CN110045206B - 用于保护测控装置非冗余ad采集的冗余校验方法及*** - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法及***，属于电力***继电保护技术领域，通过对保护测控装置采集的模拟量和相关通道模拟量数据合成后比较验证，进行模拟量采集回路的检测；其特征在于：至少包括如下步骤：步骤一：模拟量分组；步骤二：实际有效值计算；步骤三：合成采样值计算；步骤四：采样值偏差计算；步骤五：合成有效值计算；步骤六：有效值偏差计算；步骤七：模拟量异常判断。本发明应用于无双AD冗余配置的保护测控装置，为了实现对模拟量采集回路的检测，以提高继电保护运行的可靠性；通过采用上述技术方案，本发明能够对保护测控装置的模拟量采集回路实时检测，提高了继电保护运行的可靠性。
Description
技术领域
本发明属于电力***继电保护技术领域，具体涉及一种用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法及***。
背景技术
众所周知，变电站是电力***运行的枢纽节点，对其安全可靠性有很高的要求，保护测控装置作为变电站二次设备重要组成部分，是电网及变电站一次设备安全稳定运行的基础，对其安全可靠性有很高的要求。模拟量采集回路是保护测控装置硬件的关键组成部分之一，模拟量回路的任何异常问题都对保护测控装置正确采集电网的数据有直接影响，从而影响保护测控装置的可靠性。AD(Analog-to-Digital的缩写，指模拟量到数字量的转换，即模数转换)是它的核心器件，对于采用双AD冗余配置的保护测控装置，两套AD可以互为校验，在一定程度上保证了模拟量采样的可靠性，但成本较高；对于无双AD冗余配置的保护测控装置，往往没有针对模拟量采集回路的检测，因此更容易受模拟量采集回路的异常问题的影响。电力***是三相***，每相的电气量并非是孤立的量，三相电气量之间有相关性，因此可以利用这种相关性进行模拟量采集信号的校验。各母线三相电压、零序电压，以及各线路三相电流、零序电流等作为基本模拟量，往往都有采集，基于此，设计开发一种用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法及***显得是尤为重要。
发明内容
本发明为解决公知技术中存在的技术问题而提供一种用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法及***；应用于无双AD冗余配置的保护测控装置，为了实现对模拟量采集回路的检测，以提高继电保护运行的可靠性。
本发明的第一目的是提供一种用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法，通过对保护测控装置采集的模拟量和相关通道模拟量数据合成后比较验证，进行模拟量采集回路的检测；至少包括如下步骤：
步骤一：模拟量分组；选取同一线路的三相电流和零序电流为一组，选取同一母线的三相电压和零序电压为一组，每组中的4路模拟量可互为检测；
步骤二：实际有效值计算；根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序原始采样值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的实虚部和实际有效值；
步骤三：合成采样值计算；根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序原始采样值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的合成采样值；
步骤四：采样值偏差计算；根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的原始采样值和合成采样值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的采样值偏差；该采样值偏差等于相应模拟量原始采样值和合成采样值之差的绝对值；
步骤五：合成有效值计算；根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的实虚部或合成采样值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的合成有效值；
步骤六：有效值偏差计算；根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的实际有效值和合成有效值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的有效值偏差；该有效值偏差等于相应模拟量实际有效值和合成有效值之差的绝对值；
步骤七：模拟量异常判断；设定采样值偏差阈值、采样值零点嵌位阈值，设定有效值偏差阈值、有效值零点嵌位阈值，对所有分组中的所有模拟量进行异常检测；当通过采样值偏差判断出模拟量异常，或通过有效值偏差判断出模拟量异常，则判定该模拟量异常。
进一步：在所述步骤五中：当同时采用实虚部和合成采样值来计算合成有效值时，需分别进行步骤六和步骤七的计算和判断，最终通过采样值偏差判断出模拟量异常，或通过有效值偏差判断出模拟量异常，均可判定该模拟量异常。
进一步：在所述步骤七中：
当模拟量实际采样值与其合成采样值之积不大于零时，若相应采样值偏差大于采样值零点嵌位阈值，则该模拟量异常，否则，该模拟量正常；
当模拟量实际采样值与其合成采样值之积大于零时，若相应采样值偏差大于采样值偏差阈值与该实际采样值之积的绝对值，则该模拟量异常，否则，该模拟量正常。
进一步：在所述步骤七中：
当模拟量实际有效值为零时，若相应有效值偏差大于有效值零点嵌位阈值，则该模拟量异常，否则，该模拟量正常；
当模拟量实际有效值大于零时，若相应有效值偏差大于有效值偏差阈值与该实际有效值之积，则该模拟量异常，否则，该模拟量正常。
本发明的第二目的是提供一种用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验***，通过对保护测控装置采集的模拟量和相关通道模拟量数据合成后比较验证，进行模拟量采集回路的检测；其特征在于：至少包括：
模拟量分组模块；选取同一线路的三相电流和零序电流为一组，选取同一母线的三相电压和零序电压为一组，每组中的4路模拟量可互为检测；
实际有效值计算模块：根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序原始采样值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的实虚部和实际有效值；
合成采样值计算模块：根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序原始采样值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的合成采样值；
采样值偏差计算模块：根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的原始采样值和合成采样值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的采样值偏差；该采样值偏差等于相应模拟量原始采样值和合成采样值之差的绝对值；
合成有效值计算模块：根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的实虚部或合成采样值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的合成有效值；
有效值偏差计算模块：根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的实际有效值和合成有效值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的有效值偏差；该有效值偏差等于相应模拟量实际有效值和合成有效值之差的绝对值；
模拟量异常判断模块：设定采样值偏差阈值、采样值零点嵌位阈值，设定有效值偏差阈值、有效值零点嵌位阈值，对所有分组中的所有模拟量进行异常检测；当通过采样值偏差判断出模拟量异常，或通过有效值偏差判断出模拟量异常，则判定该模拟量异常。
进一步：针对于所述模拟量异常判断模块：
当模拟量实际采样值与其合成采样值之积不大于零时，若相应采样值偏差大于采样值零点嵌位阈值，则该模拟量异常，否则，该模拟量正常；
当模拟量实际采样值与其合成采样值之积大于零时，若相应采样值偏差大于采样值偏差阈值与该实际采样值之积的绝对值，则该模拟量异常，否则，该模拟量正常。
进一步：针对于所述模拟量异常判断模块：
当模拟量实际有效值为零时，若相应有效值偏差大于有效值零点嵌位阈值，则该模拟量异常，否则，该模拟量正常；
当模拟量实际有效值大于零时，若相应有效值偏差大于有效值偏差阈值与该实际有效值之积，则该模拟量异常，否则，该模拟量正常。
本发明的第三目的是提供一种实现上述用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法的计算机程序。
本发明的第四目的是提供一种实现上述用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法的信息数据处理终端。
本发明的第五目的是提供一种计算机可读存储介质，包括指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上所述的用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法。
本发明具有的优点和积极效果是：
通过采用上述技术方案，本发明能够对保护测控装置的模拟量采集回路实时检测，提高了继电保护运行的可靠性。由于上述技术方案无需双AD冗余配置，因此，可以节省硬件，进而减少硬件的故障率。
附图说明
图1为本发明优选实施例中的流程图；
具体实施方式
为能进一步了解本发明的发明内容、特点及功效，兹例举以下实施例，并配合附图详细说明如下：
为了提高控制***的安全行，本发明采用下述技术手段予以实现：
请参阅图1、一种用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法，通过对保护测控装置采集的模拟量和相关通道模拟量数据合成后比较验证，来进行模拟量采集回路的检测，包括如下步骤：
步骤1：模拟量分组。以两条进线的单母分段接线为例，选取Ⅰ#母线A相电压、B相电压、C相电压和零序电压为一组，选取Ⅰ#进线A相电流、B相电流、C相电流和零序电流为一组，依次类推，选取Ⅱ#母线A相电压、B相电压、C相电压和零序电压为一组，选取Ⅱ#进线A相电流、B相电流、C相电流和零序电流为一组。以下以Ⅰ#进线为例进行说明，记：Ⅰ#进线A相电流原始采样值Sa、B相电流原始采样值Sb、C相电流原始采样值Sc、零序电流原始采样值So；
步骤2：实际有效值计算。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流原始采样值，采用傅氏算法，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的实虚部和实际有效值，依次记为Ra、Xa、Ia、Rb、Xb、Ib、Rc、Xc、Ic和Ro、Xo、Io。用运算符sqrt()表示开平方运算，则：
Ia＝sqrt(Ra×Ra+Xa×Xa)；
Ib＝sqrt(Rb×Rb+Xb×Xb)；
Ic＝sqrt(Rc×Rc+Xc×Xc)；
Io＝sqrt(Ro×Ro+Xo×Xo)；
步骤3：合成采样值计算；根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流原始采样值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的合成采样值，依次记为SA、SB、SC和SO。其中，SA＝So-Sb-Sc、SB＝So-Sa-Sc、SC＝So-Sa-Sb、SO＝Sa+Sb+Sc；
步骤4：采样值偏差计算；根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的原始采样值和合成采样值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的采样值偏差，依次记为dSa、dSb、dSc和dSo。其中，dSa＝|Sa-SA|、dSb＝|Sb-SB|、dSc＝|Sc-SC|、dSo＝|So-SO|；
步骤5：合成有效值计算。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流实虚部，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的合成有效值，依次记为IA、IB、IC和IO。其中：
IA＝sqrt((Ro-Rb-Rc)×(Ro-Rb-Rc)+(Xo-Xb-Xc)×(Xo-Xb-Xc))；
IB＝sqrt((Ro-Ra-Rc)×(Ro-Ra-Rc)+(Xo-Xa-Xc)×(Xo-Xa-Xc))；
IC＝sqrt((Ro-Ra-Rb)×(Ro-Ra-Rb)+(Xo-Xa-Xb)×(Xo-Xa-Xb))；
IO＝sqrt((Ra+Rb+Rc)×(Ra+Rb+Rc)+(Xa+Xb+Xc)×(Xa+Xb+Xc))；
步骤6：有效值偏差计算。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的实际有效值和合成有效值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的有效值偏差，依次记为dIa、dIb、dIc和dIo。其中，dIa＝|Ia-IA|、dIb＝|Ib-IB|、dIc＝|Ic-IC|、dIo＝|Io-IO|；
步骤7：模拟量异常判断。设定采样值偏差阈值为dthr3、采样值零点嵌位阈值为dthr2，设定有效值偏差阈值为dthr1、有效值零点嵌位阈值为dthr0。
当Sa×SA>0且dSa>dthr3×|Sa|，或当Sa×SA≤0且dSa>dthr2，或当Ia>0且dIa>dthr1×Ia，或当Ia＝0且dIa>dthr0时，A相电流异常；否则A相电流正常；
当Sb×SB>0且dSb>dthr3×|Sb|，或当Sb×SB≤0且dSb>dthr2，或当Ib>0且dIb>dthr1×Ib，或当Ib＝0且dIb>dthr0时，B相电流异常；否则B相电流正常；
当Sc×SC>0且dSc>dthr3×|Sc|，或当Sc×SC≤0且dSc>dthr2，或当Ic>0且dIc>dthr1×Ic，或当Ic＝0且dIc>dthr0时，C相电流异常；否则C相电流正常；
当So×SO>0且dSo>dthr3×|So|，或当So×SO≤0且dSo>dthr2，或当Io>0且dIo>dthr1×Io，或当Io＝0且dIo>dthr0时，零序电流异常；否则零序电流正常。
优选实施例二、一种用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验***，通过对保护测控装置采集的模拟量和相关通道模拟量数据合成后比较验证，来进行模拟量采集回路的检测，包括：
模拟量分组模块。以两条进线的单母分段接线为例，选取Ⅰ#母线A相电压、B相电压、C相电压和零序电压为一组，选取Ⅰ#进线A相电流、B相电流、C相电流和零序电流为一组，依次类推，选取Ⅱ#母线A相电压、B相电压、C相电压和零序电压为一组，选取Ⅱ#进线A相电流、B相电流、C相电流和零序电流为一组。以下以Ⅰ#进线为例进行说明，记：Ⅰ#进线A相电流原始采样值Sa、B相电流原始采样值Sb、C相电流原始采样值Sc、零序电流原始采样值So；
实际有效值计算模块。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流原始采样值，采用傅氏算法，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的实虚部和实际有效值，依次记为Ra、Xa、Ia、Rb、Xb、Ib、Rc、Xc、Ic和Ro、Xo、Io。用运算符sqrt()表示开平方运算，则：
Ia＝sqrt(Ra×Ra+Xa×Xa)；
Ib＝sqrt(Rb×Rb+Xb×Xb)；
Ic＝sqrt(Rc×Rc+Xc×Xc)；
Io＝sqrt(Ro×Ro+Xo×Xo)；
合成采样值计算模块；根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流原始采样值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的合成采样值，依次记为SA、SB、SC和SO。其中，SA＝So-Sb-Sc、SB＝So-Sa-Sc、SC＝So-Sa-Sb、SO＝Sa+Sb+Sc；
采样值偏差计算模块；根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的原始采样值和合成采样值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的采样值偏差，依次记为dSa、dSb、dSc和dSo。其中，dSa＝|Sa-SA|、dSb＝|Sb-SB|、dSc＝|Sc-SC|、dSo＝|So-SO|；
合成有效值计算模块。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流实虚部，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的合成有效值，依次记为IA、IB、IC和IO。其中，
IA＝sqrt((Ro-Rb-Rc)×(Ro-Rb-Rc)+(Xo-Xb-Xc)×(Xo-Xb-Xc))；
IB＝sqrt((Ro-Ra-Rc)×(Ro-Ra-Rc)+(Xo-Xa-Xc)×(Xo-Xa-Xc))；
IC＝sqrt((Ro-Ra-Rb)×(Ro-Ra-Rb)+(Xo-Xa-Xb)×(Xo-Xa-Xb))；
IO＝sqrt((Ra+Rb+Rc)×(Ra+Rb+Rc)+(Xa+Xb+Xc)×(Xa+Xb+Xc))；
有效值偏差计算模块。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的实际有效值和合成有效值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的有效值偏差，依次记为dIa、dIb、dIc和dIo。其中，dIa＝|Ia-IA|、dIb＝|Ib-IB|、dIc＝|Ic-IC|、dIo＝|Io-IO|；
模拟量异常判断模块。设定采样值偏差阈值为dthr3、采样值零点嵌位阈值为dthr2，设定有效值偏差阈值为dthr1、有效值零点嵌位阈值为dthr0。
当Sa×SA>0且dSa>dthr3×|Sa|，或当Sa×SA≤0且dSa>dthr2，或当Ia>0且dIa>dthr1×Ia，或当Ia＝0且dIa>dthr0时，A相电流异常；否则A相电流正常；
当Sb×SB>0且dSb>dthr3×|Sb|，或当Sb×SB≤0且dSb>dthr2，或当Ib>0且dIb>dthr1×Ib，或当Ib＝0且dIb>dthr0时，B相电流异常；否则B相电流正常；
当Sc×SC>0且dSc>dthr3×|Sc|，或当Sc×SC≤0且dSc>dthr2，或当Ic>0且dIc>dthr1×Ic，或当Ic＝0且dIc>dthr0时，C相电流异常；否则C相电流正常；
当So×SO>0且dSo>dthr3×|So|，或当So×SO≤0且dSo>dthr2，或当Io>0且dIo>dthr1×Io，或当Io＝0且dIo>dthr0时，零序电流异常；否则零序电流正常。
优选实施例三、一种实现用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法的计算机程序，所述用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法包括如下步骤：
步骤1：模拟量分组。以两条进线的单母分段接线为例，选取Ⅰ#母线A相电压、B相电压、C相电压和零序电压为一组，选取Ⅰ#进线A相电流、B相电流、C相电流和零序电流为一组，依次类推，选取Ⅱ#母线A相电压、B相电压、C相电压和零序电压为一组，选取Ⅱ#进线A相电流、B相电流、C相电流和零序电流为一组。以下以Ⅰ#进线为例进行说明，记：Ⅰ#进线A相电流原始采样值Sa、B相电流原始采样值Sb、C相电流原始采样值Sc、零序电流原始采样值So；
步骤2：实际有效值计算。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流原始采样值，采用傅氏算法，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的实虚部和实际有效值，依次记为Ra、Xa、Ia、Rb、Xb、Ib、Rc、Xc、Ic和Ro、Xo、Io。用运算符sqrt()表示开平方运算，则：
Ia＝sqrt(Ra×Ra+Xa×Xa)；
Ib＝sqrt(Rb×Rb+Xb×Xb)；
Ic＝sqrt(Rc×Rc+Xc×Xc)；
Io＝sqrt(Ro×Ro+Xo×Xo)；
步骤3：合成采样值计算；根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流原始采样值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的合成采样值，依次记为SA、SB、SC和SO。其中，SA＝So-Sb-Sc、SB＝So-Sa-Sc、SC＝So-Sa-Sb、SO＝Sa+Sb+Sc；
步骤4：采样值偏差计算；根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的原始采样值和合成采样值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的采样值偏差，依次记为dSa、dSb、dSc和dSo。其中，dSa＝|Sa-SA|、dSb＝|Sb-SB|、dSc＝|Sc-SC|、dSo＝|So-SO|；
步骤5：合成有效值计算。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流实虚部，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的合成有效值，依次记为IA、IB、IC和IO。其中，
IA＝sqrt((Ro-Rb-Rc)×(Ro-Rb-Rc)+(Xo-Xb-Xc)×(Xo-Xb-Xc))；
IB＝sqrt((Ro-Ra-Rc)×(Ro-Ra-Rc)+(Xo-Xa-Xc)×(Xo-Xa-Xc))；
IC＝sqrt((Ro-Ra-Rb)×(Ro-Ra-Rb)+(Xo-Xa-Xb)×(Xo-Xa-Xb))；
IO＝sqrt((Ra+Rb+Rc)×(Ra+Rb+Rc)+(Xa+Xb+Xc)×(Xa+Xb+Xc))；
步骤6：有效值偏差计算。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的实际有效值和合成有效值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的有效值偏差，依次记为dIa、dIb、dIc和dIo。其中，dIa＝|Ia-IA|、dIb＝|Ib-IB|、dIc＝|Ic-IC|、dIo＝|Io-IO|；
步骤7：模拟量异常判断。设定采样值偏差阈值为dthr3、采样值零点嵌位阈值为dthr2，设定有效值偏差阈值为dthr1、有效值零点嵌位阈值为dthr0。
当Sa×SA>0且dSa>dthr3×|Sa|，或当Sa×SA≤0且dSa>dthr2，或当Ia>0且dIa>dthr1×Ia，或当Ia＝0且dIa>dthr0时，A相电流异常；否则A相电流正常；
当Sb×SB>0且dSb>dthr3×|Sb|，或当Sb×SB≤0且dSb>dthr2，或当Ib>0且dIb>dthr1×Ib，或当Ib＝0且dIb>dthr0时，B相电流异常；否则B相电流正常；
当Sc×SC>0且dSc>dthr3×|Sc|，或当Sc×SC≤0且dSc>dthr2，或当Ic>0且dIc>dthr1×Ic，或当Ic＝0且dIc>dthr0时，C相电流异常；否则C相电流正常；
当So×SO>0且dSo>dthr3×|So|，或当So×SO≤0且dSo>dthr2，或当Io>0且dIo>dthr1×Io，或当Io＝0且dIo>dthr0时，零序电流异常；否则零序电流正常。
优选实施例四、一种实现用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法的信息数据处理终端。所述用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法包括如下步骤：
步骤1：模拟量分组。以两条进线的单母分段接线为例，选取Ⅰ#母线A相电压、B相电压、C相电压和零序电压为一组，选取Ⅰ#进线A相电流、B相电流、C相电流和零序电流为一组，依次类推，选取Ⅱ#母线A相电压、B相电压、C相电压和零序电压为一组，选取Ⅱ#进线A相电流、B相电流、C相电流和零序电流为一组。以下以Ⅰ#进线为例进行说明，记：Ⅰ#进线A相电流原始采样值Sa、B相电流原始采样值Sb、C相电流原始采样值Sc、零序电流原始采样值So；
步骤2：实际有效值计算。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流原始采样值，采用傅氏算法，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的实虚部和实际有效值，依次记为Ra、Xa、Ia、Rb、Xb、Ib、Rc、Xc、Ic和Ro、Xo、Io。用运算符sqrt()表示开平方运算，则：
Ia＝sqrt(Ra×Ra+Xa×Xa)；
Ib＝sqrt(Rb×Rb+Xb×Xb)；
Ic＝sqrt(Rc×Rc+Xc×Xc)；
Io＝sqrt(Ro×Ro+Xo×Xo)；
步骤3：合成采样值计算；根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流原始采样值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的合成采样值，依次记为SA、SB、SC和SO。其中，SA＝So-Sb-Sc、SB＝So-Sa-Sc、SC＝So-Sa-Sb、SO＝Sa+Sb+Sc；
步骤4：采样值偏差计算；根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的原始采样值和合成采样值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的采样值偏差，依次记为dSa、dSb、dSc和dSo。其中，dSa＝|Sa-SA|、dSb＝|Sb-SB|、dSc＝|Sc-SC|、dSo＝|So-SO|；
步骤5：合成有效值计算。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流实虚部，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的合成有效值，依次记为IA、IB、IC和IO。其中，
IA＝sqrt((Ro-Rb-Rc)×(Ro-Rb-Rc)+(Xo-Xb-Xc)×(Xo-Xb-Xc))；
IB＝sqrt((Ro-Ra-Rc)×(Ro-Ra-Rc)+(Xo-Xa-Xc)×(Xo-Xa-Xc))；
IC＝sqrt((Ro-Ra-Rb)×(Ro-Ra-Rb)+(Xo-Xa-Xb)×(Xo-Xa-Xb))；
IO＝sqrt((Ra+Rb+Rc)×(Ra+Rb+Rc)+(Xa+Xb+Xc)×(Xa+Xb+Xc))；
步骤6：有效值偏差计算。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的实际有效值和合成有效值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的有效值偏差，依次记为dIa、dIb、dIc和dIo。其中，dIa＝|Ia-IA|、dIb＝|Ib-IB|、dIc＝|Ic-IC|、dIo＝|Io-IO|；
步骤7：模拟量异常判断。设定采样值偏差阈值为dthr3、采样值零点嵌位阈值为dthr2，设定有效值偏差阈值为dthr1、有效值零点嵌位阈值为dthr0。
当Sa×SA>0且dSa>dthr3×|Sa|，或当Sa×SA≤0且dSa>dthr2，或当Ia>0且dIa>dthr1×Ia，或当Ia＝0且dIa>dthr0时，A相电流异常；否则A相电流正常；
当Sb×SB>0且dSb>dthr3×|Sb|，或当Sb×SB≤0且dSb>dthr2，或当Ib>0且dIb>dthr1×Ib，或当Ib＝0且dIb>dthr0时，B相电流异常；否则B相电流正常；
当Sc×SC>0且dSc>dthr3×|Sc|，或当Sc×SC≤0且dSc>dthr2，或当Ic>0且dIc>dthr1×Ic，或当Ic＝0且dIc>dthr0时，C相电流异常；否则C相电流正常；
当So×SO>0且dSo>dthr3×|So|，或当So×SO≤0且dSo>dthr2，或当Io>0且dIo>dthr1×Io，或当Io＝0且dIo>dthr0时，零序电流异常；否则零序电流正常。
优选实施例五、一种计算机可读存储介质，包括指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法，所述用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法包括如下步骤：
步骤1：模拟量分组。以两条进线的单母分段接线为例，选取Ⅰ#母线A相电压、B相电压、C相电压和零序电压为一组，选取Ⅰ#进线A相电流、B相电流、C相电流和零序电流为一组，依次类推，选取Ⅱ#母线A相电压、B相电压、C相电压和零序电压为一组，选取Ⅱ#进线A相电流、B相电流、C相电流和零序电流为一组。以下以Ⅰ#进线为例进行说明，记：Ⅰ#进线A相电流原始采样值Sa、B相电流原始采样值Sb、C相电流原始采样值Sc、零序电流原始采样值So；
步骤2：实际有效值计算。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流原始采样值，采用傅氏算法，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的实虚部和实际有效值，依次记为Ra、Xa、Ia、Rb、Xb、Ib、Rc、Xc、Ic和Ro、Xo、Io。用运算符sqrt()表示开平方运算，则：
Ia＝sqrt(Ra×Ra+Xa×Xa)；
Ib＝sqrt(Rb×Rb+Xb×Xb)；
Ic＝sqrt(Rc×Rc+Xc×Xc)；
Io＝sqrt(Ro×Ro+Xo×Xo)；
步骤3：合成采样值计算；根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流原始采样值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的合成采样值，依次记为SA、SB、SC和SO。其中，SA＝So-Sb-Sc、SB＝So-Sa-Sc、SC＝So-Sa-Sb、SO＝Sa+Sb+Sc；
步骤4：采样值偏差计算；根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的原始采样值和合成采样值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的采样值偏差，依次记为dSa、dSb、dSc和dSo。其中，dSa＝|Sa-SA|、dSb＝|Sb-SB|、dSc＝|Sc-SC|、dSo＝|So-SO|；
步骤5：合成有效值计算。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流实虚部，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的合成有效值，依次记为IA、IB、IC和IO。其中，
IA＝sqrt((Ro-Rb-Rc)×(Ro-Rb-Rc)+(Xo-Xb-Xc)×(Xo-Xb-Xc))；
IB＝sqrt((Ro-Ra-Rc)×(Ro-Ra-Rc)+(Xo-Xa-Xc)×(Xo-Xa-Xc))；
IC＝sqrt((Ro-Ra-Rb)×(Ro-Ra-Rb)+(Xo-Xa-Xb)×(Xo-Xa-Xb))；
IO＝sqrt((Ra+Rb+Rc)×(Ra+Rb+Rc)+(Xa+Xb+Xc)×(Xa+Xb+Xc))；
步骤6：有效值偏差计算。根据A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的实际有效值和合成有效值，分别计算A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的有效值偏差，依次记为dIa、dIb、dIc和dIo。其中，dIa＝|Ia-IA|、dIb＝|Ib-IB|、dIc＝|Ic-IC|、dIo＝|Io-IO|；
步骤7：模拟量异常判断。设定采样值偏差阈值为dthr3、采样值零点嵌位阈值为dthr2，设定有效值偏差阈值为dthr1、有效值零点嵌位阈值为dthr0。
当Sa×SA>0且dSa>dthr3×|Sa|，或当Sa×SA≤0且dSa>dthr2，或当Ia>0且dIa>dthr1×Ia，或当Ia＝0且dIa>dthr0时，A相电流异常；否则A相电流正常；
当Sb×SB>0且dSb>dthr3×|Sb|，或当Sb×SB≤0且dSb>dthr2，或当Ib>0且dIb>dthr1×Ib，或当Ib＝0且dIb>dthr0时，B相电流异常；否则B相电流正常；
当Sc×SC>0且dSc>dthr3×|Sc|，或当Sc×SC≤0且dSc>dthr2，或当Ic>0且dIc>dthr1×Ic，或当Ic＝0且dIc>dthr0时，C相电流异常；否则C相电流正常；
当So×SO>0且dSo>dthr3×|So|，或当So×SO≤0且dSo>dthr2，或当Io>0且dIo>dthr1×Io，或当Io＝0且dIo>dthr0时，零序电流异常；否则零序电流正常。
在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用全部或部分地以计算机程序产品的形式实现，所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载或执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本发明实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(DSL)或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输)。所述计算机可读取存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质，(例如，软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如，DVD)、或者半导体介质(例如固态硬盘SolidState Disk(SSD))等。
以上所述仅是对本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改，等同变化与修饰，均属于本发明技术方案的范围内。
Claims (5)
1.一种用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法，通过对保护测控装置采集的模拟量和相关通道模拟量数据合成后比较验证，进行模拟量采集回路的检测；其特征在于：至少包括如下步骤：
步骤一：模拟量分组；选取同一线路的三相电流和零序电流为一组，选取同一母线的三相电压和零序电压为一组，每组中的4路模拟量可互为检测；
步骤二：实际有效值计算；根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序原始采样值，采用傅氏算法，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的实部、虚部和实际有效值；并依次记为Ra、Xa、Ia、Rb、Xb、Ib、Rc、Xc、Ic和Ro、Xo、Io；
用运算符sqrt()表示开平方运算，则：
Ia＝sqrt(Ra×Ra+Xa×Xa)；
Ib＝sqrt(Rb×Rb+Xb×Xb)；
Ic＝sqrt(Rc×Rc+Xc×Xc)；
Io＝sqrt(Ro×Ro+Xo×Xo)；
步骤三：合成采样值计算；根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序原始采样值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的合成采样值；依次记为SA、SB、SC和SO，其中，SA＝So-Sb-Sc、SB＝So-Sa-Sc、SC＝So-Sa-Sb、SO＝Sa+Sb+Sc；Sa为A相电流原始采样值，Sb为B相电流原始采样值，Sc为C相电流原始采样值，So为零序电流原始采样值；
步骤四：采样值偏差计算；根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的原始采样值和合成采样值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的采样值偏差；该采样值偏差等于相应模拟量原始采样值和合成采样值之差的绝对值；
步骤五：合成有效值计算；根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的实部和虚部，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的合成有效值；其中：A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的合成有效值依次记为IA、IB、IC和IO；
IA＝sqrt((Ro-Rb-Rc)×(Ro-Rb-Rc)+(Xo-Xb-Xc)×(Xo-Xb-Xc))；
IB＝sqrt((Ro-Ra-Rc)×(Ro-Ra-Rc)+(Xo-Xa-Xc)×(Xo-Xa-Xc))；
IC＝sqrt((Ro-Ra-Rb)×(Ro-Ra-Rb)+(Xo-Xa-Xb)×(Xo-Xa-Xb))；
IO＝sqrt((Ra+Rb+Rc)×(Ra+Rb+Rc)+(Xa+Xb+Xc)×(Xa+Xb+Xc))；
步骤六：有效值偏差计算；根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的实际有效值和合成有效值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的有效值偏差；该有效值偏差等于相应模拟量实际有效值和合成有效值之差的绝对值；
步骤七：模拟量异常判断；设定采样值偏差阈值、采样值零点嵌位阈值，设定有效值偏差阈值、有效值零点嵌位阈值，对所有分组中的所有模拟量进行异常检测；当通过采样值偏差判断出模拟量异常，或通过有效值偏差判断出模拟量异常时，则判定该模拟量异常；具体为：设定采样值偏差阈值为dthr3、采样值零点嵌位阈值为dthr2，设定有效值偏差阈值为dthr1、有效值零点嵌位阈值为dthr0；将A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的采样值偏差依次记为dSa、dSb、dSc和dSo；将A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的有效值偏差依次记为dIa、dIb、dIc和dIo；
当Sa×SA>0且dSa>dthr3×|Sa|，或当Sa×SA≤0且dSa>dthr2，或当Ia>0且dIa>dthr1×Ia，或当Ia＝0且dIa>dthr0时，A相电流异常；否则A相电流正常；
当Sb×SB>0且dSb>dthr3×|Sb|，或当Sb×SB≤0且dSb>dthr2，或当Ib>0且dIb>dthr1×Ib，或当Ib＝0且dIb>dthr0时，B相电流异常；否则B相电流正常；
当Sc×SC>0且dSc>dthr3×|Sc|，或当Sc×SC≤0且dSc>dthr2，或当Ic>0且dIc>dthr1×Ic，或当Ic＝0且dIc>dthr0时，C相电流异常；否则C相电流正常；
当So×SO>0且dSo>dthr3×|So|，或当So×SO≤0且dSo>dthr2，或当Io>0且dIo>dthr1×Io，或当Io＝0且dIo>dthr0时，零序电流异常；否则零序电流正常。
2.根据权利要求1所述的用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法，其特征在于：在所述步骤五中：当同时采用实部和虚部来计算合成有效值时，需分别进行步骤六和步骤七的计算和判断，最终通过采样值偏差判断出模拟量异常，或通过有效值偏差判断出模拟量异常，均可判定该模拟量异常。
3.一种用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验***，通过对保护测控装置采集的模拟量和相关通道模拟量数据合成后比较验证，进行模拟量采集回路的检测；其特征在于：至少包括：
模拟量分组模块；选取同一线路的三相电流和零序电流为一组，选取同一母线的三相电压和零序电压为一组，每组中的4路模拟量可互为检测；
实际有效值计算模块：根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序原始采样值，采用傅氏算法，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的实部、虚部和实际有效值；并依次记为Ra、Xa、Ia、Rb、Xb、Ib、Rc、Xc、Ic和Ro、Xo、Io；
用运算符sqrt()表示开平方运算，则：
Ia＝sqrt(Ra×Ra+Xa×Xa)；
Ib＝sqrt(Rb×Rb+Xb×Xb)；
Ic＝sqrt(Rc×Rc+Xc×Xc)；
Io＝sqrt(Ro×Ro+Xo×Xo)；
合成采样值计算模块：根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序原始采样值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的合成采样值；依次记为SA、SB、SC和SO，其中，SA＝So-Sb-Sc、SB＝So-Sa-Sc、SC＝So-Sa-Sb、SO＝Sa+Sb+Sc；Sa为A相电流原始采样值，Sb为B相电流原始采样值，Sc为C相电流原始采样值，So为零序电流原始采样值；
采样值偏差计算模块：根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的原始采样值和合成采样值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的采样值偏差；该采样值偏差等于相应模拟量原始采样值和合成采样值之差的绝对值；
合成有效值计算模块：根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的实部和虚部，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的合成有效值；其中：A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的合成有效值依次记为IA、IB、IC和IO；
IA＝sqrt((Ro-Rb-Rc)×(Ro-Rb-Rc)+(Xo-Xb-Xc)×(Xo-Xb-Xc))；
IB＝sqrt((Ro-Ra-Rc)×(Ro-Ra-Rc)+(Xo-Xa-Xc)×(Xo-Xa-Xc))；
IC＝sqrt((Ro-Ra-Rb)×(Ro-Ra-Rb)+(Xo-Xa-Xb)×(Xo-Xa-Xb))；
IO＝sqrt((Ra+Rb+Rc)×(Ra+Rb+Rc)+(Xa+Xb+Xc)×(Xa+Xb+Xc))；
有效值偏差计算模块：根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的实际有效值和合成有效值，分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的有效值偏差；该有效值偏差等于相应模拟量实际有效值和合成有效值之差的绝对值；
模拟量异常判断模块：设定采样值偏差阈值、采样值零点嵌位阈值，设定有效值偏差阈值、有效值零点嵌位阈值，对所有分组中的所有模拟量进行异常检测；当通过采样值偏差判断出模拟量异常，或通过有效值偏差判断出模拟量异常时，则判定该模拟量异常；具体为：设定采样值偏差阈值为dthr3、采样值零点嵌位阈值为dthr2，设定有效值偏差阈值为dthr1、有效值零点嵌位阈值为dthr0；将A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的采样值偏差依次记为dSa、dSb、dSc和dSo；将A相电流、B相电流、C相电流和零序电流的有效值偏差依次记为dIa、dIb、dIc和dIo；
当Sa×SA>0且dSa>dthr3×|Sa|，或当Sa×SA≤0且dSa>dthr2，或当Ia>0且dIa>dthr1×Ia，或当Ia＝0且dIa>dthr0时，A相电流异常；否则A相电流正常；
当Sb×SB>0且dSb>dthr3×|Sb|，或当Sb×SB≤0且dSb>dthr2，或当Ib>0且dIb>dthr1×Ib，或当Ib＝0且dIb>dthr0时，B相电流异常；否则B相电流正常；
当Sc×SC>0且dSc>dthr3×|Sc|，或当Sc×SC≤0且dSc>dthr2，或当Ic>0且dIc>dthr1×Ic，或当Ic＝0且dIc>dthr0时，C相电流异常；否则C相电流正常；
当So×SO>0且dSo>dthr3×|So|，或当So×SO≤0且dSo>dthr2，或当Io>0且dIo>dthr1×Io，或当Io＝0且dIo>dthr0时，零序电流异常；否则零序电流正常。
4.一种实现权利要求1-2任一项所述用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法的信息数据处理终端。
5.一种计算机可读存储介质，包括指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行如权利要求1-2任一项所述的用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法。
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