CN109240904B - Fru写入测试***及方法 - Google Patents

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Abstract

一种FRU写入测试方法，适用于测试具有识别码标签之待测机台，包括：扫描识别码标签以撷取识别码；透过测试主机连接至待测机台以判断待测机台之FRU之既定储存区段内是否储存有数据；当既定储存区段内无储存数据时，对FRU进行读写测试程序；当既定储存区段内有储存数据时，更判断既定储存区段内之数据是否与识别码相符；当既定储存区段内之数据与识别码相符，则仍对FRU进行读写测试程序；以及当既定储存区段内之数据与识别码不相符，则输出测试未通过警示。

Description

FRU写入测试***及方法
【技术领域】
本发明是有关于一种FRU(field-replaceable unit；现场可替换组件)写入测试***及方法，特别是指判断待测机台是否正确之FRU写入测试***及方法。
【背景技术】
一般来说，电子设备(例如，计算机或服务器)中会设置有FRU用以储存其电子设备的相关信息，以便管理及判别电子设备，而设置于电子设备中的FRU可为闪存(flashmemory)或其他类型的电子抹除式可复写只读存储器(electrically erasableprogrammable read-only memory；EEPROM)。传统上，在电子设备的生产测试流程中，测试人员会先扫描电子设备上的识别码标签来取得相应于该电子设备的部件编号(partnumber)，例如，产品编号(product number)或是序号(serial number)等，接着再透过将部件编号写入FRU后读出以判断FRU是否正常。
然而，在测试的流程中，由于电子设备的外观大多相同，经常会因为人为的疏失，测试人员在一台电子设备做完扫描识别码标签后，却对另一台电子设备进行读写测试，因而写入错误的部件编号至电子设备的FRU中，或是重复地对同一台电子设备进行读写测试而使部分电子设备在未被测试的情况下，误判为合格。为了改善以上问题，目前仍需要一种较佳的FRU写入测试***及方法。
【发明内容】
本发明要解决的技术问题提供一种FRU写入测试***及方法,其可避免了重复测试而造成的资源浪费，且避免前一台合格的待测机台未卸下仍继续测试而误判后一台待测机台为合格，增加了测试的可靠度。
为解决上述技术问题,本发明提供一种FRU写入测试方法，适用于测试具有识别码标签之待测机台，包括：扫描识别码标签以撷取识别码；透过测试主机连接至待测机台以判断待测机台之FRU之既定储存区段内是否储存有数据；当既定储存区段内无储存数据时，对FRU进行读写测试程序；当既定储存区段内有储存数据时，更判断既定储存区段内之数据是否与识别码相符；当既定储存区段内之数据与识别码相符，则仍对FRU进行读写测试程序；以及当既定储存区段内之数据与识别码不相符，则输出测试未通过警示。
优选地，上述读写测试程序更包括：将所撷取之识别码写入至FRU之既定储存区段内；于识别码写入至既定储存区段后，再透过测试主机读取既定储存区段内之数据，并判断所读取的既定储存区段内之数据是否与所写入至FRU之识别码相符；当所读取之数据与识别码相符，则输出测试通过讯息；以及当所读取之数据与识别码不相符，则输出测试未通过警示。
优选地,FRU写入测试方法更包括：判断从识别码标签所撷取之上述识别码是否符合一既定格式；以及当上述识别码不符合上述既定格式，则输出上述测试未通过警示。
优选地，识别码为待测机台之产品编号(product number)或序号(serialnumber)。
为解决上述技术问题,本发明还提供一种FRU写入测试***，包括待测机台、识别码扫描单元以及测试主机。待测机台具有识别码标签以及FRU。识别码扫描单元用以扫描识别码标签以撷取识别码。测试主机连接至待测机台以判断FRU之既定储存区段内是否储存有数据。当既定储存区段内无储存数据时，测试主机对FRU进行读写测试程序。当既定储存区段内有储存数据时，测试主机更判断既定储存区段内之数据是否与识别码相符。当既定储存区段内之数据与识别码相符，测试主机对FRU进行读写测试程序。当既定储存区段内之数据与识别码不相符，测试主机输出测试未通过警示。
优选地，在读写测试程序中，测试主机将所撷取之识别码写入至FRU之既定储存区段内之后，再读出既定储存区段内之数据以判断所读取的既定储存区段内之数据是否与所写入至FRU之识别码相符。此外，当所读取之数据与识别码相符，测试主机则输出测试通过讯息，而当所读取之数据与识别码不相符，测试主机则输出测试未通过警示。
优选地，测试主机更判断从识别码标签所撷取之识别码是否符合既定格式，当识别码不符合既定格式，测试主机则输出测试未通过警示。
优选地，识别码为待测机台之产品编号(product number)或序号(serialnumber)。
相较于现有技术,本发明在进行写入测试流程之前，侦测FRU122内既定储存区段是否已储存有数据，也判断所储存的数据是否对应于所扫描的识别码标签，藉此判别待测机台是否已被错误地重复测试或是欲进行二次测试的待测机台。因此，相较于传统的测试方式，本发明避免了重复测试而造成的资源浪费，且避免前一台合格的待测机台未卸下仍继续测试而误判后一台待测机台为合格，增加了测试的可靠度。
【附图说明】
本发明之其他的特征及功效，将于参照图式的实施方式中清楚地呈现，其中：
第1图系显示根据本发明一实施例所述之FRU写入测试***之示意图。
第2图系显示根据本发明第1图实施例之FRU写入测试***之运作流程图。
【具体实施方式】
以下所述以特定方式表达显示于图标中之实施例或例子。但应了解该实施例或例子并非用以限制。任何本发明实施例的替换以及修改，以及本发明原则之任何进一步应用，对于本发明领域具有通常技术者能参考本发明说明书内容而完成。
第1图系显示根据本发明一实施例所述之FRU写入测试***10之示意图。如第1图所示，FRU写入测试***10包括测试主机110、待测机台120、识别码扫描单元130。待测机台120包括有FRU122以及识别码标签124，FRU122用以储存其待测机台120的相关信息，而识别码标签124设置于待测机台120上，用以指示待测机台120的识别码，例如，产品编号(product number)或是序号(serial number)。识别码扫描单元130连接至测试主机110，测试主机110透过识别码扫描单元130来扫描待测机台120上的识别码标签124，以取得待测机台120的识别码。测试主机110在取得待测机台120的识别码后，与待测机台120通信连接，并根据所取得的识别码对FRU122进行FRU写入测试的程序。
以下以第2图并配合第1图来说明本发明FRU写入测试***10之运作流程。首先，在步骤S202中，透过识别码扫描单元130来扫描待测机台120上的识别码标签124以撷取对应于待测机台120之识别码。接着，于步骤S204，测试主机110则判断所撷取的识别码是否符合既定格式，若符合，则继续步骤S206，若不符合，则继续步骤S218。藉此，以避免误扫描到错误的标签或是以错误的待测物进行测试程序。举例来说，若识别码默认为英文2字符与数字4字符结合的序号，则在步骤S204则判断所取得的识别码是否具有英文2字符与数字4字符，或是进一步判断其组合是否符合默认的规则，应了解到，以上仅用以说明，任何识别码的格式设定或规则皆应包括在本发明中，并非限制于此。
在步骤S206中，测试主机110与待测机台120通信连接，并判断待测机台120的FRU122内的既定储存区段是否有储存数据，若无，则继续步骤S208以继续读写测试程序，反之，则继续步骤S214。应了解到，若待测机台120是首次进行FRU写入测试，此时FRU122内用于储存识别码之既定储存区段尚未储存有数据。因此，可藉由判断该既定储存区段是否储存有数据，来判断待测机台120是否已被重复测试。
当测试主机110判断待测机台120的FRU122内的既定储存区段没有储存数据，则接着于步骤S208，测试主机110将从识别码标签124所取得的识别码写入至FRU122的既定储存区段内，接着，并于步骤S210中，测试主机110再读取FRU122中既定储存区段内的数据。于步骤S212，判断从FRU122的既定储存区段读取出的数据是否与写入的识别码相符。若相符，则继续步骤S216，反之，则继续步骤S218。换句话说，在步骤S208到S212中，测试主机110判断写入至FRU122的数据是否与读出的资料相同，藉此测试FRU122是否正常。
另一方面，若测试主机110在步骤S206已判断待测机台120的FRU122内的既定储存区段已储存有数据，意即，待测机台120并非首次测试，则待测机台120可能为前一次测试的待测机台但却没有卸下与测试主机110的连接，或者是曾经测试未通过但经过维修后欲进行二次测试的待测机台。为了判断上述情况，在步骤S214中，测试主机110判断从FRU122的既定储存区段读取出的数据是否与识别码标签124的识别码相符，若相符，则表示所扫描的识别码标签124与测试主机110所连接的待测机台120有相对应，待测机台120为欲进行二次测试的待测机台，继续步骤S208以继续读写测试程序。反之，若不相符，则表示所扫描的识别码标签124与测试主机110所连接的待测机台120没有对应，很可能为已测试过但尚未卸下的待测机台，则继续步骤S218。
在步骤S216，测试主机110输出测试通过讯息，举例来说，测试主机110可透过适当的输出单元来通知用户测试已通过，例如，透过LED亮绿灯，或透过显示器输出测试通过画面等，来通知使用者测试已通过。另外，在步骤S218中，测试主机110输出测试未通过警示，举例来说，测试主机110可透过适当的输出单元，例如，透过LED亮红灯，或透过显示器输出测试未通过画面等，来通知使用者测试未通过。在一些实施例中，测试主机110更可根据测试未通过的类型来输出警示，例如，藉由LED点亮的数量、闪烁速率、顺序或颜色不同等分别指示识别码不符合既定格式、识别码标签与FRU内的数据不相符、写入FRU的识别码与读出的数据不相符等不同状态，或者，也可透过显示器直接以文字或图形的方式来显示测试未通过的类型。
综上所述，本发明在进行写入测试流程之前，侦测FRU122内既定储存区段是否已储存有数据，也判断所储存的数据是否对应于所扫描的识别码标签，藉此判别待测机台120是否已被错误地重复测试或是欲进行二次测试的待测机台。因此，相较于传统的测试方式，本发明避免了重复测试而造成的资源浪费，且避免前一台合格的待测机台未卸下仍继续测试而误判后一台待测机台为合格，增加了测试的可靠度。
本发明之方法，或特定型态或其部份，可以以程序代码的型态存在。程序代码可以包含于实体媒体，如软盘、光盘片、硬盘、或是任何其他机器可读取(如计算机可读取)储存媒体，亦或不限于外在形式之计算机程序产品，其中，当程序代码被机器，如计算机加载且执行时，此机器变成用以参与本发明之装置。程序代码也可以透过一些传送媒体，如电线或电缆、光纤、或是任何传输型态进行传送，其中，当程序代码被机器，如计算机接收、加载且执行时，此机器变成用以参与本发明之装置。当在一般用途处理单元实作时，程序代码结合处理单元提供一操作类似于应用特定逻辑电路之独特装置。
本发明虽已叙述较佳之实施例如上，但应了解上述所揭露并非用以限制本发明实施例。相反地，其涵盖多种变化以及相似的配置(熟知此技术者可明显得知)。此外，应根据后附之权利要求作最广义的解读以包含所有上述的变化以及相似的配置。

Claims (8)

1.一种FRU写入测试方法，适用于测试具有一识别码标签之一待测机台，其特征在于,上述方法包括：
扫描上述识别码标签以撷取对应于上述待测机台之一识别码；
透过一测试主机连接至上述待测机台以判断上述待测机台之一FRU之一既定储存区段内是否储存有数据；
当上述既定储存区段内无储存数据时，透过上述测试主机对上述FRU首次进行一读写测试程序；
当上述FRU之上述既定储存区段内有储存数据时，在进行本次读写测试程序以对上述既定储存区段进行写入之前，先判断上述既定储存区段内之数据是否与扫描上述识别码标签所撷取的上述识别码相符；
当上述待测机台之上述FRU之上述既定储存区段内之数据与扫描上述识别码标签所撷取的上述识别码相符，则透过上述测试主机对上述FRU重复进行上述读写测试程序；以及
当上述待测机台之上述FRU之上述既定储存区段内之数据与扫描上述识别码标签所撷取的上述识别码不相符，则输出一测试未通过警示。
2.如权利要求第1项所述FRU写入测试方法，其特征在于，上述读写测试程序更包括：
将扫描上述识别码标签所撷取之上述识别码写入至上述FRU之上述既定储存区段内；
于上述识别码写入至上述既定储存区段后，再透过上述测试主机读取上述既定储存区段内之数据，并判断所读取的上述既定储存区段内之数据是否与扫描上述识别码标签所撷取用以写入至上述FRU之上述识别码相符；
当所读取上述FRU所储存之数据与扫描上述识别码标签所撷取之上述识别码相符，则输出一测试通过讯息；以及
当所读取上述FRU所储存之数据与扫描上述识别码标签所撷取之上述识别码不相符，则输出上述测试未通过警示。
3.如权利要求第1项所述FRU写入测试方法，其特征在于,更包括：
判断从识别码标签所撷取之上述识别码是否符合一既定格式；以及
当从识别码标签所撷取之上述识别码不符合上述既定格式，则输出上述测试未通过警示。
4.如权利要求第1项所述FRU写入测试方法，其特征在于，从识别码标签所撷取之上述识别码为上述待测机台之产品编号或序号。
5.一种FRU写入测试***，其特征在于,包括：
一待测机台，具有一识别码标签以及一FRU；
一识别码扫描单元，用以扫描上述识别码标签以撷取一识别码；以及
一测试主机，连接至上述待测机台以判断上述FRU之一既定储存区段内是否储存有数据；
其中，当上述既定储存区段内无储存数据时，上述测试主机对上述FRU首次进行一读写测试程序；
其中，当上述FRU之上述既定储存区段内有储存数据时，在进行本次读写测试程序以对上述既定储存区段进行写入之前，上述测试主机先判断上述既定储存区段内之数据是否与扫描上述识别码标签所撷取之上述识别码相符；
其中，当上述FRU之上述既定储存区段内之数据与扫描上述识别码标签所撷取之上述识别码相符，上述测试主机对上述FRU重复进行上述读写测试程序；以及
其中，当上述FRU之上述既定储存区段内之数据与扫描上述识别码标签所撷取之上述识别码不相符，上述测试主机输出一测试未通过警示。
6.如权利要求第5项所述FRU写入测试***，其特征在于，在上述读写测试程序中，上述测试主机将扫描上述识别码标签所撷取之上述识别码写入至上述FRU之上述既定储存区段内之后，再读出上述FRU之上述既定储存区段内之数据以判断所读取的上述FRU之上述既定储存区段内之数据是否与扫描上述识别码标签所撷取用以写入至上述FRU之上述识别码相符，
其中，当所读取上述FRU所储存之数据与扫描上述识别码标签所撷取之上述识别码相符，上述测试主机则输出一测试通过讯息，而当所读取上述FRU所储存之数据与扫描上述识别码标签所撷取之上述识别码不相符，上述测试主机则输出上述测试未通过警示。
7.如权利要求第5项所述FRU写入测试***，其特征在于，上述测试主机更判断从识别码标签所撷取之上述识别码是否符合一既定格式，当上述识别码不符合上述既定格式，上述测试主机则输出上述测试未通过警示。
8.如权利要求第5项所述FRU写入测试***，其特征在于，从识别码标签所撷取之上述识别码为上述待测机台之产品编号或序号。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1725382A (zh) * 2004-07-20 2006-01-25 中兴通讯股份有限公司 一种闪存存储器的检测方法
CN101661396A (zh) * 2008-08-29 2010-03-03 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 快速获取测试程序以测试主板的测试***及其方法
CN101853692A (zh) * 2009-04-03 2010-10-06 群联电子股份有限公司 具闪存测试功能的控制器及其储存***与测试方法
CN104244312A (zh) * 2014-09-29 2014-12-24 上海原动力通信科技有限公司 一种用于rru基站的多项目测试方法
CN205982552U (zh) * 2016-09-09 2017-02-22 杭州万高科技股份有限公司 一种ic测试装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5615335A (en) * 1994-11-10 1997-03-25 Emc Corporation Storage system self-test apparatus and method
CN102034071B (zh) * 2009-09-25 2014-07-09 神基科技股份有限公司 用于测试条形码辨识装置的自动测试***和自动测试方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1725382A (zh) * 2004-07-20 2006-01-25 中兴通讯股份有限公司 一种闪存存储器的检测方法
CN101661396A (zh) * 2008-08-29 2010-03-03 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 快速获取测试程序以测试主板的测试***及其方法
CN101853692A (zh) * 2009-04-03 2010-10-06 群联电子股份有限公司 具闪存测试功能的控制器及其储存***与测试方法
CN104244312A (zh) * 2014-09-29 2014-12-24 上海原动力通信科技有限公司 一种用于rru基站的多项目测试方法
CN205982552U (zh) * 2016-09-09 2017-02-22 杭州万高科技股份有限公司 一种ic测试装置

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