CN109759355B - 异方性导电胶膜导电粒子检测机 - Google Patents
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Abstract
异方性导电胶膜导电粒子检测机，包括机架，机架上方的左侧设有环形的上料输送带，机架上方的右侧设有环形的正品下料输送带，正品下料输送带的左端设有环形的次品下料输送带，机架上位于上料输送带和正品下料输送带之间自左向右依次设有左检测平台和右检测平台，左检测平台上设有左检测窗口，左检测窗口的下方设有左对位相机，右检测平台上设有右检测窗口，右检测窗口的下方设有右对位相机；机架上位于左对位相机和右对位相机之间设有图像采集相机。其目的在于提供一种可显著地提高了异方性导电胶膜导电粒子检测机的工作效率，让图像采集处理的质量大为提高的异方性导电胶膜导电粒子检测机。
Description
技术领域
本发明涉及一种异方性导电胶膜导电粒子检测机。
背景技术
异方性导电胶膜(Anisotropic Conductive Film，ACF)是一种可以在短时间内达到导电性连接的材料。异方性导电胶膜也即ACF所起到的主要作用：导电，绝缘，粘接，其主要包括树脂黏着剂、导电粒子两大部分；树脂黏着剂功能除了防湿气，接着，耐热及绝缘功能外主要为固定IC芯片与基板间电极相对位置，并提供一压迫力量已维持电极与导电粒子间的接触面积。
在导电粒子方面，异方导电特性主要取决于导电粒子的充填率。虽然异方性导电胶其导电率会随着导电粒子充填率的增加而提高，但同时也会提升导电粒子互相接触造成短路的机率。
另外，导电粒子的粒径分布和分布均匀性亦会对异方导电特性有所影响。通常，导电粒子必须具有良好的粒径均一性和真圆度，以确保电极与导电粒子间的接触面积一致，维持相同的导通电阻，并同时避免部分电极未接触到导电粒子，导致开路的情形发生。常见的粒径范围在3～5μm之间，太大的导电粒子会降低每个电极接触的粒子数，同时也容易造成相邻电极导电粒子接触而短路的情形；太小的导电粒子容易行成粒子聚集的问题，造成粒子分布密度不平均。在导电粒子的种类方面目前已金属粉末和高分子塑料球表面涂布金属为主。常见使用的金属粉镍(Ni)、金(Au)、镍上镀金、银及锡合金等。
平时导电粒子在黏合剂中均匀分布,互不接触,加之有一层绝缘膜,ACF膜是不导电的,当对ACF膜加压、加热后(一般加压、加热分两次,第一次为临时贴在产品上60℃～100℃,(3～ 10)×104Pa,2s～10s出货，第二次为部品搭载时约150℃～200℃,(20～40)×104Pa,10 s～20s)导电粒子绝缘膜破裂,并互相在有线路的部分(因为较无线路部分突起)挤压在一起, 形成导通,被挤压后的导电粒子体积是原来的3～4倍(导电粒子体积不变，差别在於原本是球体状，经过热压後变成类似圆饼状，让上下电极有更多的面积接触到导电粒子),加热使黏合剂固化,保持导通状态。一般导通部分电阻在10Ω以下,未导通部分相邻端子间在100MΩ以上。
异方性导电胶膜导电粒子检测机是一种用于检测异方性导电胶膜上的导电粒子的分布状态的设备，现有的异方性导电胶膜导电粒子检测机通常都是利用一组对位相机和检测平台进行工作，但由于对异方性导电胶膜进行调整、对位的时间较长，会让图像采集相机等待较长的时间，由此造成现有的异方性导电胶膜导电粒子检测机的工作效率较低，由于在对异方性导电胶膜进行调整、对位的工序上使用了较长的时间，还造成图像采集相机的处理时间非常紧张，让图像采集处理的质量降低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种可显著地提高了异方性导电胶膜导电粒子检测机的工作效率，让图像采集处理的质量大为提高的异方性导电胶膜导电粒子检测机。
本发明的异方性导电胶膜导电粒子检测机，包括机架，机架上方的左侧设有环形的上料输送带，上料输送带可在驱动装置的驱动下作环形运动，机架上方的右侧设有环形的正品下料输送带，正品下料输送带可在驱动装置的驱动下作环形运动，正品下料输送带的附近设有环形的次品下料输送带，次品下料输送带可在驱动装置的驱动下作环形运动；
所述机架上位于上料输送带和正品下料输送带之间自左向右依次设有左检测平台和右检测平台，左检测平台可在左检测平台驱动装置的驱动下做左右方向运动、前后方向运动和转动运动，左检测平台上设有左检测窗口，左检测窗口的下方设有左对位相机，所述右检测平台可在右检测平台驱动装置的驱动下做左右方向运动、前后方向运动和转动运动，右检测平台上设有右检测窗口，右检测窗口的下方设有右对位相机；
所述机架上位于左对位相机和右对位相机之间设有图像采集相机；
所述机架上设有上料装置，上料装置可移动上料输送带上的异方性导电胶膜并交替放置到左检测平台上及右检测平台上；
所述机架上设有下料装置，下料装置可移动左检测平台上的异方性导电胶膜和右检测平台上的异方性导电胶膜到正品下料输送带或次品下料输送带上；
当左检测平台位于左侧的原位时，可通过上料装置将异方性导电胶膜放置到左检测平台上，再让左检测平台在左检测平台驱动装置的驱动下做左右方向的运动，让左对位相机从左检测平台的下方通过左检测窗口观测该异方性导电胶膜上预制的定位点，然后根据观测到的该异方性导电胶膜上预制的定位点的坐标数据，再次通过左检测平台驱动装置驱动左检测平台做左右方向运动、前后方向运动和转动运动来调正异方性导电胶膜的位置，调正异方性导电胶膜的位置后，再让左检测平台在左检测平台驱动装置的驱动下来到图像采集相机的上方，让图像采集相机通过左检测窗口采集该异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像，并通过图像处理软件对异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像进行处理，判断其是否为正品，如果是正品，则下料装置移动该异方性导电胶膜到正品下料输送带上，如果是次品，则下料装置移动该异方性导电胶膜到次品下料输送带上，然后左检测平台在左检测平台驱动装置的驱动下做回位运动，当左检测平台回到位于左侧的原位时，可再次通过上料装置将另一个异方性导电胶膜放置到左检测平台上，再让左检测平台在左检测平台驱动装置的驱动下做左右方向的运动，让左对位相机从左检测平台的下方通过左检测窗口观测该异方性导电胶膜上预制的定位点，然后根据观测到的该异方性导电胶膜上预制的定位点的坐标数据，再次通过左检测平台驱动装置驱动左检测平台做左右方向运动、前后方向运动和转动运动来调正异方性导电胶膜的位置，调正异方性导电胶膜的位置后，再让左检测平台在左检测平台驱动装置的驱动下来到图像采集相机的上方，让图像采集相机通过左检测窗口采集该异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像，并通过图像处理软件对异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像进行处理，判断其是否为正品，如果是正品，则下料装置移动该异方性导电胶膜到正品下料输送带上，如果是次品，则下料装置移动该异方性导电胶膜到次品下料输送带上，然后左检测平台在左检测平台驱动装置的驱动下做回位运动，如此循环往复进行工作；
当右检测平台位于右侧的原位时，可通过上料装置将异方性导电胶膜放置到右检测平台上，再让右检测平台在右检测平台驱动装置的驱动下做左右方向的运动，让右对位相机从右检测平台的下方通过右检测窗口观测该异方性导电胶膜上预制的定位点，然后根据观测到的该异方性导电胶膜上预制的定位点的坐标数据，再次通过右检测平台驱动装置驱动右检测平台做左右方向运动、前后方向运动和转动运动来调正异方性导电胶膜的位置，调正异方性导电胶膜的位置后，再让右检测平台在右检测平台驱动装置的驱动下来到图像采集相机的上方，让图像采集相机通过右检测窗口采集该异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像，并通过图像处理软件对异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像进行处理，判断其是否为正品，如果是正品，则下料装置移动该异方性导电胶膜到正品下料输送带上，如果是次品，则下料装置移动该异方性导电胶膜到次品下料输送带上，然后右检测平台在右检测平台驱动装置的驱动下做回位运动，当右检测平台回到位于右侧的原位时，可再次通过上料装置将另一个异方性导电胶膜放置到右检测平台上，再让右检测平台在右检测平台驱动装置的驱动下做左右方向的运动，让右对位相机从右检测平台的下方通过右检测窗口观测该异方性导电胶膜上预制的定位点，然后根据观测到的该异方性导电胶膜上预制的定位点的坐标数据，再次通过右检测平台驱动装置驱动右检测平台做左右方向运动、前后方向运动和转动运动来调正异方性导电胶膜的位置，调正异方性导电胶膜的位置后，再让右检测平台在右检测平台驱动装置的驱动下来到图像采集相机的上方，让图像采集相机通过右检测窗口采集该异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像，并通过图像处理软件对异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像进行处理，判断其是否为正品，如果是正品，则下料装置移动该异方性导电胶膜到正品下料输送带上，如果是次品，则下料装置移动该异方性导电胶膜到次品下料输送带上，然后右检测平台在右检测平台驱动装置的驱动下做回位运动，如此循环往复进行工作。
优选地，所述上料输送带的上表面位于左右水平方向，正品下料输送带的上表面位于左右水平方向，次品下料输送带的上表面位于前后水平方向。
优选地，所述左检测窗口和右检测窗口同为矩形。
优选地，所述上料装置包括多个并列设置的上料真空吸盘，多个上料真空吸盘的真空吸口朝下设置，多个上料真空吸盘分别通过串联有电磁阀的上料真空气路与真空泵相连；
所述下料装置包括多个并列设置的下料真空吸盘，多个下料真空吸盘的真空吸口朝下设置，多个下料真空吸盘分别通过串联有电磁阀的下料真空气路与真空泵相连。
优选地，所述异方性导电胶膜上预制的定位点为多个十字形的交叉线。
优选地，所述机架包括矩形的箱体，箱体的中下部设有储物柜，箱体朝前的端面设有储物柜门，箱体底部的四角设有可用于调整箱体水平位置的支撑座。
优选地，所述箱体顶端的中部设有矩形的沉槽，所述左对位相机、右对位相机和图像采集相机通过支架与沉槽的底部固定相连。
本发明的异方性导电胶膜导电粒子检测机在使用时，由于采用左对位相机对放置在左检测平台上的异方性导电胶膜进行对位调整，同时还采用右对位相机对放置在右检测平台上的异方性导电胶膜进行对位调整，二者相互交错进行，然后将完成对位调整的左检测平台或右检测平台移动至处图像采集相机对异方性导电胶膜进行图像采集处理，由此极大地减少了图像采集相机的等待时间，显著地提高了异方性导电胶膜导电粒子检测机的工作效率，并且让图像采集相机能够有更多的时间来检测对异方性导电胶膜，让图像采集处理的质量也大为提高。因此，本发明的异方性导电胶膜导电粒子检测机具有可显著地提高了异方性导电胶膜导电粒子检测机的工作效率，让图像采集处理的质量大为提高的特点。
下面结合附图对本发明异方性导电胶膜导电粒子检测机作进一步说明。
附图说明
图1为本发明的异方性导电胶膜导电粒子检测机自后朝前看的立体图。
具体实施方式
如图1所示，本发明的异方性导电胶膜导电粒子检测机，包括机架1，机架1上方的左侧设有环形的上料输送带2，上料输送带2可在驱动装置的驱动下作环形运动，机架1上方的右侧设有环形的正品下料输送带3，正品下料输送带3可在驱动装置的驱动下作环形运动，正品下料输送带3的左端设有环形的次品下料输送带4，次品下料输送带4可在驱动装置的驱动下作环形运动；
所述机架1上位于上料输送带2和正品下料输送带3之间自左向右依次设有左检测平台 5和右检测平台6，左检测平台5可在左检测平台驱动装置7的驱动下做左右方向运动、前后方向运动和转动运动，左检测平台5上设有左检测窗口8，左检测窗口8的下方设有左对位相机9，所述右检测平台6可在右检测平台驱动装置10的驱动下做左右方向运动、前后方向运动和转动运动，右检测平台6上设有右检测窗口11，右检测窗口11的下方设有右对位相机12；
所述机架1上位于左对位相机9和右对位相机12之间设有图像采集相机13；
所述机架1上设有上料装置14，上料装置14可移动上料输送带2上的异方性导电胶膜并交替放置到左检测平台5上及右检测平台6上；
所述机架1上设有下料装置15，下料装置15可移动左检测平台5上的异方性导电胶膜和右检测平台6上的异方性导电胶膜到正品下料输送带3或次品下料输送带4上；
当左检测平台5位于左侧的原位时，可通过上料装置14将异方性导电胶膜放置到左检测平台5上，再让左检测平台5在左检测平台驱动装置7的驱动下做左右方向的运动，让左对位相机9从左检测平台5的下方通过左检测窗口8观测该异方性导电胶膜上预制的定位点，然后根据观测到的该异方性导电胶膜上预制的定位点的坐标数据，再次通过左检测平台驱动装置7驱动左检测平台5做左右方向运动、前后方向运动和转动运动来调正异方性导电胶膜的位置，调正异方性导电胶膜的位置后，再让左检测平台5在左检测平台驱动装置7的驱动下来到图像采集相机13的上方，让图像采集相机13通过左检测窗口8采集该异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像，并通过图像处理软件对异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像进行处理，判断其是否为正品，如果是正品，则下料装置15移动该异方性导电胶膜到正品下料输送带3上，如果是次品，则下料装置15移动该异方性导电胶膜到次品下料输送带4上，然后左检测平台5在左检测平台驱动装置7的驱动下做回位运动，当左检测平台5回到位于左侧的原位时，可再次通过上料装置14将另一个异方性导电胶膜放置到左检测平台5上，再让左检测平台5在左检测平台驱动装置7的驱动下做左右方向的运动，让左对位相机9从左检测平台5的下方通过左检测窗口8观测该异方性导电胶膜上预制的定位点，然后根据观测到的该异方性导电胶膜上预制的定位点的坐标数据，再次通过左检测平台驱动装置7驱动左检测平台5做左右方向运动、前后方向运动和转动运动来调正异方性导电胶膜的位置，调正异方性导电胶膜的位置后，再让左检测平台5在左检测平台驱动装置7的驱动下来到图像采集相机13的上方，让图像采集相机13通过左检测窗口8采集该异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像，并通过图像处理软件对异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像进行处理，判断其是否为正品，如果是正品，则下料装置15移动该异方性导电胶膜到正品下料输送带3上，如果是次品，则下料装置15移动该异方性导电胶膜到次品下料输送带4上，然后左检测平台5 在左检测平台驱动装置7的驱动下做回位运动，如此循环往复进行工作；
当右检测平台6位于右侧的原位时，可通过上料装置14将异方性导电胶膜放置到右检测平台6上，再让右检测平台6在右检测平台驱动装置10的驱动下做左右方向的运动，让右对位相机12从右检测平台6的下方通过右检测窗口11观测该异方性导电胶膜上预制的定位点，然后根据观测到的该异方性导电胶膜上预制的定位点的坐标数据，再次通过右检测平台驱动装置10驱动右检测平台6做左右方向运动、前后方向运动和转动运动来调正异方性导电胶膜的位置，调正异方性导电胶膜的位置后，再让右检测平台6在右检测平台驱动装置10的驱动下来到图像采集相机13的上方，让图像采集相机13通过右检测窗口11采集该异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像，并通过图像处理软件对异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像进行处理，判断其是否为正品，如果是正品，则下料装置15移动该异方性导电胶膜到正品下料输送带3上，如果是次品，则下料装置15移动该异方性导电胶膜到次品下料输送带4上，然后右检测平台6在右检测平台驱动装置10的驱动下做回位运动，当右检测平台6回到位于右侧的原位时，可再次通过上料装置14将另一个异方性导电胶膜放置到右检测平台6上，再让右检测平台6在右检测平台驱动装置10的驱动下做左右方向的运动，让右对位相机12从右检测平台6的下方通过右检测窗口11观测该异方性导电胶膜上预制的定位点，然后根据观测到的该异方性导电胶膜上预制的定位点的坐标数据，再次通过右检测平台驱动装置10驱动右检测平台6做左右方向运动、前后方向运动和转动运动来调正异方性导电胶膜的位置，调正异方性导电胶膜的位置后，再让右检测平台6在右检测平台驱动装置10的驱动下来到图像采集相机13的上方，让图像采集相机13通过右检测窗口11采集该异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像，并通过图像处理软件对异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像进行处理，判断其是否为正品，如果是正品，则下料装置15移动该异方性导电胶膜到正品下料输送带3上，如果是次品，则下料装置15移动该异方性导电胶膜到次品下料输送带4上，然后右检测平台 6在右检测平台驱动装置10的驱动下做回位运动，如此循环往复进行工作。
作为本发明的进一步改进，上述上料输送带2的上表面位于左右水平方向，正品下料输送带3的上表面位于左右水平方向，次品下料输送带4的上表面位于前后水平方向。
作为本发明的进一步改进，上述左检测窗口8和右检测窗口11同为矩形。
作为本发明的进一步改进，上述上料装置14包括多个并列设置的上料真空吸盘16，多个上料真空吸盘16的真空吸口朝下设置，多个上料真空吸盘16分别通过串联有电磁阀的上料真空气路与真空泵相连；
所述下料装置15包括多个并列设置的下料真空吸盘17，多个下料真空吸盘17的真空吸口朝下设置，多个下料真空吸盘17分别通过串联有电磁阀的下料真空气路与真空泵相连。
作为本发明的进一步改进，上述异方性导电胶膜上预制的定位点为多个十字形的交叉线。
作为本发明的进一步改进，上述机架1包括矩形的箱体，箱体的中下部设有储物柜，箱体朝前的端面设有储物柜门18，箱体底部的四角设有可用于调整箱体水平位置的支撑座19。
作为本发明的进一步改进，上述箱体顶端的中部设有矩形的沉槽20，所述左对位相机9、右对位相机12和图像采集相机13通过支架与沉槽20的底部固定相连。
本发明的异方性导电胶膜导电粒子检测机在使用时，由于采用左对位相机9对放置在左检测平台5上的异方性导电胶膜进行对位调整，同时还采用右对位相机12对放置在右检测平台6上的异方性导电胶膜进行对位调整，二者相互交错进行，然后将完成对位调整的左检测平台5或右检测平台6移动至处图像采集相机13对异方性导电胶膜进行图像采集处理，由此极大地减少了图像采集相机13的等待时间，显著地提高了异方性导电胶膜导电粒子检测机的工作效率，并且让图像采集相机13能够有更多的时间来检测对异方性导电胶膜，让图像采集处理的质量也大为提高。因此，本发明的异方性导电胶膜导电粒子检测机具有可显著地提高了异方性导电胶膜导电粒子检测机的工作效率，让图像采集处理的质量大为提高的特点。
上面所述的实施例仅仅是对本发明的优选实施方式进行描述，并非对本发明的范围进行限定，在不脱离本发明设计精神前提下，本领域普通工程技术人员对本发明技术方案作出的各种变形和改进，均应落入本发明的权利要求书确定的保护范围内。
Claims (7)
1.异方性导电胶膜导电粒子检测机，其特征在于：包括机架(1)，机架(1)上方的左侧设有环形的上料输送带(2)，上料输送带(2)可在驱动装置的驱动下作环形运动，机架(1)上方的右侧设有环形的正品下料输送带(3)，正品下料输送带(3)可在驱动装置的驱动下作环形运动，正品下料输送带(3)的附近设有环形的次品下料输送带(4)，次品下料输送带(4)可在驱动装置的驱动下作环形运动；
所述机架(1)上位于上料输送带(2)和正品下料输送带(3)之间自左向右依次设有左检测平台(5)和右检测平台(6)，左检测平台(5)可在左检测平台驱动装置(7)的驱动下做左右方向运动、前后方向运动和转动运动，左检测平台(5)上设有左检测窗口(8)，左检测窗口(8)的下方设有左对位相机(9)，所述右检测平台(6)可在右检测平台驱动装置(10)的驱动下做左右方向运动、前后方向运动和转动运动，右检测平台(6)上设有右检测窗口(11)，右检测窗口(11)的下方设有右对位相机(12)；
所述机架(1)上位于左对位相机(9)和右对位相机(12)之间设有图像采集相机(13)；
所述机架(1)上设有上料装置(14)，上料装置(14)可移动上料输送带(2)上的异方性导电胶膜并交替放置到左检测平台(5)上及右检测平台(6)上；
所述机架(1)上设有下料装置(15)，下料装置(15)可移动左检测平台(5)上的异方性导电胶膜和右检测平台(6)上的异方性导电胶膜到正品下料输送带(3)或次品下料输送带(4)上；
当左检测平台(5)位于左侧的原位时，可通过上料装置(14)将异方性导电胶膜放置到左检测平台(5)上，再让左检测平台(5)在左检测平台驱动装置(7)的驱动下做左右方向的运动，让左对位相机(9)从左检测平台(5)的下方通过左检测窗口(8)观测该异方性导电胶膜上预制的定位点，然后根据观测到的该异方性导电胶膜上预制的定位点的坐标数据，再次通过左检测平台驱动装置(7)驱动左检测平台(5)做左右方向运动、前后方向运动和转动运动来调正异方性导电胶膜的位置，调正异方性导电胶膜的位置后，再让左检测平台(5)在左检测平台驱动装置(7)的驱动下来到图像采集相机(13)的上方，让图像采集相机(13)通过左检测窗口(8)采集该异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像，并通过图像处理软件对异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像进行处理，判断其是否为正品，如果是正品，则下料装置(15)移动该异方性导电胶膜到正品下料输送带(3)上，如果是次品，则下料装置(15)移动该异方性导电胶膜到次品下料输送带(4)上，然后左检测平台(5)在左检测平台驱动装置(7)的驱动下做回位运动，当左检测平台(5)回到位于左侧的原位时，可再次通过上料装置(14)将另一个异方性导电胶膜放置到左检测平台(5)上，再让左检测平台(5)在左检测平台驱动装置(7)的驱动下做左右方向的运动，让左对位相机(9)从左检测平台(5)的下方通过左检测窗口(8)观测该异方性导电胶膜上预制的定位点，然后根据观测到的该异方性导电胶膜上预制的定位点的坐标数据，再次通过左检测平台驱动装置(7)驱动左检测平台(5)做左右方向运动、前后方向运动和转动运动来调正异方性导电胶膜的位置，调正异方性导电胶膜的位置后，再让左检测平台(5)在左检测平台驱动装置(7)的驱动下来到图像采集相机(13)的上方，让图像采集相机(13)通过左检测窗口(8)采集该异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像，并通过图像处理软件对异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像进行处理，判断其是否为正品，如果是正品，则下料装置(15)移动该异方性导电胶膜到正品下料输送带(3)上，如果是次品，则下料装置(15)移动该异方性导电胶膜到次品下料输送带(4)上，然后左检测平台(5)在左检测平台驱动装置(7)的驱动下做回位运动，如此循环往复进行工作；
当右检测平台(6)位于右侧的原位时，可通过上料装置(14)将异方性导电胶膜放置到右检测平台(6)上，再让右检测平台(6)在右检测平台驱动装置(10)的驱动下做左右方向的运动，让右对位相机(12)从右检测平台(6)的下方通过右检测窗口(11)观测该异方性导电胶膜上预制的定位点，然后根据观测到的该异方性导电胶膜上预制的定位点的坐标数据，再次通过右检测平台驱动装置(10)驱动右检测平台(6)做左右方向运动、前后方向运动和转动运动来调正异方性导电胶膜的位置，调正异方性导电胶膜的位置后，再让右检测平台(6)在右检测平台驱动装置(10)的驱动下来到图像采集相机(13)的上方，让图像采集相机(13)通过右检测窗口(11)采集该异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像，并通过图像处理软件对异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像进行处理，判断其是否为正品，如果是正品，则下料装置(15)移动该异方性导电胶膜到正品下料输送带(3)上，如果是次品，则下料装置(15)移动该异方性导电胶膜到次品下料输送带(4)上，然后右检测平台(6)在右检测平台驱动装置(10)的驱动下做回位运动，当右检测平台(6)回到位于右侧的原位时，可再次通过上料装置(14)将另一个异方性导电胶膜放置到右检测平台(6)上，再让右检测平台(6)在右检测平台驱动装置(10)的驱动下做左右方向的运动，让右对位相机(12)从右检测平台(6)的下方通过右检测窗口(11)观测该异方性导电胶膜上预制的定位点，然后根据观测到的该异方性导电胶膜上预制的定位点的坐标数据，再次通过右检测平台驱动装置(10)驱动右检测平台(6)做左右方向运动、前后方向运动和转动运动来调正异方性导电胶膜的位置，调正异方性导电胶膜的位置后，再让右检测平台(6)在右检测平台驱动装置(10)的驱动下来到图像采集相机(13)的上方，让图像采集相机(13)通过右检测窗口(11)采集该异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像，并通过图像处理软件对异方性导电胶膜上导电粒子的分布图像进行处理，判断其是否为正品，如果是正品，则下料装置(15)移动该异方性导电胶膜到正品下料输送带(3)上，如果是次品，则下料装置(15)移动该异方性导电胶膜到次品下料输送带(4)上，然后右检测平台(6)在右检测平台驱动装置(10)的驱动下做回位运动，如此循环往复进行工作。
2.根据权利要求1所述的异方性导电胶膜导电粒子检测机，其特征在于：所述上料输送带(2)的上表面位于左右水平方向，正品下料输送带(3)的上表面位于左右水平方向，次品下料输送带(4)的上表面位于前后水平方向。
3.根据权利要求2所述的异方性导电胶膜导电粒子检测机，其特征在于：所述左检测窗口(8)和右检测窗口(11)同为矩形。
4.根据权利要求3所述的异方性导电胶膜导电粒子检测机，其特征在于：所述上料装置(14)包括多个并列设置的上料真空吸盘(16)，多个上料真空吸盘(16)的真空吸口朝下设置，多个上料真空吸盘(16)分别通过串联有电磁阀的上料真空气路与真空泵相连；
所述下料装置(15)包括多个并列设置的下料真空吸盘(17)，多个下料真空吸盘(17)的真空吸口朝下设置，多个下料真空吸盘(17)分别通过串联有电磁阀的下料真空气路与真空泵相连。
5.根据权利要求1至4中任何一项所述的异方性导电胶膜导电粒子检测机，其特征在于：所述异方性导电胶膜上预制的定位点为多个十字形的交叉线。
6.根据权利要求5所述的异方性导电胶膜导电粒子检测机，其特征在于：所述机架(1)包括矩形的箱体，箱体的中下部设有储物柜，箱体朝前的端面设有储物柜门(18)，箱体底部的四角设有可用于调整箱体水平位置的支撑座(19)。
7.根据权利要求6所述的异方性导电胶膜导电粒子检测机，其特征在于：所述箱体顶端的中部设有矩形的沉槽(20)，所述左对位相机(9)、右对位相机(12)和图像采集相机(13)通过支架与沉槽(20)的底部固定相连。
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