CN110146505A - 极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法及设备 - Google Patents

极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法及设备 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法及设备,包括:硬件设施,包括:计算机、拍摄模块及输送模块;所述拍摄模块包括快门机构,该拍摄模块用于获得图像数据;及操作步骤:S1:将极片材料送入拍摄工位,对准拍摄模块,拍摄模块获得若干幅当前极片材料的图像画面,每幅图像画面一一对应的曝光时间节段分别为t1、t2、t3…tn,将每一幅图像转化为图像数据,传递至计算机,与已存储好的良品极片数值范围进行对比;S2:若对比结果为发现异常,则判定当前极片材料存在缺陷;若尚未发现缺陷,则当前极片材料以良品出料。本发明可避免在单一曝光时间前提下容易忽略一部分带物理缺陷的极片材料情况发生。

Description

极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法及设备
技术领域
本发明涉及锂电池极片材料质检环节设备领域,尤其涉及一种极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法及设备。
背景技术
锂电池的极片材料质检环节是需要将带有物理缺陷次品发现并转移出来,上述物理缺陷包括但不限于:凹陷缺陷、刮痕缺陷、异物附着缺陷、边缘缺陷等。尤其是对于,现有的质检设备由于在拍照时相机的曝光时间均一,某些位于极片材料表面的物理缺陷会在单一曝光时间情况下会极容易被忽略掉,导致部分带缺陷的次品流入到良品中。
发明内容
为了克服现有技术的不足,本发明的目的之一在于提供一种方法,避免在单一曝光时间前提下容易忽略一部分带物理缺陷的极片材料情况发生;
本发明的目的之二,旨在提供实现上述方法的装置。
为了实现本发明的目的之一,本发明所述极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法,包括:
硬件设施,包括:计算机、拍摄模块及输送模块;所述拍摄模块包括快门机构,该拍摄模块用于获得图像数据;所述计算机用于根据图像数据分辨当前极片材料属良品/次品;
及操作步骤:
S1:将极片材料送入拍摄工位,对准拍摄模块,拍摄模块获得若干幅当前极片材料的图像画面,每幅图像画面一一对应的曝光时间节段分别为t1、t2、t3…tn,其中n为自然数,所有曝光时间节段满足数量关系t1≠t2≠t3…≠tn;将每一幅图像转化为图像数据,传递至计算机,与已存储好的良品极片数值范围进行对比;
S2:若对比结果为发现异常,则判定当前极片材料存在缺陷,采取干预措施;若尚未发现缺陷,则当前极片材料以良品出料。
进一步地,所有曝光时间节段满足数量关系t1<t2<t3…<tn,其中n=4。
进一步地,t1=1/250s,t2=1/125s,t3=1/60s,t4=1/30s。
进一步地,相邻的曝光时间节段之间,均具有等待间隔时间节段t’,使得总拍摄时间T=t1+t’+t2+t’+t3t’+…+tn+t’。
5.如权利要求4所述的极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法,其特征在于:t’=1/4s。
进一步地,硬件设施中的快门机构为旋转开合机构,所述旋转开合机构包括6个呈中心对称分布的叶片。
进一步地,所述干预措施为在当前极片材料上标注次品标签,并通过所述输送模块所具有的次品输出通道出料。
本发明的目的之二采用以下方式实现:
极片材料物理缺陷多级曝光时间检测设备,机架、计算机、拍摄模块、输送模块、照明模块及电控模块,所述计算机、拍摄模块、输送模块及电控模块均安装于机架上;所述拍摄模块包括快门机构,用于获得图像数据;所述电控模块与拍摄模块、输送模块、照明模块均电性连接;所述计算机用于根据图像数据分辨当前极片材料属良品/次品,与拍摄模块电性连接;
所述极片材料物理缺陷曝光时间检测设备用于执行以下操作流程:
S1:将极片材料送入拍摄工位,对准拍摄模块,拍摄模块获得若干幅当前极片材料的图像画面,每幅图像画面一一对应的曝光时间节段分别为t1、t2、t3…tn,其中n为自然数,所有曝光时间节段满足数量关系t1≠t2≠t3…≠tn;将每一幅图像转化为图像数据,传递至计算机,与已存储好的良品极片数值范围进行对比;
S2:若对比结果为发现异常,则判定当前极片材料存在缺陷,采取干预措施;若尚未发现缺陷,则当前极片材料以良品出料。
进一步地,所述计算机安装有图像处理程序,该计算机所具有的电子介质存储有良品极片数据模型以及良品极片数值范围。
进一步地,所述输送模块包括良品输出通道和次品输出通道。
相比现有技术,实施本发明的有益效果在于:
(1)避免了现有质检设备的相机快门曝光时间均一,某些位于极片材料表面的物理缺陷在单一的曝光时间条件下,会极容易被忽略掉的情形发生;
(2)曝光时间节段级差设置合理,基本可以让各种视觉上边界较模糊的物理缺陷可以被图像处理程序识别出来;
(3)结构简洁,操作简单,可以应用推广至其他产品质检设备中。
附图说明
图1为极片材料表面物理缺陷情况示意图;
图2为本发明硬件设施的结构示意图;
图中,1、极片材料;20、凹陷缺陷;21、刮痕缺陷;22、异物附着缺陷;23、边缘缺陷。
具体实施方式
下面,结合附图以及具体实施方式,对本发明做进一步描述,需要说明的是,在不相冲突的前提下,以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
如图1、图2所示,锂电池极片材料1表面物理缺陷包括但不限于:凹陷缺陷20、刮痕缺陷21、异物附着缺陷22、边缘缺陷23等。现有的、依赖拍照进行质检的方式由于相机快门的曝光率是被设成固定的,因此面对表征各异的物理缺陷时,极有可能会发生因为某一曝光率下某些物理缺陷不显著的情形。导致计算机未能将缺陷识别。
本发明提供一种极片材料1物理缺陷多级曝光时间检测方法,包括但不限于:
硬件设施,包括但不限于:计算机、拍摄模块及输送模块;所述拍摄模块包括快门机构,所述快门机构为旋转开合机构,所述旋转开合机构包括6个呈中心对称分布的叶片,所有叶片均由驱动装置提供动力,受一电控模块控制曝光时间;该拍摄模块用于获得图像数据;所述计算机用于根据图像数据分辨当前极片材料1属良品/次品;具体地,计算机安装有图像处理程序,该计算机所具有的电子介质存储有良品极片数据模型以及良品极片数值范围。
及操作步骤:
S1:将极片材料1送入拍摄工位,对准拍摄模块,拍摄模块获得若干幅当前极片材料1的图像画面,每幅图像画面一一对应的曝光时间节段分别为t1、t2、t3…tn,其中n为自然数,所有曝光时间节段满足数量关系t1≠t2≠t3…≠tn;将每一幅图像转化为图像数据,传递至计算机,与已存储好的良品极片数值范围进行对比;
S2:若对比结果为发现异常,则判定当前极片材料1存在缺陷,采取干预措施,所述干预措施为在当前极片材料1上标注次品标签,并通过所述输送模块所具有的次品输出通道出料。;若尚未发现缺陷,则当前极片材料1以良品出料。
为了体现曝光时间阶段存在级差,便于各类物理缺陷被发现,作为一种优选的方案,所有曝光时间节段满足数量关系t1<t2<t3…<tn,其中n=4。在具体数值上可以是:t1=1/250s,t2=1/125s,t3=1/60s,t4=1/30s。
考虑到快门机构需要复位调整,以及计算机处理图像数据的需时,作为一种优选的方案,相邻的曝光时间节段之间,均具有等待间隔时间节段t’,使得总拍摄时间T=t1+t’+t2+t’+t3t’+…+tn+t’。具体地,t’=1/4s。可为处理当前极片材料的每一幅图像都预留时间。
本发明同时提供一种极片材料1物理缺陷曝光时间检测设备,包括:机架、计算机、拍摄模块、输送模块、照明模块及电控模块,所述计算机、拍摄模块、输送模块及电控模块均安装于机架上;所述拍摄模块包括快门机构,用于获得图像数据;所述电控模块与拍摄模块、输送模块、照明模块均电性连接;所述计算机用于根据图像数据分辨当前极片材料1属良品/次品,与拍摄模块电性连接;
所述极片材料1物理缺陷曝光时间检测设备用于执行以下操作流程:
S1:将极片材料1送入拍摄工位,对准拍摄模块,拍摄模块获得若干幅当前极片材料1的图像画面,每幅图像画面一一对应的曝光时间节段分别为t1、t2、t3…tn,其中n为自然数,所有曝光时间节段满足数量关系t1≠t2≠t3…≠tn;将每一幅图像转化为图像数据,传递至计算机,与已存储好的良品极片数值范围进行对比;
S2:若对比结果为发现异常,则判定当前极片材料1存在缺陷,采取干预措施;若尚未发现缺陷,则当前极片材料1以良品出料。
作为一种优选的方案,所述计算机安装有图像处理程序,该计算机所具有的电子介质存储有良品极片数据模型以及良品极片数值范围。
作为一种优选的方案,所述输送模块包括良品输出通道和次品输出通道。
本发明有效避免了现有质检设备的相机快门曝光时间均一,某些位于极片材料1表面的物理缺陷在单一的曝光时间条件下,会极容易被忽略掉的情形发生;同时,本发明的曝光时间节段级差设置合理,基本可以让各种视觉上边界较模糊的物理缺陷可以被图像处理程序识别出来。设备结构简洁,操作简单,可以应用推广至其他产品质检设备中。
上述实施方式仅为本发明的优选实施方式,不能以此来限定本发明保护的范围,本领域的技术人员在本发明的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本发明所要求保护的范围。

Claims (10)

1.极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法,其特征在于:包括:
硬件设施,包括:计算机、拍摄模块及输送模块;所述拍摄模块包括快门机构,该拍摄模块用于获得图像数据;所述计算机用于根据图像数据分辨当前极片材料属良品/次品;
及操作步骤:
S1:将极片材料送入拍摄工位,对准拍摄模块,拍摄模块获得若干幅当前极片材料的图像画面,每幅图像画面一一对应的曝光时间节段分别为t1、t2、t3…tn,其中n为自然数,所有曝光时间节段满足数量关系t1≠t2≠t3…≠tn;将每一幅图像转化为图像数据,传递至计算机,与已存储好的良品极片数值范围进行对比;
S2:若对比结果为发现异常,则判定当前极片材料存在缺陷,采取干预措施;若尚未发现缺陷,则当前极片材料以良品出料。
2.如权利要求1所述的极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法,其特征在于:所有曝光时间节段满足数量关系t1<t2<t3…<tn,其中n=4。
3.如权利要求2所述的极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法,其特征在于:t1=1/250s,t2=1/125s,t3=1/60s,t4=1/30s。
4.如权利要求1所述的极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法,其特征在于:相邻的曝光时间节段之间,均具有等待间隔时间节段t’,使得总拍摄时间T=t1+t’+t2+t’+t3t’+…+tn+t’。
5.如权利要求4所述的极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法,其特征在于:t’=1/4s。
6.如权利要求1所述的极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法,其特征在于:硬件设施中的快门机构为旋转开合机构,所述旋转开合机构包括6个呈中心对称分布的叶片。
7.如权利要求1所述的极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法,其特征在于:所述干预措施为在当前极片材料上标注次品标签,并通过所述输送模块所具有的次品输出通道出料。
8.极片材料物理缺陷曝光时间检测设备,其特征在于,包括:机架、计算机、拍摄模块、输送模块、照明模块及电控模块,所述计算机、拍摄模块、输送模块及电控模块均安装于机架上;所述拍摄模块包括快门机构,用于获得图像数据;所述电控模块与拍摄模块、输送模块、照明模块均电性连接;所述计算机用于根据图像数据分辨当前极片材料属良品/次品,与拍摄模块电性连接;
所述极片材料物理缺陷曝光时间检测设备用于执行以下操作流程:
S1:将极片材料送入拍摄工位,对准拍摄模块,拍摄模块获得若干幅当前极片材料的图像画面,每幅图像画面一一对应的曝光时间节段分别为t1、t2、t3…tn,其中n为自然数,所有曝光时间节段满足数量关系t1≠t2≠t3…≠tn;将每一幅图像转化为图像数据,传递至计算机,与已存储好的良品极片数值范围进行对比;
S2:若对比结果为发现异常,则判定当前极片材料存在缺陷,采取干预措施;若尚未发现缺陷,则当前极片材料以良品出料。
9.如权利要求8所述的极片材料物理缺陷曝光时间检测设备,其特征在于:所述计算机安装有图像处理程序,该计算机所具有的电子介质存储有良品极片数据模型以及良品极片数值范围。
10.如权利要求8所述的极片材料物理缺陷曝光时间检测设备,其特征在于:所述输送模块包括良品输出通道和次品输出通道。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2024000514A1 (zh) * 2022-06-30 2024-01-04 宁德时代新能源科技股份有限公司 一种极片检测装置、方法及***

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102284431A (zh) * 2011-04-28 2011-12-21 河南科技大学 一种锂离子电池极片在线检测分级装置及其方法
CN102308201A (zh) * 2008-12-24 2012-01-04 斯奈克玛 机械零件的无损检查方法
CN102601061A (zh) * 2012-03-23 2012-07-25 杭州师范大学 一种定时器极片不良品自动分拣装置
CN108287166A (zh) * 2018-03-27 2018-07-17 苏州奥兰迪尔自动化设备有限公司 一种锂电池极片表面缺陷检测影像设备
CN108333188A (zh) * 2018-02-01 2018-07-27 天津力神电池股份有限公司 一种电池极片在线外观视觉检测设备

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102308201A (zh) * 2008-12-24 2012-01-04 斯奈克玛 机械零件的无损检查方法
CN102284431A (zh) * 2011-04-28 2011-12-21 河南科技大学 一种锂离子电池极片在线检测分级装置及其方法
CN102601061A (zh) * 2012-03-23 2012-07-25 杭州师范大学 一种定时器极片不良品自动分拣装置
CN108333188A (zh) * 2018-02-01 2018-07-27 天津力神电池股份有限公司 一种电池极片在线外观视觉检测设备
CN108287166A (zh) * 2018-03-27 2018-07-17 苏州奥兰迪尔自动化设备有限公司 一种锂电池极片表面缺陷检测影像设备

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
付争方等: "多尺度细节融合的多曝光高动态图像重建", 《计算机工程与应用》 *
陈海永 等: "单光谱多曝光焊缝图像动态均质化补偿技术", 《上海交通大学学报》 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2024000514A1 (zh) * 2022-06-30 2024-01-04 宁德时代新能源科技股份有限公司 一种极片检测装置、方法及***

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