CN108961185A - 一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置，分别采集OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像，再根据高灰阶图像和灰尘图像，将OLED屏上的灰尘区域截取出来，并提取灰尘区域的像素及每一个像素的坐标，最后根据灰尘区域的像素及坐标，对OLED屏进行Demura检测。本申请实施例中的技术方案，提取灰尘像素及像素坐标，在后续对同一块OLED屏的不同画面进行检测时，只需要根据提取的灰尘区域对目前画面进行划分，然后对画面的灰尘区域加以屏蔽或者进行其他的Demura处理，即可避免OLED屏上的灰尘导致的OLED屏错误矫正的问题。

Description

一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置。

背景技术

OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)屏相对于传统TFT(ThinFilm Transistor，薄膜晶体管)LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)屏，具有自发光、宽视角、响应快、柔性等特点，其中最关键是OLED屏可以逐点控制亮度，这样理论上就不存在色斑检测，而需要进行色斑修复，即Demura检测。

Demura检测的基本流程是，精确测量出OLED每个像素的亮度，将数据传递给芯片控制中心，然后通过控制电路，依据亮度数据逐点进行调整，最终达到所有像素点灰度一致，从而消除色斑。

但是，在Demura检测的图像采集过程中，如果屏幕上存在灰尘，就会对采集到的图像造成干扰，导致图像中对应灰尘区域像素亮度过暗。这种问题是由于灰尘遮挡导致的而非像素本身导致的，因此如何对灰尘进行提取以避免后续错误数据导致OLED的错误矫正是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本申请提供了一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置，以解决目前Demura检测中由于灰尘的干扰导致的OLED矫正错误的问题。

一方面，本申请提供了一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法，包括：

采集图像，所述图像包括OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像；

根据所述图像，截取OLED屏的灰尘区域；

提取所述灰尘区域的像素灰度信息，所述灰度信息包括灰尘区域的像素以及每一个像素的坐标；

根据所述像素灰度信息，进行Demura检测。

可选的，所述根据图像，截取OLED屏的灰尘区域的步骤包括：

根据所述高灰阶图像，划分OLED屏区域；

根据所述灰度图像，划分全局的灰尘区域；

根据所述OLED屏区域和所述灰尘区域，截取OLED屏的灰尘区域。

可选的，所述提取灰尘区域的像素灰度信息的步骤包括：

构建像素网格，形成OLED坐标系；

根据所述像素网格和所述OLED坐标系，映射所述灰尘区域；

根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素灰度信息。

可选的，所述根据映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素灰度信息的步骤包括：

根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素；

根据所述灰尘区域的像素和所述OLED坐标系，提取每一个像素的坐标。

可选的，所述根据所述像素灰度信息，进行Demura检测的步骤包括：

测量OLED屏上每一个像素的亮度数据；

根据所述亮度数据和所述像素灰度信息，调整每一个像素点的亮度，以使所有像素点灰度一致，从而消除色斑。

另一方面，本申请提供一种Demura检测中去除灰尘干扰的装置，包括：

图像采集模块，用于采集图像，所述图像包括OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像；

截取模块，用于根据所述图像，截取OLED屏的灰尘区域；

信息提取模块，用于提取所述灰尘区域的像素灰度信息，所述灰度信息包括灰尘区域的像素以及每一个像素的坐标；

检测模块，用于根据所述像素灰度信息，进行Demura检测。

可选的，所述截取模块包括：

屏区域划分模块，用于根据所述高灰阶图像，划分OLED屏区域；

灰尘区域划分模块，用于根据所述灰度图像，划分全局的灰尘区域；

灰尘区域截取模块，用于根据所述OLED屏区域和所述灰尘区域，截取OLED屏的灰尘区域。

可选的，所述信息提取模块包括：

网格构建模块，用于构建像素网格，形成OLED坐标系；

映射模块，用于根据所述像素网格和所述OLED坐标系，映射所述灰尘区域；

灰度信息提取模块，用于根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素灰度信息。

可选的，所述灰度信息提取模块包括：

像素提取模块，用于根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素；

坐标提取模块，用于根据所述灰尘区域的像素和所述OLED坐标系，提取每一个像素的坐标。

可选的，所述检测模块包括：

亮度测量模块，用于测量OLED屏上每一个像素的亮度数据；

像素调整模块，用于根据所述亮度数据和所述像素灰度信息，调整每一个像素点的亮度，以使所有像素点灰度一致，从而消除色斑。

由以上技术方案可知，本申请提供一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置，分别采集OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像，再根据高灰阶图像和灰尘图像，将OLED屏上的灰尘区域截取出来，并提取灰尘区域的像素及每一个像素的坐标，最后根据灰尘区域的像素及坐标，对OLED屏进行Demura检测。本申请实施例中的技术方案，提取灰尘像素及像素坐标，在后续对同一块OLED屏的不同画面进行检测时，只需要根据提取的灰尘区域对目前画面进行划分，然后对画面的灰尘区域加以屏蔽或者进行其他的Demura处理，即可避免OLED屏上的灰尘导致的OLED屏错误矫正的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本申请的技术方案，下面将对实施案例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法的流程图；

图2为本申请实施例提供的步骤102的流程图；

图3为本申请实施例提供的步骤103的流程图；

图4为本申请实施例提供的步骤303的流程图；

图5为本申请实施例提供的步骤104的流程图；

图6为本申请实施例提供的一种Demura检测中去除灰尘干扰的装置的结构图；

图7为本申请实施例提供的截取模块的结构图；

图8为本申请实施例提供的信息提取模块的结构图；

图9为本申请实施例提供的灰度信息提取模块的结构图；

图10为本申请实施例提供的检测模块的结构图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请中的技术方案，下面将结合附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

目前对OLED屏的检测通常采用Demura检测，Demura检测是通过逐点调整像素亮度，使所有像素的灰度一致，从而消除色斑。但是在Demura检测过程中，如果OLED屏上存在灰尘，则灰尘就会对像素亮度的调整产生影响，有一部分像素由于灰尘的遮挡，会导致亮度过暗，而Demura检测时，由于这些像素点过暗，就会对这些像素点进行调整，但是亮度过暗这种情况是由灰尘造成的并不是像素自身的问题，所以这种调整就属于对OLED屏的错误矫正。所以，本申请实施例提供的去除灰尘干扰的方法及装置，可以在Demura检测的过程中屏蔽掉灰尘的干扰，使OLED屏的矫正更加准确。

参见图1，本申请实施例提供一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法，包括：

步骤101，采集图像，所述图像包括OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像。本申请实施例中在进行灰尘区域提取以前，需要先单独生成一个灰尘画面，即高灰阶图像。高灰阶图像是在OLED屏上显示全黑画面，对其打上侧光或者环形光之后采集到的画面，高灰阶图像能清楚的反映出OLED屏上的灰尘的位置。在采集到高灰阶图像之后，在OLED屏上显示正常图像并采集显示的图像，由于OLED屏本身带有灰尘，所以此时采集到的是带有灰尘的灰尘图像。

步骤102，根据所述图像，截取OLED屏的灰尘区域，即在图像上划分出灰尘区域。

进一步的，参见图2，步骤102根据所述图像，截取OLED屏的灰尘区域包括：

步骤201，根据所述高灰阶图像，划分OLED屏区域。高灰阶图像为OLED屏上显示的侧光状态下的全黑图像，此时的图像能够清楚的显示出灰尘的位置，这个位置就是灰尘在OLED屏上的位置，对于不同的灰尘，所占的位置不同，通常将灰尘所在的位置划分为一个包含灰尘的区域。这个区域可以初步确定OLED屏上的灰尘。

步骤202，根据所述灰度图像，划分全局的灰尘区域。灰度图像为OLED屏显示正常图像时采集到的图像，此时由于OLED屏带有灰尘，所以灰尘的存在会影响图像某部分的像素显示效果，使得灰尘覆盖点处的像素亮度变暗，所以要在显示图像上划分出灰尘区域，及全局的灰尘区域，以便后续Demura检测中对灰尘区域进行定点处理。

步骤203，根据所述OLED屏区域和所述灰尘区域，截取OLED屏的灰尘区域。由于在步骤201中，确定的是OLED屏上的灰尘位置，而步骤202中划分的是灰度图像上的灰尘区域，所以在本步骤中需要将上述两步骤中的灰尘位置进行对比，更进一步的确定灰尘在显示图像上的位置，使得获得的灰尘区域更加准确。

步骤103，提取所述灰尘区域的像素灰度信息，所述灰度信息包括灰尘区域的像素以及每一个像素的坐标，根据像素值和像素的坐标，可以清楚的确定像素的位置以及像素调整的程度。

进一步的，参见图3，步骤103提取所述灰尘区域的像素灰度信息包括：

步骤301，构建像素网格，形成OLED坐标系。确定物体的位置通常将物体放在特定的坐标系中，用坐标的方式表示物体的在该坐标系的位置。本申请中，在OLED屏的基础上，构建像素网格，像素网格可以将像素分隔开，让每一个像素都清晰可辨，并且让每一个像素都有固定的位置。另外，在OLED屏上形成坐标系，相当于在建立OLED坐标系，该坐标系用于表示OLED屏上的像素位置信息。

步骤302，根据所述像素网格和所述OLED坐标系，映射所述灰尘区域。由于步骤301中已经建立了OLED坐标系，每一个像素也有了固定的位置，所以在步骤302中，将采集到的灰尘图像置于OLED坐标系中，灰尘图像上的灰尘区域也在OLED坐标系中有相应的坐标表示，本实施例中的映射步骤，可理解为将灰尘图像置于OLED坐标系中，为灰尘区域以及区域中的每一个像素找到对应的OLED坐标。

步骤303，根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素灰度信息。灰度信息包括灰尘区域的像素以及每一个像素的坐标，在上述步骤302之后，灰尘图像以及图像上的灰尘在OLED坐标系上的坐标都已经确定；再由于灰尘区域在经过步骤302之后也相当于进行网格分割，所以灰尘区域上的像素也可以进行精确的灰度提取，每一个网格可以代表一个像素点。所以，经过步骤303之后，可以获得灰尘区域中每一个像素点的灰度和每一个像素点的坐标。

进一步的，参见图4，步骤303根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素灰度信息包括：

步骤401，根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素。根据步骤302可知，灰尘区域已经映射到了像素网格和OLED坐标系中，像素网格相当于对像素进行划分，使得各个像素点清晰可辨，所以映射后的灰尘区域像素点容易辨别提取，提取出的像素有利于后续的Demura检测过程。

步骤402，根据所述灰尘区域的像素和所述OLED坐标系，提取每一个像素的坐标。在步骤302中，灰尘图像以及图像上的灰尘在OLED坐标系上的坐标都已经确定，再因为步骤401中灰尘区域的像素在OLED坐标系的坐标也已经确定，所以每一个像素的坐标容易提取。

步骤104，根据所述像素灰度信息，进行Demura检测。根据前述内容可知，本申请实施例中的方法目的在于消除Demura检测中OLED屏上的灰尘干扰，使Demura检测更加准确，而要准确的确定灰尘的位置及调整的程度，需要的必不可少的内容就是灰尘的位置和灰尘的像素。

可选的，参见图5，步骤104根据所述像素灰度信息，进行Demura检测包括：

步骤501，测量OLED屏上每一个像素的亮度数据。步骤303中已经提取出了灰尘区域的像素和每一个像素的坐标，此时，再测量灰尘图像其他部分的像素亮度，获取了全部像素之后，再进行Demura检测中的灰度调整的操作，依据灰度图像中灰尘区域的像素信息进行调整，能有效避免因OLED屏上的灰尘影响灰度校正的问题。

步骤502，根据所述亮度数据和所述像素灰度信息，调整每一个像素点的亮度，以使所有像素点灰度一致，从而消除色斑。在上述步骤502中，已经测量了灰度图像上灰尘的像素亮度以及其他正常像素点的像素亮度，将亮度数据传递给芯片控制中心，然后通过控制电路，依据亮度数据逐点进行调整，根据灰尘区域的像素的坐标对灰尘进行定位，再根据灰尘的像素对灰尘进行定点调整，对灰尘像素亮度调整的范围与其他正常像素点的调整范围不同，最终使所有像素点的灰度正常，从而消除色斑，使OLED屏上的图像能达到正常显示的效果。

由以上技术方案可知，本申请提供一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法，分别采集OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像，再根据高灰阶图像和灰尘图像，将OLED屏上的灰尘区域截取出来，并提取灰尘区域的像素及每一个像素的坐标，最后根据灰尘区域的像素及坐标，对OLED屏进行Demura检测。本申请实施例中的技术方案，提取灰尘像素及像素坐标，在后续对同一块OLED屏的不同画面进行检测时，只需要根据提取的灰尘区域对目前画面进行划分，然后对画面的灰尘区域加以屏蔽或者进行其他的Demura处理，即可避免OLED屏上的灰尘导致的OLED屏错误矫正的问题。

参见图6，本申请实施例还提供一种Demura检测中去除灰尘干扰的装置，包括：

图像采集模块601，用于采集图像，所述图像包括OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像。

截取模块602，用于根据所述图像，截取OLED屏的灰尘区域。

信息提取模块603，用于提取所述灰尘区域的像素灰度信息，所述灰度信息包括灰尘区域的像素以及每一个像素的坐标。

检测模块604，用于根据所述像素灰度信息，进行Demura检测。

可选的，参见图7，所述截取模块602包括：

屏区域划分模块701，用于根据所述高灰阶图像，划分OLED屏区域。

灰尘区域划分模块702，用于根据所述灰度图像，划分全局的灰尘区域。

灰尘区域截取模块703，用于根据所述OLED屏区域和所述灰尘区域，截取OLED屏的灰尘区域。

可选的，参见图8，所述信息提取模块603包括：

网格构建模块801，用于构建像素网格，形成OLED坐标系。

映射模块802，用于根据所述像素网格和所述OLED坐标系，映射所述灰尘区域。

灰度信息提取模块803，用于根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素灰度信息。

可选的，参见图9，所述灰度信息提取模块803包括：

像素提取模块901，用于根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素。

坐标提取模块902，用于根据所述灰尘区域的像素和所述OLED坐标系，提取每一个像素的坐标。

可选的，参见图10，所述检测模块604包括：

亮度测量模块1001，用于测量OLED屏上每一个像素的亮度数据。

像素调整模块1002，用于根据所述亮度数据和所述像素灰度信息，调整每一个像素点的亮度，以使所有像素点灰度一致，从而消除色斑。

由以上技术方案可知，本申请提供一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置，分别采集OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像，再根据高灰阶图像和灰尘图像，将OLED屏上的灰尘区域截取出来，并提取灰尘区域的像素及每一个像素的坐标，最后根据灰尘区域的像素及坐标，对OLED屏进行Demura检测。本申请实施例中的技术方案，提取灰尘像素及像素坐标，在后续对同一块OLED屏的不同画面进行检测时，只需要根据提取的灰尘区域对目前画面进行划分，然后对画面的灰尘区域加以屏蔽或者进行其他的Demura处理，即可避免OLED屏上的灰尘导致的OLED屏错误矫正的问题。

本申请可用于众多通用或专用的计算***环境或配置中。例如：个人计算机、服务器计算机、手持设备或便携式设备、平板型设备、多处理器***、基于微处理器的***、置顶盒、可编程的消费电子设备、网络PC、小型计算机、大型计算机、包括以上任何***或设备的分布式计算环境等等。

本申请可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述，例如程序模块。一般地，程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构等等。也可以在分布式计算环境中实践本申请，在这些分布式计算环境中，由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中，程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的申请后，将容易想到本申请的其它实施方案。本申请旨在涵盖本申请的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本申请的一般性原理并包括本申请未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本申请的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (10)

1.一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法，其特征在于，包括：

采集图像，所述图像包括OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像；

根据所述图像，截取OLED屏的灰尘区域；

提取所述灰尘区域的像素灰度信息，所述灰度信息包括灰尘区域的像素以及每一个像素的坐标；

根据所述像素灰度信息，进行Demura检测。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据图像，截取OLED屏的灰尘区域的步骤包括：

根据所述高灰阶图像，划分OLED屏区域；

根据所述灰度图像，划分全局的灰尘区域；

根据所述OLED屏区域和所述灰尘区域，截取OLED屏的灰尘区域。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述提取灰尘区域的像素灰度信息的步骤包括：

构建像素网格，形成OLED坐标系；

根据所述像素网格和所述OLED坐标系，映射所述灰尘区域；

根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素灰度信息。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素灰度信息的步骤包括：

根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素；

根据所述灰尘区域的像素和所述OLED坐标系，提取每一个像素的坐标。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述像素灰度信息，进行Demura检测的步骤包括：

测量OLED屏上每一个像素的亮度数据；

根据所述亮度数据和所述像素灰度信息，调整每一个像素点的亮度，以使所有像素点灰度一致，从而消除色斑。

6.一种Demura检测中去除灰尘干扰的装置，其特征在于，包括：

图像采集模块，用于采集图像，所述图像包括OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像；

截取模块，用于根据所述图像，截取OLED屏的灰尘区域；

信息提取模块，用于提取所述灰尘区域的像素灰度信息，所述灰度信息包括灰尘区域的像素以及每一个像素的坐标；

检测模块，用于根据所述像素灰度信息，进行Demura检测。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述截取模块包括：

屏区域划分模块，用于根据所述高灰阶图像，划分OLED屏区域；

灰尘区域划分模块，用于根据所述灰度图像，划分全局的灰尘区域；

灰尘区域截取模块，用于根据所述OLED屏区域和所述灰尘区域，截取OLED屏的灰尘区域。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述信息提取模块包括：

网格构建模块，用于构建像素网格，形成OLED坐标系；

映射模块，用于根据所述像素网格和所述OLED坐标系，映射所述灰尘区域；

灰度信息提取模块，用于根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素灰度信息。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述灰度信息提取模块包括：

像素提取模块，用于根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素；

坐标提取模块，用于根据所述灰尘区域的像素和所述OLED坐标系，提取每一个像素的坐标。

10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述检测模块包括：

亮度测量模块，用于测量OLED屏上每一个像素的亮度数据；

像素调整模块，用于根据所述亮度数据和所述像素灰度信息，调整每一个像素点的亮度，以使所有像素点灰度一致，从而消除色斑。