CN109874008B - 一种通过故障测试区分死机问题的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及智能电视技术领域，尤其涉及一种通过故障测试区分死机问题的方法，其中包括：步骤S1、对片上***进行复数种不同类型的故障测试，以获得片上***对应不同类型的故障类型的复数个反应情况，对复数个反应情况进行汇总，并与对应的故障类型一同存储至一存储单元中；步骤S2、根据待测片上***的对应的反应信息，与存储单元中存储的反应情况进行匹配，以获得待测片上***当前的故障类型。有益效果在于：根据待测片上***的对应的反应信息，与存储单元中存储的反应情况进行匹配，以获得待测片上***当前的故障类型，这样通过排除法能够快速定位问题或缩小问题的范围，为排除问题提供很好的例证。
Description
技术领域
本发明涉及智能电视技术领域，尤其涉及一种通过故障测试区分死机问题的方法。
背景技术
目前，智能电视的***功能越来越多，CPU(Central Processing Unit，中央处理器)的主频也越来越高，对***电源的稳定性要求也会越来越高。为了保证产品的稳定性以及考量产品的寿命，需要在研发阶段进行大量的压力测试，包括高低温测试(45度-15度)，或交流开关机测试，或遥控开关机测试。这些测试的特点均是样品数量多，测试周期长，当在测试过程中出现一些随机的漏洞时，问题排查与验证都需要花费很长时间，对整个测试进度产生较大的影响，甚至会影响整个产品的开发进度。
现有技术中的解决方案为，在软件架构开发过程中，加入尽量多的调试节点，期望把整个***的运行状态记录下来，如果在老化过程中出现异常，打印出来的错误日志将会成为最珍贵的分析资料，但是由于片上***的驱动有较为独立的标志，当某个模块在测试过程中出现异常，错误日志就能指向相关的模块，如EMMC(EmbeddedMultimedia Card，内嵌式存储器)，DDR(Double Data Rate，双倍速率同步动态随机存储器)，TUNER(收音机协调器)等相关的模块的错误，能很明显从错误日志中得到信息，但错误日志输出的前提是片上***运行正常，如果片上***出错，无法输出任何信息，在这种情况下，就无法通过错误信息去分析问题。而这种涉及到***深度异常，是老化实验中最棘手及最耗时间的问题。
发明内容
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种通过故障测试区分死机问题的方法。
具体技术方案如下：
一种通过故障测试区分死机问题的方法，用于智能电视，其中包括：
步骤S1、对片上***进行复数种不同类型的故障测试，以获得所述片上***对应不同类型的故障类型的复数个反应情况，对复数个所述反应情况进行汇总，并与对应的故障类型一同存储至一存储单元中；
步骤S2、根据待测片上***的对应的反应信息，与所述存储单元中存储的所述反应情况进行匹配，以获得所述待测片上***当前的故障类型。
优选的，于所述步骤S1中，对所述片上***的每一所述反应情况获取对应的反应信息，所述反应信息包括画面显示与对应生成的错误日志。
优选的，所述片上***包括电源模块；和/或存储器模块；和/或收音调谐器模块。
优选的，于所述步骤S1中，对所述电源模块的故障测试包括固定引脚短路测试；和/或晶振输出短路测试。
优选的，于所述步骤S1中，对所述存储器模块的故障测试包括存储器时钟数据短路测试；和/或存储器数据线路短路测试。
优选的，于所述步骤S1中，于所述步骤S1中，对所述收音调谐器模块的故障测试包括正相电源输入引脚与负相电源输入引脚的短路测试；和/或低压差分信号的正相时钟信号引脚与低压差分信号的负相时钟信号引脚的短路测试；和/或高清晰度多媒体接口的正相时钟信号引脚与高清晰度多媒体接口的负相时钟信号引脚的短路测试。
优选的，所述固定引脚短路测试包括存储器短路测试。
优选的，所述固定引脚短路测试包括图形处理器短路测试。
优选的，所述固定引脚短路测试包括中央处理器短路测试。
优选的，所述固定引脚短路测试包括3.3V的电源调整输出引脚或1.8V的电压模拟前端引脚的短路测试。
本发明的技术方案有益效果在于：提供一种通过故障测试区分死机问题的方法，根据待测片上***的对应的反应信息，与存储单元中存储的反应情况进行匹配，以获得待测片上***当前的故障类型，这样通过排除法能够快速定位问题或缩小问题的范围，为排除问题提供很好的例证。
附图说明
参考所附附图，以更加充分的描述本发明的实施例。然而，所附附图仅用于说明和阐述，并不构成对本发明范围的限制。
图1为本发明的实施例的通过故障测试区分死机问题的方法的步骤流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。
在现有技术中，由于在老化过程中，环境温度与常温有较大差异，温度的变化会引起半导体的性能发生一些差异，如漏电流增大；低温会导致电容的有效容值降低，这些变化会导致电源的纹波变大，只要***有突发的操作就会引起负载变大，很可能就会导致***崩溃，并且由于在高温或低温的情况下，通过仪器监控多个实验平台、多个模块的供电是难以实现的。
因此，针对现有技术中存在的上述问题，本发明公开一种通过故障测试区分死机问题的方法，用于智能电视，其中包括：
步骤S1、对片上***进行复数种不同类型的故障测试，以获得片上***对应不同类型的故障类型的复数个反应情况，对复数个反应情况进行汇总，并与对应的故障类型一同存储至一存储单元中；
步骤S2、根据待测片上***的对应的反应信息，与存储单元中存储的反应情况进行匹配，以获得待测片上***当前的故障类型。
通过上述通过故障测试区分死机问题的方法的技术方案，如图1所示，该方法应用于智能电视，对片上***进行复数种不同类型的故障测试，以获得片上***对应不同类型的故障类型的复数个反应情况，对复数个反应情况进行汇总，并与对应的故障类型一同存储至一存储单元中，其中片上***包括电源模块；和/或存储器模块；和/或收音调谐器模块，然后根据待测片上***的对应的反应信息，与存储单元中存储的反应情况进行匹配，以获得待测片上***当前的故障类型，这样通过排除法能够快速定位问题或缩小问题的范围，为排除问题提供很好的例证。
在一种较优的实施例中，于步骤S1中，对片上***的每一反应情况获取对应的反应信息，反应信息包括画面显示与对应生成的错误日志。在短时间内可以将各种硬件异常状态的图像与错误日志联系起来，对分析随机死机的漏洞提供很好的实例，为进一步定位问题，排除问题提供很好的例证。
在一种较优的实施例中，如图表一所示，于步骤S1中，对电源模块的故障测试包括固定引脚短路测试；和/或晶振输出短路测试。其中，固定引脚短路测试包括存储器短路测试，图形处理器短路测试，中央处理器短路测试及3.3V的电源调整输出引脚或1.8V的电压模拟前端引脚的短路测试。
具体地，当存储器短路测试时，对应DDR_1V2的画面显示为画面消失，红屏，和/或生成的错误日志为死机，打印停止，无明显错误指示；对应DDR_2V5的画面显示为画面消失，黑屏，和/或生成的错误日志为死机，打印停止，无明显错误指示。
进一步地，当图形处理器短路测试时，对应的画面显示为画面消失，黑屏，和/或生成的错误日志为死机，打印停止，无明显错误指示；当中央处理器短路测试时，对应的画面显示为画面静止，和/或生成的错误日志为死机，打印停止，无明显错误指示；当3.3V的电源调整输出引脚作短路测试时，对应的画面显示为***重启，和/或生成的错误日志为重启前无异常打印；当1.8V的电压模拟前端引脚的短路测试时，对应的画面显示为画面消失，黑屏，和/或生成的错误日志为死机，打印停止，无明显错误指示；当晶振输出短路测试时，对应的画面显示为画面消失，红屏，和/或生成的错误日志为死机，打印停止，无明显错误指示。进一步地，在短时间内可以将各种硬件异常状态的图像与错误日志联系起来，对分析随机死机的漏洞提供很好的实例，这样通过排除法能够快速定位问题或缩小问题的范围，为排除问题提供很好的例证。
表一
| 干扰方式 | 屏幕显示 | 错误日志提示 |
| 短路DDR_1V2 | 画面消失，红屏 | 死机，打印停止，无明显错误提示 |
| 短路DDR_2V5 | 画面消失，黑屏 | 死机，打印停止，无明显错误提示 |
| 短路VDDEE(GPU) | 画面消失，黑屏 | 死机，打印停止，无明显错误提示 |
| 短路VCCK(CPU) | 画面静止 | 死机，打印停止，无明显错误提示 |
| 短路AO_3.3V | ***重启 | 重启前无异常打印 |
| 短路AFE_1.8V | 画面消失，黑屏 | 死机，打印停止，无明显错误提示 |
| 短路晶振输出 | 画面消失，红屏 | 死机，打印停止，无明显错误提示 |
进一步地，对片上***进行复数种不同类型的故障测试，以获得片上***对应不同类型的故障类型的复数个反应情况，对复数个反应情况进行汇总，并与对应的故障类型一同存储至一存储单元中，然后根据待测片上***的对应的反应信息，与存储单元中存储的反应情况进行匹配，以获得待测片上***当前的故障类型。
在一种较优的实施例中，于步骤S1中，对存储器模块的故障测试包括存储器时钟数据短路测试；和/或存储器数据线路短路测试。
具体地，如图表二所示，当存储器DDR时钟数据短路测试时，对应的画面显示为画面消失，红屏，和/或生成的错误日志为死机重启，无明显错误指示；或当存储器EMMC时钟数据短路测试时，对应的画面显示为画面静止，和/或生成的错误日志为打印正常输出，提示EMMC错误；当存储器EMMC数据线路短路测试时，对应的画面显示为画面正常，和/或生成的错误日志为打印正常输出，提示EMMC错误。进一步地，在短时间内可以将各种硬件异常状态的图像与错误日志联系起来，对分析随机死机的漏洞提供很好的实例，这样通过排除法能够快速定位问题或缩小问题的范围，为排除问题提供很好的例证。
在一种较优的实施例中，于步骤S1中，对收音调谐器模块的故障测试包括正相电源输入引脚与负相电源输入引脚的短路测试；和/或低压差分信号的正相时钟信号引脚与低压差分信号的负相时钟信号引脚的短路测试；和/或高清晰度多媒体接口的正相时钟信号引脚与高清晰度多媒体接口的负相时钟信号引脚的短路测试。
具体地，如图表二所示，当正相电源输入引脚与负相电源输入引脚作短路测试时，对应的画面显示为画面静止，停止干扰后画面恢复正常，和/或生成的错误日志为打印正常输出，提示无信号输出；当低压差分信号的正相时钟信号引脚与低压差分信号的负相时钟信号引脚作短路测试时，对应的画面显示为画面消失，停止干扰后画面正常，和/或生成的错误日志为打印无异常；当高清晰度多媒体接口的正相时钟信号引脚与高清晰度多媒体接口的负相时钟信号引脚作短路测试时，对应的画面显示为画面消失，停止干扰后画面正常，和/或生成的错误日志为打印正常输出，提示无信号输出。进一步地，在短时间内可以将各种硬件异常状态的图像与错误日志联系起来，对分析随机死机的漏洞提供很好的实例，这样通过排除法能够快速定位问题或缩小问题的范围，为排除问题提供很好的例证。
表二
进一步地，对片上***进行复数种不同类型的故障测试，以获得片上***对应不同类型的故障类型的复数个反应情况，对复数个反应情况进行汇总，并与对应的故障类型一同存储至一存储单元中，然后根据待测片上***的对应的反应信息，与存储单元中存储的反应情况进行匹配，以获得待测片上***当前的故障类型。
以上所述仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本发明的保护范围内。
Claims (9)
1.一种通过故障测试区分死机问题的方法，用于智能电视，其特征在于，包括：
步骤S1、对片上***进行复数种不同类型的故障测试，以获得所述片上***对应不同类型的故障类型的复数个反应情况，对复数个所述反应情况进行汇总，并与对应的故障类型一同存储至一存储单元中；
步骤S2、根据待测片上***的对应的反应信息，与所述存储单元中存储的所述反应情况进行匹配，以获得所述待测片上***当前的故障类型；
于所述步骤S1中，对所述片上***的每一所述反应情况获取对应的反应信息，所述反应信息包括画面显示与对应生成的错误日志。
2.根据权利要求1所述的通过故障测试区分死机问题的方法，其特征在于，所述片上***包括电源模块；和/或存储器模块；和/或收音调谐器模块。
3.根据权利要求2所述的通过故障测试区分死机问题的方法，其特征在于，于所述步骤S1中，对所述电源模块的故障测试包括固定引脚短路测试；和/或晶振输出短路测试。
4.根据权利要求2所述的通过故障测试区分死机问题的方法，其特征在于，于所述步骤S1中，对所述存储器模块的故障测试包括存储器时钟数据短路测试；和/或存储器数据线路短路测试。
5.根据权利要求2所述的通过故障测试区分死机问题的方法，其特征在于，于所述步骤S1中，对所述收音调谐器模块的故障测试包括正相电源输入引脚与负相电源输入引脚的短路测试；和/或低压差分信号的正相时钟信号引脚与低压差分信号的负相时钟信号引脚的短路测试；和/或高清晰度多媒体接口的正相时钟信号引脚与高清晰度多媒体接口的负相时钟信号引脚的短路测试。
6.根据权利要求3所述的通过故障测试区分死机问题的方法，其特征在于，所述固定引脚短路测试包括存储器短路测试。
7.根据权利要求3所述的通过故障测试区分死机问题的方法，其特征在于，所述固定引脚短路测试包括图形处理器短路测试。
8.根据权利要求3所述的通过故障测试区分死机问题的方法，其特征在于，所述固定引脚短路测试包括中央处理器短路测试。
9.根据权利要求3所述的通过故障测试区分死机问题的方法，其特征在于，所述固定引脚短路测试包括3.3V的电源调整输出引脚或1.8V的电压模拟前端引脚的短路测试。
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