CN110059659A - 检测方法及指纹感测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种检测方法及指纹感测装置，检测方法用以检测指纹感测装置。指纹感测装置包含矩阵排列的多个感测电极。此检测方法包含以下步骤：经由多条闸极线输出多个闸极信号至多个感测电极；依据多个闸极信号每一者的感测区间传送多个感测电极的多个感测值；以及依据多个感测值判断指纹感测装置是否存在缺陷。多个闸极信号中的第一闸极信号经由多个闸极线中的第一闸极线传送至部分的多个感测电极，且第一闸极信号的感测区间短于多个闸极信号的其余闸极信号每一者的感测区间。本发明可有效进行指纹传感器的检测。
Description
技术领域
本发明涉及一种检测方法及指纹感测装置，且特别是有关于缺陷的检测方法及指纹感测装置。
背景技术
指纹感测装置包括检测电路及二维阵列排列的感测电极。使用时，检测电路对每个感测电极施加驱动信号，并接收每个感测电极的感测信号，每个感测电极构成指纹感测装置的一个像素。如此，当手指作用到指纹感测装置时，每个感测电极便可以检测指纹对应点所引起的电压变化，从而可以描述指纹对应点的深浅，并与其它感测电极(像素)共同描述整个指纹的纹路，形成指纹图像。
然而，感测电极本身可能存在缺陷，导致指纹感测装置存在坏点，有些缺陷可能导致指纹感测装置过热。因此，指纹感测装置的检测十分重要。
发明内容
本发明的一态样是在提供一种检测方法，用以检测指纹感测装置。指纹感测装置包含矩阵排列的多个感测电极。此检测方法包含以下步骤：经由多条闸极线输出多个闸极信号至多个感测电极；依据多个闸极信号每一者的感测区间传送多个感测电极的多个感测值；以及依据多个感测值判断指纹感测装置是否存在缺陷。多个闸极信号中的第一闸极信号经由多个闸极线中的第一闸极线传送至部分的多个感测电极，且第一闸极信号的感测区间短于多个闸极信号的其余闸极信号每一者的感测区间。
其中，该第一闸极线为所述多条闸极线中最接近该指纹感测装置的边界的一者。
其中，该第一闸极信号的该感测区间为8个频率周期，而所述多个闸极信号的其余闸极信号每一者的该感测区间为220个频率周期。
其中，该指纹感测装置包含多个感测区域，且所述感测区域分别包含部分的所述感测电极，其中依据所述感测值判断该指纹感测装置是否存在缺陷包含：依据所述感测电极的所述感测值计算所述感测区域的多个灰阶值；依据所述灰阶值计算一平均值；判断所述灰阶值与该平均值之间的多个灰阶差值是否大于一灰阶差值阈值；以及于所述灰阶差值中的一者大于该灰阶差值阈值时，判定该指纹感测装置存在缺陷。
其中，更包含：于判定该指纹感测装置存在缺陷时，传送一通知信息至一主机。
本发明的另一态样是在提供一种指纹感测装置。此指纹感测装置包含多个感测电极、多条闸极线、多条感测线、闸极驱动器、多个感测芯片以及控制器。多条闸极线分别与部分的多个感测电极相耦接。多条感测线分别与部分的多个感测电极相耦接。闸极驱动器用以经由多个闸极线输出多个闸极信号至多个感测电极。多个感测芯片依据多个闸极信号每一者的感测区间接收多个感测电极的多个感测值。控制器与多个感测芯片以及闸极驱动器相耦接，用以依据多个感测值判断指纹感测装置是否存在缺陷。多个闸极信号中的第一闸极信号经由多个闸极线中的第一闸极线传送至部分的多个感测电极，且第一闸极信号的感测区间短于多个闸极信号的其余闸极信号每一者的感测区间。
其中，该第一闸极线为所述多条闸极线中最接近该指纹感测装置的边界的一者。
其中，该第一闸极信号的该感测区间为8个频率周期，而所述多个闸极信号的其余闸极信号每一者的该感测区间为220个频率周期。
其中，该控制器更用以依据所述感测电极的所述感测值计算所述感测区域的多个灰阶值，依据所述灰阶值计算一平均值，判断所述灰阶值与该平均值之间的多个灰阶差值是否大于一灰阶差值阈值，并于所述灰阶差值中的一者大于该灰阶差值阈值时，判定该指纹感测装置存在缺陷。
其中，该控制器更用以于判定该指纹感测装置存在缺陷时，传送一通知信息至一主机。
因此，根据本发明的技术态样，本发明的实施例借由提供一种检测方法及指纹感测装置，且特别是有关于缺陷的检测方法及指纹感测装置，通过调整指纹传感器的边界区域的感测频率，借以排除指纹按压或其它感测物的干扰，有效进行指纹传感器的检测。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
附图说明
为让本发明的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附图式的说明如下：
图1为根据本发明的一些实施例所绘示的一种指纹感测装置的示意图；
图2为根据本发明的一些实施例所绘示的一种指纹感测装置的驱动波形图；
图3为根据本发明的一些实施例所绘示的一种感测电极的示意图；
图4为根据本发明的一些实施例所绘示的一种感测芯片的示意图；
图5为根据本发明的一些实施例所绘示的一种指纹感测装置的操作示意图；
图6为根据本发明的一些实施例所绘示的一种指纹感测装置的感测值；以及
图7为根据本发明的一些实施例所绘示的一种检测方法的流程图。
其中，附图标记：
100：指纹感测装置
110：主动区域
130：控制器
150：闸极驱动器
170、170A-170E：感测芯片
S、S0-S9：感测线
G、G0-GN：闸极线
P、P00-PN9：感测电极
200：驱动波形图
SP0-SP3：感测区间
SA1-SA5：感测区域
SG0-SG3：闸极信号
T1：晶体管
C1至C4：电容
D1：二极管
Vbias、Vsignal、Vreset、Vref：电压
A1：比较器
SW1-SW3：开关
SUB：微控制器
BD1、BD2：缺陷区间
F：手指
500：操作示意图
600：感测图表
SAV1-SAV5：灰阶值
Δb1-Δb5：灰阶差值
Data：感测值曲线
700：检测方法
S710、S730、S750：步骤
具体实施方式
以下揭示提供许多不同实施例或例证用以实施本发明的不同特征。特殊例证中的元件及配置在以下讨论中被用来简化本揭示。所讨论的任何例证只用来作解说的用途，并不会以任何方式限制本发明或其例证的范围和意义。此外，本揭示在不同例证中可能重复引用数字符号且/或字母，这些重复皆为了简化及阐述，其本身并未指定以下讨论中不同实施例且/或配置之间的关系。
在全篇说明书与权利要求范围所使用的用词(terms)，除有特别注明外，通常具有每个用词使用在此领域中、在此揭露的内容中与特殊内容中的平常意义。某些用以描述本揭露的用词将于下或在此说明书的别处讨论，以提供本领域技术人员在有关本揭露的描述上额外的引导。
关于本文中所使用的『耦接』或『连接』，均可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触，或是相互间接作实体或电性接触，而『耦接』或『连接』还可指二或多个元件相互操作或动作。
在本文中，使用第一、第二与第三等等的词汇，是用于描述各种元件、组件、区域、层与/或区块是可以被理解的。但是这些元件、组件、区域、层与/或区块不应该被这些术语所限制。这些词汇只限于用来辨别单一元件、组件、区域、层与/或区块。因此，在下文中的一第一元件、组件、区域、层与/或区块也可被称为第二元件、组件、区域、层与/或区块，而不脱离本发明的本意。如本文所用，词汇『与/或』包含了列出的关联项目中的一个或多个的任何组合。本发明文件中提到的「及/或」是指表列元件的任一者、全部或至少一者的任意组合。
请参阅图1。图1是根据本发明的一些实施例所绘示的一种指纹感测装置100的示意图。如图1所绘示，指纹感测装置100包含主动区域110、控制器130、闸极驱动器150、多个感测芯片170A-170E、多条闸极线G0-GN以及多条感测线S0-S9。主动区域110包含多个感测电极P00-PN9。在连接关系上，控制器130与多个感测芯片170A-170E以与门极驱动器150相耦接。闸极驱动器150与多条闸极线G0-GN相耦接。多个感测芯片170A-170E分别与部分的多条感测线S0-S9相耦接。举例而言，感测芯片170A与感测线S0、S1相耦接，感测芯片170B与感测线S2、S3相耦接，其余依此类推。多个感测电极P00-PN9的每一者分别与多条感测线S0-S9中的一者以及多条闸极线G0-GN中的一者相耦接。举例而言，感测电极P00与闸极线G0与感测线S0相耦接，感测电极P01与闸极线G0与感测线S1相耦接，其余依此类推。
此外，主动区域110更包含多个感测区域SA1-SA5，且多个感测区域SA1-SA5分别包含部分的多个感测电极P00-PN9。举例而言，感测区域SA1包含至少感测电极P00与P01，感测区域SA2包含至少感测电极P02与P03，其余依此类推。
多个感测区域SA1-SA5分别对应至多个感测芯片170A-170E中的一者。举例而言，感测区域SA1对应至感测芯片170A，感测区域SA2对应至感测芯片170B，其余依此类推。
需注意的是，如图1所绘示的指纹感测装置100仅作为例示说明之用。举例而言，如图1所示的感测芯片的数量、感测区域的数量、各个感测区域所包含的部分的感测电极的数量、感测线的数量、感测电极的数量以与闸极线的数量等仅作为例示说明之用，本发明的实施方式不以上述为限制。
在操作关系上，请一并参阅图2。图2是根据本发明的一些实施例所绘示的一种指纹感测装置100的驱动波形图200。多个感测电极P00-PN9分别产生感测值。闸极驱动器150输出闸极信号至闸极线G0-GN，举例而言，闸极驱动器150输出闸极信号SG0至闸极线G0，闸极线G0并将闸极信号SG0传送至与闸极线G0相耦接的感测电极(如感测电极P00-P09)，闸极驱动器150输出闸极信号SG1至闸极线G1，闸极线G1并将闸极信号SG1传送至与闸极线G1相耦接的感测电极(如感测电极P10-P13…等)，其余依此类推。
多个闸极信号SG0-SG3分别包含感测区间SP0-SP3。于感测区间SP0-SP3内，部分的感测电极P00-PN9分别传送感测值至多个感测芯片170A-170E中的一者。举例而言，于感测区间SP1内，与闸极线G1相耦接的感测电极P10、P11分别传送感测值至感测芯片170A，与闸极线G1相耦接的感测电极P12、P13分别传送感测值至感测芯片170B，其余依此类推。
如图2所绘示，闸极信号SG0的感测区间SP0短于其余闸极信号SG1-SG3的感测区间SP1-SP3中的每一者。于部分实施例中，感测区间SP1-SP3的时间长度相同。需注意的是，为了方便说明，于图2中仅绘示输出至闸极线G0-G3的闸极信号SG0-SG3，然而，输出至其余闸极线的闸极信号的感测区间与闸极信号SG1-SG3的感测区间SP1-SP3包含相同的时间长度。
于部分实施例中，感测区间SP0的时间长度为8个频率周期，感测区间SP1-SP3的时间长度为220个时间周期。时间周期为控制器130输入至闸极驱动器150的频率(未绘示)的时间周期。如上所述的感测区间的时间长度仅作为例示说明之用，本发明的实施方式不以上述为限制。需注意的是，感测区间的时间长度不可为0。若感测区间的时间长度为0，会造成频率信号的错误。
于部分实施例中，闸极信号SG0传送至多条闸极线G0-GN中最接近指纹感测装置100的边界的闸极线。举例而言，闸极信号SG0传送至图1中的边界处的闸极线G0。于其它一些实施例中，闸极信号SG0亦可传送至图1中的边界处的闸极线GN。
于多个感测芯片170A-170E接收感测值后，多个感测芯片170A-170E将感测值传送至控制器130，接着，控制器130依据感测值判断指纹感测装置100是否存在缺陷。
由于闸极信号SG0的感测区间SP0较短，与闸极线G0相耦接的感测电极P01-P09来不及将感测值传送至感测芯片170A-170E。因此，与闸极线G0相耦接的感测电极P01-P09所传送至感测芯片170A-170E的数据将为感测电极P01-P09本身的数据而非感测电极P01-P09所感测的感测值。如此一来，于判断感测区域SA1-SA5是否存在缺陷时，将不会受到感测物的影响，而可借由获得感测电极P01-P09本身的数据以判断感测区域SA1-SA5是否存在缺陷。再者，于本发明的实施方式中，所缩短的感测区间为传送至最接近指纹感测装置100的边界的闸极线，较不会影响指纹感测装置100的感测功能。
请参阅图3。图3是根据本发明的一些实施例所绘示的一种感测电极P的示意图。图1中的感测电极P00-PN9可由图3所绘示的感测电极P来实现感测电极P00-PN9。感测电极P包含晶体管T1、二极管D1以及电容C1。闸极线G可为图1中的多条闸极线G0-GN中的一者，而感测线S可为图1中的多条感测线S0-S9中的一者。
在连接关系上，晶体管T1的控制端与闸极线G相耦接，晶体管T1的第一端与感测线S相耦接。晶体管T1的第二端与二极管D1的第一端以及电容C1的第一端相耦接于节点N1，二极管D1的第二端以及电容C1的第二端与电压Vbias相耦接。在操作关系上，当感测电极P被物品遮蔽时，感测电极P感应到的光减少，二极管D1(漏电较少)，电容C1的第一端、二极管D1的第一端与晶体管T1的第二端所连接的节点N1的电压值下降较少，反之，当感测电极P感应到的光增加，则节点N1的电压值下降较多。当闸极线G传送的闸极信号将晶体管T1导通时，晶体管T1的第二端的电压值经由晶体管T1传送至晶体管T1的第一端，并经由感测线S传送至与感测线S相耦接的感测芯片。
请参阅图4。图4是根据本发明的一些实施例所绘示的一种感测芯片170的示意图。如图4所绘示的感测芯片170可用以表示图1中的感测芯片170A-170E。感测芯片170包含开关SW1-SW3、比较器A1、微控制器SUB以及电容C2-C4。在连接关系上，比较器A1的第一端用以接收参考电压Vref，比较器A1的第二端与电容C2的第一端以及开关SW1的第一端相耦接，比较器A1的输出端与电容C2的第二端、开关SW1的第二端、开关SW2的第一端以及开端SW3的第一端相耦接，开关SW2的第二端与电容C3的第一端以及微控制器SUB相耦接，开关SW3的第二端与电容C4的第一端以及微控制器SUB相耦接，电容C3的第二端用以接收电压Vsignal，而电容C4的第二端用以接收电压Vreset。
当感测电极P由于刮伤或其它原因产生缺陷时，感测电极P会短路，而造成感测值的电压值错误，并使得依据感测值所换算的灰阶值下降。
于操作关系上，当比较器A1接收到如图3的感测电极P所传送的感测值Vdata后，感测值经由比较器A1以及电容C2放大后，再经由开关SW2传送至微控制器SUB，接着微控制器SUB将感测值传送至如图1所示的控制器130。
请参阅图5。图5是根据本发明的一些实施例所绘示的一种指纹感测装置100的操作示意图500。如图5所示，缺陷区间BD1与BD2为指纹感测装置100本身的缺陷所造成的灰线，而手指F为感测物。举例而言，上述缺陷可由指纹感测装置100的表面刮伤造成。手指F以及缺陷区间BD1与BD2的灰线会使得如图1所示的感测电极P00-PN9所感测到的感测值改变。
请参阅图6。图6是根据本发明的一些实施例所绘示的一种指纹感测装置100的感测图表600。横轴所述的像素坐标可对应至如图1所示的指纹感测装置100的横轴的坐标位置。如图6所示的坐标位置的值仅作为例示说明之用，本发明的实施方式不以此为限制。
感测值曲线Data代表感测电极P00至P09传送至多个感测芯片170A-170E的感测值所对应的灰阶值，灰阶值SAV1为如图1所示的感测区域SA1的灰阶值，而灰阶值SAV2为如图1所示的感测区域SA2的灰阶值，其余依此类推。于部分实施例中，灰阶值SAV1可为感测区域SA1中的多个灰阶值中的最小值或是平均值等。于部分实施例中，感测值曲线Data的灰阶值是由图1中的控制器130依据多个感测芯片170A-170E的感测值计算而得。
请一并参阅图1与图6。控制器130于接收到多个感测芯片170A-170E所传送的多个灰阶值SAV1-SAV5之后，控制器130依据多个灰阶值SAV1-SAV5计算出多个灰阶值SAV1-SAV5的平均值。接着，控制器130判断多个灰阶值与平均值之间的多个灰阶差值是否大于灰阶差值阈值。于多个灰阶差值中的一者大于灰阶差值阈值时，控制器130判定指纹感测装置100存在缺陷。
举例而言，如图6所示，灰阶差值Δb1为灰阶值SAV1与平均值之间的差值，灰阶差值Δb1为灰阶值SAV1与平均值之间的差值，其余依此类推。于多个灰阶差值Δb1-Δb5中，控制器130判断出灰阶差值Δb3大于灰阶差值阈值。此时，控制器130判定指纹感测装置100存在缺陷。于部分实施例中，指纹感测装置100更可判定缺陷位于指纹感测装置100的何处。请参阅图1，举例而言，指纹感测装置100可判定缺陷位于与灰阶差值Δb3对应的感测区域SA3之处。
于部分实施例中，当控制器130判定指纹感测装置100存在缺陷时，控制器130传送通知信息至主机(host)(未绘示)，以告知制造人员或使用者指纹感测装置100存在缺陷。于部分实施例中，控制器130更通过通知信息以告知制造人员或使用者指纹感测装置100缺陷的感测电极的像素坐标。
请参阅图7。图7是根据本发明的一些实施例所绘示的一种检测方法700的流程图。如图7所示，检测方法700包含以下步骤：
步骤S710：经由多条闸极线输出多个闸极信号至多个感测电极；
步骤S730：依据多个闸极信号每一者的感测区间传送多个感测电极的多个感测值；以及
步骤S750：依据多个感测值判断指纹感测装置是否存在缺陷。
为使本发明实施例的检测方法700易于理解，请一并参阅图1。
于步骤S710中，经由多条闸极线输出多个闸极信号至多个感测电极。在一些实施例中，步骤S710可由图1中的闸极驱动器150执行。举例来说，如图1所示，闸极线G0与感测电极P01-P09相耦接，闸极驱动器150传送如图2所示的闸极信号SG0至闸极线G0，闸极线G0并将闸极信号SG0传送至感测电极P01-P09。请参阅图2，于一帧(a frame)的更新时间内，多个闸极信号G0-G3依序分别包含感测区间SP0-SP3。如图2所示，感测区间SP0短于感测区间SP1-SP3中的每一者。
于步骤S730中，依据多个闸极信号每一者的感测区间传送多个感测电极的多个感测值。在一些实施例中，步骤S730可由图1中的感测电极P00-PN9执行。举例而言，于感测区间SP1内，与闸极线G1相耦接的感测电极P10、P11分别传送感测值至感测芯片170A，与闸极线G1相耦接的感测电极P12、P13分别传送感测值至感测芯片170B，其余依此类推。
于步骤S750中，依据多个感测值判断指纹感测装置是否存在缺陷。在一些实施例中，步骤S750可由图1中的控制器130执行。举例而言，多个感测芯片170A-170E于接收到感测电极P00-PN9所传送的感测值之后，多个感测芯片170A-170E将感测值传送至控制器130。控制器130依据多个感测芯片170A-170E的所传送的感测值计算而得与感测值相对应的灰阶值。控制器130依据多个灰阶值计算出多个灰阶值的平均值。接着，控制器130判断多个灰阶值与平均值之间的多个灰阶差值是否大于灰阶差值阈值。于多个灰阶差值中的一者大于灰阶差值阈值时，控制器130判定指纹感测装置100存在缺陷。
由上述可知，由于闸极信号SG0的感测区间SP0较短，与闸极线G0相耦接的感测电极P01-P09来不及将感测值传送至感测芯片170A-170E。因此，与闸极线G0相耦接的感测电极P01-P09所传送至感测芯片170A-170E的数据将为感测电极P01-P09本身的数据而非感测电极P01-P09所感测的感测值。如此一来，于判断感测区域SA1-SA5是否存在缺陷时，将不会受到感测物的影响，而可借由获得感测电极P01-P09本身的数据以判断感测区域SA1-SA5是否存在缺陷。再者，于本发明的实施方式中，所缩短的感测区间为传送至最接近指纹感测装置100的边界的闸极线，较不会影响指纹感测装置100的感测功能。
由上述本发明的实施方式可知，本发明的实施例借由提供一种检测方法及指纹感测装置，且特别是有关于缺陷的检测方法及指纹感测装置，通过调整指纹传感器的边界区域的感测频率，借以排除指纹按压或其它感测物的干扰，有效进行指纹传感器的检测。
另外，上述例示包含依序的示范步骤，但该些步骤不必依所显示的顺序被执行。以不同顺序执行该些步骤皆在本揭示内容的考虑范围内。在本揭示内容的实施例的精神与范围内，可视情况增加、取代、变更顺序及/或省略该些步骤。
虽然本发明已以实施方式揭示如上，然其并非用以限定本发明。当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种检测方法，用以检测一指纹感测装置，其中该指纹感测装置包含矩阵排列的多个感测电极，其特征在于，该检测方法包含：
经由多条闸极线输出多个闸极信号至所述感测电极；
依据所述闸极信号每一者的一感测区间传送所述感测电极的多个感测值；以及
依据所述感测值判断该指纹感测装置是否存在缺陷，
其中所述多个闸极信号中的一第一闸极信号经由所述多条闸极线中的一第一闸极线传送至部分的所述感测电极，且其中该第一闸极信号的该感测区间短于所述多个闸极信号的其余闸极信号每一者的该感测区间。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，该第一闸极线为所述多条闸极线中最接近该指纹感测装置的边界的一者。
3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，该第一闸极信号的该感测区间为8个频率周期，而所述多个闸极信号的其余闸极信号每一者的该感测区间为220个频率周期。
4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，该指纹感测装置包含多个感测区域，且所述感测区域分别包含部分的所述感测电极，其中依据所述感测值判断该指纹感测装置是否存在缺陷包含：
依据所述感测电极的所述感测值计算所述感测区域的多个灰阶值；
依据所述灰阶值计算一平均值；
判断所述灰阶值与该平均值之间的多个灰阶差值是否大于一灰阶差值阈值；以及
于所述灰阶差值中的一者大于该灰阶差值阈值时，判定该指纹感测装置存在缺陷。
5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，更包含：
于判定该指纹感测装置存在缺陷时，传送一通知信息至一主机。
6.一种指纹感测装置，其特征在于，包含：
多个感测电极；
多条闸极线，分别与部分的所述感测电极相耦接；
多条感测线，分别与部分的所述感测电极相耦接；
一闸极驱动器，用以经由所述闸极线输出多个闸极信号至所述感测电极；
多个感测芯片，依据所述闸极信号每一者的一感测区间接收所述感测电极的多个感测值；以及
一控制器，与所述感测芯片以及该闸极驱动器相耦接，用以依据所述感测值判断该指纹感测装置是否存在缺陷，
其中所述多个闸极信号中的一第一闸极信号经由所述多条闸极线中的一第一闸极线传送至部分的所述感测电极，且其中该第一闸极信号的该感测区间短于所述多个闸极信号的其余闸极信号每一者的该感测区间。
7.根据权利要求6所述的指纹感测装置，其特征在于，该第一闸极线为所述多条闸极线中最接近该指纹感测装置的边界的一者。
8.根据权利要求6所述的指纹感测装置，其特征在于，该第一闸极信号的该感测区间为8个频率周期，而所述多个闸极信号的其余闸极信号每一者的该感测区间为220个频率周期。
9.根据权利要求6所述的指纹感测装置，其特征在于，该控制器更用以依据所述感测电极的所述感测值计算所述感测区域的多个灰阶值，依据所述灰阶值计算一平均值，判断所述灰阶值与该平均值之间的多个灰阶差值是否大于一灰阶差值阈值，并于所述灰阶差值中的一者大于该灰阶差值阈值时，判定该指纹感测装置存在缺陷。
10.根据权利要求6所述的指纹感测装置，其特征在于，该控制器更用以于判定该指纹感测装置存在缺陷时，传送一通知信息至一主机。
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