CN108957053A - 一种测试针组件及其组成的测试接触片 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种测试针组件，其特征在于：包括至少两组并排设置的测试针组，所述测试针组包括第一测试针主体（1）和设置在第一测试针主体（1）上方的第二测试针主体（2）；所述第一测试针主体（1）上设有第一测试针头（3），所述第二测试针主体（2）上设有位于第一测试针头（3）右侧的第二测试针头（4），所述第一测试针主体（1）与第二测试针主体（3）上均设有测试板接触面（5）。本发明不仅结构简单，而且成本低廉，使用时测试针组的两个测试针头上同时与产品引脚相接触并进行测试，而测试针组件至少包括两组并排设置的测试针组，测试时则至少有四个测试针头与产品引脚相接触，因此极大地降低了测试针组件与产品引脚接触失效的问题，从而提高了产品测试结果的准确率，并提高了产品的合格率，适合推广使用。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于半导体产品测试的机械结构，尤其涉及一种由其组成的测试接触片。
背景技术
在半导体产品制造工艺完成前，需要进入最终测试阶段，最终测试是利用测试机台（Tester）,分选机(Handler)，测试板(DUT Board)与测试接触片（Test Finger）之间的搭配组合来测试每一个产品，测试机的测试线连接到测试板上的线路上，测试板上的线路连接到测试接触片的测试针的一端，测试针的另一端再与半导体产品的引脚直接接触，进而对产品进行测试。在制造过程中引脚与测试针的接触面上容易产生毛刺，同时引脚的接触面也容易生成不规则面，从而容易导致测试针与引脚接触失效，产品则被误判为不合格，因此降低了产品的合格率，对产品也造成了极大的浪费。
发明内容
本发明的目的之一在于针对上述不足，提供一种测试针组件，以期待解决现有测试半导体产品时测试针与产品引脚的接触失效问题。本发明还提供一种测试针组件组成的测试接触片。
发明的目的通过下述技术方案实现：
一种测试针组件，包括至少两组并排设置的测试针组，所述测试针组包括第一测试针主体和设置在第一测试针主体上方的第二测试针体；所述第一测试针主体上设有第一测试针头，所述第二测试针主体上设有位于第一测试针头右侧的第二测试针头，所述第一测试针主体与第二测试针主体上均设有测试板接触面。
进一步的，所述第一测试针头上设有第一测试针头接触面，所述第二测试针头上设有第二测试针头接触面。
再进一步的，所述第一测试针头接触面与第二测试针头接触面之间的高度差为h，且0≦h≦2mm。
一种测试接触片，包括测试接触片基板，所述测试接触片基板上设有至少一个测试针组件，所述测试针组件包括至少两组并排设置的测试针组，所述测试针组包括均设置在测试接触片基板上的第一测试针主体和位于第一测试针主体上方的第二测试针主体；所述第一测试针主体上设有第一测试针头，所述第二测试针主体上设有位于第一测试针头右侧的第二测试针头，所述第一测试针主体与第二测试针主体上均设有测试板接触面。
进一步的，所述第一测试针主体与第二测试针主体之间填充有绝缘介质。
本发明较现有技术相比，具有以下优点及有益效果：
（1）本发明不仅结构简单，而且成本低廉，使用时测试针组的两个测试针头上同时与产品引脚相接触并进行测试，而测试针组件至少包括两组并排设置的测试针组，测试时则至少有四个测试针头与产品引脚相接触，因此极大地降低了测试针组件与产品引脚接触失效的问题，从而提高了产品测试结果的准确率，并提高了产品的合格率。
（2）本发明的第一测试针头上设有第一测试针头接触面，第二测试针头上设有第二测试针头接触面，测试时每个测试针头均通过接触面与产品引脚相接触，从而能增大测试针头与产品引脚的有效接触面积，即可提高产品测试结果的准确率。
（3）本发明的第一测试针头接触面与第二测试针头接触面之间的高度差为h，且0≦h≦2mm，测试时通过压紧力使每个针头的接触面与产品引脚相接触，以便于能更好的与产品引脚的不规则接触面相接触。
（4）本发明的测试接触片包括测试接触片基板，且测试接触片基板上设有至少一个测试针组件，以便于采用多个接触针头与产品引脚相接触并进行测试。
（5）本发明的第一测试针主体与第二测试针主体之间填充有绝缘介质，以确保第一测试针主体与第二测试针主体之间绝缘。
附图说明
图1为本发明的测试针组的整体结构示意图。
图2为本发明的测试接触片的整体结构示意图。
其中，附图中的附图标记所对应的名称为：
1—第一测试针主体，2—第二测试针主体，3—第一测试针头，4—第二测试针头，5—测试板接触面，6—第一测试针头接触面，7—第二测试针头接触面，8—测试接触片基板。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明作进一步地详细说明。
实施例1
如图1所示，一种测试针组件，包括至少两组并排设置的测试针组，所述测试针组包括第一测试针主体1和第二测试针主体2，所述第二测试针主体2设置在第一测试针主体1的上方。所述第一测试针主体1上设有第一测试针头3，所述第二测试针主体2上则设有位于第一测试针头3右侧的第二测试针头4。同时，所述第一测试针头3上设有用于与产品引脚相接触的第一测试针头接触面6，同样的，所述第二测试针头4上则设有第二测试针头接触面7。本发明的测试针组件用于与产品引脚相接触并进行测试，且该测试针组件至少包括两组测试针组，而每个测试针组包括两个与产品引脚相接触的面，则使用本使用新型与产品引脚接触时至少有四个测试针头的接触面与产品引脚相接触，因此极大地降低了测试针组件与产品引脚接触失效的问题，从而提高了产品测试结果的准确率，并提高了产品的合格率。
为了能更好地与产品引脚的不规则接触面相接触，所述第一测试针头接触面6与第二测试针头接触面7之间的高度差为h，且0≦h≦2mm，本实施例中的h为1mm。为了便于与测试线相连接，所述第一测试针主体1与第二测试针主体3上均设有测试板接触面5。
实施例2
如图2所示，本发明的测试接触片包括测试接触片基板8，所述测试接触片基板8上设有至少一个如实施例1中所述的测试针组件。所述测试针组件固定在测试接触片基板8上，且第一测试针主体1与第二测试针主体2之间填充有绝缘介质，以确保第一测试针主体1与第二测试针主体2之间绝缘。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种测试针组件，其特征在于：包括至少两组并排设置的测试针组，所述测试针组包括第一测试针主体（1）和设置在第一测试针主体（1）上方的第二测试针主体（2）；所述第一测试针主体（1）上设有第一测试针头（3），所述第二测试针主体（2）上设有位于第一测试针头（3）右侧的第二测试针头（4），所述第一测试针主体（1）与第二测试针主体（3）上均设有测试板接触面（5）。
2.根据权利要求1所述的一种测试针组件，其特征在于：所述第一测试针头（3）上设有第一测试针头接触面（6），所述第二测试针头（4）上设有第二测试针头接触面（7）。
3.根据权利要求2所述的一种测试针组件，其特征在于：所述第一测试针头接触面（6）与第二测试针头接触面（7）之间的高度差为h，且0≦h≦2mm。
4.一种测试接触片，包括测试接触片基板（8），其特征在于：所述测试接触片基板（8）上设有至少一个测试针组件，所述测试针组件包括至少两组并排设置的测试针组，所述测试针组包括均设置在测试接触片基板（8）上的第一测试针主体（1）和位于第一测试针主体（1）上方的第二测试针主体（2）；所述第一测试针主体（1）上设有第一测试针头（3），所述第二测试针主体（2）上设有位于第一测试针头（3）右侧的第二测试针头（4），所述第一测试针主体（1）与第二测试针主体（2）上均设有测试板接触面（5）。
5.根据权利要求4所述的一种测试针组件，其特征在于：所述第一测试针主体（1）与第二测试针主体（2）之间填充有绝缘介质。
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