CN109506774A - 一种低温辐射计黑体腔光束对准装置及对准方法 - Google Patents
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- 230000007246 mechanism Effects 0.000 title claims abstract description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 12
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 30
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims abstract description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 12
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 8
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 8
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 6
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 claims description 5
- 239000004744 fabric Substances 0.000 claims description 5
- 239000011152 fibreglass Substances 0.000 claims description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 5
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 claims description 5
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 4
- 239000013081 microcrystal Substances 0.000 claims description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 14
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0411—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using focussing or collimating elements, i.e. lenses or mirrors; Aberration correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
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Abstract
本发明公开了一种低温辐射计黑体腔光束对准装置及对准方法,属于光辐射功率测量领域,包括离轴抛物面镜、离轴抛物面镜底座、低温辐射计黑体腔、四象限探测器、直流放大器和隔热基座;其中,离轴抛物面镜安装在离轴抛物面镜底座上,离轴抛物面镜的镜面中心设置有离轴抛物面镜中心孔,离轴抛物面镜与低温辐射计黑体腔共轴安装,且两者紧贴放置,四象限探测器安装在隔热基座上。本发明的离轴抛物面镜与低温辐射计黑体腔共轴安装,当光束调整到离轴抛物面镜的镜面中心时,可最大限度保证光束在低温辐射计黑体腔轴线位置,并正入射;进入低温辐射计的激光光束为空间滤波后的线偏振准直光束,光束质量极好,杂散光较少。
Description
技术领域
本发明属于光辐射功率测量领域,具体涉及一种低温辐射计黑体腔光束对准装置及对准方法。
背景技术
低温辐射计是目前国际公认的光辐射功率测量最高计量基准,利用低温、真空和超导技术,将光辐射功率测量完全等效为电功率测量,其测量不确定度优于10-5量级。在空间载荷、遥感成像、气候变化、环境监测等领域发挥了基础性的关键作用。
基于电替代测量技术约在1891年提出,用于对普朗克定律的验证。上世纪90年代,英国NPL、美国NIST和德国PTB等国际计量机构相继研制出电替代测量的低温辐射计,建立了光辐射功率测量基标准。由于低温辐射计测量精度较高,杂散光对测量准确度将产生很大影响。国外计量技术机构在研制低温辐射计时,相继开展了低温辐射计黑体腔光束对准技术研究工作。英国NPL采用在黑体腔前放置中心开孔四象限探测器(A mechanicallycooled portable cryogenic radiometer,1995Metrologia 32 581),用以进行光束对准定位和杂散光测量。该方案结构简单,但需要定制适用于低温下的中心开孔四象限探测器,这成为限制该方案使用的最大难点。国内低温辐射计研制较晚,目前还没有开展相关实施技术的研究工作。
低温辐射计黑体腔多采用圆柱腔结构,被测光辐射经布儒斯特窗后垂直入射到黑体腔底面,经多次反射后被黑体腔吸收,将光辐射测量完全等效为电功率测量。目前低温辐射计黑体腔光束对准存在以下问题:(1)光辐射是否入射到黑体腔口径平面中心;(2)低温辐射计黑体腔光辐射对准难以进行精确量化调节。
发明内容
针对现有技术中存在的上述问题,本发明提出了一种低温辐射计黑体腔光束对准装置及对准方法,设计合理,克服了现有技术的不足,具有良好的实用性和可操作性。
为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种低温辐射计黑体腔光束对准装置,包括离轴抛物面镜、离轴抛物面镜底座、低温辐射计黑体腔、四象限探测器、直流放大器和隔热基座;其中,离轴抛物面镜安装在离轴抛物面镜底座上,离轴抛物面镜的镜面中心设置有离轴抛物面镜中心孔,离轴抛物面镜与低温辐射计黑体腔共轴安装,且两者紧贴放置,四象限探测器安装在隔热基座上,离轴抛物面镜的反射焦点位于四象限探测器的光敏面,四象限探测器外接四路直流放大器;
离轴抛物面镜中心孔,被配置为用于作为入射孔径光阑,阻挡杂散光进入低温辐射计黑体腔;
直流放大器,被配置为用于对四象限探测器的每个象限输出的直流电信号进行104~107倍的放大,方便信号采集与显示。
优选地,离轴抛物面镜采用微晶玻璃材料,其反射面被抛光并镀有金层。
优选地,离轴抛物面镜底座选用中心开孔纯铜材料,外表面镀有金层,与离轴抛物面镜中心孔保持同轴。
优选地,隔热基座选用环氧树脂玻璃纤维布复合材料。
此外,本发明还提到一种低温辐射计黑体腔光束对准方法,该方法采用如上所述的一种低温辐射计黑体腔光束对准装置,具体包括如下步骤:
步骤1:经空间滤波后线偏振准直的激光光束经过布儒斯特窗后,沿离轴抛物面镜的轴线水平入射,穿过离轴抛物面镜中心孔,进入低温辐射计黑体腔;
步骤2:激光光束杂散光入射到离轴抛物面镜的反射面上,经离轴抛物面镜的反射,聚焦后,入射到放置在隔热基座上的四象限探测器的中心位置;
步骤3:通过四象限探测器连接的四路直流放大器,对每个象限输出的电信号进行104~107倍的放大;
步骤4:通过读取四象限探测器的各个象限的数值,判断激光光束偏离黑体腔的轴线的量值,进而对激光光束位置进行调整。
本发明所带来的有益技术效果:
1)离轴抛物面镜与低温辐射计黑体腔共轴安装,且两者紧贴放置,当光束调整到离轴抛物面镜的镜面中心时,可最大限度保证光束在低温辐射计黑体腔轴线位置,并正入射;
2)进入低温辐射计的激光光束为空间滤波后的线偏振准直光束,光束质量极好,杂散光在纳瓦量级,因此,离轴抛物面镜收集的杂散光反射到四象限探测器,还需要对响应信号进行放大处理,一般需要进行104~107倍的放大,便于进行光束方位识别和调整;
3)微晶玻璃具有极小的温度膨胀系数,低温辐射计降温过程可大幅减小抛物面镜形变对光束定位的影响;
4)离轴抛物面镜反射面被抛光并镀有金层,使得离轴抛物面镜在光谱范围:490nm~20μm具有大于96%的反射率,可最大限度反射杂散光;
5)低温辐射计黑体腔一般安装于纯铜材料的热沉板上,为保证离轴抛物面镜与低温辐射计黑体腔具有相同的温度膨胀系数,离轴抛物面镜基座选用纯铜材料;
6)四象限探测器安装基座选用隔热效果极好的G10材料(环氧树脂玻璃纤维布复合材料),可保证四象限探测器工作于合适温区。
附图说明
图1为一种低温辐射计黑体腔光束对准装置的结构示意图;
其中,1-离轴抛物面镜轴线;2-离轴抛物面镜;3-离轴抛物面镜底座;4-低温辐射计黑体腔;5-离轴抛物面镜中心孔;6-反射光束轴线;7-四象限探测器;8-隔热基座;9-直流放大器;
图2为离轴抛物面镜的左视图。
具体实施方式
下面结合附图以及具体实施方式对本发明作进一步详细说明:
实施例1:
如图1所示,一种低温辐射计黑体腔光束对准装置,包括离轴抛物面镜2、离轴抛物面镜底座3、低温辐射计黑体腔4、四象限探测器7和隔热基座8;其中,离轴抛物面镜2安装在离轴抛物面镜底座3上,离轴抛物面镜2的镜面中心设置有离轴抛物面镜中心孔5,离轴抛物面镜2与低温辐射计黑体腔4共轴安装,且两者紧贴放置,四象限探测器7安装在隔热基座8上,离轴抛物面镜2的反射焦点位于四象限探测器7的光敏面,四象限探测器7连接四路直流放大器9;
离轴抛物面镜中心孔5,被配置为用于作为入射孔径光阑孔,阻挡杂散光进入低温辐射计黑体腔4;
直流放大器9,被配置为用于对四象限探测器7的每个象限输出的电信号进行104~107倍的放大。
离轴抛物面镜2采用微晶玻璃材料,其反射面被抛光并镀有金层。
离轴抛物面镜基底3选用中心开孔纯铜材料,外表面镀有金层,与离轴抛物面镜中心孔5保持一致。
隔热基座8选用环氧树脂玻璃纤维布复合材料。
实施例2
在上述实施例1的基础上,本发明还提到一种低温辐射计黑体腔光束对准方法,具体过程如下:经空间滤波后线偏振准直的激光光束经过布儒斯特窗后,沿离轴抛物面镜轴线1水平入射,穿过抛物面镜中心孔5,进入低温辐射计黑体腔4,离轴抛物面镜轴线与低温辐射计黑体腔4共轴安装;激光光束杂散光入射到离轴抛物面镜2的反射面上;经离轴抛物面镜2的反射,聚焦后,入射到放置在隔热基座8上的四象限探测器7的中心位置,四象限探测器7连接四路直流放大器9,对每个象限输出的电信号进行104~107倍的放大,通过四象限探测器7的各个象限的读数大小,判断激光光束偏离低温辐射计黑体腔4的轴线的量值,进而对光束进行调整定位。
本发明的关键点:
1)采用中心开孔离轴抛物面镜-四象限探测器组合型结构;
2)离轴抛物面镜采用微晶玻璃材料,反射面高精度抛光并镀金;
3)离轴抛物面镜底座采用纯铜材料,外表面镀有金层;
4)四象限探测器隔热基座选用G10(环氧树脂玻璃纤维布复合材料)。
当然,上述说明并非是对本发明的限制,本发明也并不仅限于上述举例,本技术领域的技术人员在本发明的实质范围内所做出的变化、改型、添加或替换,也应属于本发明的保护范围。
Claims (5)
1.一种低温辐射计黑体腔光束对准装置,其特征在于:包括离轴抛物面镜、离轴抛物面镜底座、低温辐射计黑体腔、四象限探测器、直流放大器和隔热基座;其中,离轴抛物面镜安装在离轴抛物面镜底座上,离轴抛物面镜的镜面中心设置有离轴抛物面镜中心孔,离轴抛物面镜与低温辐射计黑体腔共轴安装,且两者紧贴放置,四象限探测器安装在隔热基座上,离轴抛物面镜的反射焦点位于四象限探测器的光敏面,四象限探测器连接四路直流放大器;
离轴抛物面镜中心孔,被配置为用于作为入射孔径光阑,阻挡杂散光进入低温辐射计黑体腔;
直流放大器,被配置为用于对四象限探测器的每个象限输出的直流电信号进行104~107倍的放大,方便信号采集与显示。
2.根据权利要求1所述的低温辐射计黑体腔光束对准装置,其特征在于:离轴抛物面镜采用微晶玻璃材料,其反射面被抛光并镀有金层。
3.根据权利要求1所述的低温辐射计黑体腔光束对准装置,其特征在于:离轴抛物面镜底座选用中心开孔纯铜材料,外表面镀有金层,与离轴抛物面镜中心孔保持同轴。
4.根据权利要求1所述的低温辐射计黑体腔光束对准装置,其特征在于:隔热基座选用环氧树脂玻璃纤维布复合材料。
5.一种低温辐射计黑体腔光束对准方法,其特征在于:采用如权利要求1所述的一种低温辐射计黑体腔光束对准装置,具体包括如下步骤:
步骤1:经空间滤波后线偏振准直的激光光束经过布儒斯特窗后,沿离轴抛物面镜的轴线水平入射,穿过离轴抛物面镜中心孔,进入低温辐射计黑体腔;
步骤2:激光光束杂散光入射到离轴抛物面镜的反射面上,经离轴抛物面镜的反射,聚焦后,入射到放置在隔热基座上的四象限探测器的中心位置;
步骤3:通过四象限探测器连接的四路直流放大器,对每个象限输出的电信号进行104~107倍的放大;
步骤4:通过读取四象限探测器的各个象限的数值,判断激光光束偏离黑体腔的轴线的量值,进而对激光光束位置进行调整。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811631469.XA CN109506774A (zh) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | 一种低温辐射计黑体腔光束对准装置及对准方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811631469.XA CN109506774A (zh) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | 一种低温辐射计黑体腔光束对准装置及对准方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN109506774A true CN109506774A (zh) | 2019-03-22 |
Family
ID=65756887
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201811631469.XA Pending CN109506774A (zh) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | 一种低温辐射计黑体腔光束对准装置及对准方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN109506774A (zh) |
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20190322 |
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