CN109391723B - 一种手机性能检测*** - Google Patents

Abstract

本发明提供一种手机性能检测***，利用测试平台、待测试手机、充电底座、温度传感器以及工控机对手机性能进行测试，可以通过工控机测试待测试手机在充电过程中的温度变化，还能对待测试手机内的传感器进行自主、自动检测，在对待测试手机摄像精度进行检测时，将手机放置在旋转的测试平台上进行测试，更能模拟真实的拍摄场景，可对待测试手机的摄像精度进行动态测试，其中，工控机包括中央处理器、传感器选择模块、充电状态测试模块、图像处理模块、信号采集模块、显示装置以及存储装置。

Description

一种手机性能检测***

技术领域

本发明涉及手机测试领域，尤其涉及一种手机性能检测***。

背景技术

手机以其便携性的优点得到越来越广泛的应用，随着手机终端技术日新月异的发展，手机产品越来越丰富，功能越来越强大，研发周期越来越短，导致研发任务增加。在手机研发中，研发测试关系着手机质量，是一项很重要的工作，手机产品在出厂前必须经过一系列的功能测试，以验证手机的各个功能是否能正常操作，确保手机具有稳定的品质。许多手机生产商迫切希望能够找到一种高效的手机测试设备，能够自动进行手机测试，提高手机测试的效率，以降低手机的研发测试费用，特别是对于许多测试过程中大量重复而又繁琐的手工操作的有效替代。

手机包含有若干传感器，比如距离传感器，当距离传感器检测到人在打电话时，会自动熄灭屏幕，避免人误按到其它按键，在进行一系列检测时，对传感器的检测是必不可少的。

随着劳动力的紧缺及劳工工资待遇的普遍提高，手机加工厂对提高生产效率及减少劳工人员的需求会越来越迫切，因此，***化、自动化的测试设备不仅可以提高检测的效率，同时亦可有效地减少劳动力。

发明内容

因此，为了克服上述问题，本发明提供一种手机性能检测***，利用测试平台、待测试手机、充电底座、温度传感器以及工控机对手机性能进行测试，可以通过工控机测试待测试手机在充电过程中的温度变化，还能对待测试手机内的传感器进行自主、自动检测，在对待测试手机摄像精度进行检测时，将手机放置在旋转的测试平台上进行测试，更能模拟真实的拍摄场景，可对待测试手机的摄像精度进行动态测试。

根据本发明的一种手机性能检测***，手机性能检测***包括测试平台、待测试手机、充电底座、温度传感器以及工控机；充电底座固定设置于测试平台上，待测试手机与充电底座连接，温度传感器安装在待测试手机上，充电底座和待测试手机分别与工控机无线连接；

其中，工控机包括中央处理器、传感器选择模块、充电状态测试模块、图像处理模块、信号采集模块、显示装置、存储装置以及信号处理电路；

温度传感器的输出端与信号处理电路输入端无线连接，信号处理电路的输出端与中央处理器的ADC端口连接，充电状态测试模块的输出端与中央处理器的输入端连接，图像处理模块的输出端与中央处理器的输入端连接，待测试手机的摄像头将采集的图像信息传输至图像处理模块，中央处理器的输出端与充电底座的输入端无线连接，中央处理器的输出端与传感器选择模块的输入端连接，传感器选择模块的输出端与待测试手机的输入端无线连接，中央处理器控制驱动电机以预设角速度带动测试平台转动，信号采集模块的输出端与中央处理器的输入端连接，信号采集模块的输入端与待测试手机的输出端无线连接，显示装置的输入端和存储装置的输入端分别与中央处理器的输出连接。

温度传感器用于采集待测试手机的温度信号，将采集的温度信号转换为电压信号V0，并将电压信号V0传输至信号处理电路，V1为经过信号处理电路处理后的电压信号，信号处理电路包括信号放大单元和信号滤波单元，温度传感器的输出端与信号放大单元的输入端连接，信号放大单元的输出端与信号滤波单元的输入端连接，信号滤波单元的输出端与中央处理器的ADC端口连接。

优选的，中央处理器控制充电底座对待测试手机进行充电，充电状态测试模块采集待测试手机的充电状态，并将待测试手机的充电状态传输至中央处理器，中央处理器控制显示装置显示充电状态，中央处理器控制存储装置存储充电状态。

优选的，充电状态测试模块采集待测试手机的充电状态时，温度传感器采集待测试手机的温度信号，并将温度信号经过信号处理电路处理后传输至中央处理器，中央处理器控制显示装置显示温度信号，中央处理器控制存储装置存储温度信号。

优选的，中央处理器内还包括一数据分析模块，数据分析模块根据充电状态测试模块采集待测试手机的充电状态以及温度传感器采集待测试手机的温度信号对待测试手机在充电过程中的温度变化数据进行分析。

优选的，传感器选择模块根据接收到的中央处理器的控制信号选择待测试手机内的传感器作为待测试传感器。

优选的，待测试手机内的传感器包括加速度传感器、地磁传感器、方向传感器、光敏传感器以及定位传感器。

优选的，待测试传感器的敏感元件将电信号传输至信号采集模块，信号采集模块对电信号进行前置放大处理，并将处理后的电信号传输至中央处理器，中央处理器控制显示装置显示电信号，中央处理器控制存储装置存储电信号。

优选的，中央处理器控制驱动电机以预设角速度带动测试平台转动，测试平台以预设角速度转动时，待测试手机的摄像头采集图像信息，并将采集的图像信息传输至图像处理模块，图像处理模块对接收到的图像信息进行灰度值提取，并将提取的灰度值传输至中央处理器，中央处理器控制显示装置显示灰度值，中央处理器控制存储装置存储灰度值。

优选的，待测试手机的摄像头采集的图像定义为二维函数f(x,y)，其中x、y是空间坐标，图像处理模块对图像f(x,y)进行灰度值提取处理，其中，提取图像f(x,y)横向边缘检测的图像灰度值G_x，

G_x＝f(x，y-1)+2f(x+1，y-1)-2f(x-1，y)+f(x+1，y)-f(x-1，y+1)+f(x，y)；

提取图像f(x,y)纵向边缘检测的图像灰度值G_y，

G_y＝f(x，y-1)+f(x+1，y-1)-f(x-1，y)+2f(x+1，y)-f(x-1，y+1)+f(x，y)；

则，图像f(x,y)灰度值G为：

优选的，信号放大单元包括集成运放A1-A2、电阻R1-R14、电容C1-C5以及三极管T1-T4；其中，温度传感器的输出端与电阻R1的一端并联后与三极管T1的基极连接，电阻R14的一端与集成运放A1的反相输入端连接，电阻R1与电阻R14的另一端并联后与电容C4的一端连接，电容C4的另一端接地，电容C5的一端与集成运放A1的输出端连接，电容C5的另一端与电阻R14的一端并联后与集成运放A1的反相输入端连接，三极管T1的集电极与+15V直流电源连接，电容C1的一端接地，电容C2的另一端与电阻R2的一端并联后与三极管T2的基极连接，电阻R2的另一端与集成运放A1的输出端连接，电阻R3的一端与三极管T2的基极连接，电阻R3的另一端与-15V直流电源连接，电阻R4的一端与三极管T2的发射极连接，电阻R4的另一端与-15V直流电源连接，电阻R5的一端与滑动变阻器R6的一端连接，电阻R5的另一端接地，滑动变阻器R6的另一端与电阻R7的一端并联后分别与三极管T3的发射极、电阻R7的一端和电阻R12的一端连接，电阻R7的一端与-15V直流电源连接，电阻R12的另一端与电阻R13的一端并联后与集成运放A2的输出端连接，电阻R13的另一端与电容C3的一端并联后与集成运放A1的同相输入端连接，电阻C3的另一端接地，电阻R8的一端与集成运放A2的反相输入端连接，电阻R8的一端还与三极管T4的集电极连接，电阻R8的另一端与-15V直流电源连接，电阻R9的一端与+15V直流电源连接，电阻R9的一端还与三极管T1的集电极连接，电阻R9的另一端与三极管T4的基极连接，电阻R9的另一端还与三极管T3的集电极连接，电阻R10与电容C2并联后的一端与+15V直流电源连接，电阻R10与电容C2并联后的一端还与三极管T1的集电极连接，电阻R10与电容C2并联后的另一端还与三极管T4的发射极连接，三极管T1的发射极与三极管T3的基极连接，三极管T1的发射极还与三极管T2的集电极连接，电阻R11的一端与集成运放A2的反相输入端连接，电阻R11的另一端接地；

信号滤波单元包括电阻R15-R18、电容C6-C8以及集成运放A3；其中，信号放大单元的输出端与电阻R15的一端连接，信号放大单元的输出端还与电容C6的一端连接，电容C6的另一端接地，电阻R15的另一端与电容C7的一端连接，电容C7的另一端接地，电阻R15的另一端与集成运放A3的反相输入端连接，电阻R17的一端与集成运放A3的同相输入端连接，电阻R17的另一端接地，电阻R16与电容C8并联后的一端与集成运放A3的反相输入端连接，电阻R16与电容C8并联后的另一端与集成运放A3的输出端连接，电阻R16与电容C8并联后的另一端还与电阻R18的一端连接，电阻R18的一端与集成运放A3的输出端连接，电阻R18的另一端与中央处理器的ADC端口连接，信号处理单元将处理后的电压信号V1传输至中央处理器的ADC端口的输入端。

优选的，显示装置为液晶显示器，中央处理器包括一ARM芯片。

与现有技术相比，本发明具有如下的有益效果：

本发明提供一种手机性能检测***，利用测试平台、待测试手机、充电底座、温度传感器以及工控机对手机性能进行测试，可以通过工控机测试待测试手机在充电过程中的温度变化，还能对待测试手机内的传感器进行自主、自动检测，在对待测试手机摄像精度进行检测时，将手机放置在旋转的测试平台上进行测试，更能模拟真实的拍摄场景，可对待测试手机的摄像精度进行动态测试。

附图说明

图1为本发明的手机性能检测***的结构图；

图2为本发明的手机性能检测***的示意图；

图3为本发明的信号处理电路的电路图。

附图标记：

1-测试平台；2-待测试手机；3-充电底座；4-温度传感器；5-工控机；6-中央处理器；7-传感器选择模块；8-充电状态测试模块；9-驱动电机；10-图像处理模块；11-信号采集模块；12-显示装置；13-存储装置；14-信号处理电路。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明提供的手机性能检测***进行详细说明。

如图1所示，本发明提供的手机性能检测***包括测试平台(1)、待测试手机(2)、充电底座(3)、温度传感器(4)以及工控机(5)；充电底座(3)固定设置于测试平台(1)上，待测试手机(2)与充电底座(3)连接，温度传感器(4)安装在待测试手机(2)上，充电底座(3)和待测试手机(2)分别与工控机(5)无线连接；

如图2所示，工控机(5)包括中央处理器(6)、传感器选择模块(7)、充电状态测试模块(8)、图像处理模块(10)、信号采集模块(11)、显示装置(12)、存储装置(13)以及信号处理电路(14)；

温度传感器(4)的输出端与信号处理电路(14)输入端无线连接，信号处理电路(14)的输出端与中央处理器(6)的ADC端口连接，充电状态测试模块(8)的输出端与中央处理器(6)的输入端连接，图像处理模块(10)的输出端与中央处理器(6)的输入端连接，待测试手机(2)的摄像头将采集的图像信息传输至图像处理模块(10)，中央处理器(6)的输出端与充电底座(3)的输入端无线连接，中央处理器(6)的输出端与传感器选择模块(7)的输入端连接，传感器选择模块(7)的输出端与待测试手机(2)的输入端无线连接，中央处理器(6)控制驱动电机(9)以预设角速度带动测试平台(1)转动，信号采集模块(11)的输出端与中央处理器(6)的输入端连接，信号采集模块(11)的输入端与待测试手机(2)的输出端无线连接，显示装置(12)的输入端和存储装置(13)的输入端分别与中央处理器(6)的输出连接。

温度传感器(4)用于采集待测试手机(2)的温度信号，将采集的温度信号转换为电压信号V0，并将电压信号V0传输至信号处理电路(14)，V1为经过信号处理电路(14)处理后的电压信号，信号处理电路(14)包括信号放大单元和信号滤波单元，温度传感器(4)的输出端与信号放大单元的输入端连接，信号放大单元的输出端与信号滤波单元的输入端连接，信号滤波单元的输出端与中央处理器(6)的ADC端口连接。

具体地，中央处理器(6)控制充电底座(3)对待测试手机(2)进行充电，充电状态测试模块(8)采集待测试手机(2)的充电状态，并将待测试手机(2)的充电状态传输至中央处理器(6)，中央处理器(6)控制显示装置(12)显示充电状态，中央处理器(6)控制存储装置(13)存储充电状态。

具体地，充电状态测试模块(8)采集待测试手机(2)的充电状态时，温度传感器(4)采集待测试手机(2)的温度信号，并将温度信号经过信号处理电路(14)处理后传输至中央处理器(6)，中央处理器(6)控制显示装置(12)显示温度信号，中央处理器(6)控制存储装置(13)存储温度信号。

具体地，中央处理器(6)内还包括一数据分析模块，数据分析模块根据充电状态测试模块(8)采集待测试手机(2)的充电状态以及温度传感器(4)采集待测试手机(2)的温度信号对待测试手机(2)在充电过程中的温度变化数据进行分析。

具体地，传感器选择模块(7)根据接收到的中央处理器(6)的控制信号选择待测试手机(2)内的传感器作为待测试传感器。

具体地，待测试手机(2)内的传感器包括加速度传感器、地磁传感器、方向传感器、光敏传感器以及定位传感器。

具体地，待测试传感器的敏感元件将电信号传输至信号采集模块(11)，信号采集模块(11)对电信号进行前置放大处理，并将处理后的电信号传输至中央处理器(6)，中央处理器(6)控制显示装置(12)显示电信号，中央处理器(6)控制存储装置(13)存储电信号。

具体地，中央处理器(6)控制驱动电机(9)以预设角速度带动测试平台(1)转动，测试平台(1)以预设角速度转动时，待测试手机(2)的摄像头采集图像信息，并将采集的图像信息传输至图像处理模块(10)，图像处理模块(10)对接收到的图像信息进行灰度值提取，并将提取的灰度值传输至中央处理器(6)，中央处理器(6)控制显示装置(12)显示灰度值，中央处理器(6)控制存储装置(13)存储灰度值。

具体地，待测试手机(2)的摄像头采集的图像定义为二维函数f(x,y)，其中x、y是空间坐标，图像处理模块(10)对图像f(x,y)进行灰度值提取处理，其中，

首先，提取图像f(x,y)横向边缘检测的图像灰度值G_x，

G_x＝f(x，y-1)+2f(x+1，y-1)-2f(x-1，y)-f(x+1，y)-f(x-1，y+1)+f(x，y)；

然后，提取图像f(x,y)纵向边缘检测的图像灰度值G_y，

G_y＝f(x，y-1)+f(x+1，y-1)-f(x-1，y)+2f(x+1，y)-f(x-1，y+1)+f(x，y)；

则，图像f(x,y)灰度值G为：

如图3所示，信号放大单元包括集成运放A1-A2、电阻R1-R14、电容C1-C5以及三极管T1-T4；其中，温度传感器(4)的输出端与电阻R1的一端并联后与三极管T1的基极连接，电阻R14的一端与集成运放A1的反相输入端连接，电阻R1与电阻R14的另一端并联后与电容C4的一端连接，电容C4的另一端接地，电容C5的一端与集成运放A1的输出端连接，电容C5的另一端与电阻R14的一端并联后与集成运放A1的反相输入端连接，三极管T1的集电极与+15V直流电源连接，电容C1的一端接地，电容C2的另一端与电阻R2的一端并联后与三极管T2的基极连接，电阻R2的另一端与集成运放A1的输出端连接，电阻R3的一端与三极管T2的基极连接，电阻R3的另一端与-15V直流电源连接，电阻R4的一端与三极管T2的发射极连接，电阻R4的另一端与-15V直流电源连接，电阻R5的一端与滑动变阻器R6的一端连接，电阻R5的另一端接地，滑动变阻器R6的另一端与电阻R7的一端并联后分别与三极管T3的发射极、电阻R7的一端和电阻R12的一端连接，电阻R7的一端与-15V直流电源连接，电阻R12的另一端与电阻R13的一端并联后与集成运放A2的输出端连接，电阻R13的另一端与电容C3的一端并联后与集成运放A1的同相输入端连接，电阻C3的另一端接地，电阻R8的一端与集成运放A2的反相输入端连接，电阻R8的一端还与三极管T4的集电极连接，电阻R8的另一端与-15V直流电源连接，电阻R9的一端与+15V直流电源连接，电阻R9的一端还与三极管T1的集电极连接，电阻R9的另一端与三极管T4的基极连接，电阻R9的另一端还与三极管T3的集电极连接，电阻R10与电容C2并联后的一端与+15V直流电源连接，电阻R10与电容C2并联后的一端还与三极管T1的集电极连接，电阻R10与电容C2并联后的另一端还与三极管T4的发射极连接，三极管T1的发射极与三极管T3的基极连接，三极管T1的发射极还与三极管T2的集电极连接，电阻R11的一端与集成运放A2的反相输入端连接，电阻R11的另一端接地。

信号滤波单元包括电阻R15-R18、电容C6-C8以及集成运放A3；其中，信号放大单元的输出端与电阻R15的一端连接，信号放大单元的输出端还与电容C6的一端连接，电容C6的另一端接地，电阻R15的另一端与电容C7的一端连接，电容C7的另一端接地，电阻R15的另一端与集成运放A3的反相输入端连接，电阻R17的一端与集成运放A3的同相输入端连接，电阻R17的另一端接地，电阻R16与电容C8并联后的一端与集成运放A3的反相输入端连接，电阻R16与电容C8并联后的另一端与集成运放A3的输出端连接，电阻R16与电容C8并联后的另一端还与电阻R18的一端连接，电阻R18的一端与集成运放A3的输出端连接，电阻R18的另一端与中央处理器的ADC端口连接，信号处理单元将处理后的电压信号V1传输至中央处理器的ADC端口的输入端。

上述实施方式中，信号处理电路的噪声在40nV以内，漂移为0.5μV/℃，集成运放A1为LT1010低漂移放大器，集成运放A2为LT1012高速放大器，集成运放A3为LT1097运放，由于集成运放A1的直流偏移与漂移并不会影响电路的整体偏移，从而使得电路有着极低的偏移和漂移。

电阻R1的阻值为10MΩ，电阻R2的阻值为10KΩ，电阻R3的阻值为2kΩ，电阻R4的阻值为300Ω，电阻R5的阻值为50Ω，R6为1KΩ滑动变阻器，电阻R7的阻值为5.6KΩ，电阻R8的阻值为3KΩ，电阻R9的阻值为1KΩ，电阻R10的阻值为470Ω，电阻R11的阻值为10KΩ，电阻R12的阻值为1KΩ，电阻R13的阻值为10MΩ，电阻R14的阻值为1KΩ，电阻R15的阻值为1.7KΩ，电阻R16的阻值为4.7KΩ，电阻R17的阻值为10KΩ，电阻R18的阻值为5KΩ，电容C1的电容值为100pF，电容C2的电容值为10pF，电容C3的电容值为100pF，电容C4的电容值为100pF，电容C5的电容值为20pF，电容C6的电容值为220pF，电容C7的电容值为470pF，电容C8的电容值为100pF。

由于温度传感器(4)采集的信号为微弱的电压信号，因而信号放大单元通过电阻R1-R14、电容C1-C5、三极管T1-T4以及集成运放A1-A2对温度传感器(4)输出的电压V0进行放大处理，其中，信号放大单元的放大增益通过滑动变阻器R6进行调节，然后再使用电阻R15-R18，电容C6-C8以及集成运放A3对经过放大后的电压信号进行低通滤波处理，从而提高了温度检测的精度。

具体地，显示装置(12)为液晶显示器，中央处理器(6)包括一ARM芯片。

最后所应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制。尽管参照实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，都不脱离本发明技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。

Claims (10)

1.一种手机性能检测***，其特征在于，所述手机性能检测***包括测试平台(1)、待测试手机(2)、充电底座(3)、温度传感器(4)以及工控机(5)；所述充电底座(3)固定设置于所述测试平台(1)上，所述待测试手机(2)与所述充电底座(3)连接，所述温度传感器(4)安装在所述待测试手机(2)上，所述充电底座(3)和所述待测试手机(2)分别与所述工控机(5)无线连接；

其中，所述工控机(5)包括中央处理器(6)、传感器选择模块(7)、充电状态测试模块(8)、图像处理模块(10)、信号采集模块(11)、显示装置(12)、存储装置(13)以及信号处理电路(14)；

所述温度传感器(4)的输出端与所述信号处理电路(14)输入端无线连接，所述信号处理电路(14)的输出端与所述中央处理器(6)的ADC端口连接，所述充电状态测试模块(8)的输出端与所述中央处理器(6)的输入端连接，所述图像处理模块(10)的输出端与所述中央处理器(6)的输入端连接，所述待测试手机(2)的摄像头将采集的图像信息传输至所述图像处理模块(10)，所述中央处理器(6)的输出端与所述充电底座(3)的输入端无线连接，所述中央处理器(6)的输出端与所述传感器选择模块(7)的输入端连接，所述传感器选择模块(7)的输出端与所述待测试手机(2)的输入端无线连接，所述中央处理器(6)控制驱动电机(9)以预设角速度带动所述测试平台(1)转动，所述信号采集模块(11)的输出端与所述中央处理器(6)的输入端连接，所述信号采集模块(11)的输入端与所述待测试手机(2)的输出端无线连接，所述显示装置(12)的输入端和所述存储装置(13)的输入端分别与所述中央处理器(6)的输出连接；

所述温度传感器(4)用于采集所述待测试手机(2)的温度信号，将采集的温度信号转换为电压信号V0，并将电压信号V0传输至所述信号处理电路(14)，V1为经过所述信号处理电路(14)处理后的电压信号，所述信号处理电路(14)包括信号放大单元和信号滤波单元，所述温度传感器(4)的输出端与所述信号放大单元的输入端连接，所述信号放大单元的输出端与所述信号滤波单元的输入端连接，所述信号滤波单元的输出端与所述中央处理器(6)的ADC端口连接。

2.根据权利要求1所述的手机性能检测***，其特征在于，所述中央处理器(6)控制所述充电底座(3)对所述待测试手机(2)进行充电，所述充电状态测试模块(8)采集所述待测试手机(2)的充电状态，并将待测试手机(2)的充电状态传输至所述中央处理器(6)，所述中央处理器(6)控制所述显示装置(12)显示所述充电状态，所述中央处理器(6)控制所述存储装置(13)存储所述充电状态。

3.根据权利要求2所述的手机性能检测***，其特征在于，所述充电状态测试模块(8)采集所述待测试手机(2)的充电状态时，所述温度传感器(4)采集所述待测试手机(2)的温度信号，并将所述温度信号经过所述信号处理电路(14)后传输至所述中央处理器(6)，所述中央处理器(6)控制所述显示装置(12)显示所述温度信号，所述中央处理器(6)控制所述存储装置(13)存储所述温度信号。

4.根据权利要求3所述的手机性能检测***，其特征在于，所述中央处理器(6)内还包括一数据分析模块，所述数据分析模块根据所述充电状态测试模块(8)采集所述待测试手机(2)的充电状态以及所述温度传感器(4)采集所述待测试手机(2)的温度信号对待测试手机(2)在充电过程中的温度变化数据进行分析。

5.根据权利要求1所述的手机性能检测***，其特征在于，所述传感器选择模块(7)根据接收到的所述中央处理器(6)的控制信号选择所述待测试手机(2)内的传感器作为待测试传感器。

6.根据权利要求5所述的手机性能检测***，其特征在于，所述待测试手机(2)内的传感器包括加速度传感器、地磁传感器、方向传感器、光敏传感器以及定位传感器。

7.根据权利要求5所述的手机性能检测***，其特征在于，所述待测试传感器的敏感元件将电信号传输至所述信号采集模块(11)，所述信号采集模块(11)对所述电信号进行前置放大处理，并将处理后的电信号传输至所述中央处理器(6)，所述中央处理器(6)控制所述显示装置(12)显示所述电信号，所述中央处理器(6)控制所述存储装置(13)存储所述电信号。

8.根据权利要求1所述的手机性能检测***，其特征在于，所述中央处理器(6)控制所述驱动电机(9)以预设角速度带动所述测试平台(1)转动，所述测试平台(1)以预设角速度转动时，所述待测试手机(2)的摄像头采集图像信息，并将采集的图像信息传输至所述图像处理模块(10)，图像处理模块(10)对接收到的图像信息进行灰度值提取，并将提取的灰度值传输至所述中央处理器(6)，所述中央处理器(6)控制所述显示装置(12)显示所述灰度值，所述中央处理器(6)控制所述存储装置(13)存储所述灰度值。

9.根据权利要求8所述的手机性能检测***，其特征在于，所述待测试手机(2)的摄像头采集的图像定义为二维函数f(x,y)，其中x、y是空间坐标，所述图像处理模块(10)对图像f(x,y)进行灰度值提取处理，其中，提取图像f(x,y)横向边缘检测的图像灰度值G_x，

G_x＝f(x，y-1)+2f(x+1，y-1)-2f(x-1，y)+f(x+1，y)-f(x-1，y+1)+f(x，y)；

提取图像f(x,y)纵向边缘检测的图像灰度值G_y，

G_y＝f(x，y-1)+f(x+1，y-1)-f(x-1，y)+2f(x+1，y)-f(x-1，y+1)+f(x，y)；

则，图像f(x,y)灰度值G为：

10.根据权利要求1所述的手机性能检测***，其特征在于，所述信号放大单元包括集成运放A1-A2、电阻R1-R14、电容C1-C5以及三极管T1-T4；其中，所述温度传感器(4)的输出端与电阻R1的一端并联后与三极管T1的基极连接，电阻R14的一端与集成运放A1的反相输入端连接，电阻R1与电阻R14的另一端并联后与电容C4的一端连接，电容C4的另一端接地，电容C5的一端与集成运放A1的输出端连接，电容C5的另一端与电阻R14的一端并联后与集成运放A1的反相输入端连接，三极管T1的集电极与+15V直流电源连接，电容C1的一端接地，电容C2的另一端与电阻R2的一端并联后与三极管T2的基极连接，电阻R2的另一端与集成运放A1的输出端连接，电阻R3的一端与三极管T2的基极连接，电阻R3的另一端与-15V直流电源连接，电阻R4的一端与三极管T2的发射极连接，电阻R4的另一端与-15V直流电源连接，电阻R5的一端与滑动变阻器R6的一端连接，电阻R5的另一端接地，滑动变阻器R6的另一端与电阻R7的一端并联后分别与三极管T3的发射极、电阻R7的一端和电阻R12的一端连接，电阻R7的一端与-15V直流电源连接，电阻R12的另一端与电阻R13的一端并联后与集成运放A2的输出端连接，电阻R13的另一端与电容C3的一端并联后与集成运放A1的同相输入端连接，电阻C3的另一端接地，电阻R8的一端与集成运放A2的反相输入端连接，电阻R8的一端还与三极管T4的集电极连接，电阻R8的另一端与-15V直流电源连接，电阻R9的一端与+15V直流电源连接，电阻R9的一端还与三极管T1的集电极连接，电阻R9的另一端与三极管T4的基极连接，电阻R9的另一端还与三极管T3的集电极连接，电阻R10与电容C2并联后的一端与+15V直流电源连接，电阻R10与电容C2并联后的一端还与三极管T1的集电极连接，电阻R10与电容C2并联后的另一端还与三极管T4的发射极连接，三极管T1的发射极与三极管T3的基极连接，三极管T1的发射极还与三极管T2的集电极连接，电阻R11的一端与集成运放A2的反相输入端连接，电阻R11的另一端接地；

所述信号滤波单元包括电阻R15-R18、电容C6-C8以及集成运放A3；其中，所述信号放大单元的输出端与电阻R15的一端连接，所述信号放大单元的输出端还与电容C6的一端连接，电容C6的另一端接地，电阻R15的另一端与电容C7的一端连接，电容C7的另一端接地，电阻R15的另一端与集成运放A3的反相输入端连接，电阻R17的一端与集成运放A3的同相输入端连接，电阻R17的另一端接地，电阻R16与电容C8并联后的一端与集成运放A3的反相输入端连接，电阻R16与电容C8并联后的另一端与集成运放A3的输出端连接，电阻R16与电容C8并联后的另一端还与电阻R18的一端连接，电阻R18的一端与集成运放A3的输出端连接，电阻R18的另一端与中央处理器(6)的ADC端口连接，所述信号处理单元将处理后的电压信号V1传输至中央处理器(6)的ADC端口的输入端。

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