CN109522200A - 一种提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,***及终端 - Google Patents
一种提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,***及终端 Download PDFInfo
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- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 178
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims abstract description 147
- 239000003550 marker Substances 0.000 claims abstract description 111
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims abstract description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 67
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 50
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 7
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 8
- 238000013459 approach Methods 0.000 abstract description 2
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 4
- 238000010200 validation analysis Methods 0.000 description 4
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000009885 systemic effect Effects 0.000 description 1
Classifications
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3003—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored
- G06F11/3034—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored where the computing system component is a storage system, e.g. DASD based or network based
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Abstract
本发明提供一种提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,***及终端,基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位;配置巡检预设条件;可以根据巡检预设条件,对阵列信息中的巡检标识位进行比对验证,判断阵列是否异常。通过对阵列信息中的巡检标识位的多种比对方式,以及基于巡检预设条件的设置来提升存储***的数据安全性以及数据稳定性,以及RAID阵列信息操作过程的安全性以及稳定性。提高多盘RAID阵列稳定性方法,可以有效的提高RAID阵列的稳定性,避免强制断电或者挂死等异常情况导致的RAID阵列异常,确保RAID卡和挂载在RAID卡下的硬盘可以正常运行和数据的安全性,解决了RAID卡存在的隐患问题和风险。
Description
技术领域
本发明涉及数据存储技术领域,尤其涉及一种提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,***及终端。
背景技术
储存盘阵列有独立磁盘构成的具有冗余能力的阵列。储存盘阵列作为独立***,与服务器,或主机通过网络相连。储存盘阵列有多个端口可以被不同服务器,或主机连接。当然一个服务器,或一个主机可以通过多个端口连接储存盘阵列提升传输速度。
在储存盘阵列中,RAID卡是存储子***的心脏,RAID是把多块储存盘按不同方式组合起来形成一个逻辑硬盘,从而提供比单个硬盘有着更高的性能和提供数据冗余功能。
而RAID阵列的稳定性更是影响一个存储子***的性能和数据安全的关键。一般情况下,RAID卡会定期更新储存盘阵列中每个储存盘的相关信息,确保整个RAID阵列的完整性和稳定性,而当RAID卡在更新阵列中每个储存盘的信息时,如果发生突然断电,或信息传输中断,挂死等异常情况时,会造成阵列中储存盘的信息不一致,从而导致RAID阵列出现问题,影响存储***的数据安全性以及数据稳定性。如何提升存储***的数据安全性以及数据稳定性,以及RAID阵列信息操作过程的安全性以及稳定性,是当前亟待解决的技术问题。
发明内容
为了克服上述现有技术中的不足,本发明提供一种能够实现提升存储***的数据安全性以及数据稳定性,以及RAID阵列信息操作过程的安全性以及稳定性的测试方法,***及终端。
其中,本发明提供一种实现提高多储存盘阵列稳定性的测试方法的终端,包括:
存储器,用于存储计算机程序及提高多储存盘阵列稳定性的测试方法;
处理器,用于执行所述计算机程序及提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,以实现提高多储存盘阵列稳定性的测试方法的步骤。
这样,终端可以实现方法包括:
基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位;
优选地,配置储存盘巡检标识位编辑机制;
将储存盘巡检标识位编辑机制设置在覆盖写入原则。
优选地,配置储存盘巡检标识位编辑机制;
将储存盘巡检标识位编辑机制设置在按照写入的次序排列原则。
进一步的,配置巡检预设条件;
根据巡检预设条件,对阵列信息中的巡检标识位进行比对验证,判断阵列是否异常。
进一步的,步骤配置巡检预设条件还包括:
配置测试巡检时间点;
当达到测试巡检时间点时,开启储存盘巡检标识位写入操作;
每隔一预设写入时长对储存盘巡检标识位进行写入,直至达到储存盘巡检标识位的预设写入数量。
进一步的,步骤配置巡检预设条件还包括:
将同一测试巡检时间点写入的至少两个储存盘巡检标识位信息作为阵列判断单元;
将阵列判断单元内部包括的至少两个储存盘巡检标识位信息是否相同作为巡检预设条件;
对阵列判断单元内部包括的至少两个阵列信息中的巡检标识位信息进行相互比对验证;
当信息一致时,判断为阵列正常。
进一步的,步骤配置巡检预设条件还包括:
在同一测试巡检时间点配置比对验证预设信息;
将同一测试巡检时间点写入的每个储存盘巡检标识位信息分别与比对验证预设信息进行比对,判断是否相同,作为巡检预设条件;
当同一测试巡检时间点比对信息一致时,判断所述测试巡检时间点为阵列正常。
进一步的,步骤基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位还包括:
配置起始测试巡检时间点和测试巡检间隔时长;
当达到起始测试巡检时间点后,开启储存盘巡检标识位第一次写入操作;
以及每隔一预设写入时长对储存盘巡检标识位进行写入,直至达到储存盘巡检标识位的预设写入数量;
每隔一测试巡检间隔时长,开启储存盘巡检标识位一次写入操作。
终端还配置并执行提高多储存盘阵列稳定性的测试***,包括:阵列信息配置模块,巡检预设模块以及比对判断模块;
阵列信息配置模块用于基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位;
巡检预设模块用于配置巡检预设条件;
比对判断模块用于根据巡检预设条件,对阵列信息中的巡检标识位进行比对验证,判断阵列是否异常。
优选地,巡检预设模块还用于配置测试巡检时间点;当达到测试巡检时间点时,开启储存盘巡检标识位写入操作;每隔一预设写入时长对储存盘巡检标识位进行写入,直至达到储存盘巡检标识位的预设写入数量;
还用于在同一测试巡检时间点配置比对验证预设信息;
将同一测试巡检时间点写入的每个储存盘巡检标识位信息分别与比对验证预设信息进行比对,判断是否相同,作为巡检预设条件;
当同一测试巡检时间点比对信息一致时,判断所述测试巡检时间点为阵列正常。
从以上技术方案可以看出,本发明具有以下优点:
本发明可以根据巡检预设条件,对阵列信息中的巡检标识位进行比对验证,判断阵列是否异常。通过对阵列信息中的巡检标识位的多种比对方式,以及基于巡检预设条件的设置来提升存储***的数据安全性以及数据稳定性,以及RAID阵列信息操作过程的安全性以及稳定性。提高多盘RAID阵列稳定性方法,可以有效的提高RAID阵列的稳定性,避免强制断电或者挂死等异常情况导致的RAID阵列异常,确保RAID卡和挂载在RAID卡下的硬盘可以正常运行和数据的安全性,解决了RAID卡存在的隐患问题和风险。
本发明还优化更新阵列中每个储存盘的信息,解决了异常情况导致RAID阵列failed的问题,提高了多盘RAID阵列的稳定性,避免造成数据丢失、掉盘等问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的技术方案,下面将对描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为提高多储存盘阵列稳定性的测试方法流程图;
图2为提高多储存盘阵列稳定性的测试方法实施例流程图;
图3为提高多储存盘阵列稳定性的测试方法实施例流程图;
图4为提高多储存盘阵列稳定性的测试***示意图。
具体实施方式
本发明提供一种提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,如图1所示,方法包括:
S1,基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位;
阵列信息是***预设的,***是基于独立储存盘构成的具有冗余能力的阵列。本发明中储存盘可以是计算机可读介质,可以包括计算机存储介质,诸如随机存取存储器(RAM),只读存储器(ROM),非易失性随机存取存储器(NVRAM),电可擦可编程只读存储器(EEPROM),闪存,磁或光学数据存储介质,和类似物。在一些实施例中,一种制造产品可包括一个或多个计算机可读存储媒体。
这里可以预设每个储存盘巡检标识位的写入顺序,也即按照写入顺序依次对储存盘巡检标识位进行信息写入。***还配置有RAID卡。储存盘巡检标识位的设置是为了记录待验证的信息。这里可以设置多个。
S2,配置巡检预设条件;
在对阵列信息安全性和稳定性进行判断前,先设置巡检条件,基于验证条件,进行验证。当然配置巡检预设条件,是可以基于验证人员自行设置,在***中配置设置端口,***基于预设的条件进行自动验证。
S3,根据巡检预设条件,对阵列信息中的巡检标识位进行比对验证,判断阵列是否异常。
验证结果可以以日志的方式进行输出,还可以直接显示在显示屏上。
为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂,下面将运用具体的实施例及附图,对本发明保护的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而非全部的实施例。基于本专利中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本专利保护的范围。
实施例一,如图2所示,
S11,基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位;
S12,配置测试巡检时间点;
这样是以测试巡检时间点为储存盘巡检标识位的写入操作启动条件。
S13,当达到测试巡检时间点时,开启储存盘巡检标识位写入操作;
这里的时间点可以由用户自行设置,也可以基于***在运行过程中,当触发某些条件后才启动测试巡检时间点。
S14,每隔一预设写入时长对储存盘巡检标识位进行写入,直至达到储存盘巡检标识位的预设写入数量。
开启储存盘巡检标识位写入操作之后,对储存盘巡检标识位的数据写入不是一次性的完成,而是基于一预设写入时长,一个一个的写入。因为设置了多个储存盘巡检标识位,可以根据当前写入的数量,在储存盘巡检标识位进行相应的写入操作。储存盘巡检标识位的预设数量可以超过需要写入数据的数量。
S15,根据巡检预设条件,对阵列信息中的巡检标识位进行比对验证,判断阵列是否异常。
当然写入完成后,就可以进行判断阵列是否异常。
这里所描述的技术可以实现在硬件,软件,固件或它们的任何组合。所述的各种特征为模块,单元或组件可以一起实现在集成逻辑装置或分开作为离散的但可互操作的逻辑器件或其他硬件设备。在一些情况下,电子电路的各种特征可以被实现为一个或多个集成电路器件,诸如集成电路芯片或芯片组。
本实施例中,需要进一步说明的是,如图3所示,步骤配置巡检预设条件还包括:再先已经将完成了储存盘巡检标识位的数据写入。具体判断过程还包括:
S151,将同一测试巡检时间点写入的至少两个储存盘巡检标识位信息作为阵列判断单元;
也就是将同一测试巡检时间点写入的至少两个储存盘巡检标识位信息作为一根整体。
S152,将阵列判断单元内部包括的至少两个储存盘巡检标识位信息是否相同作为巡检预设条件;
也就是如果在阵列判断单元中,如果储存盘巡检标识位信息均相同时,可以判断为阵列正常。
S153,对阵列判断单元内部包括的至少两个阵列信息中的巡检标识位信息进行相互比对验证;
S154,当信息一致时,判断为阵列正常。
当然如果阵列信息中的巡检标识位信息不相同时,判断为阵列异常,进行报警提示。
本发明还提供一个实施例二,与上述实施例一不同之处在于,
步骤配置巡检预设条件还包括:
在同一测试巡检时间点配置比对验证预设信息;
将同一测试巡检时间点写入的每个储存盘巡检标识位信息分别与比对验证预设信息进行比对,判断是否相同,作为巡检预设条件;
当同一测试巡检时间点比对信息一致时,判断所述测试巡检时间点为阵列正常。
也就是在设置比对验证条件时,与实施例一不同,其中比对条件是有用户设置一个比对验证预设信息,可以在不同时间段设置不同的比对验证预设信息,比对验证预设信息还可以根据***不同的使用条件来设置,具体设置方式不做限定。
将同一测试巡检时间点写入的每个储存盘巡检标识位信息分别与比对验证预设信息进行比对,如果均相同则阵列正常。如某一个不一致,则输出阵列异常,说明***出现过发生突然断电,或信息传输中断,挂死等异常情况。
本发明还提供一个实施例三,与上述实施例一、二不同之处在于,
步骤基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位还包括:
配置起始测试巡检时间点和测试巡检间隔时长;
当达到起始测试巡检时间点后,开启储存盘巡检标识位第一次写入操作;
以及每隔一预设写入时长对储存盘巡检标识位进行写入,直至达到储存盘巡检标识位的预设写入数量;
每隔一测试巡检间隔时长,开启储存盘巡检标识位一次写入操作。
这里与上述实施例一、二不同之处在于储存盘巡检标识位的写入开启方式。这里开启方式是基于起始测试巡检时间点和测试巡检间隔时长,用户设置了起始测试巡检时间点之后,***开始进行计算,经过一个测试巡检间隔时长,则开启储存盘巡检标识位第一次写入操作。周而复始的进行操作,直至设置结束方式。
写入方式与上述实施例一和二相同,也就是每隔一预设写入时长对储存盘巡检标识位进行写入,直至达到储存盘巡检标识位的预设写入数量。
基于上述写入方式,后续的步骤,根据巡检预设条件,对阵列信息中的巡检标识位进行比对验证,判断阵列是否异常。
可以基于实施例一和二的验证方式,任一进行验证。
如果在硬件中实现,本发明涉及一种装置,例如可以作为处理器或者集成电路装置,诸如集成电路芯片或芯片组。可替换地或附加地,如果软件或固件中实现,所述技术可实现至少部分地由计算机可读的数据存储介质,包括指令,当执行时,使处理器执行一个或更多的上述方法。例如,计算机可读的数据存储介质可以存储诸如由处理器执行的指令。
本发明还提供一个实施例四,与上述实施例一、二和三不同之处在于,
步骤基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位还包括:
配置储存盘巡检标识位编辑机制;
将储存盘巡检标识位编辑机制设置在覆盖写入原则。
可以理解的是,储存盘阵列信息可以包括多种基于多储存盘配置的数据信息,为了能够对多储存盘阵列稳定性进行验证测试。在阵列信息配置为了实现验证测试的储存盘巡检标识位,也就是通过储存盘巡检标识位来实现对多储存盘阵列稳定性的测试验证。
通常多储存盘的数据是基于***在使用过程中实时发生变化的,为了能够跟踪***变化,储存盘巡检标识位也需要随着***数据的变化而变化。这里配置了覆盖写入原则,也就是每次对阵列信息中的储存盘巡检标识位进行写入操作时,是将旧信息进行覆盖,更新为新写入信息。使得储存盘巡检标识位信息能够跟随当前***数据的变化。
对于步骤配置巡检预设条件以及根据巡检预设条件,对阵列信息中的巡检标识位进行比对验证判断,可以依据上述实施例一至三任一进行结合使用。
本发明还提供一个实施例五,与上述实施例一、二、三和四不同之处在于,
步骤基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位还包括:
配置储存盘巡检标识位编辑机制;
将储存盘巡检标识位编辑机制设置在按照写入的次序排列原则。
可以理解的是,储存盘阵列信息可以包括多种基于多储存盘配置的数据信息,为了能够对多储存盘阵列稳定性进行验证测试。在阵列信息配置为了实现验证测试的储存盘巡检标识位,也就是通过储存盘巡检标识位来实现对多储存盘阵列稳定性的测试验证。
通常多储存盘的数据是基于***在使用过程中实时发生变化的,为了能够跟踪***变化,储存盘巡检标识位也需要随着***数据的变化而变化。这里配置了按照写入的次序排列原则,也就是每次对阵列信息中的储存盘巡检标识位进行写入操作时,是将新写入信息排列在旧信息之后,进行顺序排列,这样可以保证测试人员可以实时跟踪储存盘巡检标识位的写入过程,可以对写入过程进行历史查询。也可以实现对历史数据的比对判断稳定性,对今后对多储存盘阵列配置提供参考依据。还使得储存盘巡检标识位信息能够跟随当前***数据的变化。
储存盘巡检标识位的布设方式是将同一时间点,或同一次写入的储存盘巡检标识位并列排列配置,形成当前储存盘巡检标识位组;
不同时间点,或不同次写入的储存盘巡检标识位组按照一定的序列进行排序。
对于步骤配置巡检预设条件以及根据巡检预设条件,对阵列信息中的巡检标识位进行比对验证判断,可以依据上述实施例一至三任一进行结合使用。
本发明还提供一种提高多储存盘阵列稳定性的测试***,如图4所示,包括:阵列信息配置模块1,巡检预设模块2以及比对判断模块3;
阵列信息配置模块1用于基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位;
巡检预设模块2用于配置巡检预设条件;
比对判断模块3用于根据巡检预设条件,对阵列信息中的巡检标识位进行比对验证,判断阵列是否异常。
进一步需要说明的是,巡检预设模块还用于配置测试巡检时间点;当达到测试巡检时间点时,开启储存盘巡检标识位写入操作;每隔一预设写入时长对储存盘巡检标识位进行写入,直至达到储存盘巡检标识位的预设写入数量;还用于在同一测试巡检时间点配置比对验证预设信息;将同一测试巡检时间点写入的每个储存盘巡检标识位信息分别与比对验证预设信息进行比对,判断是否相同,作为巡检预设条件;当同一测试巡检时间点比对信息一致时,判断所述测试巡检时间点为阵列正常。
为了进一步说明本发明涉及的***及方法,下面以一个具体的实施例进行说明,***RAID卡会定期更新阵列中的每个成员盘的age信息,这些信息存储分别存储在RAID卡NVRAM和每个硬盘的特定存储地址,每次更新都会覆盖之前的信息。这些age信息用于确保RAID阵列的完整性,并可以根据这些信息来判断掉盘。
提高多盘RAID阵列稳定性,首先需要修改RAID卡中写age信息的机制,从每次覆盖原信息变成写入新的信息,存储3次age信息,每次替换掉最旧的age信息。其次,RAID卡定时巡检阵列中的每个硬盘,更新age信息,当发现阵列成员变化时,每秒更新一次age信息,连续3次。最后,只有当3次的age信息都不一致时,RAID卡才会判断为RAID阵列成员变化,踢盘然后造成RAID阵列降级。这样,当RAID卡在更新age信息时,发生异常情况如强制断电或者挂死等情况时,由于只更新了一次成员盘的age信息,不会导致三次的成员盘的age信息都不同,所以不会被判断为阵列成员变化,不会导致阵列降级或者failed,提高多盘RAID阵列稳定性。
本发明还提供一种实现提高多储存盘阵列稳定性的测试方法的终端,包括:
存储器,用于存储计算机程序及提高多储存盘阵列稳定性的测试方法;
处理器,用于执行所述计算机程序及提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,以实现提高多储存盘阵列稳定性的测试方法的步骤。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (10)
1.一种提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,其特征在于,方法包括:
基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位;
配置巡检预设条件;
根据巡检预设条件,对阵列信息中的巡检标识位进行比对验证,判断阵列是否异常。
2.根据权利要求1所述的提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,其特征在于,
步骤基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位还包括:
配置储存盘巡检标识位编辑机制;
将储存盘巡检标识位编辑机制设置在覆盖写入原则。
3.根据权利要求1所述的提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,其特征在于,
步骤基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位还包括:
配置储存盘巡检标识位编辑机制;
将储存盘巡检标识位编辑机制设置在按照写入的次序排列原则。
4.根据权利要求1所述的提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,其特征在于,
步骤配置巡检预设条件还包括:
配置测试巡检时间点;
当达到测试巡检时间点时,开启储存盘巡检标识位写入操作;
每隔一预设写入时长对储存盘巡检标识位进行写入,直至达到储存盘巡检标识位的预设写入数量。
5.根据权利要求4所述的提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,其特征在于,
步骤配置巡检预设条件还包括:
将同一测试巡检时间点写入的至少两个储存盘巡检标识位信息作为阵列判断单元;
将阵列判断单元内部包括的至少两个储存盘巡检标识位信息是否相同作为巡检预设条件;
对阵列判断单元内部包括的至少两个阵列信息中的巡检标识位信息进行相互比对验证;
当信息一致时,判断为阵列正常。
6.根据权利要求1所述的提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,其特征在于,
步骤配置巡检预设条件还包括:
在同一测试巡检时间点配置比对验证预设信息;
将同一测试巡检时间点写入的每个储存盘巡检标识位信息分别与比对验证预设信息进行比对,判断是否相同,作为巡检预设条件;
当同一测试巡检时间点比对信息一致时,判断所述测试巡检时间点为阵列正常。
7.根据权利要求1所述的提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,其特征在于,
步骤基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位还包括:
配置起始测试巡检时间点和测试巡检间隔时长;
当达到起始测试巡检时间点后,开启储存盘巡检标识位第一次写入操作;
以及每隔一预设写入时长对储存盘巡检标识位进行写入,直至达到储存盘巡检标识位的预设写入数量;
每隔一测试巡检间隔时长,开启储存盘巡检标识位一次写入操作。
8.一种提高多储存盘阵列稳定性的测试***,其特征在于,包括:阵列信息配置模块,巡检预设模块以及比对判断模块;
阵列信息配置模块用于基于阵列信息,配置至少两个储存盘巡检标识位;
巡检预设模块用于配置巡检预设条件;
比对判断模块用于根据巡检预设条件,对阵列信息中的巡检标识位进行比对验证,判断阵列是否异常。
9.根据权利要求8所述的提高多储存盘阵列稳定性的测试***,其特征在于,
巡检预设模块还用于配置测试巡检时间点;当达到测试巡检时间点时,开启储存盘巡检标识位写入操作;每隔一预设写入时长对储存盘巡检标识位进行写入,直至达到储存盘巡检标识位的预设写入数量;
还用于在同一测试巡检时间点配置比对验证预设信息;
将同一测试巡检时间点写入的每个储存盘巡检标识位信息分别与比对验证预设信息进行比对,判断是否相同,作为巡检预设条件;
当同一测试巡检时间点比对信息一致时,判断所述测试巡检时间点为阵列正常。
10.一种实现提高多储存盘阵列稳定性的测试方法的终端,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序及提高多储存盘阵列稳定性的测试方法;
处理器,用于执行所述计算机程序及提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,以实现如权利要求1至7任意一项所述提高多储存盘阵列稳定性的测试方法的步骤。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910063023.XA CN109522200A (zh) | 2019-01-23 | 2019-01-23 | 一种提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,***及终端 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910063023.XA CN109522200A (zh) | 2019-01-23 | 2019-01-23 | 一种提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,***及终端 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN109522200A true CN109522200A (zh) | 2019-03-26 |
Family
ID=65799309
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201910063023.XA Pending CN109522200A (zh) | 2019-01-23 | 2019-01-23 | 一种提高多储存盘阵列稳定性的测试方法,***及终端 |
Country Status (1)
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CN (1) | CN109522200A (zh) |
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CN112148221A (zh) * | 2020-09-18 | 2020-12-29 | 北京浪潮数据技术有限公司 | 一种磁盘冗余阵列的巡检方法、装置、设备及存储介质 |
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CN106502843A (zh) * | 2016-10-09 | 2017-03-15 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种适用于raid卡的硬盘拔插稳定性测试方法 |
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- 2019-01-23 CN CN201910063023.XA patent/CN109522200A/zh active Pending
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