CN109031446A - 载玻片检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及载玻片辅助工具,尤其涉及载玻片检测装置。本发明所要解决的技术问题是提供一种结构设计合理、可以检测支架上的载玻片是否放满的载玻片检测装置。本发明所述的载玻片检测装置,支架滑动连接于架体上,在架体上设置检载玻片的检测器,支架定位于架体上以后,由检测器对支架上的载玻片进行检测,确定支架上所有的定位空间是否都放置有载玻片。检测器与定位空间一一对应,每个检测器仅检测一个定位空间,该方案可以精确定位没有放置载玻片的定位空间,有利于后续操作。
Description
技术领域
本发明涉及载玻片辅助工具,尤其涉及载玻片检测装置,属于检测技术领域。
背景技术
载玻片是用于显微镜的一种工具,主要起到承载标本的作用。在对载玻片进行批量操作时,一般需要将载玻片放置于相应的支架上,以利于操作。
示例性的,在对载玻片进行批量清洗时,一般将载玻片放置于支架上,一个支架上可以放置若干片载玻片,以利于清洗设备对载玻片进行清洗。
由于一个支架上可以放置多片载玻片,但是在实际操作时,支架上的载玻片可能并没有放满,即支架上可能留有一个或一个以上的空位,空位中没有放置载玻片,此时,清洗设备在清洗过程中可能会对支架上的空位进行清洗。
支架的空位上并没有放置载玻片,清洗设备对空位进行清一方面造成清洗液的浪费,另一方面,在对支架上的空位清洗时还有可能损伤与空位相邻的载玻片。
因此,现有技术中用于定位载玻片的支架存在无法检测支架上的载玻片是否放满的技术问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种结构设计合理、可以检测支架上的载玻片是否放满的载玻片检测装置。
本发明解决上述技术问题所采用的技术方案是:
载玻片检测装置,包括架体和固定载玻片的支架,所述支架与所述架体滑动连接,所述支架上设置有定位载玻片的定位空间,在所述架体上设置有检测器,该检测器在支架定位于架体上以后检测定位空间内是否有载玻片,所述检测器与所述定位空间一一对应。
本发明所述的载玻片检测装置,支架滑动连接于架体上,在架体上设置检载玻片的检测器,支架定位于架体上以后,由检测器对支架上的载玻片进行检测,确定支架上所有的定位空间是否都放置有载玻片。检测器与定位空间一一对应,每个检测器仅检测一个定位空间,该方案可以精确定位没有放置载玻片的定位空间,有利于后续操作。
优选的,所述检测器包括检测所述定位空间内是否有载玻片的传感器和与所述传感器电连接的电路板。
由电路板对传感器供电并传输传感器产生的信号,简化了载玻片检测装置的结构,降低了载玻片检测装置的制造成本。
优选的,所述传感器包括光敏组件和光源,所述光源与所述电路板电连接,并且,所述光源发出的光线穿过所述定位空间照射于所述光敏组件上。
光敏组件配合光源对载玻片进行检测,传感器的精度高。
优选的,所述光敏组件固定于所述电路板上,所述光源固定于所述架体上,所述电路板固定于所述架体上。
光敏组件固定于电路板上,电源通过电路板向光敏组件供电,简化了传感器的电路结构,降低了载玻片检测装置的使用成本。
优选的,所述光敏组件固定于所述电路板上,所述电路板通过连接架固定于所述架体上,所述光源固定于所述连接架上,所述连接架通过螺钉固定于所述架体上,在所述连接架上设置有与所述螺钉配合的螺孔,在所述架体上开设有穿设螺钉的条形槽。
条形槽的设置使得连接架可以相对于架体移动,即连接架相对于架体的位置可以调节,从而可以方便地调节光源、光敏组件相对于架体的位置,以使载玻片检测装置可以适应不同规格的载玻片,优化了载玻片检测装置的通用性能。
优选的,所述架体具有收纳所述支架的收纳空间,所述支架滑动连接于所述收纳空间内。
收纳空间的设置使得支架位于架体内的位置精确,有利于提高载玻片检测装置的检测精度。
优选的,在所述支架上设置有定位板,该定位板限定所述支架相对于所述收纳空间的位置,所述定位板设置于所述支架的一端,在所述架体上还设置有检测所述支架是否安装到位的位置感应器。
定位板的设置一方面可以提高支架相对于架体的位置精度,另一方面定位板的设置使得支架与架体装配操作方便,优化了载玻片检测装置的操作性能。
优选的,在所述架体上设置有弹片,在所述支架上设置有凹槽,支架与架体装配后,所述弹片与所述凹槽配合以定位所述支架。
弹片与凹槽的设置进一步提高了支架相对于架体的位置精度,进而提高了载玻片检测装置的检测精度。
本发明同现有技术相比具有以下优点及效果:
1、检测器与支架上的定位空间一一对应,每个检测器检测一个定位空间,从而可以方便地检测定位空间内是否有载玻片,并且,可以定位没有放置载玻片的定位空间。
2、连接架的设置使得检测器相对于架体的位置可以调节,从而可以适应不同规格的载玻片,优化了载玻片检测装置的通用性能。
3、弹片与凹槽的设置提高了支架相对于架体的定位精度,进而提高了载玻片检测装置的检测精度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明的结构示意图。
图2为本发明中具有连接架时的示意图。
图3为本发明中具有卡钩时的示意图。
图4为弹片与凹槽配合处的示意图。
标号说明:
1、架体,2、支架,3、检测器,4、传感器,5、电路板,6、光敏组件,7、连接架,8、条形槽,9、定位板,10、卡钩,11、卡槽,12、钩体,13、钩头,14、凹部,100、载玻片,201、弹片,202、凹槽。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明做进一步的详细说明,以下实施例是对本发明的解释而本发明并不局限于以下实施例。
实施例1
如图1,载玻片检测装置,包括架体1和固定载玻片100的支架2,所述支架2与所述架体1滑动连接,所述支架2上设置有定位载玻片100的定位空间,定位空间用于定位载玻片100,以使载玻片100在支架2上具有正确的位置,在所述架体1上设置有检测器3,该检测器3在支架2定位于架体1上以后检测定位空间内是否有载玻片100,所述检测器3与所述定位空间一一对应。
检测器3与定位空间一一对应是指一个检测器3检测一个定位空间内是否放置有载玻片100。
该方案在实际使用时,先将载玻片100放置于支架2的定位空间内,然后,将支架2固定于架体1上,支架2与架体1装配完成后,检测器3即可检测定位空间内是否放置有载玻片100。
该方案主要用于检测支架2上的定位空间内是否都放置有载玻片100。该载玻片100检测装置尤其适用于对载玻片100进行批量操作。示例性的,该载玻片100检测装置应用于载玻片100清洗设备。检测器3与载玻片100清洗设备的控制***通讯,定位空间内没有放置载玻片100时,载玻片清洗设备的控制***可以根据检测器3反馈的信息跳过没有放置载玻片100的定位空间,从而可以避免清洗液的浪费。
实施例2
本实施例结合实施例1,主要介绍检测器3。
如图1,所述检测器3包括检测所述定位空间内是否有载玻片100的传感器4和与所述传感器4电连接的电路板5。
电路板5实现两个功能:功能一,电路板5起到连接传感器4与电源的作用,即电源通过电路板5向传感器4供电。功能二,电路板5起到传递信号的作用,即传感器4产生的信号通过电路板5传输出去。示例性的,传感器4产生的信号可通过电路板5传送至载玻片100清洗设备的控制***,以利于载玻片100清洗设备的控制***根据传感器4产生的信号控制载玻片100清诜设备的动作。
如图1,所述传感器4包括光敏组件6和光源,所述光源与所述电路板5电连接,光源与电路板5电连接是指,电源通过电路板5向光源供电。
并且,所述光源发出的光线穿过所述定位空间照射于所述光敏组件6上。光源发出的光线穿过定位空间照射于光敏组件6上,光敏组件6即可产生信号。
载玻片100包括透明区域和不透明区域。载玻片100放置于定位空间内,光源发出的光线照射于载玻片100的不透明区域上。定位空间内放置有载玻片100时,光源发出的光线被载玻片100的不透明区域阻挡,此时,光敏组件6无法检测到光线,代表该定位空间内放置有载玻片100。定位空间内没有定放置载玻片100时,光源发出的光线可以顺利穿过定位空间而被光敏组件6检测到,此时,光敏组件6可以检测到光线,代表定位空间内没有放置载玻片100。
检测器3也可以采用其它可以检测定位空间内是否有载玻片100的结构替代,例如超声波探测器等等。
实施例3
本实施结合实施例2,主要介绍光敏组件6、光源的固定方式。
如图1,所述光敏组件6固定于所述电路板5上,光敏组件6可以焊接于电路板5上,所述光源固定于所述架体1上,光源可以粘接于架体1上,所述电路板5固定于所述架体1上。电路板5可以通过螺钉固定于架体1上。光敏组件6、光源及电路板5的固定方式不做具体限定,本领域技术人员可以自由选择。
光源、光敏组件6及电路板5还可以通过如下方式进行固定:
如图2,所述光敏组件6固定于所述电路板5上,光敏组件6可以焊接于电路板5上,所述电路板5通过连接架7固定于所述架体1上,即电路板5固定于连接架7上,连接架7固定于架体1上,电路板5与连接架7可以通过螺钉固定。所述光源固定于所述连接架7上,光源可以粘接于连接架7上,所述连接架7通过螺钉固定于所述架体1上,在所述连接架7上设置有与所述螺钉配合的螺孔,在所述架体1上开设有穿设螺钉的条形槽8。
螺钉可以沿条形槽8的长度方向滑动,从而可以调节连接架7相对于架体1的位置,由于支架2相对于架体1的位置一般不会变动,因此,调节连接架7相对于架体1的位置可以使载玻片检测装置具有良好的通用性能。
电源通过电路板5向光敏组件6、光源供电。
所述架体1具有收纳所述支架2的收纳空间,所述支架2滑动连接于所述收纳空间内。当具有连接架7时,在连接架7上也应具有收纳支架2的空间,即,连接架7收纳于架体1上的收纳空间内,而支架2至少一部分收纳于连接架7上的空间内。
实施例4
本实施例可结合上述任一实施例,主要介绍支架2。
如图1,在所述支架2上设置有定位板9,该定位板9限定所述支架2相对于所述收纳空间的位置,所述定位板9设置于所述支架2的一端。定位板9可以焊接于支架2上。支架2装配于架体1内以后,定位板9位于收纳空间外,以利于取出支架2。定位板9起到定位作用的同时还相当于手柄,以利于支架2与架体1的装配。
在所述架体1上还设置有检测所述支架2是否安装到位的位置感应器,该位置感应器与载波片清洗设备的控制***通讯。位置感应器可以为碰触开关等电子器件,位置感应器可以粘接在架体1上。
实施例5
本实施例结合实施例4,是对实施例4的优化。
如图4,在所述架体1上设置有弹片201,在所述支架2上设置有凹槽202,支架2与架体1装配后,所述弹片201与所述凹槽202配合以定位所述支架2。
该弹片201可以为圆弧形,凹槽202的形状与弹片相适配,支架2装配至架体1内时,弹片201产生弹性变形,当支架2与架体1装配到位后,弹片201位于凹槽202内,弹片201的弹性变形恢复,以将架体2定位于支架1内。弹片201可以焊接在架体1上。
架体2与支架1的定位方案还可以为:
如图2、图3,在所述定位板9上设置有卡钩10,卡钩10可以焊接于定位板9上,在所述架体1上设置有与所述卡钩10配合的卡槽11,所述卡钩10包括可产生弹性形变的钩体12和横截面形状为V字形的钩头13,钩头13与钩体12可以为一体式结构,所述钩头13沿所述支架2的厚度方向凸出所述钩体12,在所述卡槽11的侧壁上设置有与所述钩头13配合的凹部14。
钩头13与凹部14配合限定支架2相对于架体1的位置。在将支架2装配至架体1上的时候,或者,将支架2由架体1上取下时,利用钩体12产生的弹性变形使钩头13与凹部14脱离,进而实现支架2的装配或拆开。
本实施例主要利用钩头13与凹部14配合限定支架2相对于架体1的位置,以提高支架2的位置精度,进而提高载玻片检测装置的检测精度。
此外,需要说明的是,本说明书中所描述的具体实施例,其零、部件的形状、所取名称等可以不同。凡依本发明专利构思所述的构造、特征及原理所做的等效或简单变化,均包括于本发明专利的保护范围内。本发明所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代,只要不偏离本发明的结构或者超越本权利要求书所定义的范围,均应属于本发明的保护范围。
Claims (8)
1.载玻片检测装置,包括架体(1)和固定载玻片的支架(2),所述支架(2)与所述架体(1)滑动连接,所述支架(2)上设置有定位载玻片的定位空间,其特征是:在所述架体(1)上设置有检测器(3),该检测器(3)在支架(2)定位于架体(1)上以后检测定位空间内是否有载玻片,所述检测器(3)与所述定位空间一一对应。
2.根据权利要求1所述的载玻片检测装置,其特征是:所述检测器(3)包括检测所述定位空间内是否有载玻片的传感器(4)和与所述传感器(4)电连接的电路板(5)。
3.根据权利要求2所述的载玻片检测装置,其特征是:所述传感器(4)包括光敏组件(6)和光源,所述光源与所述电路板(5)电连接,并且,所述光源发出的光线穿过所述定位空间照射于所述光敏组件(6)上。
4.根据权利要求3所述的载玻片检测装置,其特征是:所述光敏组件(6)固定于所述电路板(5)上,所述光源固定于所述架体(1)上,所述电路板(5)固定于所述架体(1)上。
5.根据权利要求3所述的载玻片检测装置,其特征是:所述光敏组件(6)固定于所述电路板(5)上,所述电路板(5)通过连接架(7)固定于所述架体(1)上,所述光源固定于所述连接架(7)上,所述连接架(7)通过螺钉固定于所述架体(1)上,在所述连接架(7)上设置有与所述螺钉配合的螺孔,在所述架体(1)上开设有穿设螺钉的条形槽(8)。
6.根据权利要求1所述的载玻片检测装置,其特征是:所述架体(1)具有收纳所述支架(2)的收纳空间,所述支架(2)滑动连接于所述收纳空间内。
7.根据权利要求6所述的载玻片检测装置,其特征是:在所述支架(2)上设置有定位板(9),该定位板(9)限定所述支架(2)相对于所述收纳空间的位置,所述定位板(9)设置于所述支架(2)的一端,在所述架体(1)上还设置有检测所述支架(2)是否安装到位的位置感应器。
8.根据权利要求7所述的载玻片检测装置,其特征是:在所述架体(1)上设置有弹片(201),在所述支架(2)上设置有凹槽(202),支架(2)与架体(1)装配后,所述弹片(201)与所述凹槽(202)配合以定位所述支架(2)。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20181218 |
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WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |