位信号线和第二子高电位信号线的一端分别与所述第三老化测试端子电连接，所述第一子高电位信号线的另一端与所述第四老化测试端子电连接；
所述第一子高电位信号线与多个所述发光控制信号输入端电连接，所述第二子高电位信号线与多个所述扫描信号输入端电连接；
所述显示面板包括老化阶段，在所述老化阶段中，所述第三老化测试端子上连接有第一高电位信号VGH1，所述第四老化测试端子上连接有第二高电位信号VGH2，其中，VGH2>VGH1>0。
5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括显示测试阶段，在所述显示测试阶段中，所述第四老化测试端子上的电位与所述第三老化测试端子上的电位相同，或者，所述第四老化测试端子上的电位浮置。
6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述像素电路包括第三P型薄膜晶体管和存储电容，所述第三P型薄膜晶体管的漏极以及所述存储电容的第一电极板在第一节点电连接；
所述扫描信号线与所述第三P型薄膜晶体管的控制端电连接；
所述高电位信号线分别与第五老化测试端子和第六老化测试端子电连接；
所述高电位信号线包括第一子高电位信号线和第二子高电位信号线，其中，所述第一子高电位信号线和第二子高电位信号线的一端分别与所述第六老化测试端子电连接，所述第二子高电位信号线的另一端与所述第五老化测试端子电连接；
所述第一子高电位信号线与多个所述发光控制信号输入端电连接，所述第二子高电位信号线与多个所述扫描信号输入端电连接；
所述显示面板包括老化阶段，在所述老化阶段中，所述第五老化测试端子上连接有第三高电位信号VGH3，所述第六老化测试端子上连接有第四高电位信号VGH4，其中，VGH4>VGH3>0。
7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括显示测试阶段，在所述显示测试阶段中，所述第五老化测试端子上的电位与所述第六老化测试端子上的电位相同，或者，所述第五老化测试端子上的电位浮置。
8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述像素电路包括第三N型薄膜晶体管和存储电容，所述第三N性薄膜晶体管的源极以及所述存储电容的第一电极板在第一节点电连接；
所述扫描信号线与所述第三N型薄膜晶体管的控制端电连接；
所述低电位信号线分别与第七老化测试端子和第八老化测试端子电连接；
所述低电位信号线包括第一子低电位信号线和第二子低电位信号线，其中，所述第一子低电位信号线和第二子低电位信号线的一端分别与所述第八老化测试端子电连接，所述第二子低电位信号线的另一端与所述第七老化测试端子电连接；
所述第一子低电位信号线与多个所述发光控制信号输入端电连接，所述第二子低电位信号线与多个所述扫描信号输入端电连接；
所述显示面板包括老化阶段，在所述老化阶段中，所述第七老化测试端子上连接有第三低电位信号VGL3，所述第八老化测试端子上连接有第四低电位信号VGL4，其中，VGL4<VGL3<0。
9.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括显示测试阶段，在所述显示测试阶段中，所述第七老化测试端子上的电位与所述第八老化测试端子上的电位相同，或者，所述第七老化测试端子上的电位浮置。
10.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述像素电路包括第三薄膜晶体管、第四薄膜晶体管、第五薄膜晶体管和存储电容，所述参考信号线、所述第三薄膜晶体管以及所述存储电容的第一电极板在第一节点电连接；所述第四薄膜晶体管和第五薄膜晶体管在第二节点电连接，所述扫描信号线与所述第三薄膜晶体管和所述第四薄膜晶体管的控制端电连接；
所述参考信号总线的两端分别与第九老化测试端子和第十老化测试端子电连接；
所述显示面板包括老化阶段，在所述老化阶段中，所述第九老化测试端子上连接有第一参考信号VREF1，所述第十老化测试端子上连接有第二参考信号VREF2，|VREF2|>|VREF1|，其中，所述第一参考信号VREF1和所述第二参考信号VREF2的极性相同。
11.根据权利要求10所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括显示测试阶段，在所述显示测试阶段中，所述第十老化测试端子上的电位与所述第九老化测试端子上的电位相同，或者，所述第十老化测试端子上的电位浮置。
12.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述多个老化测试端子位于所述显示区的同一侧，所述显示面板还包括至少一条老化测试信号线，所述老化测试信号线的一端连接一所述老化测试端子，另一端与所述低电位信号线、所述高电位信号线或者所述参考信号总线在远离所述老化测试端子的一侧电连接；
或者，所述老化测试端子包括第一测试端子部分和第二测试端子部分，所述第一测试端子部分和所述第二测试端子部分分别位于所述显示区相对设置的两侧。
13.根据权利要求12所述的显示面板，其特征在于，所述老化测试信号线和与其电连接的所述低电位信号线、所述高电位信号线或者所述参考信号总线位于所述显示区的同一侧，或者分别位于所述显示区相对设置的两侧。
14.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述周边电路区还设置有集成驱动电路；
所述低电位信号线与所述集成驱动电路电连接，用于在显示阶段接收低电位信号；
所述高电位信号线与所述集成驱动电路电连接，用于在所述显示阶段接收高电位信号；
所述参考信号总线与所述集成驱动电路电连接，用于在所述显示阶段接收参考信号。
15.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述周边电路区还设置有多个显示测试端子，所述低电位信号线、所述高电位信号线和所述参考信号总线分别连接一显示测试端子，用于在显示测试阶段，接收显示测试信号；
所述老化测试端子复用部分所述显示测试端子。
16.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-15任一项所述的显示面板。
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