CN109613355A - 天线产品的自动测试***及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种天线产品的自动测试***，包括数据采集单元、信号放大单元、测试点选择单元、微控制器及供电单元，所述数据采集单元分别与所述信号放大单元和待测探针连接，所述数据采集单元采集所述待测探针的信号并传输至所述信号放大单元，所述测试点选择单元与所述待测探针连接并选择所述待测探针的测试点，所述数据采集单元及所述测试点选择单元与所述微控制器通信，所述待测探针插接于待测产品，所述测试点选择单元选择所述待测探针中任意两个的测试点并检测。通过先对所述待测探针检测，然后再对产品检测，可靠性高、生产成本低、适用性强，一方面可以检测探针本身有无问题，另一方面可检测探针有无插接到位，测试方便，提高测试效率。

Description

天线产品的自动测试***及方法
技术领域
本发明涉及测试领域，尤其涉及一种天线产品的自动测试***。
背景技术
目前，在工业自动化检测中，对3C产品的电性能测量，大多以探针作为中转介质，例如：FCT、ICT、OQC以及IQC等测试站位。大面积的使用探针，会存在一个测量隐患：对应点的探针有没有？该点探针有没有扎到对应测试点？于是，每次测量中加入探针有无扎到测试点的检测很有必要。
现有做法通常是采用点检板，进行定期的检查。这种做法一方面无法确保每次测量探针都扎到对应点，测试精度无法保证；另一方面，点检板的保存，也需要一定成本，给使用带来不便。
发明内容
为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种天线产品的自动测试***，其能解决使用不便的问题。
本发明的目的之一采用如下技术方案实现：
一种天线产品的自动测试***，包括数据采集单元、信号放大单元、测试点选择单元、微控制器及供电单元，所述数据采集单元分别与所述信号放大单元和待测探针连接，所述数据采集单元采集所述待测探针的信号并传输至所述信号放大单元，所述测试点选择单元与所述待测探针连接并选择所述待测探针的测试点，所述数据采集单元及所述测试点选择单元与所述微控制器通信，所述待测探针插接于待测产品，所述测试点选择单元选择所述待测探针中任意两个的测试点并检测。
进一步地，所述待测产品设置有芯片引脚结构，所述芯片引脚结构包括输入引脚和输出引脚，所述输入引脚包括二极管，所述二极管设置有VCC端和GND端，所述待测探针通过通过测量VCC端和GND端两点的阻抗来判定测试点是否***。
进一步地，所述信号放大单元包括滤波模块及放大器模块，所述滤波模块与所述放大器模块连接，所述滤波模块与所述数据采集单元连接。
进一步地，所述滤波模块为低通滤波器，所述放大器模块为仪表放大器。
进一步地，所述天线产品的自动测试***还包括数据转换单元，所述数据转换单元分别与所述放大器模块和所述微控制器通信。
进一步地，所述数据转换单元包括至少一个A/D转换器模块，所述A/D转换器模块的输入端与所述放大器模块的输出端相连接，所述放大器模块和所述微控制器通信。
进一步地，所述天线产品的自动测试***还包括供电单元，所述供电单元分别与数据采集单元、信号放大单元、微控制器及数据转换单元连接。
进一步地，所述供电单元包括电压调节模块及恒流模块，所述电压调节模块用于调节电压，所述恒流模块用于调节电流。
进一步地，所述天线产品的自动测试***还包括通信单元及控制终端，所述通信单元分别与所述控制终端和所述微控制器连接。
一种利用权利要求1所述的天线产品的自动测试***的测试方法，包括以下步骤：连接步骤，将待测探针与待测产品连接，通过测试点选择单元选择待测探针的任意两个测试点；探针测试步骤，测量待测探针的任意两个测试点的VCC端和GND端两点的阻抗来判定测试点是否***到位；产品测试步骤，检测待测探针任意两个测试点直至判定待测探针没有问题，通过待测探针对待测产品进行测试。
相比现有技术，本发明的有益效果在于：
所述数据采集单元分别与所述信号放大单元和待测探针连接，所述数据采集单元采集所述待测探针的信号并传输至所述信号放大单元，所述测试点选择单元与所述待测探针连接并选择所述待测探针的测试点，所述数据采集单元及所述测试点选择单元与所述微控制器通信，所述待测探针插接于待测产品，所述测试点选择单元选择所述待测探针中任意两个的测试点并检测。通过先对所述待测探针检测，然后再对产品检测，可靠性高、生产成本低、适用性强，一方面可以检测探针本身有无问题，另一方面可检测探针有无插接到位，测试方便，提高测试效率。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
附图说明
图1为本发明天线产品的自动测试***中一较佳实施例的模块图；
图2为图1所示天线产品的自动测试***中一信号放大单元的模块图；
图3为图1所示天线产品的自动测试***中一供电单元的模块图；
图4为图1所示天线产品的自动测试***的测试电路图；
图5为图1所示天线产品的自动测试***中一二极管连接示意图；
图6为一种天线产品的自动测试方法的流程图。
图中：10、数据采集单元；20、信号放大单元；21、滤波模块；22、放大器模块；30、测试点选择单元；40、微控制器；60、数据转换单元；70、供电单元；71、电压调节模块；72、恒流模块；80、通信单元；90、控制终端；200、待测探针。
具体实施方式
下面，结合附图以及具体实施方式，对本发明做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
请参阅图1-3，一种天线产品的自动测试***包括数据采集单元10、信号放大单元20、测试点选择单元30、微控制器40及供电单元70，所述数据采集单元10分别与所述信号放大单元20和待测探针200连接，所述数据采集单元10采集所述待测探针200的信号并传输至所述信号放大单元20，所述测试点选择单元30与所述待测探针200连接并选择所述待测探针200的测试点，所述数据采集单元10及所述测试点选择单元30与所述微控制器40通信，所述待测探针200插接于待测产品，所述测试点选择单元30选择所述待测探针200中任意两个的测试点并检测。通过先对所述待测探针200检测，然后再对产品检测，可靠性高、生产成本低、适用性强，一方面可以检测探针本身有无问题，另一方面可检测探针有无插接到位，测试方便，提高测试效率。
优选的，请参阅图4，为通过微控制器40的控制选择测试点，与恒流模块72、数据采集单元10组成四线制测电阻电路，具体的所述供电单元70包括电压调节模块71及恒流模块72，所述电压调节模块71用于调节电压，所述恒流模块72用于调节电流。
具体的，请参阅图5，所述待测产品设置有芯片引脚结构，所述芯片引脚结构包括输入引脚和输出引脚，所述输入引脚包括二极管，所述二极管设置有VCC端和GND端，所述待测探针200通过通过测量VCC端和GND端两点的阻抗来判定测试点是否***。其中，由于二极管方向问题，所用恒流源方向需可变，测试方便，进一步提高测试效率。
优选的，所述信号放大单元20包括滤波模块21及放大器模块22，所述滤波模块21与所述放大器模块22连接，所述滤波模块21与所述数据采集单元10连接。具体的，所述滤波模块21为低通滤波器，所述放大器模块22为仪表放大器。
优选的，所述天线产品的自动测试***还包括数据转换单元60，所述数据转换单元60分别与所述放大器模块22和所述微控制器40通信。具体的，所述数据转换单元60包括至少一个A/D转换器模块，所述A/D转换器模块的输入端与所述放大器模块22的输出端相连接，所述放大器模块22和所述微控制器40通信。提高了通信信号的精准度。
在本实施例中，所述天线产品的自动测试***还包括供电单元70，所述供电单元70分别与数据采集单元10、信号放大单元20、微控制器40及数据转换单元60连接，所述数据采集单元10及所述数据采集单元10选择探针点位时，可以通过所述微控制器40的I/O口来控制选择，也可通过所述微控制器40与I2C总线通信，控制CAT9555来控制选择。
优选的，所述天线产品的自动测试***还包括通信单元80及控制终端90，所述通信单元80分别与所述控制终端90和所述微控制器40连接。具体的，所述微控制器40与所述通信单元80双向通信连接，所述通信单元80与所述控制终端90双向通信连接。所述微控制器40对数据采集单元10、信号放大单元20均有控制作用，并对采集的数据进行处理，再经所述通信单元80传输至所述控制终端90。所述控制终端90通过所述通信单元80向所述微控制器40发送相应控制指令。所述控制终端90为计算机。
请参阅图6，一种利用所述的天线产品的自动测试***的测试方法，包括以下步骤：
连接步骤，将待测探针与待测产品连接，通过测试点选择单元选择待测探针的任意两个测试点；
探针测试步骤，测量待测探针的任意两个测试点的VCC端和GND端两点的阻抗来判定测试点是否***到位；
产品测试步骤，检测待测探针任意两个测试点直至判定待测探针没有问题，通过待测探针对待测产品进行测试。
在本实施例中，当检测待测探针任意两个测试点出现问题时，判定待测探针出现问题，更换待测探针并重新进行探针测试，当检测到探针没有问题时，将待测探针对产品进行测试。
上述实施方式仅为本发明的优选实施方式，不能以此来限定本发明保护的范围，本领域的技术人员在本发明的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本发明所要求保护的范围。

Claims (10)

1.一种天线产品的自动测试***，包括数据采集单元、信号放大单元、测试点选择单元、微控制器及供电单元，其特征在于：所述数据采集单元分别与所述信号放大单元和待测探针连接，所述数据采集单元采集所述待测探针的信号并传输至所述信号放大单元，所述测试点选择单元与所述待测探针连接并选择所述待测探针的测试点，所述数据采集单元及所述测试点选择单元与所述微控制器通信，所述待测探针插接于待测产品，所述测试点选择单元选择所述待测探针中任意两个的测试点并检测。
2.如权利要求1所述的天线产品的自动测试***，其特征在于：所述待测产品设置有芯片引脚结构，所述芯片引脚结构包括输入引脚和输出引脚，所述输入引脚包括二极管，所述二极管设置有VCC端和GND端，所述待测探针通过通过测量VCC端和GND端两点的阻抗来判定测试点是否***。
3.如权利要求1所述的天线产品的自动测试***，其特征在于：所述信号放大单元包括滤波模块及放大器模块，所述滤波模块与所述放大器模块连接，所述滤波模块与所述数据采集单元连接。
4.如权利要求3所述的天线产品的自动测试***，其特征在于：所述滤波模块为低通滤波器，所述放大器模块为仪表放大器。
5.如权利要求3所述的天线产品的自动测试***，其特征在于：所述天线产品的自动测试***还包括数据转换单元，所述数据转换单元分别与所述放大器模块和所述微控制器通信。
6.如权利要求5所述的天线产品的自动测试***，其特征在于：所述数据转换单元包括至少一个A/D转换器模块，所述A/D转换器模块的输入端与所述放大器模块的输出端相连接，所述放大器模块和所述微控制器通信。
7.如权利要求1所述的天线产品的自动测试***，其特征在于：所述天线产品的自动测试***还包括供电单元，所述供电单元分别与数据采集单元、信号放大单元、微控制器及数据转换单元连接。
8.如权利要求1所述的天线产品的自动测试***，其特征在于：所述供电单元包括电压调节模块及恒流模块，所述电压调节模块用于调节电压，所述恒流模块用于调节电流。
9.如权利要求1所述的天线产品的自动测试***，其特征在于：所述天线产品的自动测试***还包括通信单元及控制终端，所述通信单元分别与所述控制终端和所述微控制器连接。
10.一种利用权利要求1所述的天线产品的自动测试***的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
连接步骤，将待测探针与待测产品连接，通过测试点选择单元选择待测探针的任意两个测试点；
探针测试步骤，测量待测探针的任意两个测试点的VCC端和GND端两点的阻抗来判定测试点是否***到位；
产品测试步骤，检测待测探针任意两个测试点直至判定待测探针没有问题，通过待测探针对待测产品进行测试。
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