CN108986851A - 具有定向稳健性的圆形印刷存储器***和方法 - Google Patents

具有定向稳健性的圆形印刷存储器***和方法 Download PDF

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Abstract

一种圆形存储器装置包含多个底部电极、多个顶部电极、铁电层以及在所述铁电层内在所述底部电极中的每一个与每一顶部电极的交叉点处的多个存储器存储位置。所述底部电极和顶部电极的接触垫可包含限定环形扇区的周边，所述环形扇区允许在一定范围的旋转位置内对所述圆形存储器装置执行存储器操作。在实例实施方案中，可对所述圆形存储器装置执行所述存储器操作，而不管所述圆形存储器装置相对于读取器的旋转定向。

Description

具有定向稳健性的圆形印刷存储器***和方法
技术领域
本教导内容大体上涉及印刷存储器装置，以及更具体地说，涉及具有旋转检测的圆形存储器装置和用于形成所述圆形存储器装置的方法。
背景技术
印刷存储器装置可包含存储多个信息位或数据位的多个存储器位置或存储器单元。印刷存储器装置包含多个并联顶部电极(即，导线)和多个并联底部电极，其中所述底部电极垂直于所述顶部电极布置。多个电极形成相交交叉点矩阵，其中每一交叉点是存储器存储位置。通过夹在两个交叉电极之间的有源层的状态来存储每一数据位。每一电极由此用于存取多个存储器位置和数据位。
每一电极可终止在接触垫中，所述接触垫具有增大的尺寸和/或表面积以减少与电极的电气耦合。用于多个底部电极的接触垫可彼此线性地布置。此外，用于多个顶部电极的接触垫可彼此线性地布置。为了对存储器位置执行存储器操作(例如，读取和/或写入)，使用接触垫以电气方式存取形成存储器位置的交叉点的底部电极和顶部电极。存储器操作可由例如读取器等装置执行，其中多个探头被布置成以物理和电气方式接触多个接触垫。
印刷存储器装置可用于各种不同应用。举例来说，印刷存储器装置可存储可用于识别或其它应用的数据位的组合。
发明内容
下文呈现简化概述以便提供本教导内容的一个或多个实施方案的一些方面的基本理解。此概述不是详尽的综述，也不旨在识别本教导内容的关键或重要的元件以划定本公开的范围。实际上，其初始目的仅仅是以简化形式呈现一个或多个概念，以作为稍后呈现的详细描述的序言。
在一实施方案中，存储器装置包含多个底部电极，所述多个底部电极包含多个底部电极接触垫和多个底部电极延伸构件，其中：多个底部电极接触垫中的每一个与底部电极延伸构件中的一个电气连通；多个底部电极接触垫中的每一个包含等分底部电极接触垫且与存储器装置的中心相距第一半径而定位的第一弧形中线；且每一底部电极接触垫的周边限定被第一弧形中线等分的环形扇区。在此实施方案中，存储器装置进一步包含：多个顶部电极，所述多个顶部电极包含多个顶部电极接触垫和多个顶部电极延伸构件，其中：多个顶部电极接触垫中的每一个与顶部电极延伸构件中的一个电气连通；多个顶部电极接触垫中的每一个包含等分顶部电极且与存储器装置的中心相距第二半径而定位的第二弧形中线，其中第一半径不同于第二半径；和铁电层，所述铁电层定位于多个底部电极延伸构件与多个顶部电极延伸构件之间。
在另一实施方案中，存储器***包含圆形存储器装置，所述圆形存储器装置具有多个底部电极，所述多个底部电极包含多个底部电极接触垫和多个底部电极延伸构件，其中：多个底部电极接触垫中的每一个与底部电极延伸构件中的一个电气连通；多个底部电极接触垫中的每一个包含等分底部电极接触垫且与圆形存储器装置的中心相距第一半径而定位的第一弧形中线；且每一底部电极接触垫的周边限定被第一弧形中线等分的环形扇区。圆形存储器装置进一步包含：多个顶部电极，所述多个顶部电极包含多个顶部电极接触垫和多个顶部电极延伸构件，其中：多个顶部电极接触垫中的每一个与顶部电极延伸构件中的一个电气连通；多个顶部电极接触垫中的每一个包含等分顶部电极且与圆形存储器装置的中心相距第二半径而定位的第二弧形中线，其中第一半径不同于第二半径；和铁电层，所述铁电层定位于多个底部电极延伸构件与多个顶部电极延伸构件之间。存储器***进一步包含被配置成在圆形存储器装置上执行存储器操作的读取器，所述读取器包含多个探头，所述多个探头被配置成以电气方式耦合到多个底部电极接触垫和多个顶部电极接触垫。
用于在圆形存储器装置上执行存储器操作的方法的实施方案包含：将读取器放置成与圆形存储器装置物理接触；检测读取器的多个主探头中的每个主探头是否以电气方式耦合到圆形存储器装置的多个电极中的一个电极；响应于多个主探头中的每个主探头以电气方式耦合到多个电极中的一个电极，使用多个主探头在圆形存储器装置上执行存储器操作；响应于多个主探头中的每个主探头未以电气方式耦合到多个电极中的一个电极，检测读取器的多个辅助探头中的每个辅助探头是否以电气方式耦合到圆形存储器装置的多个电极中的一个电极；和响应于多个辅助探头中的每个辅助探头以电气方式耦合到多个电极中的一个电极，使用多个辅助探头在圆形存储器装置上执行存储器操作。
附图说明
并入在本说明书中且构成本说明书的一部分的附图说明本教导内容的实施方案，且与描述一起用来解释本公开的原理。在图中：
图1是根据本教导内容的一实施方案的圆形存储器装置的平面视图。
图2是沿图1的2-2的示意性横截面。
图3是沿图3的3-3的示意性横截面。
图4描绘包含任选钝化层的图3结构。
图5描绘以物理和电气方式接触读取器的探头的图1结构。
图6描绘与读取器的探头不对准的图1结构。
图7描绘以电气方式接触读取器的探头的图1结构。
图8是描绘读取器的探头的平面视图。
图9是附接到产品的图1装置的透视的描绘。
图10是与读取器物理和电气接触的图9结构的透视的描绘，所述读取器可在图1的装置上执行存储器操作。
图11A、11B示出可根据本教导内容的一实施方案执行的方法的流程图。
图12描绘在采用图11A、11B的流程图的方法期间读取器与图1的装置的各种可能的对准。
图13是根据本教导内容的一实施方案的圆形存储器装置的另一实施方案。
图14A、14B示出可根据本教导内容的一实施方案执行的方法的流程图。
图15描绘在采用图14A、14B的流程图的方法期间读取器与图13的装置的各种可能的对准。
应注意，图的一些细节已为了有助于理解本教导内容简化和绘制而不是维持严格的结构精确性、细节和比例。
具体实施方式
现在将详细参考本教导内容的示范性实施方案，所述示范性实施方案的实例在附图中说明。在可能的情况下，将在整个图式中使用相同参考数字来指代相同或相似部分。
圆形存储器装置的实施方案在2017年3月6日提交的标题为《具有旋转检测的圆形印刷存储器装置(Circular Printed Memory Device with Rotational Detection)》且以全文引用的方式并入本文中的第15/450,856号美国专利申请中有描述。所公开的圆形存储器装置包含含有中心构件的顶部电极和多个底部电极，其中每一底部电极包含圆形接触区域和延伸构件。可通过使顶部电极的中心构件与底部电极圆形构件中的一个接触而在此圆形存储器装置上执行例如读取和/或写入等存储器操作。为了读取特定存储器单元，使例如读取器的针或探头与特定存储器单元的圆形构件精确地对准。如果圆形存储器装置被旋转，那么探头可以物理方式接触不同存储器单元的圆形构件。由于读取器包含多个探头，且圆形存储器装置的设计包含允许读取器确定旋转定向的特征，因此读取器可使用读取器的不同电气接触件来读取特定存储器单元。
本公开概括地公开相对于旋转定向具有稳健性的圆形印刷存储器装置(被称为“圆形存储器装置”或“存储器装置”)。在一个实施方案中，当存储器装置定位在旋转定向的范围内时可通过读取器的接触件来成功地读取存储器装置。
根据本教导内容的一实施方案的存储器装置100在图1的平面视图、沿图1的“2-2”截取的图2的横截面和沿图1的“3-3”截取的图3的横截面中所描绘。存储器装置100包含基底衬底102、多个底部电极104A到104E(在本文中被单独称为底部电极104和/或统称为底部电极104)、铁电层106和多个顶部电极108A到108E(在本文中被单独称为顶部电极108和/或统称为顶部电极108)。在一个实施方案中，基底衬底102、底部电极104、铁电层106和顶部电极108可在彼此的顶部上形成层，其中铁电层106定位于底部电极104与顶部电极108之间。将了解，根据本教导内容的一实施方案的存储器装置100可包含为简单起见尚未描绘的其它结构和/或特征，且所描绘的结构和/或特征可被移除或修改。
在一实施方案中，基底衬底102可以是提供柔性基底衬底102的柔性材料。举例来说，柔性材料可以是或包含柔性塑料，例如，聚萘二甲酸伸乙酯(PEN)、聚对苯二甲酸伸乙酯(PET)等。
基底衬底102可被设置为连续片材。举例来说，基底衬底102可被卷起且馈送通过组装线，从而产生多个圆形存储器装置100。基底衬底102，且因此每一圆形存储器装置100，接着可被冲压或从基底衬底102的连续片材切下。
多个底部电极104和多个顶部电极108可由一个或多个导电材料层构成，所述导电材料例如铜、金、银、铝、金属合金等。
在一实施方案中，每一底部电极104A到104E可包含接触垫110A到110E和延伸构件112A到112E。与每一存储器单元相关联的接触垫110和延伸构件112可以是单个连续结构(例如，由一个或多个相同导电层形成)。此外，每一顶部电极108A到108E可具有接触垫114A到114E和延伸构件116A到116E。与每一存储器单元相关联的接触垫114和延伸构件116同样可以是单个连续结构。接触垫110、114为底部电极104和顶部电极108提供相对大的表面，读取器的探头或针阵列可与所述表面进行物理和电气接触。在一实施方案中，图1的平面视图中的每一接触垫110、114可具有限定如所描绘的环形扇区形状的周边。底部电极的接触垫110A到110E中的每一个可具有与其它接触垫110A到110E中的每一个大约相同的第一表面积，且顶部电极的接触垫114A到114E中的每一个可具有与其它接触垫114A到114E大约相同的第二表面积，其中第一表面积大于第二表面积。
多个底部电极104可以圆形图案布置在基底衬底102上，同时接触垫110朝向存储器装置100的外部周边定位且延伸构件112朝向(例如，指向)存储器装置100的中心“O”定向。(如图1中所描绘，存储器装置100的中心“O”是线2-2与3-3的交点处的位置。)每一底部电极104的每一接触垫110可具有延伸通过接触垫110且等分接触垫110的第一弧形中线118，其中第一中线118的每一点与中心“O”相距第一距离。
任何类型的铁电材料可用于铁电层106。在一个实施方案中，铁电层106可包含聚合物，所述聚合物含有氟，例如聚四氟乙烯(PTFE)、全氟烷氧基(PFA)、聚偏二氟乙烯(PVDF)、三氟乙烯(TFE)等，或其组合。其它铁电材料和/或材料组合可设想用作铁电层106。
多个顶部电极108还可以圆形图案布置在基底衬底102上，其中接触垫114朝向中心“O”。如图1中所描绘，顶部电极108的延伸构件116可被布置成交错或叉指形螺旋，从而使得它们不会彼此相交(即，是不相交的)。如所描绘，每一顶部电极108可与每个底部电极104交叉，其中存储器单元形成于每一交叉点处。每一底部电极104的每一接触垫114可具有延伸通过接触垫114且作为弧等分接触垫114的第二弧形中线120，其中第二中线120的每一点与中心“O”相距第二距离，其中第二距离小于第一距离。
图1到3描绘具有五个底部电极104和五个顶部电极108的存储器装置。所描绘的存储器装置100因此包含25个存储器单元，其中每一存储器单元定位在底部电极104中的一个与顶部电极108中的一个的交叉点处。取决于底部电极104和顶部电极108的数目，根据本教导内容的存储器装置可包含多于或少于25个存储器单元。
由于铁电存储器的操作在所属领域中是已知的，因此在本文中仅简要地描述存储器装置100的电气操作。大体上，具有“0”状态或“1”状态的数据位存储于铁电层106内的每一底部电极104与每一顶部电极108的交叉点的位置处。铁电层内的铁电晶体的偏振向量确定存储哪一数据位。数据位中的一个可选择性地存储于存储器单元中或通过将合适的电压施加到与特定存储器位置配对的底部电极104和顶部电极108而从存储器单元读取。
底部电极中的一个(即，图1到3中所描绘的底部电极104A)可包含(例如，与其电气耦合)定位在中心“O”处的任选中心接触垫130且因此在本文中被称为“定向电极(orienting electrode)”或“定向电极(orientation electrode)”。中心接触垫130以电气方式耦合到(即，与其电气连通)延伸构件112A，且通过延伸构件112A进一步连接到接触垫110A。在一实施方案中，存储器装置100可包含仅一个定向电极，其中中心垫130以电气方式与仅一个底部电极耦合。中心接触垫130的周边限定如图1中所描绘的圆。在使用期间，来自读取器的探头阵列的第一探头可定位成以电气方式接触中心接触垫130，而第二探头可定位成以电气方式接触接触垫110A到110E中的一个。如果测量到第一探头与第二探头之间的低电阻，那么可确定第二探头以物理方式接触底部电极104A且圆形存储器装置的定向由此是已知的。相反地，如果测量到第一探头与第二探头之间的高电阻，那么可确定第二探头以物理方式接触底部电极104B到104E中的一个。在实践中，如下文所描述，读取器可包含五个探头(或在其它实施方案中多于五个或少于五个)，同时一个探头接触底部电极104A到104E中的每一个，使得可确定圆形存储器装置110的定向。
存储器装置100可包含例如如图4中所描绘的电介质钝化层400以保护装置结构。如果使用的话，钝化层400在其中可包含开口以暴露各种导电结构，从而允许例如与探头电气接触以用于测试、读取和/或写入存储器装置100。如图4中所描绘，钝化层400包含暴露和允许电气接触到底部电极接触垫110中的每一个的多个第一接触开口402、暴露和允许电气接触到中心接触垫130的第二接触开口404、以及暴露和允许电气接触到顶部电极接触垫114中的每一个的多个第三接触开口406。
为了对存储器装置100执行存储器操作(例如，读取和/或写入操作、测试操作、电气表征操作等)，例如读取器的多个接触针或探头可被放置成与底部电极104的多个接触垫110和顶部电极108的多个接触垫114电气接触，如图5的示意性平面图所描绘。图5描绘图1的存储器装置100以及以物理和电气方式接触接触垫110、114、130的一组或多个主电极探头或主探头500到504。多个主探头可以是或包含读取器的接触探头阵列的部分。主探头500到504包含：多个主底部电极探头500，其朝向圆形存储器装置100的外半径接触底部电极104；多个主顶部电极探头502，其在圆形存储器装置100的中间半径处接触顶部电极108；和中心垫探头504，其朝向圆形存储器装置100的中心“O”接触中心接触垫130。出于说明的目的，底部电极探头500和顶部电极探头502已被描绘为圆形且中心接触探头504已被描绘为星形，但将理解，接触探头500到504中的每一个将大体上具有相同形状，但是涵盖不同形状。
在图5平面视图的实施方案中且如上文所论述，接触垫110、114中的每一个可形成为或具有环形扇区形状。每一环形扇区可延伸过如图6中所描绘的圆的a°(即，可沿a°弧延伸)。a°的角度至少部分地取决于底部电极接触垫110的数目或顶部电极108的数目。在所描绘的实施方案中，底部电极接触垫110的数目(即，五个)等于顶部电极接触垫114的数目(即，五个)，且因此每一种的数目可被指定为“N”。a°的角度还至少部分地取决于用于相应电极类型的邻近接触垫之间的间隙，所述间隙在图6中为b°。接触垫110、114可围绕中心“O”均匀分布。邻近环形扇区之间的间隙b°可被计算为b°＝(360°/N-a°)。在一实施方案中，b°可大于主探头500到504的宽度，使得探头500到504无法桥接或跨越邻近底部电极接触垫110之间或顶部电极接触垫114之间。
举例来说，在图6实施方案中，N＝5且因此72°(360°/5)可得到a°+b°。如果a°被指定或选定为52.6°，那么b°＝72°-52.6°＝19.4°。因此在此实施方案中，相对于图5，存储器装置100可转过52.6°(即，关于图5定向顺时针26.3°或逆时针26.3°)，同时保持探头500、502与相应接触垫110、114中的每一个之间的物理和电气接触。因此，包含具有环形扇区形状的接触垫110、114的图5装置与具有圆形或正方形接触垫的装置相比具有旋转对偏的增大的公差。
图5的描述大体上是探头500到504与接触垫110、114、130之间的理想接触状态，原因是主探头500到504中的每一个以物理方式接触每一接触垫110、114、130的中心。图6描绘图5结构，其中读取器和一组主探头500到504相对于存储器装置100被旋转35°。在此情况下，只有中心垫探头504与存储器装置100进行电气接触，且因此对存储器装置的存储器操作将不会成功。关于旋转对偏，图6大体上描绘探头500到504与接触垫500、502之间的最坏情况的接触状态。
为了克服将不会产生成功的存储器操作的如图6中所描绘的旋转对偏，涵盖一组或多个辅助电极探头或辅助探头。多个辅助探头可以是或包含读取器的接触探头阵列的部分。多个第二电极探头从一组主探头的位置被旋转，其中辅助探头与中心“O”相距相同距离。图7描绘图6的存储器装置100和主探头500到504，以及一组辅助探头700、702。出于说明的目的，辅助探头700、702已被描绘为五边形，但将理解，接触探头500到504、700、702中的每一个将大体上具有相同形状，但是涵盖不同形状。辅助探头700、702包含：多个辅助底部电极探头700，其朝向圆形存储器装置100的外半径接触底部电极104；和多个辅助顶部电极探头702，其在圆形存储器装置100的中间半径处接触顶部电极108。
辅助探头700、702相对于主接触件500、502围绕中心点旋转“c°”。在图7中，c°＝29°。此“旋转偏移”具有值c°，其至少部分地由N的值以及读取器探头与接触垫之间的接触面积(在本文中被指定为“d°”)确定。如图7中所描绘，读取器探头与接触垫之间的接触面积对向d°，且约为5.5°。对于如上文所描述测量的a°、b°、c°和d°，值可被选定且读取器可被设计成使得b°<c°+d°<a°。接触垫因此具有N重旋转对称性。如果进一步地选择具有适当公差的几何形状，那么此关系可保持读取器与印刷存储器装置在指定公差窗口内的任何相对位置，例如，读取器上的中心接触件接触装置上的中心接触垫的任何相对位置。
如图7中所描绘，主底部电极探头500和辅助底部电极探头700各自定位成与探头阵列的中心相距第一距离(即，在第一半径处)，其中探头阵列的中心是定位在探头阵列的中心处的中心垫探头504的中心。主顶部电极探头502和辅助顶部电极探头702各自定位成与探头阵列的中心相距第二距离(即，在第二半径处)，其中第二距离小于第一距离。
图8是读取器800的端视图，其中读取器800包含多个主底部电极探头500、多个辅助底部电极探头700、多个主顶部电极探头502、多个辅助顶部电极探头702和中心垫探头504。探头500到504、700、702可以是例如针、探头尖端或另一类型的探头。
根据本文中的描述将理解，假设中心垫探头504与中心接触垫130对准，读取器800可被放置成以任何旋转定向与圆形存储器阵列100物理和电气接触，且可以任何旋转定向成功地执行存储器操作。在一实施方案中，可使用如本文中所描述的***，其中存储器装置100与读取器800之间的位置关系可被精确地控制，但印刷存储器装置与读取器之间的旋转关系不会被或可能不会被严格地控制。举例来说，图9是定位到具有圆柱形形状或圆柱形区段或凸部的产品900上的存储器装置100的透视的描绘。可使用例如胶粘剂层或另一紧固件等紧固件(为简单起见并未单独地描绘)将存储器装置100定位于产品900上。产品900在例如生产线内的位置可被精确地控制，而产品900的旋转对准不会被或可能不会被精确地控制。如图10中所描绘，读取器800可以任何旋转定向与产品900对准以在存储器装置100上执行存储器操作。举例来说，存储器装置100可用于存储产品900所特有的制造数据、跟踪数据、存量数据等。
用于在例如圆形存储器装置100等集成电路(IC)100上执行例如读取操作、写入操作、功能测试操作、表征测试操作或另一操作等存储器操作的方法或过程1100在图11A、11B的流程图中所描绘。方法1100可通过操作或使用上文所描述的图中所描绘的结构中的一个或多个而继续进行，且因此参考图1到10所描述；然而，将了解，方法1100不限于任何特定结构或用途，除非本文中明确地陈述。将了解，虽然方法1100被描述为一系列动作或事件，但是本教导内容不会受到此类动作或事件的次序限制。一些动作可以不同次序发生和/或与除本文中所描述的那些之外的其它动作或事件同时发生。此外，根据本教导内容的方法可包含为简单起见尚未描绘的其它动作或事件，而其它所描绘的动作或事件可被移除或修改。
方法1100开始于如在1102处将读取器800放置成与存储器装置100物理和/或电气接触，且如在1104处可将任选计数器初始化和/或设定为“0”。读取器800接着执行传感器操作以如在1106处确定中心垫探头504是否以电气方式连接或耦合到主底部电极探头500中的一个。如上文所论述，中心垫探头504与主底部电极探头500中的一个之间的低测量电阻指示两个探头各自连接到定向电极(即，图1中的底部电极104A)的一个末端。
如果读取器800在1106处确定主底部电极探头500中的一个和中心垫探头504各自连接到定向电极104A的一个末端，那么读取器800执行传感器操作以如在1108处确定每个主探头500、502是否以电气方式连接或耦合到存储器装置。如果读取器800确认1108处的电气连接，那么如在1110处使用一组主探头500、502执行存储器操作。在1110处的存储器操作期间，一组辅助探头700、702在电气上可能是不活动的(即，去激活)以减少或防止与主探头和/或存储器操作的电气干扰。如果未确认1108处的电气连接，那么流程分支到1112。
参考框1106，如果中心垫探头504未以电气方式连接到主底部电极探头500中的一个，那么读取器800执行传感器操作以如在1112处确定中心垫探头504是否电气连接或耦合到辅助底部电极探头700中的一个。如果读取器800在1112处确定辅助底部电极探头700中的一个和中心垫探头504各自连接到定向电极104A的一个末端，那么读取器800执行传感器操作以如在1114处确定每个辅助探头700、702是否以电气方式连接或耦合到存储器装置100。如果读取器800确认1114处的电气连接，那么如在1116处使用一组辅助探头700、702执行存储器操作。在1116处的存储器操作期间，一组主探头500、502在电气上可能是不活动的(即，去激活)。如果未确认1114处的电气连接，那么流程分支到1118。
在1118处，读取器800已确定尚未满足读取器800与存储器装置100之间的位置公差和/或尚未建立电气连接。在1120处，任选计数器可递增1，且接着如在1122处将计数器的值与预先建立的最大值进行比较。如果计数值等于最大值，那么如在1124处确定已发生可能的存储器故障(例如，存储器装置故障)、电气故障(例如，读取器800故障)和/或其它持续连接错误(例如，定位于存储器装置100与读取器800的探头500到504、700、702之间的外来绝缘体材料)。
如果在框1122处确定计数器的值小于预定最大值，那么如在1126处可重新定位和/或重新对准读取器800和/或存储器装置100，且流程可返回到框1106。
图12描绘存储器装置100与读取器800的各种探头之间的产生图11A、11B过程流程的各种决策的物理和电气连接的实例。举例来说，状态1200、1202、1204中的任一个将会在框1106处产生“是”决策，状态1200、1202中的任一个将会在1108处产生“是”决策，而状态1204将会在框1108处产生“否”决策。另外，状态1204将会在框1112处产生“否”决策，而状态1206、1208中的任一个将会在框1112处产生“是”决策。状态1206将会在框1114处产生“是”决策，而状态1208将会在框1114处产生“否”决策。状态1210将会在框1106和1112两者处产生“否”决策。
如上文所论述，图1的中心接触垫130是任选的。图13描绘不采用中心接触垫的使用的存储器装置1300。图13的存储器装置1300包含基底衬底1302、多个底部电极1304和多个顶部电极1306。由于图13的结构类似于图1结构，因此为简单起见已省略各种类似特征的参考数字。由于此实施方案省略了在图1结构中用于确定存储器装置100的旋转定向的中心垫，因此可采用用于确定存储器装置1300的定向的不同方案。举例来说，2016年9月2日提交且于2017年3月9日作为美国专利公布US2017/0068830A1公开的第15/255,435号美国专利申请中所描述的方案可应用到图13装置，所述美国专利申请以全文引用的方式并入本文中。此并入的公开案描述一种读取器和方法，其在一实施方案中比较对称定向的位对，使得存储器装置相对于读取器的定向不会更改存储器装置内容的确定。用于与此实施方案一起使用的读取器可显得类似于图8的读取器800，其中没有中心探头504，或具有不用于执行存储器操作的部分的中心探头504。
在图14A、14B的流程图中描绘用于在例如圆形存储器装置1300等IC 1300上执行例如读取操作、写入操作、功能测试操作、表征测试操作或另一操作等存储器操作的方法或过程1400。方法1400之后可为操作或使用上文所描述的图中所描绘的结构中的一个或多个，且因此大体上参考图8和13所描述；然而，将了解，方法1400不限于任何特定结构或用途，除非在本文中明确地陈述。将了解，虽然方法1400被描述为一系列动作或事件，但是本教导内容不会受到此类动作或事件的次序限制。一些动作可以不同次序发生和/或与除本文中所描述的那些之外的其它动作或事件同时发生。此外，根据本教导内容的方法可包含为简单起见尚未描绘的其它动作或事件，而其它所描绘的动作或事件可被移除或修改。
方法1400开始于如在1402处将读取器800放置成与存储器装置1300物理和/或电气接触，且如在1404处可将任选计数器初始化和/或设定为“0”。读取器800接着执行传感器操作以如在1406处确定每个主探头500、502是否以电气方式连接或耦合到存储器装置。如果读取器800在1406处确认电气连接，那么如在1408处使用一组主探头执行存储器操作。在1408处的存储器操作期间，一组辅助探头700、702在电气上可能是不活动的(即，去激活)。如果未确认1406处的电气连接，那么流程分支到1410。
读取器800执行传感器操作以在1410处确定每个辅助探头700、702是否以电气方式连接或耦合到存储器装置1300。如果读取器800确认1410处的电气连接，那么如在1412处使用一组辅助探头700、702执行存储器操作。在1412处的存储器操作期间，一组主探头500、502在电气上可能是不活动的(即，去激活)。如果未确认1410处的电气连接，那么流程分支到1414。在1414处，读取器800已确定尚未满足读取器800与存储器装置1300之间的位置公差和/或尚未建立电气连接。在1416处，任选计数器可递增1，且接着如在1418处将计数器的值与预先建立的最大值进行比较。如果计数值等于最大值，那么确定如在1124处已发生可能的存储器故障(例如，存储器装置故障)、电气故障(例如，读取器800故障)和/或其它持续连接错误(例如，定位于存储器装置1300与读取器800的探头500到504、700、702之间的外来绝缘体材料)，且可执行适当校正。
如果在框1418处确定计数器的值小于预定最大值，那么如在1422处可重新定位和/或重新对准读取器800和/或存储器装置1300，且流程可返回到框1406。
图15描绘存储器装置1300与读取器800的各种探头之间的产生图14A、14B过程流程的各种决策的物理和电气连接的实例。举例来说，状态1500、1502中的任一个将会在框1406处产生“是”决策，状态1504将会在1410处产生“是”决策，而状态1506将会在框1406和1410两者处产生“否”决策。
可使用例如用于制造的凹版滚筒或使用常规印刷存储器制造技术来实施根据本教导内容的印刷存储器装置100、1300。读取器800的电子件和结构可由所属领域的普通技术人员之一根据本文中的描述来设计和实施。
虽然存储器装置包含恰好五个底部电极、恰好五个顶部电极且在本文中描述和描绘了25个存储器位置，但是应理解，涵盖具有少于五个或多于五个底部和顶部电极的存储器装置。底部电极的数目不必等于顶部电极的数目。在一实施方案中，a°的值可在约52°到约55°的范围内，b°的值可在约17°到约20°的范围内，c°的值可在约24°到约34°的范围内，且d°的值可在约5°到约9°的范围内。在另一实施方案中，a°的值可在约57°到约60°的范围内，b°的值可在约12°到约15°的范围内，c°的值可在约26°到约36°的范围内，且d°的值可在约3°到约6°的范围内。在具有五个顶部电极和五个底部电极(即，N＝5或具有5重对称性的装置)的一般圆形存储器装置中，a°可在约52°到约62°的范围内，b°的值可在约12°到约20°的范围内，c°的值可在约13°到约36°的范围内，且d°的值可在约3°到约9°的范围内，其中b°<c°+d°<a°。这些值可取决于装置设计针对N的不同值且针对装置而变化，其中顶部电极的数目不等于底部电极的数目。
在一实施方案中，存储器***可包含圆形存储器装置和读取器800，所述圆形存储器装置可以是圆形存储器装置100、1300。可对圆形存储器装置执行存储器操作而不管圆形存储器装置相对于读取器的旋转定向。
在所描绘的示范性实施方案中，底部电极(例如，104)的延伸构件(例如，112)被描绘为从接触垫(例如，110)朝向圆形存储器装置(例如，100)的中心“O”线性地延伸。此外，顶部电极(例如，108)的延伸构件(例如，116)被描绘为是叉指形或交错螺旋。将了解，线性延伸构件和螺旋形延伸构件可被颠倒，使得底部电极包含叉指形或交错螺旋延伸构件，而顶部电极包含从接触垫朝向圆形存储器装置的中心“O”线性地延伸的线性延伸构件。从本文中的公开，并入有本教导内容的其它装置设计将对所属领域的普通技术人员变得显而易见。
将了解，底部电极104、1304，顶部电极108、1306，以及读取器探头500到504、702、704通常将由例如金属和/或金属合金等导电材料形成，所述金属和/或金属合金可包含例如金、银、铜、铝、铂等。基底衬底102可以是电介质材料，或可以是使用例如图案化或毯状电介质材料层(为简单起见并未单独地描绘)而与底部电极104、1304和顶部电极108、1306合适地电绝缘的导电材料。
将了解，在上文公开中术语“任选”的使用并非意欲暗示并未明确地陈述的其它处理动作或装置结构，原因是“任选”是所需的或不是任选的。由此，省略上文未明确地叙述为是任选的处理动作或结构的任何权利要求意欲反映处理动作或结构在所要求保护的实施方案中是任选的。
尽管阐述本教导内容的广泛范围的数值范围和参数是近似值，但特定实例中所阐述的数值是尽可能精确地报告的。但是，任何数值固有地含有由其相应测试测量值中所发现的标准差必然造成的某些错误。此外，本文中所公开的所有范围应理解为涵盖其中所包含的任何和所有子范围。举例来说，范围“小于10”可包含最小值零与最大值10之间(且包含)的任何和所有子范围，也就是说，具有等于或大于零的最小值和等于或小于10的最大值的任何和所有子范围，例如，1到5。在某些情况下，如陈述的参数的数值可呈现负值。在此情况下，陈述为“小于10”的范围的实例值可呈现负值，例如，-1、-2、-3、-10、-20、-30等。
虽然已关于一个或多个实施方案说明本教导内容，但是可在不脱离所附权利要求书的精神和范围的情况下对所说明的实例作出更改和/或修改。举例来说，将了解，虽然过程被描述为一系列动作或事件，但是本教导内容不会受到此类动作或事件的次序限制。一些动作可以不同次序发生和/或与除本文中所描述的那些之外的其它动作或事件同时发生。而且，并非所有过程阶段可能需要来实施根据本教导内容的一个或多个方面或实施方案的方法。将了解，可添加结构部件和/或处理阶段或可移除或修改现有结构部件和/或处理阶段。此外，本文中所描绘的动作中的一个或多个可以一个或多个单独动作和/或阶段实行。此外，就详细描述和权利要求书中使用术语“包含(including/includes)”、“具有(having/has)”、“带有”或其变化形式的程度而言，此类术语意在以类似于术语“包括”的方式是包含性的。术语“至少一个”用于意味着可选择列出的项目中的一个或多个。如本文中所使用，关于例如A和B的项目列表的术语“一个或多个”意味着单独A、单独B，或A和B。术语“至少一个”用于意味着可选择列出的项目中的一个或多个。此外，在本文中的论述和权利要求书中，关于两个材料适用的术语“上”，一个在另一个“上”意味着材料之间的至少某种接触，而“上方”意味着材料接近但可能带有一个或多个额外***材料，使得接触是可能的但不是所需的。“上”或“上方”都不暗示如本文中所使用的任何定向性。术语“共形”描述涂布材料，其中下伏材料的角度由共形材料维持。术语“约”指示可稍微更改列出的值，只要更改不会对所说明的实施方案造成过程或结构的不共形即可。最后，“示范性”指示描述用作实例而非暗示其是理想的。从本文中的公开的说明书和实践的考虑，本教导内容的其它实施方案将对所属领域的技术人员显而易见。希望仅将说明书和实例视为示范性的，且本教导内容的真正范围和精神由以下权利要求书来指示。
如本申请中所使用的相对位置的术语基于平行于工件的常规平面或工作表面来限定，而不管工件的定向。如本申请中所使用的术语“水平面”或“侧面”被限定为平行于工件的常规平面或工作表面的平面，而不管工件的定向。术语“竖直”是指垂直于水平面的方向。例如“上”、“侧”(如在“侧壁”中)、“更高”、“下部”、“上方”、“顶部”和“下方”关于在工件的顶表面上的常规平面或工作表面来限定，而不管工件的定向。

Claims (10)

1.一种存储器装置，包括：
多个底部电极，所述多个底部电极包括多个底部电极接触垫和多个底部电极延伸构件，其中：
所述多个底部电极接触垫中的每一个与所述底部电极延伸构件中的一个电气连通；
所述多个底部电极接触垫中的每一个包括等分所述底部电极接触垫且与所述存储器装置的中心相距第一半径而定位的第一弧形中线；且
每一底部电极接触垫的周边限定被所述第一弧形中线等分的环形扇区；
多个顶部电极，所述多个顶部电极包括多个顶部电极接触垫和多个顶部电极延伸构件，其中：
所述多个顶部电极接触垫中的每一个与所述顶部电极延伸构件中的一个电气连通；
所述多个顶部电极接触垫中的每一个包括等分所述顶部电极且与所述存储器装置的所述中心相距第二半径而定位的第二弧形中线，其中所述第一半径不同于所述第二半径；和
铁电层，所述铁电层定位于所述多个底部电极延伸构件与所述多个顶部电极延伸构件之间。
2.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述多个底部电极延伸构件和所述多个顶部电极延伸构件中的至少一个被布置成交错的不相交螺旋。
3.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述多个顶部电极延伸构件中的每一个在交叉点处与所述多个底部电极延伸构件的每个底部电极延伸构件交叉。
4.根据权利要求3所述的存储器装置，进一步包括定位在每个交叉点处的存储器存储位置。
5.一种存储器***，包括：
圆形存储器装置，包括：
多个底部电极，所述多个底部电极包括多个底部电极接触垫和多个底部电极延伸构件，其中：
所述多个底部电极接触垫中的每一个与所述底部电极延伸构件中的一个电气连通；
所述多个底部电极接触垫中的每一个包括等分所述底部电极接触垫且与所述圆形存储器装置的中心相距第一半径而定位的第一弧形中线；且
每一底部电极接触垫的周边限定被所述第一弧形中线等分的环形扇区；
多个顶部电极，所述多个顶部电极包括多个顶部电极接触垫和多个顶部电极延伸构件，其中：
所述多个顶部电极接触垫中的每一个与所述顶部电极延伸构件中的一个电气连通；
所述多个顶部电极接触垫中的每一个包括等分所述顶部电极且与所述圆形存储器装置的所述中心相距第二半径而定位的第二弧形中线，其中所述第一半径不同于所述第二半径；和
铁电层，所述铁电层定位于所述多个底部电极延伸构件与所述多个顶部电极延伸构件之间；和
读取器，所述读取器被配置成对所述圆形存储器装置执行存储器操作，所述读取器包括多个探头，所述多个探头被配置成以电气方式耦合到所述多个底部电极接触垫和所述多个顶部电极接触垫。
6.根据权利要求5所述的存储器***，所述多个探头包括多个主探头和多个辅助探头，其中：
所述多个辅助探头被配置成在所述存储器操作期间当来自所述多个主探头的每一主探头与所述底部电极接触垫中的一个或所述顶部电极接触垫中的一个电气连通时是不活动的；且
在所述存储器操作期间当主探头中的至少一个不与所述底部电极接触垫中的一个或所述顶部电极接触垫中的一个电气连通时，所述多个主探头被配置成是不活动的，且所述多个辅助探头被配置成执行所述存储器操作。
7.根据权利要求6所述的存储器***，其中：
每一底部电极接触垫和每一顶部电极接触垫沿52°到62°的弧延伸；且
所述多个辅助探头从所述多个主探头旋转地偏移13°到36°。
8.一种用于对圆形存储器装置执行存储器操作的方法，包括：
将读取器放置成与所述圆形存储器装置物理接触；
检测所述读取器的多个主探头中的每个主探头是否以电气方式耦合到所述圆形存储器装置的多个电极中的一个电极；
响应于所述多个主探头中的每个主探头以电气方式耦合到所述多个电极中的一个电极，使用所述多个主探头对所述圆形存储器装置执行所述存储器操作；
响应于所述多个主探头中的每个主探头未以电气方式耦合到所述多个电极的一个电极，检测所述读取器的多个辅助探头中的每个辅助探头是否以电气方式耦合到所述圆形存储器装置的所述多个电极中的一个电极；和
响应于所述多个辅助探头中的每个辅助探头以电气方式耦合到所述多个电极中的一个电极，使用所述多个辅助探头对所述圆形存储器装置执行所述存储器操作。
9.根据权利要求8所述的方法，进一步包括：
响应于所述多个辅助探头中的每个辅助探头未以电气方式耦合到所述多个电极中的一个电极，相对于所述圆形存储器装置重新定位或重新对准所述读取器；和。
执行所述读取器的所述多个主探头中的每个主探头是否以电气方式耦合到所述圆形存储器装置的所述多个电极中的一个电极的所述检测。
10.根据权利要求8所述的方法，进一步包括：
检测所述读取器的中心垫探头是否以电气方式耦合到所述多个主探头中的所述主探头中的一个；
响应于所述读取器的所述中心垫探头以电气方式耦合到所述主探头中的所述一个，执行每个主探头是否以电气方式耦合到所述多个电极中的一个电极的所述检测；和
响应于所述中心垫探头未以电气方式耦合到所述主探头中的一个，检测所述中心垫探头是否以电气方式耦合到所述多个辅助探头中的所述辅助探头中的一个。
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