CN110189668A - 检测治具 - Google Patents
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Abstract
本揭示提供一种检测治具，包括基座、探针基架以及探针基座，所述基座上设置有一凹槽，探针基架设置在凹槽内，探针基架贴合在凹槽内壁上，探针基座设置在探针基架上，探针基座可在探针基架上移动。探针基座内还设置有探针，在进行检测时，将探针基座内的探针转出，与显示面板上相对应的端口连接，本揭示的检测治具能对顶部与底部发光产品进行检测，使用范围更广。
Description
技术领域
本揭示涉及显示技术检测领域，尤其涉及一种检测治具。
背景技术
随着显示技术的不断提高，显示屏幕的类型也不断的改进，有源矩阵有机发光二极管(Active-matrix Organic Light-Emitting Device，AMOLED)相对于传统的液晶显示装置具有更宽的视角、更高的刷新率和更薄的尺寸。
显示面板的制造工艺较复杂，同时，在制造工艺流程中，还伴随着检测工艺，以保证出厂产品的合格性能。在检测工艺流程中，为了使检测工艺更加的简便，会针对显示面板以检测方法开发出对应的检测治具。大多检测治具为水平式的检测治具，而显示面板在检测时需要对其不同区域以及不同部件进行检测，而使用水平式的检测治具时，一些检测部位很难进行操作。尤其是AMOLED产品，其包括顶发光和底部发光两种发光模式，在进行成盒测试(Cell Text)时，传统的检测治具只能对应其中一种发光模式的产品，这样，就使得在检测时，需要经常更换检测治具，不能很好的匹配所有发光模式的产品。
综上所述，显示面板在进行成盒测试时，针对不同的显示面板，传统的检测治具不能很好的与之匹配，进而使得检测工艺变得复杂，检测效率低等问题。
发明内容
本揭示提供一种检测治具，以解决在进行显示面板测试时，经常需要更换不同的检测治具，检测治具不能适应不同类型的显示面板，检测效率低等问题。
为解决上述技术问题，本揭示实施例提供的技术方案如下：
根据本揭示实施例的第一方面，提供了一种检测治具，包括：
基座，所述基座上设置有一凹槽；
探针基架，所述探针基架设置在所述凹槽内，所述探针基架贴合在所述凹槽内壁上；以及
至少一探针基座，所述探针基座设置在所述探针基架上，所述探针基座可在所述探针基架上移动。
根据本揭示一实施例，所述基座还包括一基座支架，所述基座支架设置在所述基座下，以支持所述基座。
根据本揭示一实施例，所述凹槽为一贯通的凹槽。
根据本揭示一实施例，所述探针基座还包括安装孔及至少一探针，所述安装孔设置在所述探针基座内，所述探针设置在所述安装孔内。
根据本揭示一实施例，所述探针为弹性探针，可折叠于所述探针基座内。
根据本揭示一实施例，所述探针还包括套管与探针头，所述套管包裹所述探针，所述探针头与所述探针相连接。
根据本揭示一实施例，所述探针头的端部为针尖状、半球状或平端状，所述探针头与待检测元件相接触。
根据本揭示一实施例，所述探针基座还包括铰链，所述铰链连接所述探针基座和所述探针。
根据本揭示一实施例，所述基座的长度可调整。
根据本揭示一实施例，所述探针基座在所述凹槽的两侧内壁上对称设置。
综上所述，本揭示实施例的有益效果为：
本揭示提供一种检测治具，通过在治具基座的凹槽内壁上设置探针基架，并且在所述探针基架上设置探针基座，所述探针基座可以在探针基架上自由移动，所述检测治具为立式检测冶具，在检测时，能够适应不同类型的显示面板，而不需要重新更换检测治具，进而提高了面板检测的效率。
附图说明
为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是揭示的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本揭示实施例的检测治具的结构示意图；
图2为本揭示实施例的探针基座的结构示意图；
图3为本揭示实施例的探针结构示意图；
图4为本揭示实施例中显示面板成盒测试示意图。
具体实施方式
下面将结合本揭示实施例中的附图，对本揭示实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本揭示一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本揭示中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本揭示保护的范围。
在本揭示的实施例中，提供一种检测治具。如图1所示，图1为本揭示实施例的检测治具的结构示意图。所示检测治具主要包括治具基座100、探针基架101以及探针基座102。治具基座100上开设有一凹槽，所述凹槽贯穿治具基座100的两端，治具基座100的长度针对不同的显示面板可进行调节。探针基架101设置在所述凹槽内，探针基架101贴合在所述凹槽的内壁上，这样探针基架101更加牢固。探针基座102设置在探针基架101内，其中探针基座102可以在探针基架101内移动，探针基架101可对待检的显示面板进行固定，同时探针基架101内还设置有连接线，在显示面板成盒测试时，各连接线与显示面板上对应的端口相连接，以传导检测信号。
具体的，本揭示实施例的检测治具中，探针基架101内可设置多个探针基座102，所述多个探针基座102均可在探针基架101内移动，在设置多个探针基座102时，探针基座102可在所述凹槽的两侧的内壁上呈对称设置，这样，在检测显示面板时，显示面板的两受力面受力均匀，显示面板不易倾倒。相邻的探针基座102可根据待检的显示面板的大小进行调节。
本揭示实施例的检测治具还包括治具支架103，所述治具支架103设置在检测治具基座100下面，以使治具基座100更加稳固，不易倾斜。
同时，在本揭示实施例的探针基座中，如图2所示，图2为本揭示实施例的探针基座结构示意图。探针基座200还包括至少一安装孔201，安装孔201设置在探针基座200内。在所述安装孔201内设置检测用的探针。
本揭示实施例的检测治具还包括探针，具体的，如图3所示，图3为本揭示实施例的探针结构示意图。探针300包括探针套管301以及探针头302。探针头302与探针300相连接。探针套管301设置在所述探针300的外部，将探针300包裹，探针套管301可以完全或者部分包裹住探针300。探针套管301可进一步对探针300进行保护。探针300为弹性探针，探针300可折叠于探针基座内，这样，在对显示面板进行成盒测试时，只需将探针300从探针基座内拿出即可，操作方便。探针头302的端部的截面形状可为针尖状、半球状或者平端状，在成盒测试时，弯曲探针300，使探针300的探针头302与显示面板的端口相接。
在本揭示提供的实施例中，结合图2及图3，探针基座200还包括铰链，所述铰链设置在安装孔201内，铰链一端与探针基座200连接，另一端与探针300的一端相连接。这样，探针300可与探针基座200铰接，在操作探针300时会更方便。
在对显示面板成盒测试时，如图4所示，图4为本揭示实施例中显示面板成盒测试示意图。对于AMOLED显示产品，其包括顶部发光和底部发光产品，顶部发光产品的光是从覆盖膜层的一侧发出，而底部发光产品的光是从薄膜晶体管侧的阵列基板处发出的。本实施例提供的检测治具为立式检测治具，在对显示面板进行检测时，本检测治具可对这两种显示产品进行检测。如图4中，在进行顶部发光产品检测时，显示面板403竖直放置在检测治具内，治具基座400与治具基座400内的探针基架401一同将显示面板403固定牢固，在显示面板403固定牢固后，从探针基座内将顶发射探针404转出，同时压合两侧的探针基架401，以提供检测信号并进行点屏效果测试。在进行底部发光产品检测时，显示面板403的固定操作与测试顶部发光产品相同，显示面板403固定稳固后，将底部发射探针402从探针基座内转出，与显示面板403相对应的端口连接，锁定显示面板并进行信号测试。从而实现了顶部发光产品与底部发光产品的电屏测试。
以上对本揭示实施例所提供的一种检测治具进行了详细介绍，以上实施例的说明只是用于帮助理解本揭示的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本揭示各实施例的技术方案的范围。
Claims (10)
1.一种检测治具，其特征在于，包括：
基座，所述基座上设置有一凹槽；
探针基架，所述探针基架设置在所述凹槽内，所述探针基架贴合在所述凹槽内壁上；以及
至少一探针基座，所述探针基座设置在所述探针基架上，所述探针基座可在所述探针基架上移动。
2.根据权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述基座还包括一基座支架，所述基座支架设置在所述基座下，以支持所述基座。
3.根据权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述凹槽为一贯通的凹槽。
4.根据权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述探针基座还包括安装孔及至少一探针，所述安装孔设置在所述探针基座内，所述探针设置在所述安装孔内。
5.根据权利要求4所述的检测治具，其特征在于，所述探针为弹性探针，可折叠于所述探针基座内。
6.根据权利要求5所述的检测治具，其特征在于，所述探针还包括套管和探针头，所述套管包裹所述探针，所述探针头与所述探针相连接。
7.根据权利要求6所述的检测治具，其特征在于，所述探针头的端部为针尖状、半球状或平端状，所述探针头配置成与待检测元件相接触。
8.根据权利要求4所述的检测治具，其特征在于，所述探针基座还包括铰链，所述铰链连接所述探针基座和所述探针。
9.根据权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述基座的长度可调整。
10.根据权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述探针基座在所述凹槽的两侧内壁上对称设置。
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