CN109444581B - 一种干式空心电抗器的测试方法及测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种空心电抗器的测试方法及测试装置，本发明通过获取电抗器的几何参数，来建立电抗器的几何测试模型，并对几何测试模型刨分后通过设定的测试参数，来得到电抗器的线圈短路时电抗器的性能曲线图，实现对电抗器进行分析，无需对电抗器进行破坏性试验，可以保证电抗器的使用寿命和使用效率，方便电抗器的性能进行检测，降低成本。

Description

一种干式空心电抗器的测试方法及测试装置

技术领域

本发明涉及电抗器技术领域，尤其是涉及一种干式空心电抗器的测试方法及测试装置。

背景技术

电抗器也叫电感器，一个导体通电时就会在其所占据的一定空间范围产生磁场，所有能载流的电导体都有一般意义上的电感性质。然而通电长直导体的电感较小，所产生的磁场不强，而实际的电抗器是导线绕成螺线管形式，称空心电抗器，电抗器按结构及冷却介质的不同，又可分为空心式、铁心式、干式、油浸式等。

电抗器匝间短路的问题是电力***一个重要的问题，严重影响电抗器的实际使用，而对于电抗器匝间短路故障检测的研究，目前常用的方式为匝间绝缘检测，但是匝间绝缘检测这种方法是一种破坏性的试验，会降低电抗器的使用效率，缩短电抗器的使用寿命，而且成本比较高。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种空心电抗器的测试方法和测试装置，以确保电抗器的完好的情况下，方便对空心电抗器进行检测，降低成本。

本发明实施例提供了一种空心电抗器的测试方法，所述方法包括：

获取电抗器的几何参数；

基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型；

对所述几何测试模型进行网格刨分；

对网格刨分后的所述几何测试模型设定测试参数；

基于所述测试参数，生成所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图。

进一步的，所述几何参数包括所述电抗器的线圈高度、线圈外径和线圈内径，所述基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型，包括：

建立二维平面坐标系，其中，在所述二维平面坐标系中，第一坐标轴沿所述电抗器的线圈的直径的延伸方向，第二坐标轴沿所述电抗器的线圈的高度的延伸方向；

基于所述线圈外径和所述线圈内径，确定表示所述电抗器每匝线圈纵截面的几何图形的几何数据，其中，所述几何数据包括所述几何图形的边长；

基于所述线圈高度，确定每个所述几何图形展示在所述二维平面坐标系时的中心点坐标；

基于每个所述中心点坐标和所述几何数据，在所述二维平面坐标系中生成包括有多个所述几何图形的几何测试模型，其中，多个所述几何图形呈矩阵排布。

进一步的，所述几何参数包括所述电抗器的线圈高度、线圈外径和线圈内径，所述基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型，包括：

建立三维空间坐标系，其中，在所述三维空间坐标系中，第一坐标轴和第二坐标轴所在的平面与所述电抗器的线圈的横截面相平行，第三坐标轴沿所述电抗器的线圈的高度方向延伸；

基于所述线圈高度，确定所述电抗器每匝线圈的中线在所述三维空间坐标系中的位置；

基于每个所述中线的位置，确定每个所述中线对应的旋转点，其中，每个所述旋转点与对应的所述中线的垂直距离为预设距离；

按照所述线圈中电流的流向，使每个所述旋转点围绕对应的所述中线旋转得到多匝线圈，生成包括有多匝线圈的几何测试模型。

进一步的，所述对所述几何测试模型进行网格刨分的步骤，包括：

确定所述几何测试模型所处的空气场中，围绕所述几何测试模型预设范围内的空气区域；

按照预设的刨分规则，将所述几何测试模型和所述空气区域进行网格刨分。

进一步的，所述测试参数包括所述几何测试模型中发生短路的线圈的位置和数量。

进一步的，在所述基于所述测试参数，生成所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图之后，所述方法包括：

基于所述性能曲线图，确定所述电抗器的故障情况。

本发明实施例还提供一种空心电抗器的测试装置，所述测试装置包括：

获取模块，用于获取电抗器的几何参数；

建立模块，用于基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型；

刨分模块，用于对所述几何测试模型进行网格刨分；

设定模块，用于对网格刨分后的所述几何测试模型设定测试参数；

生成模块，用于基于所述测试参数，生成所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图。

进一步的，所述几何参数包括所述电抗器的线圈高度、线圈外径和线圈内径，所述建立模块包括：

第一建立单元，用于建立二维平面坐标系，其中，在所述二维平面坐标系中，第一坐标轴沿所述电抗器的线圈的直径的延伸方向，第二坐标轴沿所述电抗器的线圈的高度的延伸方向；

第一确定单元，用于基于所述线圈外径和所述线圈内径，确定表示所述电抗器每匝线圈纵截面的几何图形的几何数据，其中，所述几何数据包括所述几何图形的边长；

第二确定单元，用于基于所述线圈高度，确定每个所述几何图形展示在所述二维平面坐标系时的中心点坐标；

第一生成单元，用于基于每个所述中心点坐标和所述几何数据，在所述二维平面坐标系中生成包括有多个所述几何图形的几何测试模型，其中，多个所述几何图形呈矩阵排布。

进一步的，所述几何参数包括所述电抗器的线圈高度、线圈外径和线圈内径，所述建立模块包括：

第二建立单元，用于建立三维空间坐标系，其中，在所述三维空间坐标系中，第一坐标轴和第二坐标轴所在的平面与所述电抗器的线圈的横截面相平行，第三坐标轴沿所述电抗器的线圈的高度方向延伸；

第三确定单元，用于基于所述线圈高度，确定所述电抗器每匝线圈的中线在所述三维空间坐标系中的位置；

第四确定单元，用于基于每个所述中线的位置，确定每个所述中线对应的旋转点，其中，每个所述旋转点与对应的所述中线的垂直距离为预设距离；

第二生成单元，用于按照所述线圈中电流的流向，使每个所述旋转点围绕对应的所述中线旋转得到多匝线圈，生成包括有多匝线圈的几何测试模型。

进一步的，所述刨分模块包括：

第五确定单元，用于确定所述几何测试模型所处的空气场中，围绕所述几何测试模型预设范围内的空气区域；

刨分单元，用于按照预设的刨分规则，将所述几何测试模型和所述空气区域进行网格刨分。

进一步的，所述测试参数包括所述几何测试模型中发生短路的线圈的位置和数量。

进一步的，所述测试装置还包括：

确定模块，用于基于所述性能曲线图，确定所述电抗器的故障情况。

本发明实施例还提供一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行如上述的空心电抗器的测试方法的步骤。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行如上述的空心电抗器的测试方法的步骤。

本发明实施例提供的空心电抗器的测试方法及测试装置，获取电抗器的几何参数；基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型；对所述几何测试模型进行网格刨分；对网格刨分后的所述几何测试模型设定测试参数；基于所述测试参数，生成所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图。与现有技术中的空心电抗器的测试方法相比，本发明通过获取电抗器的几何参数，来建立电抗器的几何测试模型，并对几何测试模型刨分后通过设定的测试参数，来得到电抗器的线圈短路时电抗器的性能曲线图，实现对电抗器进行分析，无需对电抗器进行破坏性试验，可以保证电抗器的使用寿命和使用效率，方便电抗器的性能进行检测，降低成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为一种可能的应用场景下的***架构图；

图2为本发明一实施例提供的空心电抗器的测试方法的流程图；

图3为本发明另一实施例提供的空心电抗器的测试方法的流程图；

图4为几何测试模型是二维模型时的示意图；

图5为本发明一实施例提供的空心电抗器的测试装置的结构图之一；

图6为本发明一实施例提供的空心电抗器的测试装置的结构图之二；

图7为图5中所示建立模块的结构图之一；

图8为图5中所示建立模块的结构图之二；

图9为图5中所示刨分模块的结构图；

图10为本发明一实施例提供的电子设备的结构图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

首先，对本发明可适用的应用场景进行介绍。本发明可以应用于电力***中，对电抗器的性能情况进行分析和检测，以便提前对电抗器的运行情况进行预测，以达到故障预警的目的。请参阅图1，图1为一种在该应用场景下的***构图。如图1中所示，所述***包括空心电抗器的测试装置和电抗器，测试装置与电抗器连接，可以从电抗器处获取到电抗器的各种数据，如电抗器的各种参数信息等。

经研究发现，对于电抗器匝间短路故障检测的研究，目前常用的方式为匝间绝缘检测，但是匝间绝缘检测这种方法是一种破坏性的试验，会降低电抗器的使用效率，缩短电抗器的使用寿命，而且成本比较高。

基于此，本发明实施例提供一种空心电抗器的测试方法和测试装置，可以无需对电抗器进行破坏性试验，可以保证电抗器的使用寿命和使用效率，方便电抗器的性能进行检测，降低成本。

请参阅图2，图2为本发明一实施例提供的空心电抗器的测试方法的流程图。如图2中所示，本发明实施例提供的空心电抗器的测试方法，包括：

步骤201、获取电抗器的几何参数。

该步骤中，所述测试装置在需要对电抗器进行测试时，可以先获取电抗器的几何参数。

其中，电抗器可以是空心电抗器，尤其是干式空心电抗器。

其中，所述几何参数包括电抗器的线圈高度、线圈外径和线圈内径。

步骤202、基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型。

该步骤中，所述测试装置在获取到所述电抗器的几何参数后，可以使用所述几何参数，来建立所述电抗器的几何测试模型，从而可以使用所述几何测试模型进行测试。

这样，通过使用电抗器的几何参数建立几何测试模型来进行测试，可以避免对电抗器进行破坏性的损伤，保证电抗的使用寿命和使用效率。

步骤203、对所述几何测试模型进行网格刨分。

该步骤中，所述测试装置在建立了所述几何测试模型后，为了便于对所述几何测试模型进行测试，可以对所述几何测试模型进行网格刨分。

其中，对所述几何测试模型进行网格刨分，可以遵循从小到大，由细到粗的顺序，如从电抗器的线圈中的导线进行刨分，再到对电抗器的线圈进行刨分。

这样，可以方便对电抗器检测时的计算，减小测试装置的计算量，节约测试装置的计算时间。

步骤204、对网格刨分后的所述几何测试模型设定测试参数。

该步骤中，所述测试装置在对所述几何测试模型进行网格刨分后，就可以来对所述几何测试模型设定需要进行测试的测试参数。

其中，所述测试参数，可以是所述测试装置中常规的默认设置的测试参数，也可以是所述测试装置接收到检测员输入的指令后，生成与接收到的指令相应的测试参数。

其中，所述测试参数包括所述几何测试模型中发生短路的线圈的位置和数量。

其中，除设定所述测试参数外，所述测试还可以设定需要对所述几何测试模型进行测试的物理场，如需要测试所述电抗器的电磁性能时，就可以设置物理场为磁场和电场。

步骤205、基于所述测试参数，生成所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图。

该步骤中，所述测试装置在设定好所述测试参数后，就可以使用所述测设参数，来测试所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图。

本发明实施例提供的空心电抗器的测试方法，获取电抗器的几何参数；基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型；对所述几何测试模型进行网格刨分；对网格刨分后的所述几何测试模型设定测试参数；基于所述测试参数，生成所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图。

与现有技术中的空心电抗器的测试方法相比，本发明通过获取电抗器的几何参数，来建立电抗器的几何测试模型，并对几何测试模型刨分后通过设定的测试参数，来得到电抗器的线圈短路时电抗器的性能曲线图，实现对电抗器进行分析，无需对电抗器进行破坏性试验，可以保证电抗器的使用寿命和使用效率，方便电抗器的性能进行检测，降低成本。

请参阅图3，图3为本发明另一实施例提供的空心电抗器的测试方法的流程图。如图3中所示，本发明实施例提供的空心电抗器的测试方法，包括：

步骤301、获取电抗器的几何参数。

步骤302、基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型。

步骤303、对所述几何测试模型进行网格刨分。

步骤304、对网格刨分后的所述几何测试模型设定测试参数。

步骤305、基于所述测试参数，生成所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图。

步骤306、基于所述性能曲线图，确定所述电抗器的故障情况。

该步骤中，所述测试装置在得到可以表示所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图后，就可以根据所述性能曲线图，来对所述电抗器的使用情况进行预测，从而预测所述电抗器可能出现的故障情况。

其中，步骤301至步骤305的描述可以参照步骤201至步骤205的描述，对此不做赘述。

可选的，步骤302包括：

建立二维平面坐标系，其中，在所述二维平面坐标系中，第一坐标轴沿所述电抗器的线圈的直径的延伸方向，第二坐标轴沿所述电抗器的线圈的高度的延伸方向；基于所述线圈外径和所述线圈内径，确定表示所述电抗器每匝线圈纵截面的几何图形的几何数据，其中，所述几何数据包括所述几何图形的边长；基于所述线圈高度，确定每个所述几何图形展示在所述二维平面坐标系时的中心点坐标；基于每个所述中心点坐标和所述几何数据，在所述二维平面坐标系中生成包括有多个所述几何图形的几何测试模型，其中，多个所述几何图形呈矩阵排布。

该步骤中，所述测试装置可以建立一个二维平面坐标系，并且所述测试装置还可以确定所述电抗器每匝线圈的纵截面的几何图像，如正方形，来表示每匝线圈。由于在二维平面坐标系中，所述电抗器的线圈中每个导线的纵截面均是一样的，而且线圈是有导线螺旋而成，因此可以使用单导线来表示一砸线圈即可。

接着，所述测试装置可以使用所述电抗器中线圈的线圈外径和线圈内径，来确定所述几何图像的几何数据，所述几何数据包括所述几何图像的边长，如正方形的边长，所述测试装置还可以使用所述电抗器中线圈的线圈高度，来确定每个所述几何图形展示在所述二维平面坐标系时的中心点坐标，这样在确定了每个所述几何图像的中心点坐标和几何数据后，就可以在所述二维平面坐标系中，生成多个几何图像，从而生成所述几何测试模型，其中，所述几何测试模型包括生成的多个所述几何图形，并且多个所述几何图形呈矩阵排布，如图4中所示，图4为几何测试模型是二维模型时的示意图，其中每个正方形表示一匝线圈，呈矩阵排列的多个正方形就表示一匝一匝排列的线圈，从而组成了几何测试模型。

其中，上述举例中，是所述几何图像为正方形为例说明的，但并不局限于此，在其他实施方式中，所述几何图像还可以使用三角形或者圆形等。

其中，基于所述线圈外径和所述线圈内径来确定所述几何图像的几何数据，可以是通过所述线圈外径和所述线圈内径来计算得到两者的差值，这个差值就可以认为是所述电抗器的线圈中导线的直径，就可以使用导线的直径，即这个差值来设计所述几何图像的边长等几何数据。

其中，基于所述线圈高度来确定每个所述几何图形的中心点坐标，由于在二维坐标系中，这里是使用表示单导线的几何图形来代表一匝线圈，几何图像相对于实际上对应的线圈是缩小了一定倍数，为保证所述电抗器中彼此相邻的两匝线圈之间的距离的比例与几何图像的比例相对应，所述测试装置可以根据所述线圈高度来确定彼此相邻的两个几何图形之间的距离，并基于所述线圈高度来确定生成的第一个几何图形的中心点坐标，再以第一个几何图形为基础，再确定几何测试模型中其他几何图形的中心点坐标，比如，可以从图4中左下侧开始，来生成的第一个几何图像，其中心点坐标就可以设定为横坐标为0，纵坐标为负二分之一线圈高度。

其中，所述二维平面坐标系中，所述二维平面坐标系的第一坐标轴可以是沿所述电抗器的线圈的直径的延伸方向，即第一坐标轴的维度，可以是表示所述电抗器的线圈的直径的维度，以及在横向上相邻的两个几何图形之间的距离的维度，所述二维平面坐标系的第二坐标轴可以是沿所述电抗器的线圈的高度的延伸方向，即第二坐标轴的维度，可以是表示所述电抗器的线圈高度的维度，以及在纵向上相邻的两个几何图形之间的距离的维度。

可选的，步骤302包括：

建立三维空间坐标系，其中，在所述三维空间坐标系中，第一坐标轴和第二坐标轴所在的平面与所述电抗器的线圈的横截面相平行，第三坐标轴沿所述电抗器的线圈的高度方向延伸；基于所述线圈高度，确定所述电抗器每匝线圈的中线在所述三维空间坐标系中的位置；基于每个所述中线的位置，确定每个所述中线对应的旋转点，其中，每个所述旋转点与对应的所述中线的垂直距离为预设距离；按照所述线圈中电流的流向，使每个所述旋转点围绕对应的所述中线旋转得到多匝线圈，生成包括有多匝线圈的几何测试模型。

该步骤中，所述测试装置可以建立一个三维空间坐标系，然后所述测试装置根据所述线圈的高度，可以按照预设的比例来确定所述电抗器每匝线圈的中线，并进一步确定每个所述中线在所述三维空间坐标系中的位置，在所述测试装置确定每个所述中线的位置后，所述测试装置可以进而确定用来描绘每匝线圈的三维模型的与每个所述中线对应的旋转点，并按照所述电抗器的线圈中电流的流向，来控制每个所述旋转点围绕对应的中线进行旋转，从而得到三维的多匝线圈，进而形成所述几何测试模型，所述几何测试模型包括生成的多匝线圈，并且多匝线圈可以是呈矩阵分布。

其中，每个所述旋转点与对应的所述中线的垂直距离为预设距离，所述预设距离可以是与所述电抗器的线圈的线圈内径和/或者线圈外径呈比例设置。

其中，在所述三维空间坐标系中，第一坐标轴和第二坐标轴所在的平面与所述电抗器的线圈的横截面相平行，即第一坐标轴和第二坐标轴的维度，可以是表示所述电抗器的线圈的直径的维度，以及在横向上相邻的两个几何图形之间的距离的维度，第三坐标轴沿所述电抗器的线圈的高度方向延伸，即第三坐标轴的维度，可以是表示所述电抗器的线圈高度的维度，以及在纵向上相邻的两个几何图形之间的距离的维度。

可选的，步骤304包括：

确定所述几何测试模型所处的空气场中，围绕所述几何测试模型预设范围内的空气区域；按照预设的刨分规则，将所述几何测试模型和所述空气区域进行网格刨分。

该步骤中，所述测试模型在建立所述几何测试模型后，为了便于对所述几何测试模型进行计算和分析，所述测试模型可以控制对所述几何测试模型进行网格分析，而由于所述电抗器在使用时的物理场，如磁场和电场等的分布，也是客观存在于周围空气中的，因此不能忽略空气场中存在的物理场等对电抗器的影响因素，所以设置空气区域必不可缺少的，因此，所述测试装置可以先根据生成的所述几何测试模型的分布等情况，来确定在所述几何测试模型所处的空气场中，围绕在所述几何测试模型周围的，预设范围内的空气区域，然后在按照预设的刨分规则，来对所述几何测试模型和所述空气区域进行网格刨分。

其中，所述空气区域，可以包括围绕在所述几何测试模型***的一定范围区域内的空气场，还包括所述几何测试模型表中表示的线圈中空心部分内的空气场。

其中，对所述几何测试模型进行网格刨分，可以遵循从小到大，由细到粗的顺序，如从几何测试模型中表示的线圈的导线进行刨分，将表示导线的几何图形或者三维线圈中的导线分为两半，再以相应的细则刨分空气区域。

其中，对几何测试模型进行网格刨分，可以尽可能的精细刨分，以实现更高的分析精度。

本发明实施例提供的空心电抗器的测试方法，获取电抗器的几何参数；基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型；对所述几何测试模型进行网格刨分；对网格刨分后的所述几何测试模型设定测试参数；基于所述测试参数，生成所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图；基于所述性能曲线图，确定所述电抗器的故障情况。

与现有技术中的空心电抗器的测试方法相比，本发明通过获取电抗器的几何参数，来建立电抗器的几何测试模型，并对几何测试模型刨分后通过设定的测试参数，来得到电抗器的线圈短路时电抗器的性能曲线图，并可以从性能曲线图中确定电抗器的故障情况，实现对电抗器进行分析，无需对电抗器进行破坏性试验，可以保证电抗器的使用寿命和使用效率，方便电抗器的性能进行检测，降低成本。

请参阅图5，图5为本发明一实施例提供的空心电抗器的测试装置的结构图之一，图6为本发明一实施例提供的空心电抗器的测试装置的结构图之二，图7为图5中所示建立模块的结构图之一，图8为图5中所示建立模块的结构图之二，图9为图5中所示刨分模块的结构图。如图5中所示，所述测试装置500包括：

获取模块510，用于获取电抗器的几何参数。

建立模块520，用于基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型。

刨分模块530，用于对所述几何测试模型进行网格刨分。

设定模块540，用于对网格刨分后的所述几何测试模型设定测试参数。

生成模块550，用于基于所述测试参数，生成所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图。

可选的，如图6中所示，所述测试装置500还包括：

确定模块560，用于基于所述性能曲线图，确定所述电抗器的故障情况。

可选的，所述几何参数包括所述电抗器的线圈高度、线圈外径和线圈内径，如图7中所示，所述建立模块520包括：

第一建立单元521，用于建立二维平面坐标系，其中，在所述二维平面坐标系中，第一坐标轴沿所述电抗器的线圈的直径的延伸方向，第二坐标轴沿所述电抗器的线圈的高度的延伸方向。

第一确定单元522，用于基于所述线圈外径和所述线圈内径，确定表示所述电抗器每匝线圈纵截面的几何图形的几何数据，其中，所述几何数据包括所述几何图形的边长。

第二确定单元523，用于基于所述线圈高度，确定每个所述几何图形展示在所述二维平面坐标系时的中心点坐标。

第一生成单元524，用于基于每个所述中心点坐标和所述几何数据，在所述二维平面坐标系中生成包括有多个所述几何图形的几何测试模型，其中，多个所述几何图形呈矩阵排布。

可选的，所述几何参数包括所述电抗器的线圈高度、线圈外径和线圈内径，如图8中所示，所述建立模块520还包括：

第二建立单元525，用于建立三维空间坐标系，其中，在所述三维空间坐标系中，第一坐标轴和第二坐标轴所在的平面与所述电抗器的线圈的横截面相平行，第三坐标轴沿所述电抗器的线圈的高度方向延伸。

第三确定单元526，用于基于所述线圈高度，确定所述电抗器每匝线圈的中线在所述三维空间坐标系中的位置。

第四确定单元527，用于基于每个所述中线的位置，确定每个所述中线对应的旋转点，其中，每个所述旋转点与对应的所述中线的垂直距离为预设距离。

第二生成单元528，用于按照所述线圈中电流的流向，使每个所述旋转点围绕对应的所述中线旋转得到多匝线圈，生成包括有多匝线圈的几何测试模型。

可选的，如图9中所示，所述刨分模块530包括：

第五确定单元531，用于确定所述几何测试模型所处的空气场中，围绕所述几何测试模型预设范围内的空气区域。

刨分单元532，用于按照预设的刨分规则，将所述几何测试模型和所述空气区域进行网格刨分。

可选的，所述测试参数包括所述几何测试模型中发生短路的线圈的位置和数量。

本实施例中的测试装置500，可以实现如图2和图3所示实施例中的空心电抗器的测试方法的全部方法步骤，并可以达到相同的效果，在此不做赘述。

本发明实施例提供的空心电抗器的测试装置，获取电抗器的几何参数；基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型；对所述几何测试模型进行网格刨分；对网格刨分后的所述几何测试模型设定测试参数；基于所述测试参数，生成所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图。

与现有技术中的空心电抗器的测试方法相比，本发明通过获取电抗器的几何参数，来建立电抗器的几何测试模型，并对几何测试模型刨分后通过设定的测试参数，来得到电抗器的线圈短路时电抗器的性能曲线图，实现对电抗器进行分析，无需对电抗器进行破坏性试验，可以保证电抗器的使用寿命和使用效率，方便电抗器的性能进行检测，降低成本。

请参阅图10，图10为本发明一实施例提供的电子设备的结构图。如图10中所示，所述电子设备1000包括处理器1010、存储器1020和总线1030。

所述存储器1020存储有所述处理器1010可执行的机器可读指令，当电子设备1000运行时，所述处理器1010与所述存储器1020之间通过总线1030通信，所述机器可读指令被所述处理器1010执行时，可以执行如上述图2以及图3所示方法实施例中的空心电抗器的测试方法的全部方法步骤，具体实现方式可参见方法实施例，在此不再赘述。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时可以执行如上述图2以及图3所示方法实施例中的空心电抗器的测试方法的全部方法步骤，具体实现方式可参见方法实施例，在此不再赘述。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的***、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的***、装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本发明的具体实施方式，用以说明本发明的技术方案，而非对其限制，本发明的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (5)

1.一种空心电抗器的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取电抗器的几何参数；

基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型；

对所述几何测试模型进行网格剖分；

对网格剖分后的所述几何测试模型设定测试参数；

基于所述测试参数，生成所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图；

其中，在所述基于所述测试参数，生成所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图之后，所述方法包括：

基于所述性能曲线图，确定所述电抗器的故障情况；

所述几何参数包括所述电抗器的线圈高度、线圈外径和线圈内径，所述基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型，包括：

建立二维平面坐标系，其中，在所述二维平面坐标系中，第一坐标轴沿所述电抗器的线圈的直径的延伸方向，第二坐标轴沿所述电抗器的线圈的高度的延伸方向；

基于所述线圈外径和所述线圈内径，确定表示所述电抗器每匝线圈纵截面的几何图形的几何数据，其中，所述几何数据包括所述几何图形的边长；

基于所述线圈高度，确定每个所述几何图形展示在所述二维平面坐标系时的中心点坐标；

基于每个所述中心点坐标和所述几何数据，在所述二维平面坐标系中生成包括有多个所述几何图形的几何测试模型，其中，多个所述几何图形呈矩阵排布；

所述几何参数包括所述电抗器的线圈高度、线圈外径和线圈内径，所述基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型，包括：建立三维空间坐标系，其中，在所述三维空间坐标系中，第一坐标轴和第二坐标轴所在的平面与所述电抗器的线圈的横截面相平行，第三坐标轴沿所述电抗器的线圈的高度方向延伸；

基于所述线圈高度，确定所述电抗器每匝线圈的中线在所述三维空间坐标系中的位置；

基于每个所述中线的位置，确定每个所述中线对应的旋转点，其中，每个所述旋转点与对应的所述中线的垂直距离为预设距离；

按照所述线圈中电流的流向，使每个所述旋转点围绕对应的所述中线旋转得到多匝线圈，生成包括有多匝线圈的几何测试模型。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述几何测试模型进行网格剖分的步骤，包括：

确定所述几何测试模型所处的空气场中，围绕所述几何测试模型预设范围内的空气区域；

按照预设的剖分规则，将所述几何测试模型和所述空气区域进行网格剖分。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试参数包括所述几何测试模型中发生短路的线圈的位置和数量。

4.一种空心电抗器的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：

获取模块，用于获取电抗器的几何参数；

建立模块，用于基于所述几何参数，建立所述电抗器的几何测试模型；

剖分模块，用于对所述几何测试模型进行网格剖分；

设定模块，用于对网格剖分后的所述几何测试模型设定测试参数；

生成模块，用于基于所述测试参数，生成所述电抗器的线圈短路时所述电抗器的性能曲线图；

其中，所述测试装置还包括：

确定模块，用于基于所述性能曲线图，确定所述电抗器的故障情况；

所述几何参数包括所述电抗器的线圈高度、线圈外径和线圈内径，所述建立模块包括：

第一建立单元，用于建立二维平面坐标系，其中，在所述二维平面坐标系中，第一坐标轴沿所述电抗器的线圈的直径的延伸方向，第二坐标轴沿所述电抗器的线圈的高度的延伸方向；

第一确定单元，用于基于所述线圈外径和所述线圈内径，确定表示所述电抗器每匝线圈纵截面的几何图形的几何数据，其中，所述几何数据包括所述几何图形的边长；

第二确定单元，用于基于所述线圈高度，确定每个所述几何图形展示在所述二维平面坐标系时的中心点坐标；

第一生成单元，用于基于每个所述中心点坐标和所述几何数据，在所述二维平面坐标系中生成包括有多个所述几何图形的几何测试模型，其中，多个所述几何图形呈矩阵排布；

所述建立模块还包括：第二建立单元，用于建立三维空间坐标系，其中，在所述三维空间坐标系中，第一坐标轴和第二坐标轴所在的平面与所述电抗器的线圈的横截面相平行，第三坐标轴沿所述电抗器的线圈的高度方向延伸；

第三确定单元，用于基于所述线圈高度，确定所述电抗器每匝线圈的中线在所述三维空间坐标系中的位置；

第四确定单元，用于基于每个所述中线的位置，确定每个所述中线对应的旋转点，其中，每个所述旋转点与对应的所述中线的垂直距离为预设距离；

第二生成单元，用于按照所述线圈中电流的流向，使每个所述旋转点围绕对应的所述中线旋转得到多匝线圈，生成包括有多匝线圈的几何测试模型。

5.如权利要求4所述测试装置，其特征在于，所述剖分模块包括：

第五确定单元，用于确定所述几何测试模型所处的空气场中，围绕所述几何测试模型预设范围内的空气区域；

剖分单元，用于按照预设的剖分规则，将所述几何测试模型和所述空气区域进行网格剖分。

Images