CN109509745A - 一种用于G·fast低容放电管阵列 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于G·fast低容放电管阵列,包括一个放电管芯片、四个低容二极管芯片、六个引线和一个塑封体;第一、第二、第三引线共用第一贴片基岛;第四、第五、第六引线分别具有第二、第三、第四贴片基岛,低容二极管芯片背面为阴极,表面为阳极。第一、第二、第三、第四低容二极管芯片阴极分别焊接第一、第一、第二、第四贴片基岛,阳极分别与第二、第四、第三、第三贴片基岛焊接。放电管芯片焊接第一贴片基岛,正面与第三贴片基岛焊接。放电管芯片、低容二极管芯片、引线均封装在塑封体内。本发明器件具有低电容、低残压、封装面积小等优点,非常适合用在G·fast等应用场合。
Description
技术领域
本发明涉及半导体功率器件技术领域,尤其涉及一种用于G•fast低容放电管阵列。
背景技术
随着云计算、大数据、物联网等应用的不断发展,人们对数据速率的要求越来越高;同时,激烈的市场竞争也使得网络运营商不得不改善网络结构,提供高速服务。毋庸置疑,光纤网络是未来发展的趋势,而且在铜基接入网络向纯光纤网络过渡的时期,光纤网络也逐步为用户熟知。但是,直接将光纤接入到用户端不是一种有利的做法,而且在某种情况下(例如在老旧建筑群中接入光纤)成本极高,为了找到一种既快捷又划算的方法提高千兆高速以太网,人们在一些实例中使用了铜线接入技术,也是G•fast。G•fast以最新的VDSL(超高速数字用户线路)技术为基础,它可以让电话线在250米距离内实现光纤的速度,解决光纤入户的“最后一公里”难题。G•fast集光纤接入技术和铜线接入技术的优点于一体,利用电话铜缆以光纤的传输速度向客户传输数据。
以G•fast最新技术的终端产品在楼宇网络传输过程中会面临着静电放电与雷击浪涌困扰,很多产品遭受静电和雷击的破坏而失效,从而造成巨大的经济损失。为了提高产品的雷击、静电等防护等级,需要在G•fast终端产品设计中增加浪涌保护器件。
图1为现有用于XDSL(数字用户线路)应用典型电路,通过双向低容TVS二极管用于差模浪涌保护。通过设计低容二极管与TVS串联降低器件的低容,可以适应在高速传输中对电容的要求;同时设计成双向对称的器件可以实现电路中差模信号的保护。但G•fast较XDSL速度更快,在应对复杂的雷击环境下对浪涌、电容和Vc要求更高。
现用的TVS器件无法满足G•fast应用场合。
图2为用于G•fast应用电路中的保护器件典型电路。PIN1与PIN3之间对差模信号进行保护,PIN1至PIN3对共模信号进行保护。
图3是用于G•fast保护电路中一种集成低容放电管阵列,由于T1为半导体放电管,半导体放电管的特性会比用于XDSL保护中的TVS器件残压更低。PIN1至PIN3,D11、T1和D22形成保护通道,D11与D22为低容二极管,半导体放电管T1与两个低容二极管D11、D22串联,所以通道间的电容由低容二极管决定。此集成低容放电管在浪涌电流、电容和残压较TVS器件更具优势,可以使用G•fast电路中浪涌防护。
发明内容
为解决上述缺陷,本发明提供一种低电容、低残压、封装面积小的用于G•fast低容放电管阵列。
为实现上述目的,本发明通过以下技术方案实现:一种用于G•fast低容放电管阵列,
包括第一引线、第二引线、第三引线、第四引线、第五引线、第六引线、第一低容二极管芯片、第二低容二极管芯片、第三低容二极管芯片、第四低容二极管芯片、放电管芯片和塑封体;
所述第一引线、第二引线、第三引线共用第一贴片基岛,第四引线、第五引线、第六引线分别具有第二贴片基岛、第三贴片基岛和第四贴片基岛;
所述第一低容二极管芯片、第二低容二极管芯片、第三低容二极管芯片和第四低容二极管芯片背面为阴极,表面为阳极;
所述第一低容二极管芯片的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第一引线对应的共用第一贴片基岛,第一低容二极管芯片的阳极通过焊线与第四引线对应的第二贴片基岛焊接连接;
所述第二低容二极管芯片的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第三引线对应的共用第一贴片基岛,第二低容二极管芯片的阳极通过焊线与第六引线对应的第四贴片基岛焊接连接;
所述放电管芯片的背面通过共晶或者导电胶焊接在第二引线对应的共用第一贴片基岛,放电管芯片的正面通过焊线与第五引线对应的第三贴片基岛焊接连接;
所述第三低容二极管芯片的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第四引线对应的第二贴片基岛,第三低容二极管芯片的阳极通过焊线与第五引线对应的第三贴片基岛焊接连接;
所述第四低容二极管芯片的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第六引线对应的第四贴片基岛,第四低容二极管芯片的阳极通过焊线与第五引线对应的第三贴片基岛焊接连接;
所述第一引线、第二引线、第三引线、第四引线、第五引线、第六引线、第一贴片基岛、第二贴片基岛、第三贴片基岛、第四贴片基岛、第一低容二极管芯片、第二低容二极管芯片、第三低容二极管芯片、第四低容二极管芯片和放电管芯片均封装在塑封体内。
进一步地,所述第一引线、第二引线、第三引线、第四引线、第五引线和第六引线各自具有相应的第一折弯端、第二折弯端、第三折弯端、第四折弯端、第五折弯端、第六折弯端,且第一折弯端、第二折弯端、第三折弯端、第四折弯端、第五折弯端、第六折弯端都位于塑封体外、且靠近塑封体的边缘处。
进一步地,所述第一引线、第二引线和第三引线并排布置,且第二引线位于第一引线和第三引线之间,所述第四引线、第五引线和第六引线并排布置,且第一引线、第二引线和第三引线的伸出方向分别与第四引线、第五引线和第六引线的伸出方向相反。
进一步地,所述第一引线、第二引线、第三引线相应的第一贴片基岛与第四引线、第五引线和第六引线各自相应的第二贴片基岛、第三贴片基岛、第四贴片基岛均是方形片状结构。
本发明的有益效果:采用上述低容放电管阵列够有效降低残压,增大浪涌能力,保证高速口信号传输,以克服现有技术的不足;同时此低容放电管阵列焊接在电子线路板上所占空间较小;生产过程中耗时端,生产效率高。
附图说明
图1为现有用于XDSL(数字用户线路)应用典型电路示意图。
图2为用于G•fast应用电路中的保护器件典型电路示意图。
图3为用于G•fast保护电路中集成低容放电管阵列示意图。
图4是根据本发明第1实施例的结构示意图。
图5是根据本发明第2实施例的结构示意图。
图6是根据本发明第3实施例的结构示意图。
图7是根据本发明第4实施例的结构示意图。
其中:1、第一引线,2、第二引线,3、第三引线,4、第四引线,5、第五引线,6、第六引线,7、第一低容二极管芯片,8、第二低容二极管芯片,9、第三低容二极管芯片,10、第四低容二极管芯片,11、放电管芯片,12、塑封体,1-1、第一贴片基岛,2-1、第二贴片基岛,3-1、第三贴片基岛,4-1、第四贴片基岛,1-2、第一折弯端,2-2、第二折弯端,3-2、第三折弯端,4-2、第四折弯端,5-2、第五折弯端,6-2、第六折弯端。
具体实施方式
以下结合附图以及给出的实施例,对本发明作进一步的说明,但并不局限于此。
实施例1,如图4所示,一种用于G•fast低容放电管阵列,包括第一引线1、第二引线2、第三引线3、第四引线4、第五引线5、第六引线6、第一低容二极管芯片7、第二低容二极管芯片8、第三低容二极管芯片9、第四低容二极管芯片10、放电管芯片11和塑封体12;
第一引线1、第二引线2、第三引线3共用第一贴片基岛1-1,第四引线4、第五引线5、第六引线6分别具有第二贴片基岛2-1、第三贴片基岛3-1和第四贴片基岛4-1;
第一低容二极管芯片7、第二低容二极管芯片8、第三低容二极管芯片9和第四低容二极管芯片10背面为阴极,表面为阳极;
第一低容二极管芯片7的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第一引线1对应的共用第一贴片基岛1-1,第一低容二极管芯片7的阳极通过焊线与第四引线4对应的第二贴片基岛2-1焊接连接;
第二低容二极管芯片8的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第三引线3对应的共用第一贴片基岛1-1,第二低容二极管芯片8的阳极通过焊线与第六引线6对应的第四贴片基岛4-1焊接连接;
放电管芯片11的背面通过共晶或者导电胶焊接在第二引线2对应的共用第一贴片基岛1-1,放电管芯片11的正面通过焊线与第五引线5对应的第三贴片基岛3-1焊接连接;
第三低容二极管芯片9的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第四引线4对应的第二贴片基岛2-1,第三低容二极管芯片9的阳极通过焊线与第五引线5对应的第三贴片基岛3-1焊接连接;
第四低容二极管芯片10的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第六引线6对应的第四贴片基岛4-1,第四低容二极管芯片10的阳极通过焊线与第五引线5对应的第三贴片基岛3-1焊接连接;
第一引线1、第二引线2、第三引线3、第四引线4、第五引线5、第六引线6、第一贴片基岛1-1、第二贴片基岛2-1、第三贴片基岛3-1、第四贴片基岛4-1、第一低容二极管芯片7、第二低容二极管芯片8、第三低容二极管芯片9、第四低容二极管芯片10和放电管芯片11均封装在塑封体12内。
为了方便焊接,第一引线1、第二引线2、第三引线3、第四引线4、第五引线5和第六引线6各自具有相应的第一折弯端1-2、第二折弯端2-2、第三折弯端3-2、第四折弯端4-2、第五折弯端5-2、第六折弯端6-2,且第一折弯端1-2、第二折弯端2-2、第三折弯端3-2、第四折弯端4-2、第五折弯端5-2、第六折弯端6-2都位于塑封体12外,并靠近塑封体12的边缘处。
为了使得本发明更加合理、紧凑,第一引线1、第二引线2和第三引线3并排布置,且第二引线2位于第一引线1和第三引线3之间,第四引线4、第五引线5和第六引线6并排布置,且第一引线1、第二引线2和第三引线3的伸出方向分别与第四引线4、第五引线5和第六引线6的伸出方向相反。
为了便于与低容二极管芯片与放电管芯片连接,第一引线1、第二引线2、第三引线3相应的第一贴片基岛1-1与第四引线4、第五引线5和第六引线6各自相应的第二贴片基岛2-1、第三贴片基岛3-1、第四贴片基岛4-1均是方形片状结构。
实施例2,如图5,一种用于G•fast低容放电管阵列,包括第一引线1、第二引线2、第三引线3、第四引线4、第五引线5、第六引线6、第一低容二极管芯片7、第二低容二极管芯片8、第三低容二极管芯片9、第四低容二极管芯片10、放电管芯片11和塑封体12;
第一引线1、第二引线2、第三引线3共用第一贴片基岛1-1,第四引线4、第五引线5、第六引线6分别具有第二贴片基岛2-1、第三贴片基岛3-1和第四贴片基岛4-1;
第一低容二极管芯片7、第二低容二极管芯片8、第三低容二极管芯片9和第四低容二极管芯片10背面为阳极,表面为阴极;
第一低容二极管芯片7的阳极通过共晶或者导电胶焊接在第四引线4对应的第二贴片基岛2-1,第一低容二极管芯片7的阴极通过焊线与第一引线1对应的第一贴片基岛1-1焊接连接;
第二低容二极管芯片8的阳极通过共晶或者导电胶焊接在第六引线6对应的第四贴片基岛4-1,第二低容二极管芯片7的阴极通过焊线与第三引线3对应的第一贴片基岛1-1焊接连接;
第三低容二极管芯片9的阳极通过共晶或者导电胶焊接在第五引线5对应的第三贴片基岛3-1,第三低容二极管芯片9的阴极通过焊线与第四引线4对应的第二贴片基岛2-1焊接连接;
第四低容二极管芯片10的阳极通过共晶或者导电胶焊接在第五引线5对应的第三贴片基岛3-1,第四低容二极管芯片10的阴极通过焊线与第六引线6对应的第四贴片基岛4-1焊接连接;
放电管芯片11的背面通过共晶或者导电胶焊接在第二引线2对应的共用第一贴片基岛1-1,放电管芯片11的正面通过焊线与第五引线5对应的第三贴片基岛3-1焊接连接。
本发明第2实施例提供的低容放电管阵列的其他部分与本发明第1实施例提供的低容放电管阵列相同,在此不再重复叙述。
实施例3,如图6,一种用于G•fast低容放电管阵列,包括第一引线1、第二引线2、第三引线3、第四引线4、第五引线5、第六引线6、第一低容二极管芯片7、第二低容二极管芯片8、第三低容二极管芯片9、第四低容二极管芯片10、放电管芯片11和塑封体12;
第一引线1、第二引线2、第三引线3共用第一贴片基岛1-1,第四引线4、第五引线5、第六引线6分别具有第二贴片基岛2-1、第三贴片基岛3-1和第四贴片基岛4-1;
第一低容二极管芯片7、第二低容二极管芯片8背面为阴极,正面为阳极;
第三低容二极管芯片9和第四低容二极管芯片10背面为阳极,表面为阴极;
第一低容二极管芯片7的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第一引线1对应的第一贴片基岛1-1,第一低容二极管芯片7的阳极通过焊线与第四引线4对应的第二贴片基岛2-1焊接连接;
第二低容二极管芯片8的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第三引线3对应的第一贴片基岛1-1,第二低容二极管芯片7的阳极通过焊线与第六引线6对应的第四贴片基岛4-1焊接连接;
第三低容二极管芯片9的阳极通过共晶或者导电胶焊接在第五引线5对应的第三贴片基岛3-1,第三低容二极管芯片9的阴极通过焊线与第四引线4对应的第二贴片基岛2-1焊接连接;
第四低容二极管芯片10的阳极通过共晶或者导电胶焊接在第五引线5对应的第三贴片基岛3-1,第四低容二极管芯片10的阴极通过焊线与第六引线6对应的第四贴片基岛4-1焊接连接;
放电管芯片11的背面通过共晶或者导电胶焊接在第二引线2对应的共用第一贴片基岛1-1,放电管芯片11的正面通过焊线与第五引线5对应的第三贴片基岛3-1焊接连接。
本发明第3实施例提供的低容放电管阵列的其他部分与本发明第1实施例提供的低容放电管阵列相同,在此不再重复叙述。
实施例4,如图7,一种用于G•fast低容放电管阵列,包括第一引线1、第二引线2、第三引线3、第四引线4、第五引线5、第六引线6、第一低容二极管芯片7、第二低容二极管芯片8、第三低容二极管芯片9、第四低容二极管芯片10、放电管芯片11和塑封体12;
第一引线1、第二引线2、第三引线3共用第一贴片基岛1-1,第四引线4、第五引线5、第六引线6分别具有第二贴片基岛2-1、第三贴片基岛3-1和第四贴片基岛4-1;
第一低容二极管芯片7、第二低容二极管芯片8背面为阳极,正面为阴极;
第三低容二极管芯片9和第四低容二极管芯片10背面为阴极,表面为阳极;
第一低容二极管芯片7的阳极通过共晶或者导电胶焊接在第四引线4对应的第二贴片基岛2-1,第一低容二极管芯片7的阴极通过焊线与第一引线1对应的第一贴片基岛1-1焊接连接;
第二低容二极管芯片8的阳极通过共晶或者导电胶焊接在第六引线6对应的第四贴片基岛4-1,第二低容二极管芯片7的阴极通过焊线与第三引线3对应的第一贴片基岛1-1焊接连接;
第三低容二极管芯片9的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第四引线4对应的第二贴片基岛2-1,第三低容二极管芯片9的阳极通过焊线与第五引线5对应的第三贴片基岛3-1焊接连接;
第四低容二极管芯片10的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第六引线6对应的第四贴片基岛4-1,第四低容二极管芯片10的阳极通过焊线与第五引线5对应的第三贴片基岛3-1焊接连接;
放电管芯片11的背面通过共晶或者导电胶焊接在第二引线2对应的共用第一贴片基岛1-1,放电管芯片11的正面通过焊线与第五引线5对应的第三贴片基岛3-1焊接连接。
本发明第4实施例提供的低容放电管阵列的其他部分与本发明第1实施例提供的低容放电管阵列相同,在此不再重复叙述。
Claims (4)
1.一种用于G•fast低容放电管阵列,其特征在于:
包括第一引线、第二引线、第三引线、第四引线、第五引线、第六引线、第一低容二极管芯片、第二低容二极管芯片、第三低容二极管芯片、第四低容二极管芯片、放电管芯片和塑封体;
所述第一引线、第二引线、第三引线共用第一贴片基岛,第四引线、第五引线、第六引线分别具有第二贴片基岛、第三贴片基岛和第四贴片基岛;
所述第一低容二极管芯片、第二低容二极管芯片、第三低容二极管芯片和第四低容二极管芯片背面为阴极,表面为阳极;
所述第一低容二极管芯片的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第一引线对应的共用第一贴片基岛,第一低容二极管芯片的阳极通过焊线与第四引线对应的第二贴片基岛焊接连接;
所述第二低容二极管芯片的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第三引线对应的共用第一贴片基岛,第二低容二极管芯片的阳极通过焊线与第六引线对应的第四贴片基岛焊接连接;
所述放电管芯片的背面通过共晶或者导电胶焊接在第二引线对应的共用第一贴片基岛,放电管芯片的正面通过焊线与第五引线对应的第三贴片基岛焊接连接;
所述第三低容二极管芯片的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第四引线对应的第二贴片基岛,第三低容二极管芯片的阳极通过焊线与第五引线对应的第三贴片基岛焊接连接;
所述第四低容二极管芯片的阴极通过共晶或者导电胶焊接在第六引线对应的第四贴片基岛,第四低容二极管芯片的阳极通过焊线与第五引线对应的第三贴片基岛焊接连接;
所述第一引线、第二引线、第三引线、第四引线、第五引线、第六引线、第一贴片基岛、第二贴片基岛、第三贴片基岛、第四贴片基岛、第一低容二极管芯片、第二低容二极管芯片、第三低容二极管芯片、第四低容二极管芯片和放电管芯片均封装在塑封体内。
2.根据权利要求1所述的用于G•fast低容放电管阵列,其特征在于:所述第一引线、第二引线、第三引线、第四引线、第五引线和第六引线各自具有相应的第一折弯端、第二折弯端、第三折弯端、第四折弯端、第五折弯端、第六折弯端,且第一折弯端、第二折弯端、第三折弯端、第四折弯端、第五折弯端、第六折弯端都位于塑封体外、且靠近塑封体的边缘处。
3.根据权利要求1所述的用于G•fast低容放电管阵列,其特征在于:所述第一引线、第二引线和第三引线并排布置,且第二引线位于第一引线和第三引线之间,所述第四引线、第五引线和第六引线并排布置,且第一引线、第二引线和第三引线的伸出方向分别与第四引线、第五引线和第六引线的伸出方向相反。
4.根据权利要求1所述的用于G•fast低容放电管阵列,其特征在于:所述第一引线、第二引线、第三引线相应的第一贴片基岛与第四引线、第五引线和第六引线各自相应的第二贴片基岛、第三贴片基岛、第四贴片基岛均是方形片状结构。
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