CN109032864A - 一种NVMe SSD热插拔测试的方法及*** - Google Patents
一种NVMe SSD热插拔测试的方法及*** Download PDFInfo
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Abstract
本申请公开了一种NVMe SSD热插拔测试的方法,包括:主机端接收输入的测试命令;根据测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开,以模拟NVMe SSD的***或拔出;其中,NVMe SSD通过独立电源供电;执行测试程序对主机端进行测试,并将得到的测试结果对应记为热***测试结果或热拔出测试结果;输出热***测试结果和/或热拔出测试结果。本申请不需要人工手动测试或机械插拔测试,极大的减少了对人力物力的消耗,测试效率较高,能够大规模快速得到有效的NVMe SSD热插拔测试数据。本申请同时还提供了一种NVMe SSD热插拔测试的***、设备及计算机可读存储介质,具有上述有益效果。
Description
技术领域
本申请涉及面向自动测试领域,特别涉及一种NVMe SSD热插拔测试的方法、***、设备及计算机可读存储介质。
背景技术
在云计算时代,海量数据需要存储和读取,非易失性内存主机控制器接口规范固态硬盘(Non-Volatile Memory express Solid State Disk,NVMe SSD)引入了相对优秀的输入/输出性能,并迅速成为存储的关键组件。
NVMe SSD直接连接于通用的PCIe总线上,而NVMe SSD的控制器在驱动器内部,会随着SSD的移除而删除,热插拔处理完全依赖于操作***的PCIe热插拔处理机制。如果对热拔插的支持易用性不好,很容易导致***异常,业务中断。因此测试闪存产品的热拔插的***可靠性成为存储产品测试的一项关键业务和技术。
目前的NVMe SSD热插拔测试基本是人工手动测试,测试效率低,测试次数少,有效测试结果少,无法大规模快速得到有效的NVMe SSD热插拔测试数据;部分采用机械插拔测试方法,无法及时预警和记录所遇到的相关问题,只能得到成功概率等宽泛的测试数据,无法为产品的热插拔可靠性提供保障。
发明内容
本申请的目的是提供一种NVMe SSD热插拔测试的方法、***、设备及计算机可读存储介质,用于完成NVMe SSD热插拔的自动化测试。
为解决上述技术问题,本申请提供一种NVMe SSD热插拔测试的方法,该方法包括:
主机端接收输入的测试命令;
根据所述测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开,以模拟所述NVMe SSD的***或拔出;其中,所述NVMe SSD通过独立电源供电;
执行测试程序对所述主机端进行测试,并将得到的测试结果对应记为热***测试结果或热拔出测试结果;
输出包括所述热***测试结果和/或所述热拔出测试结果的测试文档。
可选的,输出包括所述热***测试结果和/或所述热拔出测试结果的测试文档,包括:
判断所述测试结果的数量是否小于阈值;
若是,则返回执行根据所述测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开的步骤;
若否,则输出包括所述热***测试结果和/或所述热拔出测试结果的测试文档。
可选的,所述测试文档中还包括测试日期、测试开始时间、测试结束时间、测试中断次数中的至少一项。
可选的,所述执行测试程序对所述主机端进行测试,包括:
依次执行各测试脚本对所述主机端进行测试;
当各所述测试脚本执行完毕后,记录测试结果。
本申请还提供一种NVMe SSD热插拔测试的***,该***包括:
接收模块,用于主机端接收输入的测试命令;
控制模块,用于根据所述测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开,以模拟所述NVMe SSD的***或拔出;其中,所述NVMe SSD通过独立电源供电;
测试模块,用于执行测试程序对所述主机端进行测试,并将得到的测试结果对应记为热***测试结果或热拔出测试结果;
输出模块,用于输出包括所述热***测试结果和/或所述热拔出测试结果的测试文档。
可选的,所述输出模块包括:
判断子模块,用于判断所述测试结果的数量是否小于阈值;
返回子模块,用于当所述测试结果的数量小于所述阈值时,返回至所述控制模块;
输出子模块,用于当所述测试结果的数量不小于所述阈值时,输出包括所述热***测试结果和/或所述热拔出测试结果的测试文档。
可选的,所述测试模块包括:
测试子模块,用于依次执行各测试脚本对所述主机端进行测试;
记录子模块,用于当各所述测试脚本执行完毕后,记录测试结果。
本申请还提供一种NVMe SSD热插拔测试设备,该NVMe SSD热插拔测试设备包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如上述任一项所述NVMe SSD热插拔测试的方法的步骤。
本申请还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一项所述NVMe SSD热插拔测试的方法的步骤。
本申请所提供NVMe SSD热插拔测试的方法,包括:主机端接收输入的测试命令;根据测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开,以模拟NVMe SSD的***或拔出;其中,NVMeSSD通过独立电源供电;执行测试程序对主机端进行测试,并将得到的测试结果对应记为热***测试结果或热拔出测试结果;输出热***测试结果和/或热拔出测试结果。
本申请所提供的技术方案,通过预先为NVMe SSD设置独立供电的电源,使得当主机端接收到输入的测试命令时,能够根据测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开,以实现模拟NVMe SSD的***或拔出的目的,不需要人工手动测试或机械插拔测试,极大的减少了对人力物力的消耗,测试效率较高,能够大规模快速得到有效的NVMe SSD热插拔测试数据。本申请同时还提供了一种NVMe SSD热插拔测试的***、设备及计算机可读存储介质,具有上述有益效果,在此不再赘述。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例所提供的一种NVMe SSD热插拔测试的方法的流程图;
图2为本申请实施例所提供的一种NVMe SSD热插拔测试的***的结构图;
图3为本申请实施例所提供的另一种NVMe SSD热插拔测试的***的结构图;
图4为本申请实施例所提供的一种NVMe SSD热插拔测试设备的结构图。
具体实施方式
本申请的核心是提供一种NVMe SSD热插拔测试的方法、***、设备及计算机可读存储介质,用于完成NVMe SSD热插拔的自动化测试。
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
请参考图1,图1为本申请实施例所提供的一种NVMe SSD热插拔测试的方法的流程图。
其具体包括如下步骤:
S101:主机端接收输入的测试命令;
基于目前的NVMe SSD热插拔测试基本是人工手动测试,测试效率低,测试次数少,有效测试结果少,无法大规模快速得到有效的NVMe SSD热插拔测试数据;部分采用机械插拔测试方法,无法及时预警和记录所遇到的相关问题,只能得到成功概率等宽泛的测试数据,无法为产品的热插拔可靠性提供保障,本申请提供了一种NVMe SSD热插拔测试的方法,用于解决该问题。
S102:根据测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开,以模拟NVMe SSD的***或拔出;
这里提到的NVMe SSD通过独立电源供电,一般情况下,主机端通过判断NVMe SSD是否存在检测改变中断和数据链路层状态改变中断来确定NVMe SSD的***和拔出,当主机端接收到测试命令后,根据该测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开,此时NVMe SSD存在检测改变中断和数据链路层状态改变中断,进而实现了模拟NVMe SSD的***或拔出;
可选的,可以通过执行脚本的方式控制NVMe SSD的电源开启或断开,以达到循环自动测试的目的,进而能够有效获取足够多的NVMe SSD热插拔测试数据,以减少测试周期,为产品的热插拔可靠性提供保障。
S103:执行测试程序对主机端进行测试,并将得到的测试结果对应记为热***测试结果或热拔出测试结果;
这里提到的将得到的测试结果对应记为热***测试结果或热拔出测试结果,其具体可以通过dmesg指令来实时抓取主机的测试过程信息及测试结果;
优选的,这里提到的执行测试程序对主机端进行测试,其具体可以为:
依次执行各测试脚本对主机端进行测试;
当各测试脚本执行完毕后,记录测试结果;
这里提到的测试脚本可以包括但不限于IO测试脚本、Netlink通信测试脚本,实际情况中可以根据具体的测试需求设置对应的测试脚本,本申请对测试脚本的内容及类别不做具体限定。
S104:输出包括热***测试结果和/或热拔出测试结果的测试文档。
当测试完毕后,输出包括热***测试结果和/或热拔出测试结果的测试文档,以使用户能够直接根据测试文档去分析判断***对热拔插的支持易用性,而不需要用户自行记录整理测试结果,减轻了测试人员的负担。
优选的,这里提到的输出包括热***测试结果和/或热拔出测试结果的测试文档,其具体可以为:
判断测试结果的数量是否小于阈值;
若是,则返回执行根据测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开的步骤;
若否,则输出包括热***测试结果和/或热拔出测试结果的测试文档;
可选的,能够有效获取足够多的NVMe SSD热插拔测试数据,以提高测试的准确性,还可以预先为测试结果的数量设置阈值,若测试结果的数量小于该阈值,则返回执行根据测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开的步骤,进而得到多个测试结果,降低偶发情况对测试结果的影响;
进一步的,这里提到的测试文档中还可以包括测试日期、测试开始时间、测试结束时间、测试中断次数中的至少一项,以方便用户对NVMe SSD热插拔测试的测试结果进行统计分析。
基于上述技术方案,本申请所提供的一种NVMe SSD热插拔测试的方法,通过预先为NVMe SSD设置独立供电的电源,使得当主机端接收到输入的测试命令时,能够根据测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开,以实现模拟NVMe SSD的***或拔出的目的,不需要人工手动测试或机械插拔测试,极大的减少了对人力物力的消耗,测试效率较高,能够大规模快速得到有效的NVMe SSD热插拔测试数据。
请参考图2,图2为本申请实施例所提供的一种NVMe SSD热插拔测试的***的结构图。
该***可以包括:
接收模块100,用于主机端接收输入的测试命令;
控制模块200,用于根据测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开,以模拟NVMeSSD的***或拔出;其中,NVMe SSD通过独立电源供电;
测试模块300,用于执行测试程序对主机端进行测试,并将得到的测试结果对应记为热***测试结果或热拔出测试结果;
输出模块400,用于输出包括热***测试结果和/或热拔出测试结果的测试文档。
进一步的,请参考图3,图3为本申请实施例所提供的另一种NVMe SSD热插拔测试的***的结构图。
该输出模块400可以包括:
判断子模块,用于判断测试结果的数量是否小于阈值;
返回子模块,用于当测试结果的数量小于阈值时,返回至控制模块200;
输出子模块,用于当测试结果的数量不小于阈值时,输出包括热***测试结果和/或热拔出测试结果的测试文档。
该测试模块300可以包括:
测试子模块,用于依次执行各测试脚本对主机端进行测试;
记录子模块,用于当各测试脚本执行完毕后,记录测试结果。
以上***中的各个组成部分可实际应用于以下的实施例中:
接收模块主机端接收输入的测试命令;控制模块根据测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开,以模拟NVMe SSD的***或拔出;测试子模块依次执行各测试脚本对主机端进行测试;当各测试脚本执行完毕后,记录子模块记录测试结果;
判断子模块判断测试结果的数量是否小于阈值;当测试结果的数量小于阈值时,返回子模块返回至控制模块;当测试结果的数量不小于阈值时,输出子模块输出包括热***测试结果和/或热拔出测试结果的测试文档。
请参考图4,图4为本申请实施例所提供的一种NVMe SSD热插拔测试设备的结构图。
该NVMe SSD热插拔测试设备400可因配置或性能不同而产生比较大的差异,可以包括一个或一个以上处理器(central processing units,CPU)422(例如,一个或一个以上处理器)和存储器432,一个或一个以上存储应用程序442或数据444的存储介质430(例如一个或一个以上海量存储设备)。其中,存储器432和存储介质430可以是短暂存储或持久存储。存储在存储介质430的程序可以包括一个或一个以上模块(图示没标出),每个模块可以包括对装置中的一系列指令操作。更进一步地,中央处理器422可以设置为与存储介质430通信,在NVMe SSD热插拔测试设备400上执行存储介质430中的一系列指令操作。
NVMe SSD热插拔测试设备400还可以包括一个或一个以上电源426,一个或一个以上有线或无线网络接口450,一个或一个以上输入输出接口458,和/或,一个或一个以上操作***441,例如Windows ServerTM,Mac OS XTM,UnixTM,LinuxTM,FreeBSDTM等等。
上述图1所描述的NVMe SSD热插拔测试的方法中的步骤由NVMe SSD热插拔测试设备基于该图4所示的结构实现。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的***,装置和模块的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的装置、设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,模块的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个***,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或模块的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的,作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中,也可以是各个模块单独物理存在,也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能模块的形式实现。
集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,功能调用装置,或者网络设备等)执行本申请各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上对本申请所提供的一种NVMe SSD热插拔测试的方法、***、设备及计算机可读存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请原理的前提下,还可以对本申请进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。
还需要说明的是,在本说明书中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
Claims (9)
1.一种NVMe SSD热插拔测试的方法,其特征在于,包括:
主机端接收输入的测试命令;
根据所述测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开,以模拟所述NVMe SSD的***或拔出;其中,所述NVMe SSD通过独立电源供电;
执行测试程序对所述主机端进行测试,并将得到的测试结果对应记为热***测试结果或热拔出测试结果;
输出包括所述热***测试结果和/或所述热拔出测试结果的测试文档。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,输出包括所述热***测试结果和/或所述热拔出测试结果的测试文档,包括:
判断所述测试结果的数量是否小于阈值;
若是,则返回执行根据所述测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开的步骤;
若否,则输出包括所述热***测试结果和/或所述热拔出测试结果的测试文档。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述测试文档中还包括测试日期、测试开始时间、测试结束时间、测试中断次数中的至少一项。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述执行测试程序对所述主机端进行测试,包括:
依次执行各测试脚本对所述主机端进行测试;
当各所述测试脚本执行完毕后,记录测试结果。
5.一种NVMe SSD热插拔测试的***,其特征在于,包括:
接收模块,用于主机端接收输入的测试命令;
控制模块,用于根据所述测试命令控制NVMe SSD的电源开启或断开,以模拟所述NVMeSSD的***或拔出;其中,所述NVMe SSD通过独立电源供电;
测试模块,用于执行测试程序对所述主机端进行测试,并将得到的测试结果对应记为热***测试结果或热拔出测试结果;
输出模块,用于输出包括所述热***测试结果和/或所述热拔出测试结果的测试文档。
6.根据权利要求5所述的***,其特征在于,所述输出模块包括:
判断子模块,用于判断所述测试结果的数量是否小于阈值;
返回子模块,用于当所述测试结果的数量小于所述阈值时,返回至所述控制模块;
输出子模块,用于当所述测试结果的数量不小于所述阈值时,输出包括所述热***测试结果和/或所述热拔出测试结果的测试文档。
7.根据权利要求5所述的***,其特征在于,所述测试模块包括:
测试子模块,用于依次执行各测试脚本对所述主机端进行测试;
记录子模块,用于当各所述测试脚本执行完毕后,记录测试结果。
8.一种NVMe SSD热插拔测试设备,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述NVMe SSD热插拔测试的方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述NVMe SSD热插拔测试的方法的步骤。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20181218 |