CN108693840A - 控制装置、存储介质、控制***及控制方法 - Google Patents

控制装置、存储介质、控制***及控制方法 Download PDF

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Abstract

一种控制装置、存储介质、控制***及控制方法，使得使用多个测量值的判定处理容易化。控制装置具备：获取模块，获取与控制对象关联的测量值；判定模块，基于预定定时下的多个测量值或者基于多个测量值在预定期间内的经时变化，判定控制对象是否为预先设定的状态；以及延迟时间赋予模块，对判定模块的判定中使用的多个测量值中至少一个测量值，赋予预先设定的延迟时间。

Description

控制装置、存储介质、控制***及控制方法
技术领域
本发明涉及能够获取和控制对象关联的测量值的控制装置、存储在控制装置中执行的控制程序的存储介质、包含该控制装置的控制***及该控制装置执行的控制方法。
背景技术
在各种生产车间中，广泛普及一种使用了PLC(可编程逻辑控制器)等控制装置的FA(Factory Automation：工厂自动化)技术。这种控制装置不仅能对控制对象进行控制，有时还会安装监控并检测控制对象中可能产生的异常的功能。例如，在日本特开平08-221113号公报(专利文献1)中，披露了一种***，使用所存储的过去时序数据来诊断、监控、预测机械设备的异常。
此外，在日本特开2003-058248号公报(专利文献2)中披露了一种技术，虽在异常的监控及检测方面观点不同，但在使用时序数据方面是一样的。更具体来说，专利文献2披露的构成能够高效检索过去的类似事例并予以显示，帮助操作员进行设备运转。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开平08-221113号公报
专利文献2：日本特开2003-058248号公报
所述专利文献1中披露的构成是利用多个工艺值的时序数据，这些时序数据都是对同一对象测量所得的数据。但是，实际需求是，期望使用即使工艺相同也在不同测量点测量的各个测量值、或者从不同工艺测量的各个测量值，进行异常的监控及检测。对于这样的需求，专利文献1并未披露任何解决方案。
此外，专利文献2的目的是帮助操作员进行机械设备运转，并未披露针对如上所述的需求的解决方案。
发明内容
[发明要解决的问题]
考虑到如上所述的需求，本发明的目的之一是提供使得使用多个测量值的判定处理容易化的结构。
[解决问题的手段]
根据本发明的一个方面，提供一种对控制对象进行控制的控制装置。控制装置具备：获取模块，获取与控制对象关联的测量值；判定模块，基于预定定时下的多个测量值或者基于多个测量值在预定期间内的经时变化，判定控制对象是否为预先设定的状态；以及延迟时间赋予模块，对判定模块的判定中使用的多个测量值中至少一个测量值，赋予预先设定的延迟时间。
根据所述方面，即便在测量值之间出现同一事件有时间差的情况下，也能够通过利用延迟时间赋予模块赋予适当的延迟时间，向判定模块提供与定时匹配的多个测量值。
优选为，根据与多个测量值建立关联的控制对象的机构或工序的不同，决定延迟时间。
根据所述方面，能够使用从包含多个机构或工序的控制对象获取的多个测定值，恰当地判定控制对象的状态。
优选为，延迟时间基于设计数据和参数来决定，设计数据表示控制对象的机构或工序的特性，参数表示控制对象的机构或工序的运作状态。
根据所述方面，可基于已知信息进行理论计算而算出延迟时间，并构成与其相应的延迟时间赋予模块，所以能够容易地实现。
优选为，延迟时间基于以下时间决定：对控制对象的第一机构或第一工序赋予具有预先设定的特征的干扰之后，直到控制对象的第二机构或第二工序中出现与干扰对应的特征为止所需要的时间。
根据所述方面，可以基于实际测定的测量值来决定延迟时间，所以能够根据实际的控制对象决定适当的延迟时间，并且即便在详细设计信息等不明确的情况下也能够决定延迟时间。
优选为，延迟时间赋予模块包含缓冲存储器，所述缓冲存储器具有与延迟时间相应的级数。
根据所述方面，通过采用缓冲存储器，能够使数据访问高速化，并且与使用数据库等情况相比，能够容易地实现延迟时间赋予模块。
优选为，基于延迟时间及对应的测量值的更新周期，决定缓冲存储器的级数。
根据所述方面，可根据测量值的更新周期使缓冲存储器的级数最佳化，所以不需要过度增加缓冲存储器的级数，就能够使安装时所需的存储区域等最佳化。
优选为，缓冲存储器配置在从现场设备到控制装置为止的数据传输路径上，现场设备对控制对象测量测量值。
根据所述方面，通过将缓冲存储器配置在从现场设备到控制装置为止的数据传输路径上，能够赋予与各现场设备相应的最佳延迟时间。
根据本发明的另一方面，提供一种存储有控制程序的存储介质，所述控制程序由对控制对象进行控制的控制装置执行。控制程序使控制装置执行以下步骤：获取与控制对象关联的测量值；基于预定定时下的多个测量值或者基于多个测量值在预定期间内的经时变化，判定控制对象是否为预先设定的状态；以及对判定控制对象的状态的步骤中使用的多个测量值中的至少一个测量值，赋予预先设定的延迟时间。
根据所述方面，即便在测量值之间出现同一事件有时间差的情况下，也能够通过在赋予延迟时间的步骤中赋予适当的延迟时间，使用与定时匹配的多个测量值来执行判定处理。
根据本发明的又一方面，提供一种对控制对象进行控制的控制***。控制***具备：控制装置；以及现场设备，对控制对象测量测量值，控制装置具备：获取模块，获取与控制对象关联的测量值；判定模块，基于预定定时下的多个测量值或者基于多个测量值在预定期间内的经时变化，判定控制对象是否为预先设定的状态；以及延迟时间赋予模块，对判定模块的判定中使用的多个测量值中至少一个测量值，赋予预先设定的延迟时间。
根据所述方面，即便在测量值之间出现同一事件有时间差的情况下，也能够通过利用延迟时间赋予模块赋予适当的延迟时间，在判定步骤中使用与定时匹配的多个测量值。
根据本发明的又一方面，提供一种由对控制对象进行控制的控制装置执行的控制方法。控制方法具备以下步骤：获取与控制对象关联的测量值；基于预定定时下的多个测量值或者基于多个测量值在预定期间内的经时变化，判定控制对象是否为预先设定的状态；以及对判定控制对象的状态的步骤中使用的多个测量值中至少一个测量值，赋予预先设定的延迟时间。
根据所述方面，即便在测量值之间出现同一事件有时间差的情况下，也能够通过利用延迟时间赋予模块赋予适当的延迟时间，在判定步骤中使用与定时匹配的多个测量值。
[发明的效果]
根据本发明，能够使得使用多个测量值的判定处理容易化。
附图说明
图1是示出本实施方式的控制***的整体构成例的示意图。
图2是表示构成本实施方式的控制***的控制装置的硬件构成例的框图。
图3是表示构成本实施方式的控制***的支持装置的硬件构成例的框图。
图4是示出本实施方式的控制装置收集数据的控制对象的一个例子的示意图。
图5是用于对基于从如图4所示那样的多个机构收集的测量值的经时变化的实时检测进行说明的图。
图6是用于对本实施方式的数据收集处理中包含的延迟处理的安装例进行说明的示意图。
图7是示出本实施方式的控制装置中的数据收集处理的构成的示意图。
图8是表示包含本实施方式的延迟处理的数据收集处理的应用例的示意图。
图9是用于对用于实现本实施方式的延迟处理的缓冲存储器进行说明的图。
图10是表示用于决定本实施方式的延迟处理的延迟时间的设备设计数据及方案参数的一个例子的图。
图11是用于对图10所示的设备设计数据及方案参数进行说明的图。
图12是用于对用于决定本实施方式的延迟处理的延迟时间的实测方法进行说明的图。
图13是用于对按照图12所示的方法执行的延迟时间的决定方法进行说明的图。
图14是用于对用于实现本实施方式的延迟处理的缓冲存储器的级数的算出进行说明的图。
图15是示出本实施方式的数据收集处理的处理顺序的流程图。
附图标记说明
1：控制***；2：现场总线；10：现场设备群；12：远程I/O装置；14：现场设备；22：伺服驱动器；24：伺服马达；100：控制装置；101：CPU单元；102、202：处理器；104：芯片组；106、206：主存储装置；107、121、123、125：缓冲存储器；108、208：二次存储装置；110：上级网络控制器；112、212：USB控制器；114：存储卡接口；116：存储卡；120：现场总线控制器；122：本地总线控制器；124：I/O单元；150：输入输出模块；152：延迟部；160：判定模块；162：判定基准；170：控制运算模块；172：包装母材供应控制处理；174：输送控制处理；176：切割控制处理；178：判定结果依存处理；200：支持装置；204：显示器；210：内部总线；214：输入装置；216：OS；218：支持程序；300：显示装置；400：包装机；402：供应机构；404：输送机构；406：切割机构；408：供应辊；410：包装母材；412：包装材；414：工件；416：切割辊；418：单个封装体；422、424：经时变化；426：坐标空间；428：正常范围；430：成形机；432：旋转机构；434：加热输送机构；436：注射机构；440：基板安装线；442：印刷机；444：装配机；446：回焊炉；448：检查机。
具体实施方式
一边参照附图，一边详细地说明本发明的实施方式。另外，对图中的相同或相当部分，标注相同附图标记并省略其重复说明。
＜A.控制***的整体构成例＞
首先，对包含本实施方式的控制装置的控制***1的整体构成例进行说明。
图1是示出本实施方式的控制***1的整体构成例的示意图。参照图1，本实施方式的控制***1的主要构成要素包含对控制对象进行控制的控制装置100。控制***1整体上对控制对象进行控制。
控制装置100也可以是PLC(可编程逻辑控制器)等具体化为一种计算机。控制装置100借助现场总线2连接现场设备群10及一个或多个显示装置300。控制装置100借助一个或多个总线或网络，与连接的装置之间交换数据。一般来说，“现场总线”也称为“现场网络”，但以下为了简化说明，在以下说明中统称为“现场总线”。即，本说明书的“现场总线”除了包含“现场总线”外，还可包含“现场网络”。
控制装置100循环执行用于控制制造装置、设备的控制运算，并且可执行后述那样的数据收集处理。
现场总线2优选采用确保数据到达时间、进行固定周期通讯的总线或网络。这种进行固定周期通讯的总线或网络可采用EtherCAT(注册商标)。或者，现场总线2也可以采用EtherNet/IP(注册商标)、DeviceNet(注册商标)、CompoNet(注册商标)等。
现场设备群10是以下装置的统称：从控制对象或与控制关联的制造装置、生产线等(以下也统称为“现场”)收集输入数据的装置；以及基于控制装置100生成的指令(以下也称为“输出数据”)，对现场产生某种作用的装置。
现场设备群10借助现场总线2和控制装置100之间交换包含输入数据及输出数据的数据。在图1所示的构成例中，现场设备群10包含远程I/O(Input/Output：输入/输出)装置12、现场设备14、伺服驱动器22及伺服马达24。
远程I/O装置12包含：通讯耦合器，借助现场总线2进行通讯；以及I/O单元，用于进行输入数据的获取及输出数据的输出。
现场设备14和远程I/O装置12的I/O单元电连接，进行控制对象的输入信号及输出信号的转换等。例如，现场设备14可包含输入继电器、各种传感器(例如模拟传感器、温度传感器、振动传感器等)等，作为收集输入数据的装置。此外，现场设备14可包含输出继电器、接触器、伺服驱动器及伺服马达、其它任意致动器等，作为对现场产生某种作用的装置。
作为现场设备群10，并不限定于所述装置，只要是能够收集输入数据的设备、或能够基于输出数据进行某种动作的设备，也可以采用任意装置。
另外，也可以将构成远程I/O装置12的I/O单元直接连接于现场总线2。
如图1所示，控制装置100和现场设备群10之间借助现场总线2交换数据，这些交换的数据以几百μsec级～几十msec级这样的极短周期更新。另外，这种交换的数据的更新处理也称为I/O刷新处理。此外，以下也将测量值的更新周期称为“采样周期”。
此外，借助现场总线2和控制装置100连接的显示装置300接收用户操作，向控制装置100输出和用户操作相应的命令等，并且将控制装置100中的运算结果等以图示显示。
控制装置100也可以能够连接支持装置200。支持装置200是对控制装置100控制控制对象所需的准备进行支持的装置。具体来说，支持装置200能够执行：将控制装置100执行的程序的开发环境(程序生成编辑工具、分析器、编译器等)、用于设定控制装置100及连接于控制装置100的各种设备的参数(配置)的设定环境、将生成的用户程序向控制装置100输出的处理、线上修改、变更控制装置100上执行的用户程序等的处理等等。
支持装置200还接收用于实现后述那样的延迟处理的各种设定。关于这些处理的详细内容，在后面叙述。
另外，也可以将控制装置100进一步借助上级网络等连接于数据库服务器等。在采用这种构成时，也可以将控制装置100收集的输入数据等向上级数据库服务器发送。
＜B.硬件构成例＞
接着，对构成本实施方式的控制***1的控制装置100及支持装置200的硬件构成例进行说明。
(b1：控制装置)
图2是示出构成本实施方式的控制***1的控制装置100的硬件构成例的框图。参照图2，控制装置100包含CPU单元101及一个或多个I/O单元124-1、124-2、…。
CPU单元101相当于运算处理部，包含处理器102、芯片组104、主存储装置106、二次存储装置108、上级网络控制器110、USB(Universal Serial Bus)控制器112、存储卡接口114、本地总线控制器122、及现场总线控制器120。
处理器102包括CPU、MPU、GPU等，将二次存储装置108中存储的各种程序读出，在主存储装置106中展开并执行，由此实现和控制对象相应的控制及后面所述那样的各种处理。二次存储装置108包括例如HDD(Hard Disk Drive)、SSD(Solid State Drive)等非易失性存储装置等。主存储装置106包含DRAM(Dynamic Random Access Memory)、SRAM(StaticRandom Access Memory)等易失性存储装置等。
芯片组104通过控制处理器102和各设备，实现控制装置100整体的处理。
二次存储装置108中除了存储用于实现基本运作的***程序以外，还存储对应控制对象的制造装置、设备而生成的用户程序。而且，二次存储装置108中还可以形成将各种数据按时序存储的数据库。
上级网络控制器110借助上级网络和数据库服务器等之间交换数据。一般来说，上级网络控制器110使用ASIC(Application Specific Integrated Circuit：应用专用集成电路)、FPGA(Field-Programmable Gate Array：现场可编程门阵列)等专用电路实现。
USB控制器112借助USB连接来控制和支持装置200之间的数据交换。一般来说，USB控制器112使用ASIC、FPGA等专用电路来实现。
存储卡接口114构成为可装卸存储卡116，能够向存储卡116写入数据，并从存储卡116读出各种数据(用户程序、追踪数据等)。
本地总线控制器122是和与CPU单元101连接的I/O单元124-1、124-2、…之间交换数据的接口。本地总线控制器122具有缓冲存储器123，所述缓冲存储器123用于临时存储和I/O单元124-1、124-2、…之间交换的数据。缓冲存储器123通过执行FIFO(First In FirstOut：先进先出)运作，可提供后面所述那样的延迟处理。
现场总线控制器120对借助现场总线2和其它设备之间进行的数据交换进行控制。一般来说，现场总线控制器120使用ASIC、FPGA等专用电路来实现，但也可以通过软件安装来实现。在采用软件安装时，现场总线控制器120主要包括处理器、主存储装置、存储器等，处理器将存储器中存储的***程序(固件)等读出，在主存储装置展开并执行，由此实现需要的处理。现场总线控制器120具有缓冲存储器121，所述缓冲存储器121临时存储借助现场总线2交换的数据。缓冲存储器121通过执行FIFO运作，可提供后面所述那样的延迟处理。
图2中示出由处理器102执行程序而提供需要的处理的构成例，这些所提供的处理的一部分或全部也可以用专用硬件电路(例如ASIC、FPGA等)来安装。或者，也可以使用遵循通用架构的硬件(例如基于通用计算机的工业用计算机)来实现控制装置100的主要部分。在这种情况下，也可以使用虚拟化技术，并列执行不同用途的多个OS(Operating System：操作***)，并且在各OS上执行需要的应用。
(b2：支持装置)
图3是示出构成本实施方式的控制***1的支持装置200的硬件构成例的框图。一般来说，支持装置200通过在具有通用架构的个人计算机上执行支持程序来实现。
更具体来说，参照图3，支持装置200包含处理器202、显示器204、主存储装置206、二次存储装置208、USB控制器212、及输入装置214。这些部件借助内部总线210连接。
处理器202包括CPU、MPU、GPU等，读出包含二次存储装置208中存储的OS216及支持程序218在内的各种程序，并作为主存储装置206执行，由此实现如上所述的各种处理。二次存储装置208例如包括HDD、SSD等非易失性存储装置等。主存储装置206包括DRAM、SRAM等易失性存储装置等。
显示器204是显示处理器202等的运算结果的设备，例如包括LCD(Liquid CrystalDisplay：液晶显示器)等。
USB控制器212借助USB连接和CPU单元101之间交换数据。一般来说，USB控制器212使用ASIC、FPGA等专用电路来实现。
输入装置214是接收用户操作的接收设备，例如包括键盘、存储器等。
(b3：其它)
在所述图1所示的控制***1中，控制装置100、支持装置200及显示装置300分别单独构成，但也可以采用如将这些处理的全部或部分集中于单一装置的构成。
＜C.数据收集处理的概要＞
接下来，对本实施方式的控制装置100提供的数据收集处理的概要进行说明。
图4是示出本实施方式的控制装置100收集数据的控制对象的一个例子的示意图。参照图4，作为控制对象的一个例子，设想包装机400。
包装机400包括相互连动运作的多个机构，具体来说，包含包装母材410的供应机构402(以下也称为“机构A”)、将包装材412切割而制成单个封装体418的切割机构406(以下也称为“机构B”)、以及从供应机构402向切割机构406输送被包装材412覆盖的工件414的输送机构404。
供应机构402利用供应辊408依次送出辊状包装母材410，并且利用包装母材410覆盖从未图示的生产线供应的工件414，由此将封入了工件414的包装材412向输送机构404连续供应。
输送机构404将封入了工件414的包装材412向切割机构406依次输送。切割机构406按照预先设定的定时驱动一对切割辊416，由此切割并密封包装材412，依次制成单个封装体418。
控制装置100可以从控制对象收集任意的测量值。在本说明书中，“测量值”主要意指表示由任意现场设备测定的结果的值(输入值)，但并不限定于此。即，本说明书中的“测量值”是包含控制装置100的处理器102可利用的所有值的概念。因此，本说明书中的“测量值”可包含控制装置100的处理器102执行控制运算而算出的输出值、及控制运算的执行过程中算出的中间值等。
例如，控制装置100可收集供应机构402(机构A)的供应辊408产生的转矩值、切割机构406(机构B)的切割辊416产生的转矩值。基于这种从各个机构收集的测量值的经时变化，能够对包装机400进行异常监控及检测。
在包装机400中，例如在切割辊416的切割定时，转矩变动相对较大，且受到切割包装材412时的影响，供应辊408产生的转矩也会变动。即，供应辊408产生的转矩值和切割辊416产生的转矩值之间存在有用的关联。因此，作为异常监控及检测的手法的一个例子，可基于供应辊408产生的转矩值、切割辊416产生的转矩值的相关关系，判定是正常状态还是异常状态。作为这样的相关关系，可以在用两个转矩值定义的坐标空间上，预先设定正常状态范围或异常状态范围，基于在各监控定时测量的转矩值属于哪个范围，判定是正常还是异常。
图5是用于对基于从如图4所示那样的多个机构收集的测量值的经时变化的实时检测进行说明的图。图5的(a)中示出一般方法的一个例子，图5的(b)中示出利用本实施方式的数据收集处理时的方法的一个例子。
如图5所示，在利用来自机构A的测量值及来自机构B的测量值定义的坐标空间426上，预先设定正常范围428。即，如果利用来自机构A的测量值和来自机构B的测量值规定的坐标存在于正常范围428内，则能够判定为正常状态，如果并非如此，则能够判定为异常状态。
图5中示出来自机构A的测量值的经时变化422及来自机构B的测量值的经时变化424的一个例子。在图4所示的包装机400中，需要将处理对象从机构A向机构B输送，在来自机构A的测量值的经时变化422和来自机构B的测量值的经时变化424之间存在其输送所需的延迟时间tA-B。延迟时间tA-B相当于控制***的浪费时间。
可考虑使用针对这种经时变化设定的监控期间To1、To2(时间宽度短于延迟时间tA-B)内收集的测量值，立即进行异常检测(以下将这种异常的监控及检测也称为“实时检测”)。另外，图5中，为了便于说明，例示了具有预定时间宽度的监控期间。在这种情况下，基于测量值在监控期间内的经时变化，进行异常的监控及检测。另一方面，在监控期间相当于测量值的更新周期(采样周期)时，等同于使用特定瞬间(即特定定时)下的测量值(即，各测量值的瞬时值)。
即，本实施方式的实时检测包含以下处理：基于预定定时下的多个测量值、或者基于多个测量值在预定期间内的经时变化，判定控制对象是否为预先设定的状态。
如图5的(a)所示，在监控期间To1内，来自机构A的测量值产生急剧的经时变化，另一方面，在监控期间To1内，来自机构B的测量值未产生经时变化。
相反，在监控期间To2内，来自机构A的测量值未产生经时变化，另一方面，在监控期间To2内，来自机构B的测量值产生急剧的经时变化。
结果，在监控期间To1测量的来自机构A及机构B的测量值组、以及在监控期间To2测量的来自机构A及机构B的测量值组都包含在坐标空间426上规定的正常范围428内。
如此，如果将来自产生延迟时间的不同机构的各测量值直接用于实时检测，则有时会发生异常遗漏等误判。若要避免这种误判，需要将测量出的测量值的经时变化以时序数据等形式临时存储，无法实现实时检测。
相对于此，在本实施方式的数据收集处理中，如图5的(b)所示，执行延迟处理，用于使任意测量值的经时变化位移。图5的(b)所示的例子中，对来自配置于上游侧的机构A的测量值赋予预定的延迟时间，从而在同一监控期间，来自机构A及机构B的测量值都产生急剧的经时变化。如此，各测量值中表示异常的特征在同一监控期间出现，基于这种现象，能够判定产生了异常。
另外，当判定为产生了异常时，也可以实施将判定为发生了异常的工件从生产线移除等处置(异常处理)。
如此，本实施方式的数据收集处理使用延迟处理来消除机构间的时间差(延迟时间)，由此能够与发生异常时刻同时检测其异常。
＜D.延迟处理的安装例＞
接下来，对本实施方式的数据收集处理中所含的延迟处理的安装例进行说明。图6是用于对本实施方式的数据收集处理中所含的延迟处理的安装例进行说明的示意图。参照图6，一般来说，本实施方式的数据收集处理中所含的延迟处理使用在物理存储器上构成的缓冲存储器等来实现。
参照图6的(a)，例如在借助I/O单元124连接CPU单元101和现场设备群10的构成例中，可使用利用I/O单元124的存储区域构成的缓冲存储器125来实现延迟处理。即，CPU单元101的处理器102可利用通过I/O单元124的缓冲存储器125赋予了预定延迟时间的测量值。
参照图6的(b)，例如在CPU单元101和I/O单元124借助现场总线连接的情况下，可使用现场总线控制器120的缓冲存储器121来实现延迟处理。即，CPU单元101的处理器102可利用通过现场总线控制器120的缓冲存储器121赋予了预定延迟时间的测量值。
参照图6的(c)，例如当CPU单元101内的主存储装置106的容量足够时，可使用利用主存储装置106的一部分构成的缓冲存储器107来实现延迟处理。即，CPU单元101的处理器102可利用通过主存储装置106的缓冲存储器107赋予了预定延迟时间的测量值。
既可以将图6的(a)～图6的(c)所示的各构成任意组合，也可以根据从控制对象收集的测量值的种类，使得用于实现延迟处理的硬件不同。另外，也可以在用于在现场设备群10和I/O单元124之间交换信号的路径上设置用于实现延迟处理的电路，由此实现延迟处理。
如图6的(a)～图6的(c)所示，通过在从对控制对象测量测量值的现场设备到控制装置100为止的数据传输路径上配置缓冲存储器，能够实现本实施方式的延迟处理。
但是，用于实现本实施方式的延迟处理的手段根据成为对象的控制装置、安装的控制***1的构成等而适当选择即可。
＜E.构成＞
接下来，对本实施方式的控制装置100的数据收集处理的构成的一个例子进行说明。图7是示出本实施方式的控制装置100的数据收集处理的构成的示意图。
参照图7，控制装置100的构成包含输入输出模块150、判定模块160、控制运算模块170。这些模块是通过由处理器102读出二次存储装置108中存储的***程序及用户程序在主存储装置106展开并执行来实现。
输入输出模块150提供获取和控制对象关联的测量值的模块。更具体来说，输入输出模块150收集来自现场设备群10的输入数据，并且将输出数据向现场设备群10发送。输入输出模块150将所获取的测量值向判定模块160输出。
输入输出模块150包含延迟部152，所述延迟部152通过对缓冲存储器确保预定的缓冲量并且指示FIFO运作，使得与所指定的值(一般来说是变量)相关的测量值的经时变化延迟预定时间。
判定模块160基于预定监控定时下的多个测量值、或者基于多个测量值在预定监控期间内的经时变化，判定控制对象是否为预先设定的状态(例如是正常状态还是异常状态)。
判定模块160具有预先设定的判定基准162，通过将来自输入输出模块150的一个或多个测量值(也有被延迟部152延迟了预定时间的值)应用于判定基准162，输出判定结果。一般来说，判定模块160在判定时间点判定监控对象的控制对象是正常状态还是异常状态。将判定模块160的判定结果向控制运算模块170输出。
在图7所示的构成例中，只有测量值1通过延迟部152。即，将测量值1延迟预定时间后向判定模块输出，在从现场设备群10被输入测量值2的定时向判定模块输出。如此，延迟部152提供延迟时间赋予处理，对判定模块160中用于判定的多个测量值中的至少一个测量值赋予预先设定的延迟时间。
控制运算模块170主要通过执行用户程序来实现，根据控制对象而执行需要的处理。在图7所示的例子中，示出包含和图4所示的包装机400相应的处理的构成例。更具体来说，控制运算模块170包含包装母材供应控制处理172、输送控制处理174、切割控制处理176、及判定结果依存处理178。控制运算模块170中所含的这些处理可以按照预先设定的控制周期循环执行。
包装母材供应控制处理172包含对图4所示的供应机构402的控制处理。输送控制处理174包含对图4所示的输送机构404的控制处理。切割控制处理176包含对图4所示的切割机构406的控制处理。
判定结果依存处理178依赖于来自判定模块160的判定结果而切换处理。例如，在来自判定模块160的判定结果表示正常状态时，判定结果依存处理178执行将对象工件向下一工序输送的处理，当来自判定模块160的判定结果表示异常状态时，定结果依存处理178执行排除处理，将判定为发生了异常的工件从生产线排除。
如此，在本实施方式的控制装置100中，使用应用包含延迟处理的数据收集处理，可实现实时检测，由此能够对生产线上依次处理及输送的工件立即执行需要的处理。
＜F.应用例＞
在所述实施方式的说明中，着眼于从包装机中所包含的多个机构分别收集的测量值之间产生的延迟时间，但也可以应用于其它装置。而且，不仅是单一设备中所包含的机构之间，对于包含多个工序的生产线中产生的工序间的延迟时间，也可以通过应用本实施方式的延迟处理，进行插补。
以下，对能够应用包含本实施方式的延迟处理的数据收集处理的其它设备及生产线的一个例子进行说明。
图8是表示包含本实施方式的延迟处理的数据收集处理的应用例的示意图。图8的(a)表示成形机430的截面示意图。成形机430包含：旋转机构432(机构A)；加热输送机构434(机构B)，通过旋转机构432实现旋转，输送加热后的原料；以及注注射机构436(机构C)，将加热输送机构434依次供应的原料压入模具等。
在构成这种旋转机构432的各机构中，也在相当于原料输送时间的延迟时间。可通过应用本实施方式的延迟处理来吸收这种延迟时间，实现实时检测。
图8的(b)中示出基板安装线440。基板安装线440将印刷机442、装配机444、回焊炉446、检查机448沿着生产线配置。工件沿着生产线被输送及加工。通过这4个设备的处理来实现安装工序(工序A)，在该安装工序之后还接续后工序(工序B)。
在构成这种基板安装线440的工序之间也发生相当于工件输送时间的延迟时间。可通过应用本实施方式的延迟处理来吸收这种延迟时间，实现实时检测。
如此，本实施方式的延迟处理所处理的延迟时间是根据多个测量值相关联的控制对象的机构或工序的差异而决定的值。包含本实施方式的延迟处理的数据收集处理能够吸收构成单一设备的机构间及构成单一生产线的工序间产生的延迟时间，实现实时检测。
＜G.延迟时间的决定处理＞
接下来，对决定对本实施方式的延迟处理赋予的延迟时间的处理的一个例子进行说明。
图9是用于对用于实现本实施方式的延迟处理的缓冲存储器进行说明的图。参照图9，本实施方式的延迟处理例如通过利用执行FIFO运作的缓冲存储器来实现。缓冲存储器的级数和赋予的延迟时间的长度成比例。在向缓冲存储器存储数据的周期或从缓冲存储器读出数据的周期上乘以缓冲存储器级数的值相当于延迟时间。一般来说，这种向缓冲存储器访问数据的周期和I/O刷新处理的周期即控制周期一致。
如此，也可以使用具有和延迟时间相应的级数的缓冲存储器，实现对测量值赋予延迟时间的机构。
在以下说明中，主要说明根据必要的延迟时间的长度来决定缓冲存储器的级数的方法。
(g1：基于设备设计数据及方案参数的决定方法)
首先，对基于设备设计数据及方案参数来决定延迟时间的方法进行说明。
图10是示出用于决定本实施方式的延迟处理的延迟时间的设备设计数据及方案参数的一个例子的图。图11是用于说明图10所示的设备设计数据及方案参数的图。
参照图10，例如根据工件类别等来规定表示制造参数的方案。各方案中包含包装长度及生产数量等方案参数。此外，作为设备设计数据，例如包含包装机400中所含的机构A和机构B之间的距离(机构间距离)。
图10中示出按照每个方案规定的设备设计数据的例子，但也可以不按照工件类别而在输送路径等无变化时提供单一的设备设计数据。另一方面，在根据工件类别而使输送路径等不同时，也可以将设备设计数据包含于方案参数的一部分。
参照图11，图10所示的设备设计数据即机构间距离DA-B意指工件从机构A到机构B为止的输送距离。
此外，方案参数中所含的包装长度表示最终制造出的单个封装体418的长度，相当于覆盖工件414的包装材412在切割后的长度。方案参数中所含的生产数量表示包装机400在单位时间内制造出的单个封装体418的数量，例如用每分钟的制造个数(cpm)等来规定。
使用如图10所示那样的设备设计数据及方案参数，延迟机构赋予的延迟时间即缓冲存储器的级数可通过如下顺序算出。
首先，基于各设备设计数据及方案的方案参数，可以如下算出延迟时间tA－B(n)(其中，n为方案编号)。
延迟时间tA-B(n)＝(60×DA-B)/(Cn×Ln)
通过对该延迟时间tA-B(n)除以采样周期(通常，相当于控制装置100的控制周期)，可算出缓冲存储器的级数S(n)(其中，Ts是采样周期)。
级数S(n)＝tA-B(n)/Ts
如此，缓冲存储器的级数S(n)基于延迟时间及对应的测量值被更新的周期(采样周期)而决定。通过如上所述那样的算出处理，可决定用于实现和控制对象相应的延迟时间的缓冲存储器的级数S(n)。
如上所述，延迟时间也可以基于表示控制对象的机构或工序的特性的设计数据的一个例子即设备设计数据、及表示控制对象的机构或工序的运作状态的参数的一个例子即方案参数来决定。根据该所决定的延迟时间，构成具有用于对其进行补偿的级数的缓冲存储器。
(g2：基于实测结果的决定方法)
接下来，对基于实测结果决定延迟时间的方法进行说明。
图12是用于对用于决定本实施方式的延迟处理的延迟时间的实测方法进行说明的图。图13是用于对通过图12所示的方法决定延迟时间的决定方法进行说明的图。
参照图12，对作为对象的多个机构(或工序)中前一个机构(或工序)赋予容易出现在测量结果中的特征(摂动)。例如，当将在包装母材410即薄膜附着异物检测为异常时，在将模拟的异物附着于薄膜后从供应机构402(机构A)供应。附着了该异物的薄膜经过输送机构404到达切割机构406(机构B)。在附着了异物的薄膜在供应机构402(机构A)及切割机构406(机构B)中分别测量的测量值中，偏离应校正的延迟时间而出现特征量。即，测量值之间出现摂动在机构间传播所需的延迟时间tA-B。利用该测量值之间出现的延迟时间tA-B，决定延迟处理的延迟时间。
例如，如图13的(a)所示，可知在因对机构A赋予的摂动产生的峰值(用斜线表示的“5.09”的测量值)、和机构B因相同摂动产生的峰值(用斜线表示的“7.09”的测量值)之间，以控制周期换算产生3个周期的延迟。因此，在本例中，将构成延迟机构的缓冲存储器的级数S设定为“3”。
如此，例如当将附着了异物的薄膜作为摂动供应时，可根据机构A和机构B的测量值的时间波形中出现的摂动特征的时间差，决定构成延迟机构的缓冲存储器级数。
图13的(b)中示出设定了用如上所述那样的方法决定的级数的缓冲存储器的举动的一个例子。在图13的(b)的时刻t1(对应于图13的(a)的“12：11：48”)，来自机构A的测量值“5.09”存储到缓冲存储器，并且来自机构B的测量值“0.41”输入到判定模块。
接着，在图13的(b)的时刻t2(对应于图13的(a)的“12：11：49”)，来自机构A的测量值“0.21”存储到缓冲存储器，并且来自机构B的测量值“0.69”输入到判定模块。缓冲存储器中的“5.09”位移1级。
然后，在图13的(b)的时刻t3(对应于图13的(a)的“12：11：50”)，来自机构A的测量值“0.98”存储于缓冲存储器，并且来自机构B的测量值“0.72”输入到判定模块。缓冲存储器中的“5.09”再位移1级，位移至即将输出前的级。
最后，在图13的(b)的时刻t4(对应于图13的(a)的“12：11：51”)，来自机构A的测量值“0.00”存储到缓冲存储器，并且来自机构B的测量值“7.09”输入到判定模块。另一方面，缓冲存储器中的“5.09”向判定机构输入。
即，在时刻t4，因同一摂动产生的来自机构A的测量值“5.09”及来自机构B的测量值“7.09”向判定模块同时输入。通过这种使向判定机构输入测量值的输入定时同步，可实现实时检测。
另外，当输入的测量值的更新周期(采样周期)不同时，也可以根据各测量值的更新周期(采样周期)的差异，决定缓冲存储器的级数。
图14是用于对用于实现本实施方式的延迟处理的缓冲存储器的级数的算出进行说明的图。参照图14，例如假设从现场设备A及现场设备B分别收集测量值的情况。此时，现场设备A的采样周期设为TSA，现场设备B的采样周期设为TSB。此外，现场设备A和现场设备B之间存在延迟时间tA-B。
在这种情况下，用于将来自现场设备A的测量值和来自现场设备B的测量值之间的延迟时间消除的缓冲存储器的级数通过在延迟时间tA-B上乘以现场设备间的采样周期之差(比率)而算出。即，缓冲存储器的级数基于输入的测量信号间出现的延迟时间和测量信号间的更新周期(采样周期)的差异而决定。
如上所述，延迟时间也可以基于对控制对象的第一机构或第一工序赋予具有预先设定的特征的干扰后直到控制对象的第二机构或第二工序中出现和该干扰对应的特征为止所要的时间来决定。根据该决定的延迟时间，构成具有用于对其进行补偿的级数的缓冲存储器。
＜H.处理顺序＞
接下来，对本实施方式的数据收集处理的处理顺序进行说明。
图15是示出本实施方式的数据收集处理的处理顺序的流程图。一般来说，图15所示的各步骤如下实现：控制装置100的处理器102将二次存储装置108中存储的***程序及用户程序读出，在主存储装置106展开并执行；以及支持装置200的处理器202将二次存储装置208中存储的支持程序读出，在主存储装置206展开并执行。
参照图15，首先，支持装置200从用户接收作为实时检测对象的一个或多个测量值(变量)的选择(步骤S100)。接着，决定和所选择的测量值之间产生的延迟时间相应的缓冲存储器的级数(步骤S102)。作为该缓冲存储器的级数(延迟时间)的决定方法，可使用如上所述那样的基于设备设计数据及方案参数的方法、或基于实测结果的方法。
支持装置200生成和步骤S100中选择的测量值(变量)及步骤S102中决定的缓冲存储器的级数(延迟时间)的设定对应的用户程序及设定信息，向控制装置100输送(步骤S104)。
控制装置100按照来自支持装置200的设定信息构成各部分，开始执行用户程序(步骤S106)。利用所述设定信息而构成和应补偿的延迟时间相应的缓冲存储器。控制装置100将来自控制对象的各测量值(赋予延迟时间后)依次存储到二次存储装置108或存储卡116等(步骤S108)。
之后，支持装置200获取控制装置100的二次存储装置108或存储卡116中存储的测量值的经时变化，决定实时检测所需的判定基准(步骤S110)。另外，在决定判定基准时，用户也可以设定任意的阈值范围等。支持装置200将所决定的判定基准向控制装置100传输(步骤S112)。
通过如上所述那样的顺序，完成控制装置100实时检测的执行准备。更具体来说，控制装置100在预先设定的监控期间内收集对象测量值的经时变化(步骤S114)，并且对所选择的测量值赋予所指定的延迟时间(步骤S116)。即，控制装置100将以赋予延迟时间的方式指定的测量值临时存储到预先构成的缓冲存储器。而且，控制装置100参照预先获取的判定基准，基于所收集的测量值(或测量值的经时变化)，判定有误异常(步骤S118)。然后，控制装置100执行和步骤S118的判定结果相应的处理(步骤S120)。并且，控制装置100重复执行步骤S114以后的处理。
＜I.优点＞
本实施方式的控制装置执行延迟时间赋予处理，对多个测量值中的任意测量值赋予和该测量值相应的延迟时间。一般来说，这种延迟时间赋予处理使用通过***程序管理的缓冲存储器来更新。这种缓冲存储器也可以和控制周期同步地实施FIFO运作。
通过使用这种延迟时间赋予处理，例如当基于在机构间或工序间产生的时间差(延迟时间)的多个测量值进行某种判定时，将从前一个机构或工序获取的测量值临时存储到缓冲存储器之后，和从下一个机构或工序获取的测量值进行对比，由此能够吸收时间差，实现实时检测。
在这样基于具有时间差的多个测量值进行某种判定的情况下，需要向二次存储装置、存储卡等存储介质临时存储表示测量值的经时变化的时序数据后，执行配对时间轴的处理。对二次存储装置、存储卡进行数据访问时需要时间，所以这种手法并不能实现实时检测。
本实施方式的控制装置100通过采用如上所述那样的延迟时间赋予处理，能够解决这种问题。而且，采用利用缓冲存储器进行延迟时间赋予处理，由此和访问数据库等所需的时间相比，能够以更短时间读出需要的数据，因此用户程序的生成、数据解析变得容易。此外，缓冲存储器的尺寸(级数)可通过设定等相对容易地进行变更，所以能够灵活地适用机构间或工序间产生的延迟时间。因此，即便当工件品种等变更了时，也能够容易地赋予和其变更后的工件相应的延迟时间。
应认为本次公开的实施方式的所有方面均为例示而非限制性的。本发明的范围由权利要求书表示而非由上述的说明表示，且包含和权利要求书等同的含义及范围内的所有变更。

Claims (10)

1.一种控制装置，对控制对象进行控制，其特征在于，具备：
获取模块，获取与所述控制对象关联的测量值；
判定模块，基于预定定时下的多个测量值或者基于多个测量值在预定期间内的经时变化，判定所述控制对象是否为预先设定的状态；以及
延迟时间赋予模块，对所述判定模块的判定中使用的多个测量值中至少一个测量值，赋予预先设定的延迟时间。
2.根据权利要求1所述的控制装置，其特征在于，
根据与所述多个测量值建立关联的所述控制对象的机构或工序的不同，决定所述延迟时间。
3.根据权利要求1或2所述的控制装置，其特征在于，
所述延迟时间基于设计数据和参数来决定，所述设计数据表示所述控制对象的机构或工序的特性，所述参数表示所述控制对象的机构或工序的运作状态。
4.根据权利要求1或2所述的控制装置，其特征在于，
所述延迟时间基于以下时间决定：对所述控制对象的第一机构或第一工序赋予具有预先设定的特征的干扰之后，直到所述控制对象的第二机构或第二工序中出现与所述干扰对应的特征为止所需要的时间。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的控制装置，其特征在于，
所述延迟时间赋予模块包含缓冲存储器，所述缓冲存储器具有与所述延迟时间相应的级数。
6.根据权利要求5所述的控制装置，其特征在于，
基于所述延迟时间及对应的测量值的更新周期，决定所述缓冲存储器的级数。
7.根据权利要求5或6所述的控制装置，其特征在于，
所述缓冲存储器配置在从现场设备到所述控制装置为止的数据传输路径上，所述现场设备对所述控制对象测量所述测量值。
8.一种存储介质，存储有控制程序，所述控制程序由对控制对象进行控制的控制装置执行，其特征在于，所述控制程序使所述控制装置执行以下步骤：
获取与所述控制对象关联的测量值；
基于预定定时下的多个测量值或者基于多个测量值在预定期间内的经时变化，判定所述控制对象是否为预先设定的状态；以及
对判定所述控制对象的状态的步骤中使用的多个测量值中至少一个测量值，赋予预先设定的延迟时间。
9.一种控制***，对控制对象进行控制，其特征在于，所述控制***具备：
控制装置；以及
现场设备，对所述控制对象测量测量值，
所述控制装置具备：
获取模块，获取与所述控制对象关联的测量值；
判定模块，基于预定定时下的多个测量值或者基于多个测量值在预定期间内的经时变化，判定所述控制对象是否为预先设定的状态；以及
延迟时间赋予模块，对所述判定模块的判定中使用的多个测量值中至少一个测量值，赋予预先设定的延迟时间。
10.一种控制方法，由对控制对象进行控制的控制装置执行，其特征在于，所述控制方法具备以下步骤：
获取与所述控制对象关联的测量值；
基于预定定时下的多个测量值或者基于多个测量值在预定期间内的经时变化，判定所述控制对象是否为预先设定的状态；以及
对判定所述控制对象的状态的步骤中使用的多个测量值中至少一个测量值，赋予预先设定的延迟时间。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7159945B2 (ja) 2019-03-29 2022-10-25 オムロン株式会社 処理装置
WO2024095929A1 (ja) * 2022-11-01 2024-05-10 Ｊｆｅスチール株式会社 異常診断装置および異常診断方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005257422A (ja) * 2004-03-11 2005-09-22 Toshiba Corp 複合材の厚さ測定装置及びその方法
US20050246593A1 (en) * 2004-04-19 2005-11-03 Littrell Nathan B Methods and apparatus for providing alarm notification
JP2006336644A (ja) * 2005-05-30 2006-12-14 Inst Fr Petrole 適応非線形フィルタによる内燃エンジンのシリンダ内の空燃比の推定方法
JP2009238190A (ja) * 2008-03-28 2009-10-15 Hitachi Plant Technologies Ltd メンテナンス計画支援システム
JP2012064085A (ja) * 2010-09-17 2012-03-29 Toshiba Corp 製造プロセスの監視システムおよび製造プロセスの監視方法
CN103140814A (zh) * 2010-10-11 2013-06-05 通用电气公司 用于检测冗余传感器信号中的移位的***、方法和设备
CN104246218A (zh) * 2012-02-27 2014-12-24 Skf公司 基于被时间标记的信号的旋转***的状态监测
CN105372988A (zh) * 2014-08-19 2016-03-02 西门子公司 具有自适应误差补偿的控制装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08221113A (ja) 1995-02-16 1996-08-30 Hitachi Ltd 時系列データ記憶装置およびプロセス異常診断装置
JP2000010627A (ja) * 1998-06-18 2000-01-14 Yaskawa Electric Corp 計測器の異常値検出方法およびその装置
JP2003058248A (ja) 2001-08-10 2003-02-28 Mitsubishi Electric Corp 運転支援装置
JP5535883B2 (ja) * 2010-11-25 2014-07-02 三菱重工業株式会社 制御装置および状態量取得装置
JP6284043B2 (ja) * 2015-12-25 2018-02-28 横河電機株式会社 プロセス制御システム

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005257422A (ja) * 2004-03-11 2005-09-22 Toshiba Corp 複合材の厚さ測定装置及びその方法
US20050246593A1 (en) * 2004-04-19 2005-11-03 Littrell Nathan B Methods and apparatus for providing alarm notification
JP2006336644A (ja) * 2005-05-30 2006-12-14 Inst Fr Petrole 適応非線形フィルタによる内燃エンジンのシリンダ内の空燃比の推定方法
JP2009238190A (ja) * 2008-03-28 2009-10-15 Hitachi Plant Technologies Ltd メンテナンス計画支援システム
JP2012064085A (ja) * 2010-09-17 2012-03-29 Toshiba Corp 製造プロセスの監視システムおよび製造プロセスの監視方法
CN103140814A (zh) * 2010-10-11 2013-06-05 通用电气公司 用于检测冗余传感器信号中的移位的***、方法和设备
CN104246218A (zh) * 2012-02-27 2014-12-24 Skf公司 基于被时间标记的信号的旋转***的状态监测
CN105372988A (zh) * 2014-08-19 2016-03-02 西门子公司 具有自适应误差补偿的控制装置

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