CN109522165B - 显示模组测试平台 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及显示技术领域,公开了一种显示模组测试平台,包括核心处理模块,核心处理模块可支持安装终端操作***,所述核心处理模块的显示输出端连接待测显示模组;所述待测显示模组包括触控模块,所述触控模块与所述核心处理模块之间通过I2C总线进行通讯。本发明实施例提供的显示模组测试平台对待测显示模组进行测试时,可以在待测显示模组上显示终端操作***界面,即在测试阶段便可在待测显示模组上逼真呈现终端整机的显示效果,有助于及时发现显示模组在终端整机中显示时易出现的不良现象,提高了产品良率。并且可结合终端操作***和触控动作对待测显示模组进行测试,最大程度呈现终端使用效果,增强显示模组测试平台的使用功能。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种显示模组测试平台。
背景技术
OLED(有机电致发光显示)由于具有自发光、广视角、对比度高等优点,已经逐渐成为显示技术领域中的主流技术。在OLED显示装置出厂之前,往往需要对其显示模组进行测试,以确保其可正常显示。目前市面上的测试设备无法在显示模组上逼真呈现终端整机的显示效果,容易导致异常模组无法被及时发现而流入终端市场。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供了一种显示模组测试平台,以解决市面上的显示模组测试设备无法在显示模组上逼真呈现终端整机的显示效果的问题。
本发明实施例提供了一种显示模组测试平台,包括:
核心处理模块,可支持安装终端操作***,所述核心处理模块的显示输出端连接待测显示模组;所述待测显示模组包括触控模块,所述触控模块与所述核心处理模块之间通过I2C总线进行通讯。
可选地,还包括:
存储模块,与所述核心处理模块连接,用于存储显示模组的型号与配置参数之间的对应关系;
所述核心处理模块用于根据所述存储模块中存储的对应关系确定当前待测显示模组的型号所对应的配置参数,并输出至所述待测显示模组。
可选地,还包括采集模块,分别与所述待测显示模组和所述核心处理模块连接,用于采集所述待测显示模组的电压和电流,并发送至所述核心处理模块。
可选地,所述终端操作***为Android操作***、iOS操作***、Windows操作***和Linux操作***中的任意一种。
可选地,还包括:
输入接口模块,分别连接所述核心处理模块和输入设备,所述输入设备用于控制所述待测显示模组。
可选地,所述输入接口模块为OTG接口模块,与所述OTG接口模块连接的所述输入设备为鼠标和/或键盘。
可选地,所述核心处理模块的显示输出端直接连接所述待测显示模组;
和/或所述核心处理模块的显示输出端通过桥接模块与所述待测显示模组连接,所述桥接模块用于将所述核心处理模块的显示输出信号转换为与所述待测显示模组相匹配的测试信号。
可选地,还包括:
UART接口模块,与所述核心处理模块连接,用于对所述待测显示模组的测试信息进行回传。
可选地,还包括:
存储接口模块,分别与所述核心处理模块和存储设备连接,所述存储设备用于存储测试图片和测试视频。
可选地,所述核心处理模块为基于ARM架构的处理器。
本发明实施例提供的技术方案,相对于现有技术具有以下优点:
本发明实施例提供的显示模组测试平台,包括核心处理模块,核心处理模块可支持安装终端操作***,且核心处理模块的显示输出端连接待测显示模组。因此,对待测显示模组进行测试时,可以在待测显示模组上显示终端操作***界面,即在测试阶段便可在待测显示模组上逼真呈现终端整机的显示效果,有助于及时发现显示模组在终端整机中显示时易出现的不良现象,提高了产品良率。
另外,核心处理模块与待测显示模组中的触控模块通过I2C总线通讯,即核心处理模块为待测显示模组提供了触控测试功能。由此在测试阶段,可结合终端操作***和触控动作对待测显示模组进行测试,最大程度呈现终端使用效果,增强显示模组测试平台的使用功能。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,核心处理模块为基于ARM架构的处理器。ARM架构处理器的执行效率较高,成本较低,且广泛应用于嵌入式***设计中。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,终端操作***为Android操作***、iOS操作***、Windows操作***和Linux操作***中的任意一种。即,根据不同应用领域的显示模组,可配合安装不同的操作***,选择较为广泛,提高了测试的多样性和兼容性。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,核心处理模块的显示输出端直接连接待测显示模组;和/或核心处理模块的显示输出端通过桥接模块与待测显示模组连接,桥接模块用于将核心处理模块的显示输出信号转换为与待测显示模组相匹配的测试信号。在实际测试过程中,核心处理模块可以将初始信号直接传输至待测显示模组,也可以通过桥接模块对初始信号进行转换再传输至待测显示模组。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,还包括输入接口模块,输入接口模块分别连接核心处理模块和输入设备,输入设备用于控制待测显示模组。由此,当待测显示模组端触控功能出现故障时,可通过输入设备对待测显示模组显示内容进行输入控制。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,输入接口模块为OTG接口模块,与OTG接口模块连接的输入设备为鼠标和/或键盘。OTG接口模块可以在没有PC host的情况下,实现设备之间的数据传送,随时随地都可以通过鼠标键盘对待测显示模组上的界面进行控制,操作非常便利。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,还包括UART接口模块,UART接口模块与核心处理模块连接,用于对待测显示模组的测试信息进行回传。UART是一种通用串行数据总线,用于异步通信,可以实现全双工传输和接收,在嵌入式设计中,UART用来与PC进行通信,在本实施例中,UART接口模块同时还与PC连接,起到了传送调试信息和测试结果回传的功能。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,还包括存储接口模块,存储接口模块分别与核心处理模块和存储设备连接,存储设备用于存储测试图片和测试视频。实际应用时,存储设备中可以存储待显示的图片和待播放的视频,当需要在待测显示模组上显示图片和视频时,可以通过存储接口模块将存储设备中预先存储的图片和视频发送至待测显示模组上进行测试。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出了本发明实施例的显示模组测试平台的结构示意图。
附图标记:
1-核心处理模块;2-待测显示模组;3-桥接模块;4-输入接口模块;5-UART接口模块;6-存储接口模块;7-电源模块;8-电源降压模块;9-存储模块;10-采集模块。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,还可以是两个元件内部的连通,可以是无线连接,也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
此外,下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
本发明实施例提供了一种显示模组测试平台,用于对待测显示模组2进行测试。如图1所示,该显示模组测试平台包括核心处理模块1,核心处理模块1可支持安装终端操作***,核心处理模块1的显示输出端连接待测显示模组2。
其中,本实施例中的核心处理模块1可以为基于ARM架构的处理器,例如ARM7系列、ARM9系列、ARM9E系列或者ARM10系列等,实际使用时可根据实际需求进行选择。ARM架构处理器广泛应用于嵌入式***设计中,功能丰富,开发简单,并且执行效率较高,成本较低,另外可实现灵活的***裁剪。本发明实施例选择ARM架构处理器作为核心处理模块1,有助于提高该测试平台的测试效率以及将终端操作***与待测显示模组2结合在一起进行测试。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,对待测显示模组2进行测试时,可以在待测显示模组2上显示终端操作***界面,即在测试阶段便可在待测显示模组2上逼真呈现终端整机的显示效果,有助于及时发现显示模组在终端整机中显示时易出现的不良现象并改进,提高了产品良率。
本实施例中,核心处理模块1所支持安装的终端操作***可以为Android操作***、iOS操作***、Windows操作***和Linux操作***中的任意一种。待测的显示模组应用范围非常广泛,可以应用于苹果手机、安卓手机、平板电脑或PC等各类电子设备中,且各类电子设备所使用的操作***不尽相同。本发明实施例中的核心处理模块1可支持上述多种操作***,即可针对不同应用领域的显示模组,安装与其对应的操作***,即,一个测试平台可以对多种不同应用领域的显示模组进行测试,兼容性强。
本实施例中,待测显示模组2包括驱动模块、显示模块以及触控模块,其中,触控模块与核心处理模块1之间通过I2C总线进行通讯。即核心处理模块1为待测显示模组2提供了触控测试功能。由此在测试阶段,可结合终端操作***和触控动作对待测显示模组2进行测试,最大程度呈现终端使用效果,增强显示模组测试平台的使用功能。
作为一种可选实施方式,本实施例提供的显示模组测试平台包括存储模块9,存储模块9与核心处理模块1连接,用于存储显示模组的型号与配置参数之间的对应关系,核心处理模块1用于根据存储模块9中存储的对应关系确定当前待测显示模组2的型号所对应的配置参数,并输出至待测显示模组2。
由于待测的显示模组的型号具有多种,每一种型号的显示模组的配置参数均不相同,本实施例中预先将显示模组的型号与配置参数的对应关系存储于存储模块中,当实际测试时,核心处理模块便可以根据该对应关系来确定当前需要测试的显示模组的型号对应的是哪种配置参数,进而可以结合正确的配置参数对显示模组进行测试。如此,通过本实施例提供的测试平台可以对多种型号的显示模组进行测试,适用性高。
本实施例中,配置参数可以包括显示模组的初始化代码、驱动时序、上电时序等参数,在此不一一列举。
作为一种可选实施方式,本实施例提供的显示模组测试平台包括采集模块10,采集模块10分别与待测显示模组2和核心处理模块1连接,用于采集待测显示模组2的电压和电流信息,并发送至核心处理模块1。如此可实时监控待测显示模组的电压电流信息,若发生异常,便于及时发现。
本实施例中,核心处理模块1的显示输出端可以直接连接待测显示模组2,即将ARM处理器发出的MIPI信号直接发送给待测显示模组2,如此便于直接控制;也可以通过桥接模块3与待测显示模组2连接,桥接模块3用于将核心处理模块1的显示输出信号转换为与待测显示模组2相匹配的测试信号,即将ARM处理器发出的EDP信号转换为待测显示模组2可识别的MIPI信号后,发送给待测显示模组2。其中,桥接模块3与核心处理模块1之间通过I2C总线连接。
上述两种方式可同时存在,也可以单独存在,视实际需求设置,在此不做过多限制。
作为一种可选实施方式,本实施例提供的显示模组测试平台还包括输入接口模块4,输入接口模块4分别连接核心处理模块1和输入设备,输入设备用于控制待测显示模组2。由此,当待测显示模组2端触控功能出现故障时,可通过输入设备对待测显示模组2显示内容进行输入控制。
优选地,输入接口模块4为OTG接口模块,与OTG接口模块连接的输入设备为鼠标和/或键盘。OTG接口模块可以在没有PC host的情况下,实现设备之间的数据传送,随时随地都可以通过鼠标键盘对待测显示模组2上的界面进行控制,操作非常便利。
作为一种可选实施方式,本实施例提供的显示模组测试平台还包括UART接口模块5,UART接口模块5与核心处理模块1连接,用于对待测显示模组2的测试信息进行回传。UART是一种通用串行数据总线,用于异步通信,可以实现全双工传输和接收,在嵌入式设计中,UART用来与PC进行通信,在本实施例中,UART接口模块5同时还与PC连接,起到了传送调试信息和测试结果回传的功能。
作为一种可选实施方式,本实施例提供的显示模组测试平台还包括存储接口模块6,存储接口模块6分别与核心处理模块1和存储设备连接,存储设备用于存储测试图片和测试视频。其中,外接的存储设备可以为存储卡或硬盘等。实际应用时,存储设备中可以存储待显示的图片和待播放的视频,当需要在待测显示模组2上显示图片和视频时,可以通过存储接口模块6将存储设备中预先存储的图片和视频发送至待测显示模组2上进行测试。
作为一种可选实施方式,本实施例提供的显示模组测试平台还包括电源模块7,电源模块7分别与待测显示模组2和核心处理模块1连接,用于为待测显示模组2和核心处理模块1供电,以保证其能够正常工作。
另外,电源模块7还与上述各种接口模块,例如输入接口模块4、UART接口模块5以及存储接口模块6连接,为输入接口模块4、UART接口模块5以及存储接口模块6供电。电源模块7还与桥接模块3连接,为桥接模块3进行供电。
具体实施时,电源模块7一般输出的是5V直流电压,其可以直接输出至核心处理模块1,但需经电源降压模块8对5V直流电压进行降压之后,再为上述接口模块、桥接模块3以及待测显示模组2供电。
下面对本实施例所提供的显示模组测试平台的初始化过程的具体示例进行介绍:
步骤1、搭建编译环境。具体为:安装虚拟机VMWare和Ubuntu12.04,进而可编译Android操作***。
步骤2、内核启动,加载eDP转MIPI桥接芯片驱动。
步骤3、桥接芯片申请I2C总线进行初始化。
步骤4、加载eDP总线驱动。
步骤5、通过HPD(热插拔)管脚检测桥接芯片是否接入,如果没有接入,执行步骤6;否则执行步骤7。
步骤6、停止加载eDP驱动流程。
步骤7、初始化AUX(辅助)通道。其中,AUX(辅助)通道采用差分传送方式,用于传输小宽带需求的数据,链路管理和设备控制。
步骤8、ARM处理通过AUX(辅助)通道读写显示参数和eDP配置数据等。
步骤9、eDP总线挂载成功,eDP信号输出。
步骤10、进行eDP link training阶段,包括调整链路层信号摆幅、电压强度、测试通断情况等。如果失败,则停止加载eDP驱动流程,否则执行步骤11。
步骤11、桥接芯片初始化待测显示模组。
步骤12、待测显示模组中的驱动芯片初始化电源模块,使其输出待测显示模组所需的电压。
步骤13、桥接芯片输出MIPI图像信号至待测显示模组,待测显示模组实现图像显示。
显然,上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例,而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。
Claims (9)
1.一种显示模组测试平台,所述显示模组测试平台用于对待测显示模组(2)进行测试,所述待测显示模组(2)应用于终端,其特征在于,所述显示模组测试平台包括:
核心处理模块(1),其安装所述终端的操作***,并且其显示输出端与所述待测显示模组(2)连接;
存储接口模块(6),其分别与所述核心处理模块(1)和存储设备连接,所述存储设备用于存储测试图片和测试视频;
其中,所述待测显示模组(2)包括触控模块,所述触控模块与所述核心处理模块(1)之间通过I2C总线进行通讯;
当需要在待测显示模组(2)上显示图片和视频时,通过所述存储接口模块(6)将所述存储设备中的所述测试图片和所述测试视频发送至所述待测显示模组(2)。
2.根据权利要求1所述的显示模组测试平台,其特征在于,还包括:
存储模块(9),与所述核心处理模块(1)连接,用于存储显示模组的型号与配置参数之间的对应关系;
所述核心处理模块(1)根据所述对应关系确定与所述待测显示模组(2)的型号相对应的配置参数,并将其输出至所述待测显示模组(2)。
3.根据权利要求1或2所述的显示模组测试平台,其特征在于,还包括采集模块(10),所述采集模块(10)分别与所述待测显示模组(2)和所述核心处理模块(1)连接,用于采集所述待测显示模组(2)的电压和电流,并将其发送至所述核心处理模块(1)。
4.根据权利要求1或2所述的显示模组测试平台,其特征在于,所述终端的操作***为Android操作***、iOS操作***、Windows操作***和Linux操作***中的任意一种。
5.根据权利要求1或2所述的显示模组测试平台,其特征在于,还包括:
输入接口模块(4),其分别与所述核心处理模块(1)和输入设备连接,所述输入设备用于控制所述待测显示模组(2)。
6.根据权利要求5所述的显示模组测试平台,其特征在于,所述输入接口模块(4)为OTG接口模块,所述输入设备为鼠标和/或键盘。
7.根据权利要求1或2所述的显示模组测试平台,其特征在于,
所述核心处理模块(1)的显示输出端与所述待测显示模组(2)直接连接;和/或
所述核心处理模块(1)的显示输出端通过桥接模块(3)与所述待测显示模组(2)连接,所述桥接模块(3)用于将所述核心处理模块(1)的显示输出信号转换为与所述待测显示模组(2)相匹配的测试信号。
8.根据权利要求1或2所述的显示模组测试平台,其特征在于,还包括:
UART接口模块(5),其与所述核心处理模块(1)连接,用于回传所述待测显示模组(2)的测试信息。
9.根据权利要求1或2所述的显示模组测试平台,其特征在于,
所述核心处理模块(1)为基于ARM架构的处理器。
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KR20210125330A (ko) * | 2020-04-08 | 2021-10-18 | 삼성전자주식회사 | 보안 데이터 처리 방법 및 이를 지원하는 전자 장치 |
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CN113099148B (zh) * | 2021-03-10 | 2023-02-24 | 山东英信计算机技术有限公司 | 一种vga输出信号分析装置、***及使用方法 |
CN114490479A (zh) * | 2022-02-17 | 2022-05-13 | 深圳市智微智能科技股份有限公司 | 一种基于安卓***的i2c设备兼容方法、装置、设备及介质 |
CN117194134B (zh) * | 2023-11-08 | 2024-01-30 | 武汉凌久微电子有限公司 | 一种基于国产操作***的显示输出自动测试方法及*** |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN204596389U (zh) * | 2015-03-03 | 2015-08-26 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | Usb虚拟串口和以太网口的液晶模组测试装置 |
CN106847144A (zh) * | 2017-03-23 | 2017-06-13 | 京东方科技集团股份有限公司 | 测试用转接模块、终端测试***及测试方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1442615B1 (en) * | 2001-11-09 | 2013-10-23 | Panasonic Corporation | Display device, receiver, and test apparatus |
US20080201506A1 (en) * | 2007-02-19 | 2008-08-21 | Inventec Corporation | Switch device for connection port access control |
CN201765405U (zh) * | 2010-05-18 | 2011-03-16 | 创维液晶器件(深圳)有限公司 | 一种液晶模组测试装置及液晶模组测试仪 |
TWI401593B (zh) * | 2010-08-19 | 2013-07-11 | Novatek Microelectronics Corp | 具有觸控面板的電子裝置及觸控面板更新方法 |
US20130018624A1 (en) * | 2011-07-15 | 2013-01-17 | Anuj Bhatnagar | System For Manufacturing Cables |
US10184882B2 (en) * | 2013-03-12 | 2019-01-22 | Fedex Supply Chain Logistics & Electroncis, Inc. | System and method for providing user guidance for electronic device processing |
TWI515556B (zh) * | 2013-10-09 | 2016-01-01 | 緯創資通股份有限公司 | 觸控裝置的檢測方法及其系統 |
US9594117B2 (en) * | 2013-11-22 | 2017-03-14 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Compact electronics test system having user programmable device interfaces and on-board functions adapted for use in proximity to a radiation field |
CN104036707A (zh) * | 2014-05-26 | 2014-09-10 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示设备检测装置和方法、显示*** |
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US10020899B2 (en) * | 2014-12-05 | 2018-07-10 | W2Bi, Inc. | Smart box for automatic feature testing of smart phones and other devices |
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CN104992648A (zh) * | 2015-06-04 | 2015-10-21 | 合肥华思电子技术有限公司 | 一种基于soc fpga的液晶模组测试*** |
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CN106526332B (zh) * | 2016-10-25 | 2020-01-17 | 华南师范大学 | 一种检测电容触摸屏扫描线上电容的***及方法 |
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN204596389U (zh) * | 2015-03-03 | 2015-08-26 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | Usb虚拟串口和以太网口的液晶模组测试装置 |
CN106847144A (zh) * | 2017-03-23 | 2017-06-13 | 京东方科技集团股份有限公司 | 测试用转接模块、终端测试***及测试方法 |
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