CN110095763B - 一种雷达测试暗室 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及雷达测试技术领域，公开一种雷达测试暗室。该雷达测试暗室包括第一暗室、第二暗室和第三暗室，第一暗室包括第一墙体和第二墙体，第一墙体上设置有第一通孔，第二墙体上设置有第二通孔，雷达设置于第一暗室内；第二暗室设置于第一墙体背向雷达的一侧，第二暗室内设置有角反射器；第三暗室设置于第二墙体背向雷达的一侧，第三暗室内设置有喇叭天线，雷达与角反射器的发射路径垂直于雷达与喇叭天线的发射路径。本发明由于角反射器和喇叭天线的方位垂直，不会产生相互干扰，提高了雷达测试准确性；第一通孔和第二通孔将雷达波束限制在需求范围内，使第二暗室和第三暗室的顶面和底面不需要设置吸波结构，降低了建造成本。
Description
技术领域
本发明涉及雷达测试技术领域，尤其涉及一种雷达测试暗室。
背景技术
毫米波是指波长介于1-10mm的电磁波，具有波长短、频段宽的特点，比较容易实现窄波束，分辨率高，不易受干扰。毫米波雷达是测量被测物体相对距离、现对速度、方位的高精度传感器，毫米波雷达主要包括收发天线、射频前端、调制信号、信号处理模块等。随着雷达技术的发展与进步，毫米波雷达传感器开始应用于汽车电子、无人机、智能交通等多个领域。
在毫米波雷达对于距离模拟测试时，需要较长的测试距离才能获得较为准确的模拟距离。现有用于毫米波雷达距离模拟的测试暗室大多是长方形或正方形结构，由于测试要求距离比较长，采用现有的长方形或正方形暗室时，暗室的结构面积较大，吸波材料的使用量较大，导致暗室搭建成本较高；同时，喇叭天线与目标模拟角反射器在同一方位上，会造成相互干扰。
发明内容
基于以上问题，本发明的目的在于提供一种雷达测试暗室，降低暗室建造成本，避免喇叭天线与角反射器相互干扰。
为达上述目的，本发明采用以下技术方案：
一种雷达测试暗室，包括：
第一暗室，包括第一墙体和第二墙体，所述第一墙体上设置有第一通孔，所述第二墙体上设置有第二通孔，所述雷达设置于所述第一暗室内；
第二暗室，设置于所述第一墙体背向所述雷达的一侧，所述第二暗室内设置有角反射器；
第三暗室，设置于所述第二墙体背向所述雷达的一侧，所述第三暗室内设置有喇叭天线，所述雷达与所述角反射器的发射路径垂直于所述雷达与所述喇叭天线的发射路径。
作为本发明的雷达测试暗室的优选方案，所述第一暗室的横截面为八边形。
作为本发明的雷达测试暗室的优选方案，所述第二暗室内设置有隔板，所述隔板上设置有第三通孔。
作为本发明的雷达测试暗室的优选方案，所述第三通孔与所述第一通孔的高度相等。
作为本发明的雷达测试暗室的优选方案，所述角反射器设置于所述隔板背向所述雷达的一侧。
作为本发明的雷达测试暗室的优选方案，除所述第一墙体、所述第二墙体以及与所述第二墙体正对的第三墙体外，所述第一暗室内的其余墙体上均设置有吸波结构。
作为本发明的雷达测试暗室的优选方案，所述吸波结构为吸波尖劈。
作为本发明的雷达测试暗室的优选方案，除所述第二暗室的顶面和底面外，所述第二暗室的其余墙面均设置所述吸波结构。
作为本发明的雷达测试暗室的优选方案，除所述第三暗室的顶面和底面外，所述第三暗室的其余墙面均设置所述吸波结构。
作为本发明的雷达测试暗室的优选方案，所述第二暗室的横截面为矩形。
本发明的有益效果为：
本发明提供的雷达测试暗室，将雷达设置在第一暗室内，通过在第一暗室内设置第一墙体和第二墙体，并在第一墙体背向雷达的一侧设置第二暗室，在第二暗室内设置角反射器，在第二墙体背向雷达的一侧设置第三暗室，在第三暗室内设置喇叭天线，由于雷达与角反射器的发射路径垂直于雷达与喇叭天线的发射路径，角反射器和喇叭天线的方位垂直，不会产生相互干扰，提高了雷达测试的准确性；由于在第一墙体上设置第一通孔，第一暗室的雷达对角反射器发射雷达波束时，雷达波束通过第一通孔进入第二暗室，第一通孔将雷达波束限制在需求范围内，使第二暗室的顶面和底面不需要设置吸波结构，降低了建造成本；由于在第二墙体上设置第二通孔，第一暗室的雷达对喇叭天线发射雷达波束时，雷达波束通过第二通孔进入第三暗室，第二通孔将雷达波束限制在需求范围内，使第三暗室的顶面和底面不需要设置吸波结构，降低了建造成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对本发明实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据本发明实施例的内容和这些附图获得其他的附图。
图1是本发明具体实施方式提供的雷达测试暗室的结构示意图；
图2是本发明具体实施方式提供的雷达测试暗室的工作示意图。
图中：
1-第一暗室；2-第二暗室；3-第三暗室；4-吸波结构；5-角反射器；
11-第一墙体；12-第二墙体；13-第三墙体；
21-隔板；
100-雷达。
具体实施方式
为使本发明解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面将结合附图对本发明实施例的技术方案作进一步的详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。其中，术语“第一位置”和“第二位置”为两个不同的位置。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
本实施例提供一种雷达测试暗室，尤其适用于对毫米波雷达进行距离模拟测试，如图1所示，该雷达测试暗室包括第一暗室1、第二暗室2和第三暗室3。第一暗室1、第二暗室2和第三暗室3均用于隔绝外界信号对雷达100测试的干扰。
具体地，第一暗室1包括第一墙体11和第二墙体12，第一墙体11上设置有第一通孔(图中未示出)，第二墙体12上设置有第二通孔(图中未示出)，雷达100设置于第一暗室1内。可选地，第一墙体11和第二墙体12垂直设置，便于雷达100正对第一墙体11上的第一通孔和第二墙体12上的第二通孔发射雷达信号。雷达100主要包括收发天线、射频前端、调制信号和信号处理模块等，通过接收信号和发射信号的相关处理实现对目标距离、方位、相对速度的探测。第一通孔和第二通孔分别将雷达波束限制在需求范围内，避免了雷达波束散开太多对测试结果造成影响。为降低第一暗室1的建造成本，在本实施例中，可选地，第一暗室1的横截面为八边形，相比较于矩形暗室，截面为八边形的暗室的墙体面积较小，相对应地，需要铺设在墙体表面的吸波结构4总量减少，有效降低了第一暗室1的建造成本。在其他实施例中，第一暗室1的横截面也可以为六边形、十二边形等多边形，具体设置情况需根据采用的吸波结构4尺寸的取整要求而定。
为进一步降低第一暗室1的建造成本，可选地，除第一墙体11、第二墙体12以及与第二墙体12正对的第三墙体13外，第一暗室1内的其余墙体上均设置有吸波结构4，由于在测试过程中只有较少雷达波束会反射到第一墙体11、第二墙体12和第三墙体13上，所以第一墙体11、第二墙体12和第三墙体13可以不铺设吸波结构4。可选地，吸波结构4为吸波尖劈。吸波尖劈主要有聚氨酯泡沫型、无纺布难燃型、硅酸盐板金属膜组装型等，能吸收或者大幅减弱投射到它表面的电磁波能量，从而减少电磁波的干扰。
第二暗室2设置于第一墙体11背向雷达100的一侧，第二暗室2内设置有角反射器5。需要说明的是，角反射器5作为雷达100测试用的模拟目标，角反射器5又称雷达反射器，通过金属板材根椐不同用途做成的不同规格的雷达波反射器。当雷达电磁波扫描到角反射器5后，电磁波会在金属角上产生折射放大，产生很强的回波信号，在雷达100的屏幕上出现很强的回波目标。
在本实施例中，第二暗室2采用传统的矩形结构，便于实现较远距离的雷达100测试模拟，可选地，第二暗室2的横截面为矩形。为避免雷达波束在传播中扩散太多，可选地，第二暗室2内设置有隔板21，隔板21上设置有第三通孔，通过第三通孔将雷达波束限制在需求范围内，以更集中地照射在角反射器5上。为进一步防止雷达波束扩散太多，可选地，第三通孔与第一通孔的高度相等，雷达波束依次通过第一通孔和第三通孔照射在角反射器5上。需要说明的是，角反射器5与第一通孔和第三通孔的高度均一致，便于角反射器5对雷达信号进行充分地反射，提高雷达测试的准确度。为便于实现较远距离的雷达100测试模拟，可选地，角反射器5设置于隔板21背向雷达100的一侧。为降低第二暗室2的建造成本，可选地，除第二暗室2的顶面和底面外，第二暗室2的其余墙面均设置吸波结构4，由于在第一墙体11上设置第一通孔，第一暗室1的雷达100对角反射器5发射雷达波束时，雷达波束通过第一通孔进入第二暗室2，第一通孔将雷达波束限制在需求范围内，使第二暗室2的顶面和底面不需要设置吸波结构4，降低了建造成本。
第三暗室3设置于第二墙体12背向雷达100的一侧，第三暗室3内设置有喇叭天线(图中未示出)，雷达100与角反射器5的发射路径垂直于雷达100与喇叭天线的发射路径，喇叭天线用于接收雷达100信号测得雷达100的功率和频率。由于角反射器5和喇叭天线的方位垂直，不会产生相互干扰，提高了雷达100测试的准确性。为降低第三暗室3的建造成本，可选地，除第三暗室3的顶面和底面外，第三暗室3的其余墙面均设置吸波结构4，由于在第二墙体12上设置第二通孔，第一暗室1的雷达100对喇叭天线发射雷达波束时，雷达波束通过第二通孔进入第三暗室3，第二通孔将雷达波束限制在需求范围内，使第三暗室3的顶面和底面不需要设置吸波结构4，降低了建造成本。需要说明的是，第一通孔和第三通孔的尺寸大小需根据实际应用时，第一墙体、隔板21、角反射器5以及第二暗室的尺寸和位置而定，为现有技术，在此不再赘述，第二通孔的尺寸设置同理。
本实施例提供的雷达测试暗室，在测试模拟目标时，如图2所示，主要包括如下几个步骤：首先，雷达100对准第一墙体11上的第一通孔发射雷达波束；其次，雷达波速经过隔板21上的第三通孔照射在角反射器5(模拟目标)上；然后，雷达波速反射回来由雷达100接收；最后，通过接收信号和发射信号的相关处理实现对角反射器5距离、方位、相对速度的探测。
本实施例提供的雷达测试暗室，在测试雷达100的频率和功率时，主要包括如下几个步骤：首先，雷达100对准第二墙体12上的第二通孔发射雷达波束；其次，雷达波束被喇叭天线吸收，测得雷达100的频率和功率。
本实施例提供的雷达测试暗室，将雷达100设置在第一暗室1内，通过在第一暗室1内设置第一墙体11和第二墙体12，并在第一墙体11背向雷达100的一侧设置第二暗室2，在第二暗室2内设置角反射器5，在第二墙体12背向雷达100的一侧设置第三暗室3，在第三暗室3内设置喇叭天线，由于雷达100与角反射器5的发射路径垂直于雷达100与喇叭天线的发射路径，角反射器5和喇叭天线的方位垂直，不会产生相互干扰，提高了雷达100测试的准确性；由于在第一墙体11上设置第一通孔，第一暗室1的雷达100对角反射器5发射雷达波束时，雷达波束通过第一通孔进入第二暗室2，第一通孔将雷达波束限制在需求范围内，使第二暗室2的顶面和底面不需要设置吸波结构4，降低了建造成本；由于在第二墙体12上设置第二通孔，第一暗室1的雷达100对喇叭天线发射雷达波束时，雷达波束通过第二通孔进入第三暗室3，第二通孔将雷达波束限制在需求范围内，使第三暗室3的顶面和底面不需要设置吸波结构4，降低了建造成本。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (8)
1.一种雷达测试暗室，其特征在于，包括：
第一暗室(1)，包括第一墙体(11)和第二墙体(12)，所述第一墙体(11)上设置有第一通孔，所述第二墙体(12)上设置有第二通孔，雷达(100)设置于所述第一暗室(1)内；
第二暗室(2)，设置于所述第一墙体(11)背向所述雷达(100)的一侧，并通过所述第一通孔与所述第一暗室(1)连通，所述第二暗室(2)内设置有角反射器(5)；
第三暗室(3)，设置于所述第二墙体(12)背向所述雷达(100)的一侧，并通过所述第二通孔与所述第一暗室(1)连通，所述第三暗室(3)内设置有喇叭天线，所述雷达(100)与所述角反射器(5)的发射路径垂直于所述雷达(100)与所述喇叭天线的发射路径；
除所述第二暗室(2)的顶面和底面外，所述第二暗室(2)的其余墙面均设置吸波结构(4)；
除所述第三暗室(3)的顶面和底面外，所述第三暗室(3)的其余墙面均设置所述吸波结构(4)。
2.根据权利要求1所述的雷达测试暗室，其特征在于，所述第一暗室(1)的横截面为八边形。
3.根据权利要求1所述的雷达测试暗室，其特征在于，所述第二暗室(2)内设置有隔板(21)，所述隔板(21)上设置有第三通孔。
4.根据权利要求3所述的雷达测试暗室，其特征在于，所述第三通孔与所述第一通孔的高度相等。
5.根据权利要求3所述的雷达测试暗室，其特征在于，所述角反射器(5)设置于所述隔板(21)背向所述雷达(100)的一侧。
6.根据权利要求1所述的雷达测试暗室，其特征在于，除所述第一墙体(11)、所述第二墙体(12)以及与所述第二墙体(12)正对的第三墙体(13)外，所述第一暗室(1)内的其余墙体上均设置有吸波结构(4)。
7.根据权利要求6所述的雷达测试暗室，其特征在于，所述吸波结构(4)为吸波尖劈。
8.根据权利要求1-7任一项所述的雷达测试暗室，其特征在于，所述第二暗室(2)的横截面为矩形。
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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