CN108762567B - 一种位置解析度测量方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种位置解析度测量方法及装置，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括多个感应单元；所述方法包括：确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点；分别获取触控物在每个预设测量点触控时所述触控面板的自感电容值组；所述自感电容值组包括所述触控面板中各个感应单元的自感电容值；根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定所述触控面板的位置解析度。通过该技术方案，可以测量触控面板的位置解析度，以便于根据触控面板的位置解析度进行对应的触控操作，减少无效操作。

Description

一种位置解析度测量方法及装置

技术领域

本发明涉及悬浮触控技术领域，特别涉及一种位置解析度测量方法及装置。

背景技术

手势感应，也称，免触碰科技，主要是通过电子设备上的各种传感器感应处理用户的操作手势，来完成一系列的操控。实现手势感应的一项重要技术就是悬浮触控技术。

悬浮触控技术是通过电容式触控装置来检测用户在触控面板上执行触控操作时的触控位置。电容式触控装置通过其触控面板上各个感应单元的电容变化进行工作。当有触控物(如手指)靠近触控面板时，触控物所在位置对应的感应单元的电容会发生变化，故通过检测各个感应单元的电容变化，即可确定触控物所在位置，即上述触控位置。如果触控物的实际位移发生在同一个感应单元内，则相对于位移前，触控面板内各感应单元的电容不会发生变化或者变化很小，导致该位置变化难以被检测出来，也就无法响应相应的触控操作，使得触控操作无效。

因此，为减少无效触控操作，有必要预先测量触控面板可以检测出的最小位移，即该触控面板的位置解析度。

发明内容

本发明提供一种位置解析度测量方法及装置，用以实现测量触控面板的位置解析度，以便于根据触控面板的位置解析度进行对应的触控操作。

本发明第一方面提供一种位置解析度测量方法，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括多个感应单元；

所述方法包括：

确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点；

分别获取触控物在每个预设测量点触控时所述触控面板的自感电容值组；所述自感电容值组包括所述触控面板中各个感应单元的自感电容值；

根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定所述触控面板的位置解析度。

在该实施例中，可以在触控面板的感应区域内确定间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点，继而获取每个预设测量点被触控物触按时触控面板上各个感应单元的自感电容值，根据预设测量点之间的电容变化量确定出触控面板的位置解析度，这样，预先测量触控面板的位置解析度，便于后续根据触控面板的位置解析度进行触控操作。

可选的，所述根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定所述触控面板的位置解析度，包括：

获取所有电容变化量大于预设阈值的两个预设测量点之间的间距值；

根据所有所述间距值中的最小间距值，确定所述触控面板的位置解析度。

在该实施例中，触控面板的位置解析度即触控面板可以检测到的最小位移，因此，根据所有电容变化量大于预设阈值的两个预设触控点之间的最小间距值，就可以确定触控面板的位置解析度。

可选的，所述单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板，每个电极板为一个感应单元，或者，满足目标尺寸参数的多个相邻电极板互相短路形成一个感应单元。

可选的，所述方法还包括：

获取多个目标尺寸参数；

所述确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点，包括：

分别针对每个目标尺寸参数确定一个预设测量点组；其中，所述预设测量点组包括相应目标尺寸参数下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

所述确定所述触控面板的位置解析度，包括：

确定各个目标尺寸参数对应的所述触控面板的第一位置解析度。

在该实施例中，可以获取多个不同的目标尺寸参数，其中，不同的目标尺寸参数对应的感应单元的面积和形状的均不相同，因此，需要分别针对每个目标尺寸参数进行对应的位置解析度测量。即分别针对每个目标尺寸参数确定一个预设测量点组，预设测量点组包括相应目标尺寸参数下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，进而根据预设测量点组测量各个目标尺寸参数对应的触控面板的第一位置解析度。其中，对于不同的目标尺寸参数，其对应的预设测量点组可以完全相同，也可以不同。

可选的，所述方法还包括：

将各个目标尺寸参数和与其对应的所述触控面板的第一位置解析度进行关联存储。

在该实施例中，可以将测量得到的各个目标尺寸参数和与其对应的所述触控面板的第一位置解析度进行关联存储，便于后续进行触控操作时直接进行使用。

可选的，所述方法还包括：

获取多个预设悬浮触控高度；

所述确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点，包括：

分别针对每个预设悬浮触控高度确定一个预设测量点组；其中，所述预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

所述确定所述触控面板的位置解析度，包括：

确定各个所述预设悬浮触控高度对应的所述触控面板的第二位置解析度。

在该实施例中，对于同一个触控面板，当触控物的悬浮触控高度不同时，对应的位置解析度也会不同。因此，还可以测量触控面板在每个预设悬浮触控高度时对应的触控面板的第二位置解析度，从而便于后续根据预设悬浮触控高度和与其对应的触控面板的位置解析度进行触控操作。

可选的，所述方法还包括：

将各个所述预设悬浮触控高度和与其对应的所述触控面板的第二位置解析度进行关联存储。

在该实施例中，可以将测量得到的各个预设悬浮触控高度和与其对应的所述触控面板的位置解析度进行关联存储，便于后续进行触控操作时直接进行使用。

可选的，所述方法还包括：

获取多个预设悬浮触控高度和多个目标尺寸参数；

所述确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点，包括：

分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个目标尺寸参数，确定一个预设测量点组；其中，所述预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度及目标尺寸参数下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

所述确定所述触控面板的位置解析度，包括：

确定各个所述预设悬浮触控高度和目标尺寸参数对应的所述触控面板的第三位置解析度。

在该实施例中，预设悬浮触控高度和目标尺寸参数可以同时具有多个，因此，可以分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个目标尺寸参数，确定一个预设测量点组，预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度和目标尺寸参数下触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，进而根据预设测量点组测量各个预设悬浮触控高度和目标尺寸参数对应的触控面板的第三位置解析度。其中，对于不同的目标尺寸参数和预设悬浮触控高度，其对应的预设测量点组可以完全相同，也可以不同。这样，便于后续根据预设悬浮触控高度、目标尺寸参数和与其对应的触控面板的位置解析度进行触控操作。

可选的，所述方法还包括：

将所述预设悬浮触控高度、所述目标尺寸参数和对应的所述触控面板的第三位置解析度进行关联存储。

本发明第二方面提供一种触控装置，应用于具有单层电极层的触控面板，所述单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板；所述装置包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为在执行所述存储器中的可执行指令时实现上述任一项触控方法。

本发明第三方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现上述任一项触控方法。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为本发明实施例中一种位置解析度测量方法的流程图；

图2为本发明实施例中另一种位置解析度测量方法的流程图；

图3为本发明实施例中又一种位置解析度测量方法的流程图；

图4为本发明实施例中又一种位置解析度测量方法的流程图；

图5为本发明实施例中又一种位置解析度测量方法的流程图；

图6为本发明实施例中又一种位置解析度测量方法的流程图；

图7为本发明实施例中又一种位置解析度测量方法的流程图；

图8为本发明实施例中又一种位置解析度测量方法的流程图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。

相关技术中，触控面板的位置解析度不确定的情况下，如果触控物的实际位移发生在同一个感应单元内，则相对于位移前，触控面板内各感应单元的电容不会发生变化或者变化很小，导致该位置变化难以被检测出来，也就无法响应相应的触控操作，使得触控操作无效。

为解决上述问题，本实施例提供了一种位置解析度测量方法，应用于电容式触控面板，电容式触控面板包括单层电极层；单层电极层包括多个感应单元；

如图1所示，位置解析度测量方法包括步骤S101-S103：

步骤S101，确定触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点。

其中，预设测量点可以是随机选定的，也可以通过相应的用户交互界面(UserInterface，UI)引导用户设定等。各个预设测量点之间的间距已知，间距不完全相同，即有的间距可以只设置一对预设测量点，有的间距可以设置多对预设测量点，例如，确定间距包括d1,d2,d3,d4,d5,d6,d7,d8,d9,d10,其中，d1-d10可以成递增或递减趋势，那么对于每个间距，可以只对应一对预设测量点，也可以对应多个预设测量点，例如间距d1，可以只有一对预设测量点的之间的间距为d1，也可以有多对预设测量点之间的间距均为d1。对于落在常见位置解析度附近的“间距”，可以多设置几对预设测量点，以避免测量误差。

步骤S102，分别获取触控物在每个预设测量点触控时触控面板的自感电容值组；该自感电容值组包括触控面板中各个感应单元的自感电容值。

其中，在确定预设测量点之后，测量设备可以逐个提示预设测量点的位置，从而引导触控物在对应的预设测量点处触控，从而获取到触控物在该预设测量点处触控时触控面板中各个感应单元的自感电容值，即该预测测量点对应的自感电容值组。

步骤S103，根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定触控面板的位置解析度。

当一个预设测量点A对应的自感电容值组相对于另一个预设测量点B对应的自感电容值组有变化，即存在电容变化量时，那么说明触控面板能够检测出触控物由A移动到B(或由B移动到A)时的触控位置变化，假设A和B之间的间距为di，即说明触控面板至少能检测出位移为di的触控操作，而其能检测出的最小位移，即该触控面板的位置解析度。

在该实施例中，可以在触控面板的感应区域内确定间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点，继而获取每个预设测量点被触控物触按时触控面板上各个感应单元的自感电容值，根据预设测量点之间的电容变化量确定出触控面板的位置解析度，这样，预先测量触控面板的位置解析度，便于后续根据触控面板的位置解析度进行触控操作，减少无效操作。

如图2所示，可选的，上述步骤S103包括步骤S201-S202：

步骤S201，获取所有电容变化量大于预设阈值的两个预设测量点之间的间距值；其中，预设阈值可以是零，也可以是预设的其他阈值。

步骤S202，根据所有间距值中的最小间距值，确定触控面板的位置解析度。

在该实施例中，触控面板的位置解析度即触控面板可以检测到的最小位移，因此，根据所有电容变化量大于预设阈值的两个预设触控点之间的最小间距值，就可以确定触控面板的位置解析度。

发明人在研究过程中发现，位置解析度除了受感应单元的面积影响，还会受悬浮触控高度影响，因此，当感应单元的面积固定但悬浮触控高度不同时，对应的触控面板的位置解析度也会有变化。有鉴于此，如图3所示，本实施例提供的位置解析度测量方法还包括步骤S301：

步骤S301，获取多个预设悬浮触控高度。

基于该步骤S301，上述步骤S101具体可以包括步骤S302：

步骤S302，分别针对每个预设悬浮触控高度确定一个预设测量点组。

其中，预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度下触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；例如，对于预设悬浮触控高度H₁，需确定其预设测量点组Q₁＝{P_{1_i}|i＝1,2,3，……M1}，其中，P_{1_i}表示H₁对应的任意一个预设测量点，M1表示H₁对应的预设测量点的个数；对于另一预设悬浮触控高度H₂，需确定其预设测量点组Q₂＝{P_{2_i}|i＝1,2,3，……M2}，其中，P_{2_i}表示H₂对应的任意一个预设测量点，M2表示H₂对应的预设测量点的个数；依此类推，可以针对每个预设悬浮触控高度确定对应的预设测量点组。

相应的，上述步骤S102具体可以包括步骤S303：对于每个预设悬浮触控高度的预设测量点组中的每个预设测量点，分别获取触控物在该预设测量点处触控时，触控面板中各个感应单元的自感电容值，即该触控面板的自感电容值组。

例如，对于预设悬浮触控高度H₁，分别获取触控物在预设测量点组Q₁中每个预设测量点P_{1_i}触控时触控面板的自感电容值组C_1i＝{C_{f1_j}|j＝1,2,3，……N}，其中，C_{f1_j}表示触控物在预设测量点P_{1_i}触按时任意一个感应单元的自感电容值，N表示触控面板中感应单元的个数。对于预设悬浮触控高度H₂，分别获取触控物在预设测量点组Q₂中每个预设测量点P_{2_i}触控时触控面板的自感电容值组C_2i＝{C_{f2_j}|j＝1,2,3，……N}，其中，C_{f2_j}表示触控物在每个预设测量点P_{2_i}触按时任意一个感应单元的自感电容值，N表示触控面板中感应单元的个数；依此类推，可以获取每个预设悬浮触控高度的预设测量点组中的每个预设测量点对应的自感电容值组。

相应的，上述步骤S103具体可以包括步骤S304：

步骤S304，根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量及预设测量点之间的间距，确定各个预设悬浮触控高度对应的触控面板的第二位置解析度。

例如，对于预设悬浮触控高度H₁，预设测量点P_{1_1}对应的自感电容值组为C₁₁＝{C_{f1_j}|j＝1,2,3，……N},预设测量点P_{1_2}对应的自感电容值组为C₁₂＝{C_{f2_j}|j＝1,2,3，……N},如果C₁₁相对于C₁₂有变化，即存在电容变化量，那么说明触控面板能够检测出触控物由P_{1_1}移动到P_{1_2}时的触控位置变化，假设P_{1_1}和P_{1_2}之间的间距为d1，即说明触控面板至少能检测出位移为d1的触控操作，而其能检测出的最小位移，即该触控面板的位置解析度。

对于同一个触控面板，当触控物的悬浮触控高度不同时，对应的位置解析度也会不同。因此，本实施例测量触控面板在每个预设悬浮触控高度时对应的触控面板的第二位置解析度，从而便于后续根据预设悬浮触控高度和与其对应的触控面板的位置解析度进行触控操作。

如图4所示，可选的，图3所示方法还包括步骤S401：

步骤S401，将各个预设悬浮触控高度和与其对应的触控面板的第二位置解析度进行关联存储。

在该实施例中，可以将测量得到的各个预设悬浮触控高度和与其对应的触控面板的位置解析度进行关联存储，便于后续进行触控操作时直接进行使用。

可选的，本实施例中，触控面板的单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板，通过对各个电极板进行短路控制，可以使得每个电极板为一个感应单元，或者，满足目标尺寸参数的多个相邻电极板互相短路形成一个感应单元。

如图5所示，基于上述结构的触控面板，上述方法还包括：

步骤S501，获取多个目标尺寸参数；其中，目标尺寸参数即用于表征当前所需感应单元尺寸的一种或多种参数。

在不同的实施例中，可以采用不同类型的参数来作为目标尺寸参数，包括：目标感应单元中包含的电极板的目标个数、目标感应单元的目标面积、目标感应单元的目标长宽比，以及目标感应单元的目标形状等。

另外需要说明的是，鉴于悬浮触控高度也是位置解析度的一个影响因素，故图5所示实施例可应用于悬浮触控高度一致，或者悬浮触控高度造成的影响可以忽略的场景。

基于该步骤S501，上述步骤S101包括步骤S502：

步骤S502，分别针对每个目标尺寸参数确定一个预设测量点组。

其中，预设测量点组包括相应目标尺寸参数下触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；例如，对于目标尺寸参数S₁，需确定其预设测量点组R₁＝{P_{1_i}|i＝1,2,3，……T1}，其中，P_{1_i}表示S₁对应的任意一个预设测量点，T1表示S₁对应的预设测量点的个数；对于目标尺寸参数S₂，需确定其预设测量点组R₂＝{P_{2_i}|i＝1,2,3，……T2}，其中，P_{2_i}表示S₂对应的任意一个预设测量点，T2表示S₂对应的预设测量点的个数：以此类推，可以针对每个目标尺寸参数确定对应的预设测量点组。

其中，对于不同的目标尺寸参数，其对应的预设测量点组可以完全相同，也可以不同。

相应的，上述步骤S102具体可以包括步骤S503：

步骤S503,对于每个目标尺寸参数的预设测量点组中的每个预设测量点，分别获取触控物在该预设测量点处触控时，触控面板中各个感应单元的自感电容值，即该触控面板的自感电容值组。

例如，对于目标尺寸参数S₁，分别获取触控物在预设测量点组R₁中每个预设测量点P_{1_i}触控时触控面板的自感电容值组C_1i＝{C_{f1_j}|j＝1,2,3，……N1}，其中，C_{f1_j}表示触控物在预设测量点P_{1_i}触按时任意一个感应单元的自感电容值，N1表示目标尺寸参数S₁下触控面板中感应单元的个数。对于目标尺寸参数S₂，分别获取触控物在预设测量点组Q₂中每个预设测量点P_{2_i}触控时触控面板的自感电容值组C_2i＝{C_{f2_j}|j＝1,2,3，……N2}，其中，C_{f2_j}表示触控物在每个预设测量点P_{2_i}触按时任意一个感应单元的自感电容值，N2表示目标尺寸参数S₂下触控面板中感应单元的个数；依此类推，可以获取每个目标尺寸参数的预设测量点组中的每个预设测量点对应的自感电容值组。

相应的，上述步骤S103具体可以包括步骤S504：

步骤S504，根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量及预设测量点之间的间距，确定各个目标尺寸参数对应的触控面板的第一位置解析度。

例如，对于目标尺寸参数S₁，预设测量点P_{1_1}对应的自感电容值组为C₁₁＝{C_{f1_j}|j＝1,2,3，……N1},预设测量点P_{1_2}对应的自感电容值组为C₁₂＝{C_{f2_j}|j＝1,2,3，……N2},如果C₁₁相对于C₁₂有变化，即存在电容变化量，那么说明触控面板能够检测出触控物由P_{1_1}移动到P_{1_2}时的触控位置变化，假设P_{1_1}和P_{1_2}之间的间距为d2，即说明触控面板至少能检测出位移为d2的触控操作，而其能检测出的最小位移，即该触控面板的位置解析度。

本实施例可以获取多个不同的目标尺寸参数，其中，不同的目标尺寸参数对应的感应单元的面积和形状的均不相同，因此，需要分别针对每个目标尺寸参数进行对应的位置解析度测量。即分别针对每个目标尺寸参数确定一个预设测量点组，预设测量点组包括相应目标尺寸参数下触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，进而根据预设测量点组测量各个目标尺寸参数对应的触控面板的第一位置解析度。本实施例可以测量出触控面板中电极板之间不同互短路情况下，即利用不同大小的感应单元来检测悬浮触控时，触控面板的位置解析度分别是什么，便于根据不同的位置解析度要求来选择合适的互短路控制方案。

如图6所示，可选的，图5所示方法还包括步骤S601：

步骤S601，将各个目标尺寸参数和与其对应的触控面板的第一位置解析度进行关联存储。

在该实施例中，可以将测量得到的各个目标尺寸参数和与其对应的触控面板的第一位置解析度进行关联存储，便于后续进行触控操作时直接进行使用。

如图7所示，基于上述触控面板可以根据目标尺寸参数进行短路控制来调节感应单元大小的特性，当应用于多个目标尺寸参数且多个悬浮触控高度的场景时，上述方法还包括：

步骤S701，获取多个预设悬浮触控高度和多个目标尺寸参数；

基于该步骤S701，上述步骤S101具体可以包括步骤S702：

步骤S702，分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个目标尺寸参数，确定一个预设测量点组。

其中，预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度及目标尺寸参数下触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；例如，对于预设悬浮触控高度H₁和目标尺寸参数S₁，需确定其预设测量点组E_{1_1}＝{P_{11_i}|i＝1,2,3，……F1}，其中，P_{11_i}表示H₁和S₁对应的任意一个预设测量点，F1表示H₁和S₁对应的预设测量点的个数；对于预设悬浮触控高度H₁和目标尺寸参数S₂，需确定其预设测量点组E_{1_2}＝{P_{12_i}|i＝1,2,3，……F2}，其中，P_{12_i}表示H₁和S₂对应的任意一个预设测量点，F2表示H₁和S₂对应的预设测量点的个数；对于预设悬浮触控高度H₂和目标尺寸参数S₂，需确定其预设测量点组E_{2_2}＝{P_{22_i}|i＝1,2,3，……F3}，其中，P_{22_i}表示H₂和S₂对应的任意一个预设测量点，F3表示H₂和S₂对应的预设测量点的个数；以此类推，可以针对每个预设悬浮触控高度下的每个目标尺寸参数确定对应的预设测量点组。

相应的，上述步骤S102具体可以包括步骤S703：

步骤S703，对于每个预设悬浮触控高度下的每个目标尺寸参数的预设测量点组中的每个预设测量点，分别获取触控物在该预设测量点处触控时，触控面板中各个感应单元的自感电容值，即该触控面板的自感电容值组。

例如，对于预设悬浮触控高度H₁和目标尺寸参数S₁，分别获取触控物在预设测量点组E_{1_1}中每个预设测量点P_{11_i}触控时触控面板的自感电容值组C_{11_i}＝{C_{f11_j}|j＝1,2,3，……X1}，其中，C_{f11_j}表示触控物在预设测量点P_{11_i}触按时任意一个感应单元的自感电容值，X1表示目标尺寸参数S₁下触控面板中感应单元的个数。对于预设悬浮触控高度H₂和目标尺寸参数S₂，分别获取触控物在预设测量点组E_{2_2}中每个预设测量点P_{22_i}触控时触控面板的自感电容值组C_{22_i}＝{C_{f22_j}|j＝1,2,3，……X2}，其中，C_{f22_j}表示触控物在每个预设测量点P_{22_i}触按时任意一个感应单元的自感电容值，X2表示目标尺寸参数S₂下触控面板中感应单元的个数；依此类推，可以获取每个预设悬浮触控高度下的每个目标尺寸参数的预设测量点组中的每个预设测量点对应的自感电容值组。

相应的，上述步骤S103具体可以包括步骤S704：

步骤S704，根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量及预设测量点之间的间距，确定各个预设悬浮触控高度和目标尺寸参数对应的触控面板的第三位置解析度。

例如，对于预设悬浮触控高度H₁和目标尺寸参数S₁，预设测量点P_{11_1}对应的自感电容值组C_{11_1}＝{C_{f1_j}|j＝1,2,3，……N1},预设测量点P_{11_2}对应的自感电容值组C_{11_2}＝{C_{f2_j}|j＝1,2,3，……N2},如果C_{11_1}相对于C_{11_2}有变化，即存在电容变化量，那么说明触控面板能够检测出触控物由P_{11_1}移动到P_{11_2}时的触控位置变化，假设P_{11_1}和P_{11_2}之间的间距为d3，即说明触控面板至少能检测出位移为d3的触控操作，而其能检测出的最小位移，即该触控面板的位置解析度。

对于预设悬浮触控高度和目标尺寸参数可以同时具有多个的应用场景，本实施例可以分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个目标尺寸参数，确定一个预设测量点组，预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度和目标尺寸参数下触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，进而根据预设测量点组测量各个预设悬浮触控高度和目标尺寸参数对应的触控面板的第三位置解析度。其中，对于不同的目标尺寸参数和预设悬浮触控高度，其对应的预设测量点组可以完全相同，也可以不同。这样，便于后续根据预设悬浮触控高度、目标尺寸参数和与其对应的触控面板的位置解析度进行触控操作。

如图8所示，可选的，图7所示方法还包括步骤S801：

步骤S801，将预设悬浮触控高度、目标尺寸参数和对应的触控面板的第三位置解析度进行关联存储。

本发明第二方面提供一种触控装置，应用于具有单层电极层的触控面板，所述单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板；所述装置包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为在执行所述存储器中的可执行指令时实现上述任一项触控方法。

本发明第三方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现上述任一项触控方法。

上述实施例可根据实际需要进行自由组合。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、***、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(***)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种位置解析度测量方法，其特征在于，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括多个感应单元；

所述方法包括：

确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点；

分别获取触控物在每个预设测量点触控时所述触控面板的自感电容值组；所述自感电容值组包括所述触控面板中各个感应单元的自感电容值；

根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定所述触控面板的位置解析度，所述触控面板的位置解析度即所述触控面板可检测到的最小位移。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定所述触控面板的位置解析度，包括：

获取所有电容变化量大于预设阈值的两个预设测量点之间的间距值；

根据所有所述间距值中的最小间距值，确定所述触控面板的位置解析度。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板，每个电极板为一个感应单元，或者，满足目标尺寸参数的多个相邻电极板互相短路形成一个感应单元。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取多个目标尺寸参数；

所述确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点，包括：

分别针对每个目标尺寸参数确定一个预设测量点组；其中，所述预设测量点组包括相应目标尺寸参数下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

所述确定所述触控面板的位置解析度，包括：

确定各个目标尺寸参数对应的所述触控面板的第一位置解析度。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将各个目标尺寸参数和与其对应的所述触控面板的第一位置解析度进行关联存储。

6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取多个预设悬浮触控高度；

所述确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点，包括：

分别针对每个预设悬浮触控高度确定一个预设测量点组；其中，所述预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

所述确定所述触控面板的位置解析度，包括：

确定各个所述预设悬浮触控高度对应的所述触控面板的第二位置解析度。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将各个所述预设悬浮触控高度和与其对应的所述触控面板的第二位置解析度进行关联存储。

8.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取多个预设悬浮触控高度和多个目标尺寸参数；

所述确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点，包括：

分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个目标尺寸参数，确定一个预设测量点组；其中，所述预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度及目标尺寸参数下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

所述确定所述触控面板的位置解析度，包括：

确定各个所述预设悬浮触控高度和目标尺寸参数对应的所述触控面板的第三位置解析度。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述预设悬浮触控高度、所述目标尺寸参数和对应的所述触控面板的第三位置解析度进行关联存储。

10.一种位置解析度测量装置，其特征在于，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括多个感应单元；

所述装置包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点；

分别获取触控物在每个预设测量点触控时所述触控面板的自感电容值组；所述自感电容值组包括所述触控面板中各个感应单元的自感电容值；

根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定所述触控面板的位置解析度，所述触控面板的位置解析度即所述触控面板可检测到的最小位移。

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