CN109343014B - 用于测试相控阵雷达的t/r组件的设备及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备及方法。所述T/R组件包括多个通道，所述设备包括：多路矩阵开关，与多个通道对应，用于将选定的通道接入测试回路；工业平板电脑，用于选择测试通道及测试指标，并选择与测试通道对应的矩阵开关通路；校准源，用于输出校准信号至测试通道并产生本振信号；接收机，用于接收经过测试通道和矩阵开关通路的校准信号和来自校准源的本振信号，并将校准信号进行衰减后再与本振信号进行混频后再转换成数字信号；处理板，用于接收数字信号并根据数字信号获取测试通道的幅度和相位，并将幅度和相位传输至工业平板电脑，其中，工业平板电脑还用于根据幅度和相位判断测试通道在测试指标下的测试结果。

Description

用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备及方法

技术领域

本发明涉及雷达技术领域，尤其涉及用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备及方法。

背景技术

相控阵雷达处于当今世界雷达研制与发展的主流趋势。相控阵雷达由雷达T/R组件、天线单元和无源馈线***组成，在相控阵雷达中，T/R组件是一个核心组成部分。相控阵雷达的天线单元通过T/R组件对发射信号的功率放大和接收信号的低噪声放大以及幅度和相位进行调整，从而完成发射和接收波束的空间合成。采用大量T/R组件的相控阵雷达***在未来机载、星载和弹载领域应用中将发挥越来越重要的作用。

相控阵雷达是通过精确控制T/R组件的相位、幅度以实现波束合成和控制，因此，T/R组件的电性能指标(相位、幅度等)的达标情况直接影响合成波束的性能(增益、副瓣电平、零深等)。在实际的工程应用中，在T/R组件研制和生产阶段，特别是在外场工作时，能携带方便且能快捷地对T/R组件的电性能指标进行全面测试的设备是必需的。

目前，T/R组件的测试主要借助测试仪器，采用人工手动操作或自动测试***进行测试。人工手动操作时测试平台的搭建尤为繁琐，需多人协作完成，且测试数据需由人工记录，整个测试时间长，效率极低，已很难满足现代相控阵雷达的研制需求；自动测试***主要由测试仪器和操作平台组成，整个测试***体积较大，在T/R组件研制和生产阶段可以使用，但在偏远的外场工作时，测试***便难以满足需求。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备及方法，解决了在外场测试T/R组件时，测试设备携带和测试困难等问题，并且极大地提高了测试T/R组件的效率，缩短了测试的时间。

根据本发明的一个方面，提供了一种用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备，所述T/R组件包括多个通道，所述设备包括：

多路矩阵开关，与所述多个通道对应，用于将选定的通道接入测试回路；

工业平板电脑，用于从所述多个通道中选择测试通道及测试指标，并选择与所述测试通道对应的矩阵开关通路；

校准源，用于输出校准信号至所述测试通道，并产生本振信号；

接收机，用于接收经过所述测试通道和所述矩阵开关通路的校准信号和接收来自所述校准源的本振信号，并将所接收的校准信号进行衰减后再与所接收的本振信号进行混频后再转换成数字信号；

处理板，用于接收所述数字信号并根据所述数字信号获取所述测试通道的幅度和相位，并将所述幅度和相位传输至所述工业平板电脑，

其中，所述工业平板电脑还用于根据所述幅度和相位判断所述测试通道在所述测试指标下的测试结果。

在一实施例中，所述设备是便携式的。

在一实施例中，所述测试指标包括发射指标和接收指标，其中，所述接收指标包括接收通道到∑通道的接收指标和接收通道到Δ通道的接收指标。

在一实施例中，所述T/R组件的每个通道具有发射状态、接收状态和高阻状态，其中，所述测试通道处于发射状态或接收状态，而其余通道处于高阻状态。

在一实施例中，所述设备还包括：电源模块，用于为所述设备提供多种不同的所需电压。

在一实施例中，所述处理板还用于控制所述校准源输出的信号的大小和频率。

在一实施例中，所述工业平板电脑还用于根据所述测试结果对所述测试通道重新进行幅度和相位补偿，并将幅度和相位补偿数据发送至所述T/R组件的存储器中。

根据本发明的另一个方面，提供了一种用于测试相控阵雷达的T/R组件的方法，所述T/R组件包括多个通道，所述方法包括：

通过工业平板电脑从所述多个通道中选择测试通道及测试指标，并从与所述多个通道对应的多路矩阵开关中选择与所述测试通道对应的矩阵开关通路，以将所述测试通道接入测试回路；

通过校准源输出校准信号至所述测试通道，并产生本振信号；

通过接收机接收经过所述测试通道和所述矩阵开关通路的校准信号和接收来自所述校准源的本振信号，并将所接收的校准信号进行衰减后再与所接收的本振信号进行混频后再转换成数字信号；

通过处理板接收所述数字信号并根据所述数字信号获取所述测试通道的幅度和相位，并将所述幅度和相位传输至所述工业平板电脑；

所述工业平板电脑根据所述幅度和相位判断所述测试通道在所述测试指标下的测试结果。

在一实施例中，通过所述处理板控制所述校准源输出的信号的大小和频率。

在一实施例中，通过所述工业平板电脑根据所述测试结果对所述测试通道重新进行幅度和相位补偿，并将幅度和相位补偿数据发送至所述T/R组件的存储器中。

与现有技术相比，上述方案中的一个或多个实施例可以具有如下优点或有益效果：

应用本发明实施例提供的用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备及方法，能在无需搭建测试平台并且无需使用多种测试仪器的情况下快捷地对T/R组件的电性能指标进行测试，提高了T/R组件的测试效率，缩短了测试的时间。在外场工作时，其方便携带、操作简单，解决了T/R组件外场工作的测试设备携带和测试困难。另外，本发明能够实现对T/R组件的多个通道的幅度和相位的数据处理，采取数据归一化处理的方式对T/R组件的多个通道的的幅度和相位进行数据补偿。

本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及说明书附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例共同用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为根据本发明一实施例的用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备的示意图；

图2示意性示出了根据本发明一实施例的8通道T/R组件的发射指标测试时的接线图；

图3示意性示出了根据本发明一实施例的T/R组件发射指标测试的信号流；

图4示意性示出了根据本发明一实施例的8通道T/R组件的接收通道到∑通道的接收指标测试时的接线图；

图5示意性示出了根据本发明一实施例的T/R组件的接收通道到∑通道的接收指标测试的信号流；

图6示意性示出了根据本发明一实施例的8通道T/R组件的接收通道到Δ通道的接收指标测试时的接线图；

图7示出了根据本发明一实施例的用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备的正视图；

图8示出了根据本发明一实施例的用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备的俯视图；

图9示出了根据本发明一实施例的用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备的后视图；

图10示出了根据本发明一实施例的用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备的侧视图。

具体实施方式

以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。需要说明的是，只要不构成冲突，本发明中的各个实施例以及各实施例中的各个特征可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。

同时，在以下说明中，出于解释的目的而阐述了许多具体细节，以提供对本发明实施例的彻底理解。然而，对本领域的技术人员来说显而易见的是，本发明可以不用这里的具体细节或者所描述的特定方式来实施。

如上所述，为了解决现有技术中相控阵雷达的多通道T/R组件的测试时间长、效率低以及测试设备体积大、不满足偏远外场测试需求的技术问题，本发明一实施例提供了一种用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备及方法。

图1为根据本发明一实施例的用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备的示意图。如图1所示，用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备主要包括工业平板电脑101、处理板102、校准源103、接收机104、多路矩阵开关105及电源模块106。

工业平板电脑101可以例如通过网口与处理板102连接，主要用于人机交互及信息数据显示，并且例如通过串口与多通道T/R组件连接，主要用于T/R组件的通道选择和控制以及幅度和相位补偿。

处理板102主要由DSP(数字信号处理)单元、FPGA(现场可编程门阵列)单元和接口电路组成。处理板102是用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备的控制核心，通过其内部电路连接校准源103、接收机104、多路矩阵开关105和电源模块106。处理板102可以实现对于校准源103的频率控制和输出信号的大小控制，接收由接收机104转换后的数字信号，进行矩阵开关的选择，并且可以例如通过离散控制线与多通道T/R组件连接，以用于当工业平板电脑101向多通道T/R组件发送某一单个指令或者发送一些串口无法发送的指令时，可以通过离散控制线由处理板102向多通道T/R组件发送指令。

校准源103内部设置有变频器，可以稳定输出不同幅度不同频率的连续波信号，用于作为测试多通道T/R组件的校准信号。另外，校准源103与接收机104连接，用于输出与校准信号幅度相同但频率不同的本振信号至接收机104，以与校准信号进行混频处理。

接收机104用于接收来自T/R组件的测试通道的射频信号。在本发明一实施例中，射频信号指的是具有远距离传输能力的高频校准信号。接收机104中设置有衰减器、混频器、滤波器和A/D转换器等电路器件，可对于接收到的高频校准信号进行功率衰减、混频、滤波和A/D转换处理，并将转换后的数字信号传输至处理板102。

多路矩阵开关105可以是多路数字矩阵开关，其与T/R组件的多个通道一一对应。多路矩阵开关通过TD₁、TD₂、TD₃……TD_n-1、TD_n接口分别与T/R组件的多个通道相接，用于将选定的通道接入测试回路。多路矩阵开关105可以根据处理板102的指令控制测试回路的开启和关闭。

电源模块106可以为多通道T/R组件测试设备提供多种不同的所需电压，如+28V、+12V、+5V、+3.3V、+1.2V等。

相控阵雷达多通道T/R组件的测试可以分为：发射指标测试和接收指标测试。下面以8通道T/R组件测试设备为例详细地说明根据本发明一实施例的测试流程。

图2示意性示出了根据本发明一实施例的8通道T/R组件的发射指标测试时的接线图。图7示出了根据本发明一实施例的用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备的正视图。图8示出了根据本发明一实施例的用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备的俯视图。

在进行T/R组件的发射指标测试时，首先按照图2所示的连接方式将测试设备与相控阵雷达的T/R组件连接。具体地，工业平板电脑201通过串口与多通道T/R组件207连接，处理板202通过离散控制线与多通道T/R组件207连接，校准源203的输出端与多通道T/R组件207的射频口RF连接，多路矩阵开关205的通路TD₁、TD₂、TD₃、TD₄、TD₅、TD₆、TD₇、TD₈分别与T/R组件的通道TR₁、TR₂、TR₃、TR₄、TR₅、TR₆、TR₇、TR₈相对应地连接，以形成测试回路，接收机204的输入端与多路矩阵开关205的矩阵开关口连接。

接下来，在工业平板电脑201上设定各种测试参数。

在工业平板电脑201上选择T/R组件的测试通道和与T/R组件的测试通道对应的矩阵开关通路。在本发明一实施例中，选择待测试的T/R组件的测试通道为TR₁至TR₈通道，也可以选择单个测试通道或者例如TR₁至TR₄通道、TR₂至TR₆通道，本发明不限于此。

与现有技术相比，本发明的测试设备自带多路矩阵开关，这样用户可以方便地通过多路矩阵开关将不同的T/R组件通道快速接入测试回路，而无需用户在测试完一个通道之后，再人为地将测试设备的接口更换至另一个通道，从而提高了测试效率，缩短了测试时间。同时，用户可以方便地选择多路矩阵开关的各通路的状态，进而确保在测试时只有与测试通道对应的通路处于开启状态，而其他通路处于关闭状态，从而保证了测试的准确性。

通过工业平板电脑201设置接收机204的可调衰减的衰减值，如30dBm、20dBm、10dBm等。工业平板电脑201通过网口将设置指令发送给处理板202。

在工业平板电脑201上选择T/R组件的测试指标为发射指标，以测试TR₁通道为例，此时工业平板电脑201通过串口发送TR₁通道发射指令至T/R组件，使得T/R组件的TR₁通道处于发射状态，其余TR₂至TR₈通道处于高阻状态。同时，工业平板电脑201通过网口发送指令打开多路矩阵开关的TD₁通路，其余TD₂至TD₈通路处于关闭状态。

在工业平板电脑201上设置校准源203的输出信号大小，例如30dBm，设置测试频率，例如1000MHz。然后，打开校准源203。

下面详细说明相控阵雷达多通道T/R组件的测试设备在测试多通道T/R组件的发射指标时的工作原理。

图3示意性示出了根据本发明一实施例的T/R组件发射指标测试的信号流。如图3所示，在一实施例中，校准源根据处理板的指令输出例如幅度为30dBm、频率为1000MHz的校准信号至T/R组件的射频口RF，并且输出信号幅度为0～10dBm但频率不同的本振信号至接收机。

仍然以测试TR₁通道为例，校准信号经过T/R组件的射频口RF进入T/R组件的TR₁通道。

校准信号经过T/R组件的TR₁通道被功率放大和相位偏移后，经矩阵开关的TD₁通路进入接收机。接收机内部设置有衰减器、混频器、滤波器和A/D转换器等电路器件，可以将所接收的校准信号进行衰减并与从校准源接收的本振信号进行混频等处理后再转换成数字信号。

例如，首先接收机根据工业平板电脑上设置的衰减值对校准信号进行幅度衰减，如30dBm、频率为1000MHz的校准信号经过T/R组件TR₁通道功率放大后，幅度变为50dBm，若工业平板电脑上设置的衰减值为70dBm，则经过衰减器衰减，校准信号的幅度降为-20dBm。接下来，接收机内部的混频器会将校准信号与从校准源接收到的本振信号进行混频，本振信号的幅度一般为0～10dBm，本振信号的频率小于原始校准信号的频率，如900MHz。经过混频后，校准信号下变频为100MHz信号。再经过滤波、A/D转换器转换成数字信号传输至处理板。

处理板接收由接收机输出的数字信号，并从中获取T/R组件的TR₁通道的幅度和相位，并将其通过网口发送至工业平板电脑。

接下来，工业平板电脑可以自动依次切换T/R组件的TR₂、TR₃、TR₄、TR₅、TR₆、TR₇、TR₈通道作为测试通道并依次切换与各通道对应的矩阵开关的TD₂、TD₃、TD₄、TD₅、TD₆、TD₇、TD₈通路进行测试，由此可以得到T/R组件的每个发射通道的幅度和相位。

通过工业平板电脑显示T/R组件的8个发射通道的幅度和相位的数据。工业平板电脑根据幅度和相位数据自主判断这8个发射通道在发射指标下的测试结果。

根据本发明一实施例，测试设备还可以对T/R组件的各发射通道重新进行幅度和相位补偿。

具体地，工业平板电脑根据测试结果可以判断出是否需要对T/R组件的各通道重新进行幅度和相位补偿。如果需要对一个或多个通道重新进行幅度和相位补偿，则工业平板电脑首先进行数据归一化处理，再通过串口将幅度和相位补偿数据发送至T/R组件的Flash存储器。

相控阵雷达多通道T/R组件的接收指标可以分为T/R组件的接收通道到∑通道的接收指标和T/R组件的接收通道到Δ通道的接收指标。其中，在测试T/R组件的接收通道到∑通道的接收指标时，∑通道作为T/R组件的信号输出端，而在测试T/R组件的接收通道到Δ通道的接收指标时，Δ通道作为T/R组件的信号输出端。

图4示意性示出了根据本发明一实施例的8通道T/R组件的接收通道到∑通道的接收指标测试时的接线图。

测试T/R组件的接收通道到∑通道的接收指标时，首先按照图4所示的连接方式将测试设备与相控阵雷达的T/R组件连接。与图2的接线方式不同的是，在测试T/R组件的接收通道到∑通道的接收指标时，如图4所示，校准源403的输出端连接多路矩阵开关405，T/R组件的∑通道连接接收机404。图4的其他接线方式与图2相同，在此不再赘述。

接下来，在工业平板电脑401上设定各种测试参数。

在工业平板电脑401上选择T/R组件的测试通道和与T/R组件的测试通道对应的矩阵开关通路。在本发明一实施例中，选择待测试的T/R组件的测试通道为TR₁至TR₈通道，也可以选择单个测试通道或者例如TR₁至TR₄通道、TR₂至TR₆通道，本发明不限于此。

通过工业平板电脑401设置接收机404的可调衰减的衰减值，如30dBm、20dBm、10dBm等。工业平板电脑201通过网口将设置指令发送给处理板402。

在工业平板电脑401上选择T/R组件的测试指标为接收指标，以测试TR₁通道为例，此时工业平板电脑401通过串口发送TR₁通道接收指令至T/R组件，使得T/R组件的TR₁通道处于接收状态，其余TR₂至TR₈通道处于高阻状态。同时，工业平板电脑401通过网口发送指令打开多路矩阵开关的TD₁通路，其余TD₂至TD₈通路处于关闭状态。

在工业平板电脑401上设置校准源403的输出信号大小，例如-10dBm，设置测试频率，例如1000MHz。然后，打开校准源403。

下面详细说明相控阵雷达多通道T/R组件的测试设备在测试多通道T/R组件的接收通道到∑通道的接收指标时的工作原理。

图5示意性示出了根据本发明一实施例的T/R组件的接收通道到∑通道的接收指标测试的信号流。如图5所示，在一实施例中，校准源根据处理板的指令输出例如幅度为-10dBm、频率为1000MHz的校准信号至多路矩阵开关的矩阵开关口，并且输出信号幅度为0～10dBm但频率不同的本振信号至接收机。

仍然以测试TR₁通道为例，校准信号经过多路矩阵开关的矩阵开关口被分至多路矩阵开关的TD₁通路，从而进入T/R组件的TR₁通道。

校准信号经过T/R组件的TR₁通道被功率放大和相位偏移后，经T/R组件的∑通道进入接收机。在此，∑通道作为T/R组件的信号输出端。接收机内部设置有衰减器、混频器、滤波器和A/D转换器等电路器件，可以将所接收的校准信号进行衰减并与从校准源接收的本振信号进行混频等处理后再转换成数字信号。

例如，首先接收机根据工业平板电脑上设置的衰减值对校准信号进行幅度衰减，如-10dBm，频率为1000MHz的校准信号经过T/R组件TR₁通道功率放大后，幅度变为20dBm，若工业平板电脑上设置的衰减值为40dBm，则经过衰减器衰减，校准信号的幅度降为-20dBm。接下来，接收机内部的混频器会将校准信号与从校准源接收到的本振信号进行混频，本振信号的幅度一般为0～10dBm，本振信号的频率小于原始校准信号的频率，如900MHz。经过混频后，校准信号下变频为100MHz信号。再经过滤波、A/D转换器转换成数字信号传输至处理板。

处理板接收由接收机输出的数字信号，并从中获取T/R组件的TR₁通道到∑通道的幅度和相位，并将其通过网口发送至工业平板电脑。

接下来，工业平板电脑可以自动依次切换T/R组件的TR₂、TR₃、TR₄、TR₅、TR₆、TR₇、TR₈通道作为测试通道并依次切换与各通道对应的矩阵开关的TD₂、TD₃、TD₄、TD₅、TD₆、TD₇、TD₈通路进行测试，由此可以得到T/R组件的每个接收通道到∑通道的幅度和相位。

通过工业平板电脑显示T/R组件的8个接收通道到∑通道的幅度和相位的数据。工业平板电脑根据幅度和相位数据自主判断这8个接收通道到∑通道在接收指标下的测试结果。

根据本发明一实施例，测试设备还可以对T/R组件的各通道到∑通道的接收指标重新进行幅度和相位补偿。

具体地，工业平板电脑根据测试结果可以判断出是否需要对T/R组件的各通道到∑通道的接收指标重新进行幅度和相位补偿。如果需要对一个或多个通道到∑通道的接收指标重新进行幅度和相位补偿，则工业平板电脑首先进行数据归一化处理，再通过串口将幅度和相位补偿数据发送至T/R组件的Flash存储器。

图6示意性示出了根据本发明一实施例的8通道T/R组件的接收通道到Δ通道的接收指标测试时的接线图。

测试T/R组件的接收通道到Δ通道的接收指标时，首先按照图6所示的连接方式将测试设备与相控阵雷达的T/R组件连接。在测试T/R组件的接收通道到Δ通道的接收指标时，T/R组件的Δ通道连接接收机604，其余连接关系与测试T/R组件的接收通道到∑通道的接收指标时相同，在此不再赘述。测试T/R组件的接收通道到Δ通道的接收指标与测试T/R组件的接收通道到∑通道的接收指标的测试过程也类似，在此不再赘述。

图9示出了根据本发明一实施例的用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备的后视图。图10示出了根据本发明一实施例的用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备的侧视图。

如图7至图10所示，根据本发明一实施例的用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备是便携式的。在一实施例中，测试设备的尺寸仅为长50cm、宽20cm、高30cm，总重量约为7.5kg。可见，与现有技术中用于多通道T/R组件的测试设备相比，本发明提供的测试设备是便携式的，不仅携带方便，适用于偏远地区外场测试，而且能在无需搭建测试平台并且无需使用多种测试仪器的情况下快捷地对T/R组件的电性能指标进行测试。

综上所述，应用本发明实施例提供的用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备及方法，能在无需搭建测试平台并且无需使用多种测试仪器的情况下快捷地对T/R组件的电性能指标进行测试，提高了T/R组件的测试效率，缩短了测试的时间。在外场工作时，其方便携带、操作简单，解决了T/R组件外场工作的测试设备携带和测试困难。另外，本发明能够实现对T/R组件的多个通道的幅度和相位的数据处理，采取数据归一化处理的方式对T/R组件的多个通道的的幅度和相位进行数据补偿。

本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。

虽然本发明所公开的实施方式如上，但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属技术领域内的技术人员，在不脱离本发明所公开的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本发明的保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (7)

1.一种用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备，所述T/R组件包括多个通道，所述设备包括：

多路矩阵开关，与所述多个通道对应，用于将选定的通道接入测试回路；

工业平板电脑，用于从所述多个通道中选择测试通道及测试指标，并选择与所述测试通道对应的矩阵开关通路；

校准源，用于输出校准信号至所述测试通道，并产生本振信号，其中，所述校准信号与所述本振信号的幅度相同、频率不同；

接收机，用于接收经过所述测试通道和所述矩阵开关通路的校准信号和接收来自所述校准源的本振信号，并将所接收的校准信号进行衰减后再与所接收的本振信号进行混频后再转换成数字信号；

处理板，与所述校准源、所述接收机、所述多路矩阵开关、所述工业平板电脑连接，用于进行矩阵开关的选择，控制所述校准源输出的信号的大小和频率，还用于接收所述数字信号并根据所述数字信号获取所述测试通道的幅度和相位，并将所述幅度和相位传输至所述工业平板电脑，

其中，所述工业平板电脑还用于根据所述幅度和相位判断所述测试通道在所述测试指标下的测试结果，并根据所述测试结果对所述测试通道重新进行幅度和相位补偿，并进行补偿数据归一化处理，再将幅度和相位补偿数据发送至所述T/R组件的存储器中；

在进行测试时，通过以下方式与所述T/R组件连接：所述工业平板电脑通过串口与所述T/R组件连接，所述处理板通过离散控制线与所述T/R组件连接，所述校准源的输出端与所述T/R组件的射频口RF连接，所述多路矩阵开关的通路分别与T/R组件的通道相对应地连接，所述接收机的输入端与多路矩阵开关的矩阵开关口连接。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述设备是便携式的。

3.根据权利要求1所述的设备，其中，所述测试指标包括发射指标和接收指标，其中，所述接收指标包括接收通道到∑通道的接收指标和接收通道到Δ通道的接收指标。

4.根据权利要求1所述的设备，其中，所述T/R组件的每个通道具有发射状态、接收状态和高阻状态，其中，所述测试通道处于发射状态或接收状态，而其余通道处于高阻状态。

5.根据权利要求1所述的设备，还包括：

电源模块，用于为所述设备提供多种不同的所需电压。

6.一种用于测试相控阵雷达的T/R组件的方法，应用于权利要求1至5任一项所述的用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备，所述T/R组件包括多个通道，所述方法包括：

通过工业平板电脑从所述多个通道中选择测试通道及测试指标，并从与所述多个通道对应的多路矩阵开关中选择与所述测试通道对应的矩阵开关通路，以将所述测试通道接入测试回路；

通过校准源输出校准信号至所述测试通道，并产生本振信号，所述校准信号与所述本振信号的幅度相同、频率不同；

通过接收机接收经过所述测试通道和所述矩阵开关通路的校准信号和接收来自所述校准源的本振信号，并将所接收的校准信号进行衰减后再与所接收的本振信号进行混频后再转换成数字信号；

通过处理板接收所述数字信号并根据所述数字信号获取所述测试通道的幅度和相位，并将所述幅度和相位传输至所述工业平板电脑，其中，所述处理板与所述校准源、所述接收机、所述多路 矩阵开关、所述工业平板电脑连接，用于进行矩阵开关的选择，控制所述校准源输出的信号的大小和频率；

所述工业平板电脑根据所述幅度和相位判断所述测试通道在所述测试指标下的测试结果，通过所述工业平板电脑根据所述测试结果对所述测试通道重新进行幅度和相位补偿，并进行补偿数据归一化处理，再将幅度和相位补偿数据发送至所述T/R组件的存储器中；在进行测试时，通过以下方式与所述T/R组件连接：所述工业平板电脑通过串口与所述T/R组件连接，所述处理板通过离散控制线与所述T/R组件连接，所述校准源的输出端与所述T/R组件的射频口RF连接，所述多路矩阵开关的通路分别与T/R组件的通道相对应地连接，所述接收机的输入端与多路矩阵开关的矩阵开关口连接。

7.根据权利要求6所述的方法，还包括：

通过所述工业平板电脑根据所述测试结果对所述测试通道重新进行幅度和相位补偿，并将幅度和相位补偿数据发送至所述T/R组件的存储器中。

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