CN109151461B - 一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法,平行光管的分划板口径小于光电自准直仪的口径,光学平晶的口径大于光电自准直仪的口径,光学平晶采用前、后面平行度高的光学平晶;本发明简单易行,提高了测量精度,在实验室内即可完成。
Description
技术领域
本发明涉及光电设备技术领域,尤其涉及一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法。
背景技术
摄像***的调焦光轴角度偏差是一个非常重要的指标,特别是进行跟踪瞄准的摄像***,该指标更为关键。高精跟踪摄像机的调焦光轴角度偏差要求一般都在1″内,因此对其测试尤为困难。
发明内容
本发明的目的是为了克服现有技术中的缺陷,提供一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法,简单易行,提高测量精度。
本发明是通过以下技术方案实现:
一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法,具有如下步骤:
S1、将两台测量精度为0.1″的光电自准直仪相向放置在稳定的光学平台上,以使两者间的距离能够放下平行光管和被测高精跟踪摄像机,将一台光电自准直仪的光轴与另一台光电自准直仪的光轴调试重合,并且,将一台光电自准直仪的几何轴与另一台光电自准直仪的几何轴调试重合;
S2、放入平行光管,分划板处于物镜焦面上,通过中心偏调试原理使分划板十字中心处于平行光管物镜光轴上,分划板位于平行光管的内部;
S3、调整平行光管整***置和角度,使平行光管的光轴和右边自准直仪的光轴重合,同时使平行光管的几何轴和右边自准直仪的几何轴重合;
S4、调整分划板俯仰偏摆角度,使分划板和左边自准直仪光轴垂直,同时保证平行光管光轴和右边自准直仪的光轴重合;
S5、放入被测高精跟踪摄像机,调焦,使摄像机能清晰看到平行光管的分划板像,调整高精跟踪摄像机的位置和角度,使摄像机光轴和3米平行光管光轴重合,同时使摄像机几何轴和3米平行光管几何轴重合;
S6、放入光学平晶,调节光学平晶的角度,使光学平晶和左边光电自准直仪光轴垂直,此时平行光管模拟有限远目标;
S7、被测高精跟踪摄像机进行调焦,使摄像机能够清晰看到分划板像,通过显示屏读出此时光轴偏差的像素数,根据摄像机镜头焦距值,得到此时光轴相对无穷远目标时的光轴角度偏差;
S8、依次***不同厚度的光学平晶,针对不同厚度的光学平晶,重复执行步骤S6-S7,即可测出不同距离的光轴角度偏差,最后作图,得到该高精跟踪摄像机的光轴抖动曲线。
本发明进一步改进在于,所述步骤S8中,光学平晶厚度的计算公式为:
其中,H为光学平晶的厚度,n为光学平晶材料的折射率,f为平行光管焦距,L为模拟距离。
本发明进一步改进在于,所述平行光管的分划板口径小于光电自准直仪的口径。
本发明进一步改进在于,所述光学平晶的口径大于光电自准直仪的口径。
本发明进一步改进在于,所述光学平晶采用前、后面平行度高的光学平晶。
与现有的技术相比,本发明的有益效果是:
本发明提供一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法,简单易行,提高了测量精度,在实验室内即可完成。
附图说明
图1为本发明一个实施例中测试原理的示意图;
图2为本发明一个实施例中用于说明光学平晶平行度的示意图;
图3为本发明一个实施例中用于说明光线通过光学平晶到分划板的示意图;
图4为本发明一个实施例中用于说明图3中光线在分划板上移动后的示意图;
附图标记如下:
1、光电自准直仪,2、平行光管光源,3、分划板,4、光学平晶,5、平行光管,6、物镜,7、高精跟踪摄像机。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
如图1所示,一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法,具有如下步骤:
S1、将两台测量精度为0.1″的光电自准直仪相向放置在稳定的光学平台上,以使两者间的距离能够放下平行光管和被测高精跟踪摄像机,将一台光电自准直仪的光轴与另一台光电自准直仪的光轴调试重合,并且,将一台光电自准直仪的几何轴与另一台光电自准直仪的几何轴调试重合;
S2、放入平行光管,分划板处于物镜焦面上,通过中心偏调试原理使分划板十字中心处于平行光管物镜光轴上,分划板位于平行光管的内部;
S3、调整平行光管整***置和角度,使平行光管的光轴和右边自准直仪的光轴重合,同时使平行光管的几何轴和右边自准直仪的几何轴重合;
S4、调整分划板俯仰偏摆角度,使分划板和左边自准直仪光轴垂直,同时保证平行光管光轴和右边自准直仪的光轴重合;
S5、放入被测高精跟踪摄像机,调焦,使摄像机能清晰看到平行光管的分划板像,调整高精跟踪摄像机的位置和角度,使摄像机光轴和3米平行光管光轴重合,同时使摄像机几何轴和3米平行光管几何轴重合;
S6、放入光学平晶,调节光学平晶的角度,使光学平晶和左边光电自准直仪光轴垂直,此时平行光管模拟有限远目标;
S7、被测高精跟踪摄像机进行调焦,使摄像机能够清晰看到分划板像,通过显示屏读出此时光轴偏差的像素数,根据摄像机镜头焦距值,得到此时光轴相对无穷远目标时的光轴角度偏差;
S8、依次***不同厚度的光学平晶,针对不同厚度的光学平晶,重复执行步骤S6-S7,即可测出不同距离的光轴角度偏差,最后作图,得到该高精跟踪摄像机的光轴抖动曲线。
在上述技术方案中,平行光管光源为图示中的标号2,选用0.1″光电自准直仪1、3″光学平晶4、3米平行光管5,光学平晶4前后面平行度越高越好,其材料和厚度根据模拟距离目标计算得到。不同厚度的光学平晶4越多,最后得到的曲线越准确。
具体实施时,所述步骤S8中,光学平晶4厚度的计算公式为:
其中,H为光学平晶4的厚度,n为光学平晶4材料的折射率,f为平行光管焦距,L为模拟距离。
具体实施时,所述平行光管5的分划板3口径小于光电自准直仪1的口径。
具体实施时,所述光学平晶4的口径大于光电自准直仪1的口径。
具体实施时,所述光学平晶4采用前、后面平行度高的光学平晶。
更具体地,在上述实施的基础上,光学平晶厚度的计算为:
选用材料为最常用的K9玻璃,折射率为n=1.51637,模拟500米时,3米平行光管的分划板移动量(高斯公式)为
Δ=f2/L ①
f为平行光管焦距3000mm,L为模拟距离500m,Δ为分划板向物镜方向移动量(加入平晶等效为分划板向物镜方向发生了移动);
平晶厚度为H,对应的空气厚度为H/n,则产生的移动量为
Δ=H-H/n ②
联合①②得
则模拟500米时,光学平晶4的厚度为52.86mm,其余类推。
作为本发明一个较佳的实施例,如图2至图4所示,光学平晶4的前后两面不可能时绝对的平行,一般都会有一个楔角θ。光学平晶4的到分划板面的距离为d,光学平晶4的厚度为H,光线通过该光学平晶4时,发生的角度偏转δ为
δ=θ(n-1),
则光线在分划板面上的径向位移为
a=dδ=dθ(n-1),
那么对应的在3米平行光管上的光轴角度偏差γ(即模拟目标的调焦光轴稳定性)为
γ=a/f=dθ(n-1)/f,
测试时,光学平晶4的和分划板3靠近越小越好,选d=5mm。平晶加工楔角小于4″较容易达到,选θ=4″,n=1.51637,f=3000mm,则γ=0.003″。
即该测试方法模拟的目标调焦光轴角度偏差达到0.003″,达到测试要求小于1″的精度,且远远优于目前常用的内调焦平行光管目标模拟测试方法(其拟光轴角度偏差在3″以上)。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法,其特征在于,具有如下步骤:
S1、将两台测量精度为0.1″的光电自准直仪相向放置在稳定的光学平台上,以使两者间的距离能够放下平行光管和被测高精跟踪摄像机,将一台光电自准直仪的光轴与另一台光电自准直仪的光轴调试重合,并且,将一台光电自准直仪的几何轴与另一台光电自准直仪的几何轴调试重合;
S2、放入平行光管,分划板处于物镜焦面上,通过中心偏调试原理使分划板十字中心处于平行光管物镜光轴上,分划板位于平行光管的内部;
S3、调整平行光管整***置和角度,使平行光管的光轴和右边自准直仪的光轴重合,同时使平行光管的几何轴和右边自准直仪的几何轴重合;
S4、调整分划板俯仰偏摆角度,使分划板和左边自准直仪光轴垂直,同时保证平行光管光轴和右边自准直仪的光轴重合;
S5、放入被测高精跟踪摄像机,调焦,使摄像机能清晰看到平行光管的分划板像,调整高精跟踪摄像机的位置和角度,使摄像机光轴和3米平行光管光轴重合,同时使摄像机几何轴和3米平行光管几何轴重合;
S6、放入光学平晶,调节光学平晶的角度,使光学平晶和左边光电自准直仪光轴垂直,此时平行光管模拟有限远目标;
S7、被测高精跟踪摄像机进行调焦,使摄像机能够清晰看到分划板像,通过显示屏读出此时光轴偏差的像素数,根据摄像机镜头焦距值,得到此时光轴相对无穷远目标时的光轴角度偏差;
S8、依次***不同厚度的光学平晶,针对不同厚度的光学平晶,重复执行步骤S6-S7,即可测出不同距离的光轴角度偏差,最后作图,得到该高精跟踪摄像机的光轴抖动曲线。
3.根据权利要求1所述的一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法,其特征在于:所述平行光管的分划板口径小于光电自准直仪的口径。
4.根据权利要求1所述的一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法,其特征在于:所述光学平晶的口径大于光电自准直仪的口径。
5.根据权利要求1所述的一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法,其特征在于:所述光学平晶采用前、后面平行度高的光学平晶。
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